Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů
Nanoindentace Pavel Matějka
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace
2. Optická spektroskopie blízkého pole 1.
UV-vis – absorpční a fluorescenční 1. 2.
Instrumentace Příklady využití
2. Infračervená – NIR a MIR 1. 2.
Instrumentace Příklady využití
3. Ramanova 1. 2.
Instrumentace Srovnání s TERS
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Brief History of NSOM
Ideas started in mid-1980’s; D.W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett.44, 651-3 (1984). A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Murray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984); Technology developed in 1990’s; Eric Betzig, et al. Science, 262, 1422-1425 (1993). Eric Betzig, et al. Nature, 2369, 40-42 (1994). Prototype commercial available since 2000’s
Mikroskopie rastrovací sondou Rastrování povrchu
Optická nanospektroskopie Techniky blízkého pole sonda v blízkosti povrchu („blízké pole“) Mikroskopie blízkého pole Spektroskopie blízkého pole (near-field spectroscopy)
SNOM – scanning near-field optical microscopy UV-vis, IR (IR-SNOM), Ramanova spektroskopie absorpce, fotoluminiscence, fluorescence, fotoindukovaný přenos náboje rozlišení lepší než 50 nm spektroskopie jedné molekuly
Optická nanospektroskopie
vzdálenost sondy – 10 nm apertura sondy optické spřažení mezi špičkou sondy a vzorkem sonda reaguje na změny dielektrické funkce v jejím okolí režimy snímání transmisní (jen transparentní vzorky) reflexní – ostrá sonda – vysílač, přijímač
SNOM - úvod
Transmisní režim lze použít jen pro studium transparentních látek •Záření prošlé vzorkem sbíráno inverzním mikroskopem •V reflexním módu je měřena intenzita světla odraženého od povrchu
SNOM - úvod
SNOM - součásti Optické Zdroje světla, optická vlákna, zrcadla, čočky, objektivy, fotodetektory, difrakční mřížky/filtry, hrotová SONDA
Mechanické Polohování vzorku Polohování sondy Antivibrační optická lavice
Elektrické Zpětnovazebný systém pro polohování – svisle, laterálně Zesilovače, zpracování signálu Řízení experimentu
SNOM - úvod
Příprava optických vláken: chemické leptání nebo zahřátí vlákna a natažení •Tažená vlákna: zužuje se nejen vlákno ale i jádro, není nutné pokovení, výhodou je hladký povrch, nevýhodou je malý světelný výkon a snadné poškození •Leptaná vlákna: jádro se nezužuje, je nezbytné pokovení hliníkem. Apertura se vytvoří jemným přitlačením hrotu k povrchu „vzorku“. Výhodou je lepší světelný výkon, lepší potlačení ztrát v dalekém poli, větší odolnost •Snadnost poškození a obtížnost výroby jsou hlavními důvody finanční náročnost práce v oblasti SNOM
Luminiscenční nanospektroskopie
Luminiscenční nanospektroskopie
Infračervená nanospektroskopie
Infračervená nanospektroskopie Techniky pro MIR oblast
optická vlákna a sonda z chalkogenidů – propustnost v MIR křehké, omezená životnost, omezený spektrální rozsah
sonda skenuje povrch – bod po bodu kritická je apertura sondy a její vzdálenost od povrchu
Výhody a problémy SNOM VÝHODY překonání difrakční limity – „nanorozlišení“ nedestruktivní metoda flexibilní režimy snímání
PROBLÉMY technologické nároky na konstrukci SNOM sondy nízká intenzita detekovaného záření nároky na citlivost detektoru
Výhody IR SNOM kombinace SNOM a IR záření prostorové rozlišení SNOM – jednotky nanometrů chemické rozlišení - chemická specificita IR spekter chemická charakterizace nanomateriálů nanodomény
Příklady použití – organické nanokompozitní materiály
• domény • polystyren • Poly-2-vinylpyridin
kontrast při 2950 cm-1
Příklady použití – organické nanokompozitní materiály
• domény – polystyren – poly-2-vinylpyridin
Příklady použití – buněčné kultury
• 20 x 20 μm IR SNOM obrazy – 1515 cm-1
– 1440 cm-1
Příklady použití – NIR SNOM
Příklady použití – NIR SNOM
Raman - NSOM
Raman -• vzdálenost NSOM sondy – do 10 nm • apertura sondy • režimy snímání kolmá či šikmá laserová excitace
NANOINDENTACE Měření mikro-/nano- mechanických vlastností - tvrdost? - zatlačování miniaturního hrotu (většinou diamantu) do materiálu na úrovni nm-µm
Tvary hrotu: - sférický - pyramidální (Berkowich) - jehlan (Vickers) - jiné
NANOINDENTACE
Z pracovního diagramu Síla-hloubka Např.. -z odtěžovací větve – elasticita -z fáze držení zatížení – viskózní vlastnosti
NANOINDENTACE
Z pracovního diagramu Síla-hloubka Např.. -z odtěžovací větve – elasticita -z fáze držení zatížení – viskózní vlastnosti
NANOINDENTACE
NANOINDENTACE - tvary hrotů
NANOINDENTACE
• AFM sonda – na průhybovém nosníku • Maximální síla 100 µN
• Tuhá sonda • Široký silový rozsah 100 nN až 10 N
NANOINDENTACE
NANOINDENTACE Nanoindenter Nanotest (Micro Materials, UK) • Jednoduchá teplotní a vlhkostní komora • Sférická indentace • Pyramidální indentace (Berkowich) • Horizontální pozice vzorku • Zoom mikroskop 5x,10x, 20x, 40x • High-load 0.1-20 N a low-load head 0.1-500 mN • Vysokoteplotní pec (500 °C)
NANOINDENTACE CSM-Instrument Nanohardness tester • Špičková klimatická komora • Pyramidální indentace (Berkowich) • Optický mikroskop 5x,100x -Nikon • (4000x CCD kamera) • Měřící rozsah 0.1-500 mN • Rozlišení hloubky 0.5 nm • Reference-ring system • Cyklické zatěžování • Statické and dynamické testy
NANOINDENTACE