DODATEČNÉ INFORMACE Č. 2 Identifikace zadavatele Název: Univerzita Karlova v Praze Sídlo: Ovocný trh 3 - 5, 116 36 Praha 1 IČ: 00216208 Osoba oprávněná jednat jménem zadavatele: prof. RNDr. Jan Kratochvíl, CSc., děkan Matematickofyzikální fakulty UK Kategorie: veřejný zadavatel podle § 2 odst. 2 písm. d) zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, ve znění pozdějších předpisů (dále jako „ZVZ“) Osoba zastupující zadavatele dle § 151 ZVZ: Schmitz & Partner, advokátní kancelář, s.r.o. Sídlo: Malá Štěpánská 1932/3, Nové Město, 120 00 Praha 2 IČ: 28583493 Identifikace veřejné zakázky Název veřejné zakázky: Modernizace vybavení pro fyzikální výzkum a výuku Druh veřejné zakázky: nadlimitní na dodávky, rozdělená ve smyslu § 98 ZVZ na 11 částí Druh zadávacího řízení: otevřené řízení podle § 21 odst. 1 písm. a) a § 27 ZVZ Zdroj financování: Operační program Výzkum a vývoj pro inovace (OP VaVpI) Dodatečné informace Žádost č. 2 1) V Příloze č. 13 Zadávací dokumentace, Závazném vzoru smlouvy, je v bodě 1.1 uvedeno: 1.1
Za podmínek uvedených v této Smlouvě se Prodávající zavazuje dodat New transmision electron microscope (dále jen „Předmět koupě“), jehož podrobné technické specifikace jsou uvedeny v Příloze č. 1, která tvoří nedílnou součást této Smlouvy) a Kupující se za podmínek této Smlouvy zavazuje zaplatit Prodávajícímu za dodání Předmětu koupě kupní cenu dle čl. Chyba! Nenalezen zdroj odkazů. této Smlouvy.
Může zadavatel upřesnit, zda má být termín New transmission electron microscope nahrazen názvem části, na kterou uchazeč podává nabídku? 2) V příloze č. 2 Zadávací dokumentace pro část „AFM-Raman system for last 2D and 3D Raman imaging“ je uveden tento požadavek: “Sample Scanning range min. 100 x 100 x 15 um (XYZ), scanner noise in XY at switched-on capacitive sensors must not exceed level of 0,1 nm RMS, in Z level of 0,05 nm.” Zadavatel požaduje rozsah 15 um pro spodní skener systému. Tato hodnota je typická pro určitý typ konstrukce skeneru pro AFM skenování (flexture based scanner). Existují však I jiná ekvivalentní nebo 1
lepší technickká řešení například na bázi trubičkového piezo skeneru (tube scanner), u které je ale maximální rozsah skenování v ose Z 12 um. I tento rozsah je naprosto dostatečný pro vzorky, které jsou běžně měřeny na kombinovaných systémech AFM-RAMAN. Bude zadavatel akceptovat scenery pro skenování vzorkem v rozsahu 100x100x12 um pokud dosáhnou stejné kvality zobrazení? 3) V příloze č. 2 Zadávací dokumentace pro část „AFM-Raman system for last 2D and 3D Raman imaging“ je uveden tento požadavek: “Scanner resonance frequency must be greater or equal to 7 kHz in XY and greater or equal to 15 kHZ in Z to get maximum immunity to acoustic vibrations.” Zadavatel požaduje rezonanční frekvenci skeneru ve směru X,Y – min. 7 kHz a rezonanční frekvence kkeneru ve směru Z – min 15 kHz. Tyto veličiny úzce souvisí s typem a konstrukcí použitého skeneru a maximální hodnoty mají vliv pouze na teoreticky dosažitelnou maximální rychlost měření (je možná pouze na modelových extrémně hladkých vzorcích). V případě požadovaného režimu skenování vzorkem je navíc použití vysoké rychlosti omezeno nejen n a hladké vzorky, ale současně také na velmi lehké vzorky. Bude zadavatel akceptovat také s skenery s jinou konstrukcí, které jsou schopny i při nižší rezonančními frekvencemi (5 kHz v ose z a 2 kHz v osách X,Y) dosáhnout stejné kvality zobrazení. 4) V příloze č. 2 Zadávací dokumentace pro část „AFM-Raman system for last 2D and 3D Raman imaging“ je uveden tento požadavek: “AFM registration laser wavelength must be greater than 950 nm to prevent possible interferences of the AFM laser in the Raman (and possibly photoluminescence) range of interest, and the design of system shall respect that the Raman equipment signal is separated from the AFM laser trajectory.” V současné době jsou dvě možná řešení separace registračního AFM laseru a snímaného Ramanova signálu. AFM registrační laser je veden buď zcela mimo objektiv použitý pro sběr Ramanová záření nebo prochází objektivem a následně je odkloněn pomocí speciálního beamsplitteru na detektor registračního AFM laseru. První možnost má dvě zásadní nevýhody: •
problémy při měření hladkých vzorků – vznikají interference u registračního laseru na hladkých vzorcích a díky tou dochází ke zvýšení šumu při měření
•
nemožnost kombinovaného měření AFM+RAMAN v kapalinách.
Druhá možnost tyto problémy eliminuje. Pokud je vlnová délka registračního laseru mimo měřenou oblast Ramanova měření, např. v tomto případě 1064 nm, je zajištěno, že nedochází k vzájemnému ovlivňování. Bude zadavatel akceptovat řešení, kdy AFM registrační laser s vlnovou délkou mimo měřenou oblast Ramanových spekter prochází objektivem pro sběr Ramanova signálu a následně je odkloněn pomocí speciálního beamspliteru na detektor registračního systému AFM hlavy tak, že je zabráněno interferenci AFM registračního laseru a měřeného Ramanova záření, případně fotoluminiscence?
2
Reakce na žádost č. 2 Ad 1) Upravený závazný vzor kupní smlouvy byl již na profilu zadavatele uveřejněn v rámci Dodatečných informací č. 1, přičemž sousloví „New transmission electron microscope“ byl z čl. 1.1 smlouvy odstraněno s tím, že do tohoto místa uchazeč doplní specifikaci předmětu konkrétní části veřejné zakázky, na niž podává nabídku. Současně je zde uvedeno, že dodavatelé jsou nadále povinni při zpracování nabídky použít tento upravený závazný vzor smlouvy, označený jako „Příloha č. 13 – Závazný vzor smlouvy – UPRAVENÝ“. Ad 2) Technické specifikace předmětu plnění jsou závazné a uchazeč musí nabídnout takový předmět plnění příslušné části veřejné zakázky, který bude zadavatelem stanovené závazné specifikace splňovat. Technické specifikace předmětu plnění pro každou jednotlivou část veřejné zakázky jsou stanoveny jako určitá minimální úroveň, která musí být pro účely zpracování nabídky splněna. To znamená, že pokud uchazeč nabídne předmět plnění v této minimální, zadavatelem stanovené úrovni technických specifikací, či v úrovni vyšší, bude jeho nabídka po stránce technických specifikací předmětu plnění v pořádku. Pokud uchazeč nabídne předmět plnění v nižší než minimální, zadavatelem stanovené úrovni technických specifikací, hodnotící komise nebude mít jinou možnost, než takovou nabídku vyřadit. Splnění minimální, zadavatelem stanovené úrovně technických specifikací předmětu plnění se pochopitelně týká všech zadavatelem požadovaných technických specifikací, což znamená, že pokud uchazeč splní pouze část závazných požadavků a část nikoli, bude jeho nabídka vyřazena. Splnění technických specifikací předmětu plnění u každé nabídky bude velmi důkladně posouzeno hodnotící komisí, v níž bude pro tyto účely přítomen rovněž expert s odbornou způsobilostí ve vztahu k předmětu veřejné zakázky. Dotaz dle názoru zadavatele v podstatě směřuje k tomu, aby zadavatel předem ujistil konkrétního dodavatele o tom, že akceptuje i řešení, které nebude požadované technické parametry splňovat, což by ovšem znamenalo, že zadavatel rezignuje na vlastní závazné požadavky stran technických specifikací předmětu plnění. Platí, že zadávací podmínky jsou ve všech směrech totožné pro všechny dodavatele (uchazeče), kteří jsou povinni nabídnout takový předmět plnění, který bude splňovat všechny závazné parametry určené zadavatelem. Ad 3) Technické specifikace předmětu plnění jsou závazné a uchazeč musí nabídnout takový předmět plnění příslušné části veřejné zakázky, který bude zadavatelem stanovené závazné specifikace splňovat. Technické specifikace předmětu plnění pro každou jednotlivou část veřejné zakázky jsou stanoveny jako určitá minimální úroveň, která musí být pro účely zpracování nabídky splněna. To znamená, že pokud uchazeč nabídne předmět plnění v této minimální, zadavatelem stanovené úrovni technických specifikací, či v úrovni vyšší, bude jeho nabídka po stránce technických specifikací předmětu plnění v pořádku. Pokud uchazeč nabídne předmět plnění v nižší než minimální, zadavatelem stanovené úrovni technických specifikací, hodnotící komise nebude mít jinou možnost, než takovou nabídku 3
vyřadit. Splnění minimální, zadavatelem stanovené úrovně technických specifikací předmětu plnění se pochopitelně týká všech zadavatelem požadovaných technických specifikací, což znamená, že pokud uchazeč splní pouze část závazných požadavků a část nikoli, bude jeho nabídka vyřazena. Splnění technických specifikací předmětu plnění u každé nabídky bude velmi důkladně posouzeno hodnotící komisí, v níž bude pro tyto účely přítomen rovněž expert s odbornou způsobilostí ve vztahu k předmětu veřejné zakázky. Dotaz dle názoru zadavatele v podstatě směřuje k tomu, aby zadavatel předem ujistil konkrétního dodavatele o tom, že akceptuje i řešení, které nebude požadované technické parametry splňovat, což by ovšem znamenalo, že zadavatel rezignuje na vlastní závazné požadavky stran technických specifikací předmětu plnění. Platí, že zadávací podmínky jsou ve všech směrech totožné pro všechny dodavatele (uchazeče), kteří jsou povinni nabídnout takový předmět plnění, který bude splňovat všechny závazné parametry určené zadavatelem. Ad 4) Technické specifikace předmětu plnění jsou závazné a uchazeč musí nabídnout takový předmět plnění příslušné části veřejné zakázky, který bude zadavatelem stanovené závazné specifikace splňovat. Technické specifikace předmětu plnění pro každou jednotlivou část veřejné zakázky jsou stanoveny jako určitá minimální úroveň, která musí být pro účely zpracování nabídky splněna. To znamená, že pokud uchazeč nabídne předmět plnění v této minimální, zadavatelem stanovené úrovni technických specifikací, či v úrovni vyšší, bude jeho nabídka po stránce technických specifikací předmětu plnění v pořádku. Pokud uchazeč nabídne předmět plnění v nižší než minimální, zadavatelem stanovené úrovni technických specifikací, hodnotící komise nebude mít jinou možnost, než takovou nabídku vyřadit. Splnění minimální, zadavatelem stanovené úrovně technických specifikací předmětu plnění se pochopitelně týká všech zadavatelem požadovaných technických specifikací, což znamená, že pokud uchazeč splní pouze část závazných požadavků a část nikoli, bude jeho nabídka vyřazena. Splnění technických specifikací předmětu plnění u každé nabídky bude velmi důkladně posouzeno hodnotící komisí, v níž bude pro tyto účely přítomen rovněž expert s odbornou způsobilostí ve vztahu k předmětu veřejné zakázky. Dotaz dle názoru zadavatele v podstatě směřuje k tomu, aby zadavatel předem ujistil konkrétního dodavatele o tom, že akceptuje i řešení, které nebude požadované technické parametry splňovat, což by ovšem znamenalo, že zadavatel rezignuje na vlastní závazné požadavky stran technických specifikací předmětu plnění. Platí, že zadávací podmínky jsou ve všech směrech totožné pro všechny dodavatele (uchazeče), kteří jsou povinni nabídnout takový předmět plnění, který bude splňovat všechny závazné parametry určené zadavatelem.
Žádost č. 3 Dotazy k veřejné zakázce „Modernizace vybavení pro fyzikální výzkum a výuku“: „Optický a skenovací mikroskopický systém vysokého rozlišení pro chemické zobrazování“
4
1. Integrated high performance research grade AFM-Raman system for lst 2D and 3D Raman imaging, with a single software interface enabling simultaneous AFM and Raman mapping. Dotaz č. 1: Naprostá většina Raman-AFM kombinací na trhu používá dva softwary (jeden jako AFM a druhý pro Ramanův mikroskop), přičemž je-li prováděno kombinované mapování vzorků, tak je řízeno (včetně Ramanova mapování) ze software AFM mikroskopu. Je toto řešení přípustné vzhledem k požadavku na jeden software. Můžete specifikovat na nějakém konkrétním typu vzorku požadavek na úroveň prostorového (pro AFM i Raman) a spektrálního rozlišení (FWHM pro Raman) pro porozumění pojmu „Research grade AFM-RAMAN systém“? 2. AFM and Raman spectrometer coupling path must have the lowest possible amount of optical components (mirrors, objectives, filters) to reduce losses of useful signal. Please specify how the coupling is done and the number of optical compnents of the coupling. Dotaz č. 2: Prosím specifikujte nejvyšší přípustný počet optických komponent. Popř. číselnou hodnotu požadované propustnosti. 3. System must enable scanning in combined mode (AFM/Raman) by a sample scanning Dotaz č. 3: Prosím specifikujte, co je myšleno popisem „scanning in combined mode“. 4. To allow maximal performance and durability, Dichroic Razor Edge Beam Splitters are required for all theree excitation wavelenths enabling measurements of the Raman spektra from at least 100 cm-1 Dotaz č. 4: Je skutečně požadován pouze „Dichroický filtr“? Je přípustná implementace Razor Edge Beam Splitterů jiných principů s lepšími parametry? 5. Spectrometer should be equipped with two sets of grating, one blazed in VIS and the other in NIR enabling to measure both panoramic (cca 100-3800 cm-1 ) and highly resolved Raman spektra with all three excitation wavelenghts (532 nm, 633 nm and 785 nm) Dotaz č. 5: Prosím specifikujte (nejlépe číselně), co je myšleno souslovím „highly resolved“. Kolik je celkem požadováno mřížek pro každý laser, resp. co znamená „two sets of gratings“? 6. Full control of AFM and Raman functions through 1 interface Dotaz č. 6: co je myšleno slovem „interface“? 7. 532 nm, 50mW output power 785 nm, 300mW output power Raman filter sets for 532 nm, 633 nm and 785 nm excitation Dotaz č. 7: Ze specifikace není jasné, zda je tedy požadován laser s excitací 633 nm jako součást dodávky. Požadovány jsou pro něj pouze filtr a mřížky. je 633 nm laser požadován? Pokud ano, s jakou hodnotou výkonu? V textu zadání je uvedeno: 5
System must enable measurement in modes: o AFM (contact mode, tapping mode) o MFM o Phase and force modulation imaging o Kelvin probe force microscopy o EFM o CM ( conductivity measurements) o air and liquid measurements o temperature controlled measurements o SNOM a dále pak: System should be capable to operate with min. 3 types of cantilevers, Si-tip, STM wire, Tuning fork, SNOM optical fibre Dotaz č. 8: Znamená to, že nabízený systém má být vybavený pro měření i v režimech STM a Tunning fork? Dotaz č. 9: V jakém teplotním rozsahu budete provádět Vaše experimenty na AFM? Dotaz č. 10: S jakým objemem kapaliny a v jakém typu kapalinové cely (např. Petriho misky, materiál odolný chemikáliím, uzavřené kapalinové cely s možností perfuze kapaliny a plyny apod.) potřebujete pracovat na AFM? Dotaz č. 11: Vyžadujete pro bezpečnou práci s kapalinami parotěsné a kaplino-těsné skenery pro zamezení poškození vysokonapěťové piezo-keramiky AFM skenerů vlhkosti?
Reakce na žádost č. 3 Ad Dotaz č. 1 V zadání je explicitně požadován integrální systém, který využívá jeden software pro ovládání obou modalit. Důvodem jsou obavy z nekompatibilit. Pokud naprostá většina Raman-AFM nabídne pouze kombinaci dvou odlišných softwarů, budeme k tomu muset přihlédnout a vybrat si z nich, ale preferujeme jeden integrální systém, jak je v zadání uvedeno. Pokud jde o konkrétní specifikaci prostorového a spektrálního rozlišení, tady těžko poskytneme příklad nějakého konkrétního vzorku. V případě prostorového rozlišení pro Ramana naprosto vyhovuje to, které poskytne pohyb piezoelektrického posuvu, který je specifikován v požadavcích na jemný pohyb stolečku. Ad Dotaz č. 2 V tomto bodě by to měl být naopak dodavatel, který uvede, kolik optických elementů je použito ve sběrné dráze v jeho zařízení. Jako naprosté teoretické minimum lze považovat 4 (objektiv, dichroický filtr, další hranový nebo notch filtr, fokusační optika pro navázání do spektrografu), ale v reálu to bude více. 6
Ad Dotaz č. 3 Tento požadavek říká, že by systém měl umožňovat měřit najednou AFM i Ramana. Ad Dotaz č. 4 Tento požadavek spíše než na konkrétní typ filtrů směřuje k tomu, že by systém měl obsahovat sady filtrů (dichroický i ten druhý edge/notch na dočištění) pro všechny požadované excitace, a že by to měly být kvalitní filtry (s dlouho dobou životnosti) se strmou hranou kolem 100 cm-1. Tady není žádné omezení na výrobce nebo použitou technologii Ad Dotaz č. 5 Systém by měl obsahovat takový počet mřížek (vyměnitelných nebo umístěných ve dvou samostatných spektrografech), aby pro každou excitaci bylo možné změřit jak panoramatické spektrum (100 – 3800 cm-1) tak spektrum s vyšším rozlišením, tj. oblast ca 100 – 1800 cm-1 (plus minus). Pro excitaci 532 a 633 nm by měly být blejzované do VIS, pro 785 nm do NIR. Pod pojmem „highly resolved“ rozumíme právě spektrum v rozsahu ca 100 – 1800 cm-1 zobrazené na celou délku CCD detektoru. Pojem „two sets of gratings“ znamená, že pro VIS ( 532 a 633 nm) může být použita stejná sada mřížek s tím, že akceptujeme rozdílné rozsahy pokrytí, které z toho plynou. Ad Dotaz č. 6 Pod jedním interface se rozumí ovládání obou modalit pomocí jednoho řídícího programu z jednoho počítače. Ad Dotaz č. 7 Laser 633 nm nemusí být součástí dodávky, protože použitelný laser máme k dispozici. Požadovány jsou pouze filtry a mřížky pro tuto excitaci. Ad Dotaz č. 8 Ano. Ad Dotaz č. 9 Zatím uvažujeme o rozsahu od pokojové teploty po cca 45°C, pokud bychom měřili na biologickém materiálu. Ad Dotaz č. 10 Toto zatím nemáme vyjasněno. Ad Dotaz č. 11 Ano.
7
Následující dodatečné informace k zadávacím podmínkám poskytuje zadavatel ve smyslu ustanovení § 49 odst. 4 ZVZ: Zadavatel uveřejnil na profilu zadavatele rovněž anglickou verzi zadávacích podmínek, tj. konkrétně Odůvodnění veřejné zakázky, Zadávací dokumentaci, Přílohu č. 12 – Vzor krycího listu a Přílohu č. 13 – Závazný vzor smlouvy. Přílohy č. 1 až č. 11, obsahující technické specifikace pro jednotlivé části veřejné zakázky, byly zpracovány v anglické verzi již v původním znění. Zadavatel nechal zpracovat anglický překlad zadávacích podmínek, neboť předpokládá, že nabídku na veřejnou zakázku by mohl podat zahraniční dodavatel. Rozhodující a směrodatnou verzí pro případ rozdílů mezi českým originálem zadávacích podmínek a anglickým překladem zůstává česká verze zadávacích podmínek. Přílohou těchto dodatečných informací jsou tyto části zadávacích podmínek v anglickém jazyce: a) b) c) d)
Justification of a Public Contract Tender Dossier Appendix No 12 – Pattern Cover Sheet Appendix No 13 – Binding Model Contract
V Praze dne 11. září 2014
v. z. JUDr. Marian Polický, v. r. zástupce administrátora
8