SKRIPSI KAJIAN METODE PENENTUAN UMUR SIMPAN PRODUK FLAT WAFER DENGAN METODE AKSELERASI BERDASARKAN PENDEKATAN MODEL KADAR AIR KRITIS

SKRIPSI

KAJIAN METODE PENENTUAN UMUR SIMPAN PRODUK FLAT WAFER DENGAN METODE AKSELERASI BERDASARKAN PENDEKATAN MODEL KADAR AIR KRITIS

Oleh: AJI NUGROHO F24103039

2007 FAKULTAS TEKNOLOGI PERTANIAN INSTITUT PERTANIAN BOGOR BOGOR

KAJIAN METODE PENENTUAN UMUR SIMPAN PRODUK FLAT WAFER DENGAN METODE AKSELERASI BERDASARKAN PENDEKATAN MODEL KADAR AIR KRITIS

SKRIPSI Sebagai salah satu syarat untuk memperoleh gelar SARJANA TEKNOLOGI PERTANIAN pada Departemen Ilmu dan Teknologi Pangan Fakultas Teknologi Pertanian Institut Pertanian Bogor

Oleh: AJI NUGROHO F24103039

2007 FAKULTAS TEKNOLOGI PERTANIAN INSTITUT PERTANIAN BOGOR BOGOR

INSTITUT PERTANIAN BOGOR FAKULTAS TEKNOLOGI PERTANIAN KAJIAN METODE PENENTUAN UMUR SIMPAN PRODUK FLAT WAFER DENGAN METODE AKSELERASI BERDASARKAN PENDEKATAN MODEL KADAR AIR KRITIS SKRIPSI Sebagai salah satu syarat untuk memperoleh gelar SARJANA TEKNOLOGI PERTANIAN pada Departemen Ilmu dan Teknologi Pangan Fakultas Teknologi Pertanian Institut Pertanian Bogor Oleh: AJI NUGROHO F24103039 Dilahirkan pada tanggal 30 Januari 1985 di Pati, Jawa Tengah Tanggal lulus : 30 Agustus 2007 Menyetujui, Bogor,

September 2007

Ir. Elvira Syamsir, MSi.

Dr. Ir. Feri Kusnandar, MSc.

Dosen Pembimbing I

Dosen Pembimbing II Mengetahui,

Dr. Ir. Dahrul Syah, MSc. Ketua Departemen Ilmu dan Teknologi Pangan

Aji Nugroho. F24103039. Kajian Metode Penentuan Umur Simpan Produk Flat Wafer Dengan Metode Akselerasi Berdasarkan Pendekatan Model Kadar Air Kritis. Di bawah bimbingan Ir. Elvira Syamsir, MSi. dan Dr. Ir. Feri Kusnandar, MSc. 2007. RINGKASAN Wafer merupakan salah satu jenis biskuit yang sudah dikenal luas oleh masyarakat. Banyak tipe wafer yang berada di pasaran tapi dalam penelitian ini digunakan flat wafer tanpa lapisan coating. Menurut survei konsumen, rasa dan tekstur wafer merupakan mutu utama produk wafer. Mutu produk wafer tersebut akan mengalami reaksi penurunan selama penyimpanan. Sebanyak 82.5% dari 40 orang konsumen menyatakan bahwa penurunan mutu wafer yang mudah teridentifikasi secara organoleptik adalah tekstur wafer yang mulai lembek (kerenyahan wafer menurun) yang disebabkan penyerapan uap air oleh wafer sehingga kadar air wafer meningkat. Tujuan dari penelitian ini adalah menentukan umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis dan modek kadar air kritis termodifikasi. Selain itu, penelitian ini bertujuan untuk mendapatkan model dalam pendekatan kadar air kritis yang sesuai dan efisien untuk menentukan umur simpan wafer. Kandungan gizi wafer ditentukan dengan menggunakan analisis proksimat. Kandungan gizi wafer A dan wafer B tidak berbeda nyata dengan uji statistik pada taraf 5%. Kadar air wafer A dan wafer B dalam basis basah adalah 1.63% dan 1.21%, kadar abu wafer A dan wafer B adalah 1.24% dan 1.04%, kadar protein wafer A dan wafer B adalah 5.80% dan 6.70%, kadar lemak wafer A dan wafer B adalah 20.15% dan 19.75%, dan kadar karbohidrat wafer A dan wafer B adalah 71.18% dan 71.30%. Kandungan gizi wafer A dan wafer B sudah sesuai dengan syarat mutu SNI 01-2973-1992 tentang syarat mutu biskuit kecuali kadar proteinnya. Perbedaan kerenyahan/tekstur awal wafer A (343.40 gf) dan wafer B (503.04 gf) disebabkan perbedaan porositas wafer dimana wafer A lebih porus daripada wafer B. Semakin porus maka wafer akan lebih banyak dan cepat menyerap uap air sehingga proses penurunan tekstur wafer lebih cepat. Tekstur kritis wafer berdasarkan uji organoleptik (hedonik,rating) terjadi pada saat kerenyahan wafer A (249.94, 252.13 gf) dan wafer B (331.05, 333.34 gf). Langkah pertama dalam menentukan umur simpan wafer berdasarkan kedua model yang digunakan adalah menentukan kadar air awal dan kadar air kritis wafer serta variabel pendukung umur simpan wafer (permeabilitas kemasan (k/x), luas kemasan (A), dan berat solid per kemasan (Ws). Kadar air awal wafer A dan wafer B adalah 0.0166 dan 0.0123 g H2O/g solid. Kadar air kritis wafer A dan wafer B ditentukan berdasarkan uji hedonik adalah 0.0466 dan 0.0412 g H2O/g solid sedangkan berdasarkan uji rating adalah 0.0457 dan 0.0409 g H2O/g solid. Kadar air kritis berdasarkan dua uji organoleptik yang digunakan relatif sama namun akan tetap mempengaruhi umur simpan wafer yang akan dihasilkan. Luas kemasan yang diuji adalah sebesar 0.0117 m2 untuk wafer A dan 0.0161 m2 untuk wafer B. Berat solid per kemasan wafer A dan wafer B adalah wafer A dan B adalah 18.37 gram dan 31.35 gram. Selain menggunakan kemasan asli juga digunakan kemasan plastik PP tebal dengan luas 0.0150 m2 dan berat

solid 25 gram. Nilai k/x kemasan asli wafer A, wafer B, dan PP tebal secara berturut-turut adalah 0.0078, 0.0061, dan 0.0739 gH2O/hari/m2.mmHg. Umur simpan wafer akan ditentukan pada tempat penyimpanan dengan RH 70%, 75%, 80%, dan 90%. Variabel lain yang harus ditentukan untuk menentukan umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis adalah kadar air kesetimbangan wafer, kurva sorpsi isotermis wafer, model sorpsi yang tepat, dan nilai slope kurva sorpsi isotermis. Kadar air kesetimbangan (dalam g H2O/100g solid) pada kelembaban relatif kesetimbangan 38.3%, 47.4%, 54.4%, 75.3%, 82.3%, dan 94.7% adalah berturut-turut (wafer A, wafer B): (2.75 dan 2.77), (3.80 dan 3.48), (4.69 dan 4.48), (11.68 dan 11.48), (21.83 dan 23.13). Setelah itu dibuat kurva sorpsi isotermis wafer A dan wafer B yang menghubungkan kadar air kesetimbangan (diubah dalam g H2O/g solid) dengan aktivitas airnya. Berdasarkan perhitungan Mean Relative Determination (MRD), model matematis menggambarkan kurva sorpsi isotermis dangan tepat adalah model Hasley. Nilai slope (b) kurva sorpsi isotermis (b) ditentukan pada daerah linear yaitu diantara daerah kadar air awal dan kadar air kritis. Terdapat tiga nilai slope (b) yang diperoleh (b1, b2, b3) untuk wafer A dan wafer B. Perbedaan nilai slope akan mempengaruhi umur simpan yang akan dihasilkan. Variabel lain yang harus ditentukan untuk menentukan umur simpan wafer dengan model kadar air kritis termodifikasi adalah nilai perbedaan tekanan ( P). Nilai P ini sangat dipengaruhi oleh aspek produk (aw) dan kondisi penyimpana (RH). Nilai aw yang digunaka adalah nilai aw yang telah dikoreksi dengan persamaan model Hasley yaitu 0.253 untuk wafer A dan 0.196 untuk wafer B. Koreksi ini dilakukan karena alat awmeter kurang sensitif untuk produk pangan kering. Nilai P pada kelembaban relatif 70%, 75%, 80%, dan 90% adalah berturut-turut (wafer A, wafer B): (14.225 dan 16.039 mmHg), (15.817 dan 17.630 mmHg), (17.408 dan 19.222 mmHg), dan (20.590 dan 22.404 mmHg). Umur simpan wafer akan semakin menurun dengan peningkatan kelembaban relatif (RH) ruang penyimpanan. Perbedaan umur simpan wafer A dan wafer B dipengaruhi oleh faktor di luar produk yaitu permeabilitas kemasan, luas kemasan, dan berat solid per kemasan. Perbedan porositas wafer tidak mempengaruhi umur simpan wafer. Berdasarkan penelitian, umur simpan wafer yang dihasilkan antara dua model yang digunakan cenderung sama pada kisaran RH 70-80%. Pada RH 90%, umur simpan wafer berdasarkan model kurva sorpsi isotermis berbeda jauh dengan umur simpan dengan model kadar air kritis termodifikasi. Hal ini disebabkan model kurva sorpsi yang digunakan adalah model Hasley yang sangat cocok untuk produk pangan dengan range RH 10-81%. Selain itu, umur simpan wafer berdasarkan uji hedonik relatif sama dengan umur simpan wafer berdasarkan uji rating. Oleh karena itu, model kadar air kritis termodifikasi dapat digunakan untuk menentukan umur simpan wafer pada range RH 70-80% dengan metode penentuan kadar air kritis berdasarkan uji rating.

RIWAYAT PENULIS Penulis dilahirkan di Pati, 30 Januari 1985 dan merupakan anak pertama dari pasangan Sudjiman dan Muryaningsih. Pendidikan formal ditempuh penulis di SDN 01 Kauman Juwana, SLTPN 1 Juwana, SMUN 1 Pati, dan berhasil masuk Institut Pertanian Bogor (IPB) melalui jalur USMI (Ujian Seleksi Masuk IPB) di Departemen Ilmu dan Teknologi Pangan, Fakultas Teknologi Petanian. Selama masa kuliah, penulis aktif di berbagai kegiatan intra dan ekstra kampus. Penulis adalah anggota Unit Kegiatan Mahasiswa (UKM) Persekutuan Mahasiswa Kristen IPB (PMK) (2003-2007), anggota Komisi Pelayanan Anak (KPA) PMK IPB (2003-2007), staf Divisi Profesi di Himpunan Mahasiswa Teknologi Pangan IPB (HIMITEPA) (2005), anggota dari tim basket Departemen dan Fakultas (2003-2007), dan staf Departemen Musik Gereja Bethel Indonesia Ciomas Bogor (2004-2007). Beberapa prestasi yang telah diraih penulis adalah juara III Olimpiade FATETA (2003), peraih beasiswa PPA IPB (2004-2006), peraih best winner dalam kompetisi menulis Write n Win yang diselenggarakan oleh FILA (2007), juara II Olimpiade FATETA (2007), dan peraih proyek penelitian yang dibiayai oleh Laboratorium Jasa Analisis (LJA) Departemen Ilmu dan Teknologi Pangan IPB (2007). Penulis mengakhiri masa studi di IPB dengan menyelesaikan skripsi yang berjudul “Kajian Metode Penentuan Umur Simpan Produk Flat Wafer Berdasarkan Metode Akselerasi Dengan Pendekatan Model Kadar Air Kritis” di bawah bimbingan Ir. Elvira Syamsir, MSi. dan Dr. Ir. Feri Kusnandar, MSc. Penelitian yang dilakukan didanai oleh Laboratorium Jasa Analisis (LJA) Departemen Ilmu dan Teknologi Pangan IPB.

i

KATA PENGANTAR

Puji dan syukur kepada Tuhan Yesus Kristus karena penyelesaian skripsi terjadi bukan atas kekuatan penulis sendiri, melainkan juga atas anugerah kekuatan-Nya. Terima kasih untuk setiap kegagalan dan keberhasilan yang terus menempa keuletan penulis. Selain itu, banyak pihak yang juga telah membantu penulis selama perjalanan hidup dan pelaksanaan tugas akhir. Oleh karena itu, pada kesempatan ini penulis menyampaikan terima kasih yang mendalam kepada: 1. Ir. Elvira Syamsir, MSi sebagai dosen pembimbing akademik, atas bimbingan, dorongan, dan saran-saran yang telah memberi semangat kepada penulis selama belajar di IPB. 2. Dr. Ir. Feri Kusnandar, MSc sebagai dosen pembimbing skripsi, atas saransaran dan pengetahuan yang mendorong penulis menyelesaikan tugas akhir. 3. Dr. Ir. Dede R. Adawiyah, MSi atas kesediaannya sebagai dosen penguji dan masukan-masukan yang membangun selama sidang. 4. Bapak Daniel Komesakh dan keluarga, atas dukungan, bimbingan, penghibuaran kepada penulis selama tinggal di Bogor. 5. Keluargaku; Ibu, Koko, Rina, dan Eyang putri, atas perhatian, dukungan, semangat, penghiburan, saran, dan doa sehingga penulis menjadi kuat dalam segala hal. 6. Sahabat kecilku; Lian, Manna, Westri, Ciwit, Andrik, Nanda, Eye, Anus dan Timur, atas persahabatan dan kenangan pelayanan di gereja dan di sekolah. 7. Anas, Rika, Tya, Agnes, Titin, Fena, Greth, Andreas, Agus, Eko, Lele, dan Bebe, atas persahabatan yang terjalin. Thanks for all 8. Kakak rohaniku; K’Linda, K’Pretty, K’Lena, K’Mel, K’Martin, dan K’Hana, atas dukungan doanya dan bimbingannya. I Miss You all. 9. Perwira 45; Pa De, Uwing, Valent, Lisa, Ci Ine, Yoana, Hendy, dll, atas kekeluargaan dan kebersamaan selama penulis tinggal di Bogor. 10. Temen-temen TPG 40; Tilo, Ola, Nana, Dey, dll, atas kenangan selama kuliah dan dukungan kepada penulis selama penelitian. 11. Kak Ana, atas pinjaman bahan-bahan kimianya sehingga penulis bisa menyelesaikan penelitian.

ii

12. Temen seperjuangan; Mona dan Mardi, atas kesempatan bekerjasama dan diskusi dalam menyelesaikan penelitian ini. 13. Pengerja GBI Ciomas; Maria, Lia, Glory, David, Pa’Fredy, dll, atas kerjasama pelayanan musik. 14. Staf dan Teknisi Laboratorium ITP dan LJA; Mba Darsi, Bu Rub, Pa Sobirin, Mba Yuli, Mba Yane, dan Pa Wahid, atas bantuan dan saran-sarannya selama penulis melakukan penelitian. 15. Setiap individu dan institusi yang tidak dapat disebutkan satu persatu, atas kesediaannya membantu penulis. Penulis menyadari bahwa masih banyak kekurangan dalam pelaksanaan penelitian dan penyusunan skripsi ini. Oleh karena itu, kritik dan saran yang membangun sangat diharapkan. Penulis berharap agar skripsi ini dapat bermanfaat bagi berbagai pihak dengan berbagai cara.

Bogor, September 2007

Penulis

iii

DAFTAR ISI Halaman KATA PENGANTAR .......................................................................................... i DAFTAR ISI ......................................................................................................iii DAFTAR TABEL .............................................................................................. vi DAFTAR GAMBAR......................................................................................... vii DAFTAR LAMPIRAN....................................................................................... ix I. PENDAHULUAN ......................................................................................... 1 A. LATAR BELAKANG.............................................................................. 1 B. TUJUAN.................................................................................................. 3 C. MANFAAT.............................................................................................. 3 II. TINJAUAN PUSTAKA................................................................................. 4 A. WAFER ................................................................................................... 4 B. PENURUNAN MUTU WAFER .............................................................. 6 C. AKTIVITAS AIR..................................................................................... 8 D. KADAR AIR KESETIMBANGAN ....................................................... 10 E. KURVA SORPSI ISOTERMIS.............................................................. 11 F. MODEL PERSAMAAN SORPSI ISOTERMIS ..................................... 12 G. KEMASAN............................................................................................ 15 H. UMUR SIMPAN.................................................................................... 16 III. METODOLOGI........................................................................................... 19 A. BAHAN DAN ALAT ............................................................................ 19 1. BAHAN ........................................................................................... 19 2. ALAT .............................................................................................. 20 B. TAHAPAN PENELITIAN..................................................................... 20 1. PENELITIAN PENDAHULUAN .................................................... 20 a. Penentuan Atribut Utama dan Kerusakan Wafer ........................... 20 b. Penentuan Karakteristik Awal Wafer ............................................ 20 2. PENELITIAN UTAMA ................................................................... 21 a. Pendekatan Kurva Sorpsi Isotermis............................................... 21

iv

Halaman b. Pendekatan Kadar Air Kritis Termodifikasi .................................. 22 C. METODE ANALISIS ............................................................................ 22 1. PENENTUAN KARAKTERISTIK AWAL WAFER ....................... 22 a. Penentuan Kadar Air..................................................................... 22 b. Penentuan Kadar Abu ................................................................... 23 c. Penentuan Kadar Protein............................................................... 23 d. Penentuan Kadar Lemak............................................................... 24 e. Penentuan Kadar Karbohidrat ....................................................... 24 f. Pengukuran Aktivitas Air (aw)....................................................... 25 g. Penentuan Tekstur (Kerenyahan) Dengan Texture Analyzer.......... 25 2. PENENTUAN KADAR AIR KRITIS WAFER................................ 26 3. ANALISIS KOMPERATIF ANTARA PENGUKURAN TEKSTUR (OBYEKTIF) DENGAN SENSORIK .............................................. 27 a. Penentuan Tekstur Kritis Wafer Dengan Uji Hedonik ................... 27 b. Penentuan Tekstur Kritis Wafer Dengan Uji Rating...................... 27 4. PENENTUAN VARIABEL PENDUKUNG UMUR SIMPAN ........ 27 a. Penentuan Permeabilitas Kemasan................................................ 27 b. Penentuan Berat Kering per Kemasan dan Luas Kemasan............. 29 5. PENENTUAN UMUR SIMPAN WAFER DENGAN MODEL KURVA SORPSI ISOTERMIS ........................................................ 29 a. Penentuan Kadar Air Kesetimbangan dan Kurva Sorpsi Isotermis. 29 b. Penentuan Model Sorpsi Isotermis................................................ 30 c. Uji Ketepatan Model..................................................................... 30 d. Penentuan Nilai Slope Kurva Sorpsi Isotermis .............................. 31 e. Perhitungan Umur Simpan Wafer (Labuza, 1968)......................... 31 6. PENENTUAN UMUR SIMPAN WAFER DENGAN MODEL KADAR AIR KRITIS TERMODIFIKASI ....................................... 32 a. Penentuan Perbedaan Tekanan Di Luar dan Di Dalam Kemasan....... 32 b. Perhitungan Umur Simpan Wafer ..................................................... 33 IV. HASIL DAN PEMBAHASAN .................................................................... 34 A. KARAKTERISTIK AWAL WAFER ..................................................... 34

v

Halaman 1. ATRIBUT DAN KERUSAKAN WAFER........................................ 34 2. KARAKTERISTIK WAFER A DAN WAFER B............................. 36 B. KADAR AIR KRITIS WAFER.............................................................. 40 1. UJI HEDONIK................................................................................. 41 2. UJI RATING..................................................................................... 42 C. ANALISIS KOMEPERATIF TEKSTUR SECARA OBYEKTIF DAN SUBYEKTIF ......................................................................................... 44 1. PERUBAHAN TEKSTUR WAFER SELAMA PENYIMPANAN... 44 2. PERBANDINGAN TEKSTUR SECARA OBYEKTIF DAN SUBYEKTIF.................................................................................... 45 D. VARIABEL PENDUKUNG UMUR SIMPAN WAER .......................... 49 E. PENDEKATAN MODEL KURVA SORPSI ISOTERMIS .................... 50 1. KURVA SORPSI ISOTERMIS........................................................ 51 2. MODEL SORPSI ISOTERMIS........................................................ 54 3. NILAI SLOPE (b) KURVA SORPSI ISOTERMIS .......................... 58 F. PENDEKATAN MODEL KADAR AIR KRITIS TERMODIFIKASI.... 60 G. ANALISIS UMUR SIMPAN WAFER................................................... 62 1. PERBANDINGAN MODEL PENDEKATAN UMUR SIMPAN ..... 62 2. PERBANDINGAN UMUR SIMPAN WAFER MENGGUNAKAN PERBEDAAN NILAI MC ................................................................ 65 V. KESIMPULAN DAN SARAN .................................................................... 68 A. KESIMPULAN...................................................................................... 68 B. SARAN.................................................................................................. 69 DAFTAR PUSTAKA ........................................................................................ 71 LAMPIRAN ...................................................................................................... 75

vi

DAFTAR TABEL

Halaman Tabel 1. Standar mutu biskuit menurut SNI 01-2973-1992................................... 4 Tabel 2. Spesifikasi probe dan setting untuk produk biskuit ............................... 25 Tabel 3. RH larutan garam jenuh yang digunakan pada suhu 30oC ..................... 30 Tabel 4. Karakteristik wafer A dan wafer B ....................................................... 37 Tabel 5. Hasil analisis proksimat A dan wafer B ................................................ 37 Tabel 6. Titik kritis wafer berdasarkan uji organoleptik...................................... 47 Tabel 7. Titik kritis wafer berdasarkan kadar air kritis wafer.............................. 48 Tabel 8. Kadar air kesetimbangan (Me) wafer A dan wafer B dan waktu pencapaiannya dibeberapa RH penyimpanan ....................................... 52 Tabel 9. Persamaan kurva sorpsi isotermis wafer A............................................ 55 Tabel 10. Persamaan kurva sorpsi isotermis wafer B.......................................... 55 Tabel 11. Hasil perhitungan nilai MRD model sorpsi isotermis* ........................ 56 Tabel 12. Nilai aktivitas air (aw) kritis berdasarkan model Hasley ...................... 58 Tabel 13. Nilai slope (b) kurva sorpsi isotermis wafer........................................ 58 Tabel 14. Nilai P wafer A dan wafer B menggunakan awmeter ........................ 61 Tabel 15. Nilai P wafer A dan wafer B berdasarkan model Hasley................... 61 Tabel 16. Umur simpan wafer A berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji hedonik ............ 63 Tabel 17. Umur simpan wafer B berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji hedonik ............ 63 Tabel 18. Kadar air kritis wafer berdasarkan uji organoleptik............................. 66 Tabel 19. Umur simpan wafer A berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji rating ............... 66 Tabel 20. Umur simpan wafer B berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji rating ............... 66

vii

DAFTAR GAMBAR Halaman Gambar 1. Jenis-jenis wafer (A1) flat wafer (coated), (A2) flat wafer (uncoated), (B1) stick wafer (uncoated), (B2) stick wafer (coated) ........................ 6 Gambar 2. Kurva pertambahan kadar air produk biskuit terkemas........................ 8 Gambar 3. Kurva aktivitas air produk pangan ...................................................... 9 Gambar 4. Grafik kenaikan kadar air menuju ke kadar air kesetimbangan selama penyimpanan pada berbagai kondisi RH ........................................... 10 Gambar 5. Kurva sorpsi isotermis secara umum (deMan, 1979)......................... 12 Gambar 6. Wafer A dan wafer B........................................................................ 19 Gambar 7. Profil kerenyahan dan kekerasan yang diuji dengan Texture Analyzer26 Gambar 8. (a) Permatran Mocon W*3/31 (b) prinsip kerja penentuan WVTR .... 28 Gambar 9. Atribut wafer berdasarkan survei konsumen ..................................... 34 Gambar 10. Parameter kritis wafer..................................................................... 36 Gambar 11. Grafik hubungan lama penyimpanan wafer dengan skor kesukaan .. 41 Gambar 12. Contoh penentuan kadar air kritis wafer A berdasarkan uji hedonik 42 Gambar 13. Grafik hubungan lama penyimpanan wafer dengan skor rating kerenyahan wafer........................................................................... 43 Gambar 14. Contoh penentuan kadar air kritis wafer A berdasarkan uji rating ... 43 Gambar 15. Penurunan kerenyahan wafer selama penyimpanan (relatif terhadap nilai kerenyahan awal wafer) ......................................................... 45 Gambar 16. Kurva hubungan antara skor organoleptik dengan kerenyahan wafer A dan wafer B (a) Uji Hedonik (b) Uji Rating............................... 46 Gambar 17. Kurva hubungan antara skor organoleptik dengan % kerenyahan wafer A dan wafer B (a) Uji Hedonik (b) Uji Rating...................... 46 Gambar 18. Kurva hubungan antara nilai kerenyahan (gf) dengan kadar air wafer selama penyimpanan...................................................................... 47 Gambar 19. Kemasan wafer A dan wafer B........................................................ 50 Gambar 20. Pertumbuhan kapang pada RH 94.7% ............................................. 53 Gambar 21. Kurva sorpsi isotermis hasil percobaan wafer A dan wafer B .......... 54

viii

Halaman Gambar 22. Perbandingan kurva sorpsi isotermis wafer A hasil percobaan dengan model Hasley................................................................................. 57 Gambar 23. Perbandingan kurva sorpsi isotermis wafer B hasil percobaan dengan model Hasley................................................................................. 57 Gambar 24. Slope yang terbentuk untuk wafer A ............................................... 59 Gambar 25. Slope yang terbentuk untuk wafer B................................................ 59

ix

DAFTAR LAMPIRAN

Halaman Lampiran 1. Form kuisioner penentuan atribut utama dan parameter kritis wafer76 Lampiran 2. Contoh form organoleptik .............................................................. 77 Lampiran 3. Rekapitulasi penentuan atribut utama wafer ................................... 78 Lampiran 4. Rekapitulasi penentuan faktor kritis wafer...................................... 80 Lampiran 5. Penentuan kadar air awal wafer dan uji paired-sampels T Test ....... 81 Lampiran 6. Penentuan kadar abu wafer dan uji paired-sampels T Test .............. 82 Lampiran 7. Penentuan kadar protein dan uji paired-sampels T Test .................. 83 Lampiran 8. Penentuan kadar lemak dan uji paired-sampels T Test.................... 84 Lampiran 9. Penentuan kadar karbohidrat (by difference) dan uji paired-sampels T Test................................................................................................ 85 Lampiran 10. Hasil uji hedonik kerenyahan wafer.............................................. 86 Lampiran 11. Hasil uji hedonik kerenyahan wafer.............................................. 88 Lampiran 12. Penentuan kadar air kritis dengan uji hedonik............................... 90 Lampiran 13. Penentuan kadar air kritis dengan uji rating.................................. 91 Lampiran 14. Penentuan nilai k/x kemasan ........................................................ 92 Lampiran 15. Modifikasi model-model sorpsi isotermis dari persamaan non linear menjadi persamaan linear............................................................ 93 Lampiran 16. Penentuan kadar air kesetimbangan (Me) berdasarkan model sorpsi isotermis ..................................................................................... 94 Lampiran 17. Penentuan MRD model-model sorpsi isotermas ........................... 95 Lampiran 18. Tabel uap air (Labuza, 1982)...................................................... 102 Lampiran 19. Penentuan nilai P wafer A dan wafer B .................................... 102 Lampiran 20. Umur simpan wafer dengan uji hedonik ..................................... 104 Lampiran 21.Umur simpan wafer dengan uji rating ......................................... 111

I. PENDAHULUAN A. LATAR BELAKANG Tanggal kadaluarsa sangat penting untuk dicantumkan dalam kemasan produk pangan. Tanggal kadaluarsa adalah tanggal atau waktu dimana produk pangan masih memberikan daya guna seperti yang diharapkan jika produk tersebut disimpan pada kondisi penyimpanan yang sesuai. Pencantuman informasi tanggal kadaluarsa merupakan jaminan produsen pangan kepada konsumen bahwa produk memiliki mutu yang baik saja yang dipasarkan dan produk tersebut aman dikonsumsi sebelum tercapai waktu kadaluarsa yang telah ditetapkan produsen (Hariyadi, 2006). Pada umumnya tanggal kadaluarsa sudah dicantumkan pada kemasan wafer maupun produk pangan lain di pasaran. Pencantuman informasi tentang tanggal kadaluarsa bahan pangan merupakan suatu kewajiban bagi produsen dan telah diatur oleh undang-undang. Undang-undang Pangan tahun 1996 dan Peraturan Pemerintah No.69 tahun 1999 tentang Label dan Iklan Pangan menyatakan setiap industri pangan wajib mencantumkan waktu atau tanggal kadaluarsa pada setiap kemasan produk. Tujuan pencantuman tanggal kadaluarsa

pada

kemasan

adalah

untuk

menghindari

terjadinya

pengkonsumsian produk yang sudah tidak layak dikonsumsi lagi. Tanggal kadaluarsa produk pangan berkaitan dengan penentuan umur simpan produk pangan tersebut. Umur simpan suatu produk pangan merupakan suatu parameter ketahanan produk selama penyimpanan. Metode penentuan umur simpan terdiri dari metode konvensional dan metode akselerasi. Penentuan umur simpan dengan metode konvensional dilakukan dengan cara menyimpan produk pangan pada kondisi penyimpanan sehari-hari sambil dilakukan pengamatan terhadap penurunan mutu produk. Dalam pelaksanaannya metode ini memerlukan waktu yang lama karena kinetika reaksi yang berjalan lambat. Globalisasi perdagangan pangan dan ketatnya persaingan pasar pangan menyebabkan penentuan umur simpan produk yang dipercepat sangat dibutuhkan.

2

Metode akselerasi digunakan untuk mempercepat penurunan mutu produk dengan menyimpan produk pada kondisi ekstrim (suhu dan kelembaban yang tinggi) sehingga penentuan umur simpan menjadi lebih singkat. Model yang terdapat dalam metode akselerasi adalah model arhenius dan model kadar air kritis. Model arhenius cocok untuk produk pangan yang sensitif terhadap suhu sedangkan model kadar air kritis cocok untuk produk pangan yang sensitif terhadap perubahan kadar air dalam produk tersebut (Kusnandar, 2006). Metode dan model pendekatan yang tepat, spesifik, dan efisien dalam penentuan umur simpan suatu produk sangat diperlukan untuk meningkatkan efisiensi kinerja industri serta mengurangi biaya dan waktu analisis mutu. Wafer merupakan salah satu jenis biskuit yang populer di pasaran dan digemari oleh masyarakat. Banyak jenis produk yang ada di pasaran, namun umumnya terdiri dari flat wafer dan stick wafer. Penelitian ini menggunakan wafer jenis flat. Flat wafer adalah jenis creamed sandwich wafer yang terdiri dari 4 wafer dan 3 lapis krim di antara sheet wafer. Ciri khas dari wafer adalah memiliki tekstur yang renyah. Wafer tergolong makanan yang tidak mudah rusak karena mempunyai kadar air dan aw yang rendah. Namun, kadar air dan aw yang rendah menyebabkan wafer sangat sensitif terhadap penyerapan uap air dari lingkungan. Penyerapan uap air oleh wafer menyebabkan kadar air wafer naik yang diikuti dengan penurunan kerenyahan wafer (Oktania, 2004). Peningkatan kadar air wafer disebabkan oleh penyerapan uap air dari lingkungan. Penentuan umur simpan wafer cocok menggunakan model kadar air kritis karena wafer sensitif terhadap perubahan kadar airnya. Dengan mengetahui pola penyerapan airnya dan menetapkan kadar air kritisnya maka umur simpan produk dapat diketahui. Pendekatan dalam model kadar air kritis yang digunakan dalam penelitian ini adalah pendekatan kurva sorpsi isotermis dan pendeketan kadar air kritis termodifikasi. Pendekatan kadar air kritis termodifikasi lebih sederhana daripada pendekatan kurva sorpsi isotermis. Kurva sorpsi isotermis digunakan untuk mengetahui pola penyerapan uap air dari produk pangan dengan cara menentukan kadar air kesetimbangan produk pangan tersebut. Penentuan kadar air kesetimbangan tersebut

3

membutuhkan waktu yang relatif lama. Pendekatan kadar air kritis termodifikasi mengganti nilai kadar air kesetimbangan dari kurva sorpsi isotermis dengan menentukan perbedaan tekanan di dalam dan di luar kemasan. Penentuan perbedaan tekanan tersebut membutuhkan waktu yang relatif singkat dengan perhitungan matematik. Perbedaan tekanan di dalam dan di luar kemasan menggambarkan pola penyerapan uap air oleh wafer (Kusnandar, 2006). Pendekatan kadar air kritis termodifikasi jarang digunakan oleh industri untuk menentukan umur simpan wafer karena relatif baru dan belum diketahui tingkat efektivitasnya. Oleh karena itu diperlukan studi mengenai penentuan umur simpan wafer dengan pendekatan kadar air kritis termodifikasi dan pendekatan kurva sorpsi isotermis serta dibandingkan tingkat ketepatannya.

B. TUJUAN Penelitian ini bertujuan untuk menentukan umur simpan produk flat wafer dengan menggunakan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi. Secara khusus, penelitian ini bertujuan untuk menentukan model penentuan umur simpan yang tepat untuk produk flat wafer, melihat pengaruh karakteristik produk flat wafer terhadap umur simpan produk, dan melihat korelasi pengukuran tekstur secara obyektif dan subyektif terhadap kadar air kritis wafer.

C. MANFAAT Manfaat dari penelitian ini adalah mendapatkan model penentuan umur simpan dan metode penentuan kadar air kritis yang tepat dan efisien untuk produk-produk flat wafer.

II. TINJAUAN PUSTAKA A. WAFER Biskuit merupakan produk pangan kering yang dibuat dengan cara memanggang adonan yang mengandung bahan dasar terigu, lemak, dan bahan pengembang dengan atau tanpa penambahan bahan makanan dan bahan tambahan lain yang diijinkan (SNI 01-2973-1992). Menurut SNI 01-29731992 mengenai Mutu dan Cara Uji Biskuit, wafer termasuk dalam kelompok biskuit bersama dengan biskuit keras, crakers dan cookies. Syarat mutu wafer mengacu pada standar mutu biskuit sesuai dengan SNI 01-2973-1992 seperti terlihat pada Tabel 1. Tabel 1. Standar mutu biskuit menurut SNI 01-2973-1992 Kriteria Uji

Syarat

Energi (kkal/100 gram)

Minimum 400

Air (%)

Maksimum 5

Protein (%)

Minimum 9

Lemak (%)

Minimum 9,5

Karbohidrat (%)

Minimum 70

Abu (%)

Maksimum 1.5

Serat Kasar (%)

Maksimum 0.5

Logam Berbahaya Bau dan Rasa Warna

Negatif Normal dan tidak tengik Normal

(BSN, 1992)

Wafer adalah biskuit yang terbuat dari adonan cair dan tipis dengan ketebalan lebih kecil dari 1-4 mm (Macrae et al., 1993, Dogan, 2006). Ciri khas wafer adalah memiliki pori-pori kasar, renyah, dan bila dipatahkan penampang potongannya berongga-rongga (Manley, 2000). Wafer dibuat dari adonan yang dipanggang di antara dua plat baja. Ukuran dari plat yang digunakan akan menentukan ukuran wafer yang diinginkan. Ukuran tersebut sangat bervariasi yaitu 370x240 mm, 470x290 mm, 470x350 mm, dan

5

700x350 mm (Manley, 2001). Menurut Dogan (2006), wafer yang ada di pasaran biasanya dalam bentuk lembaran datar yang besar yang dilapisi krim sebelum pemotongan dan mungkin juga dilapisi lagi dengan cokelat. Bahan adonan wafer terdiri dari gula, tepung terigu, air, garam, lemak, dan bahan lainnya. Faktor terpenting yang mempengaruhi tekstur wafer adalah tepung terigu. Menurut Kusumaningrum (2002), fungsi tepung terigu adalah membentuk adonan selama proses pencampuran, menarik, atau mengikat bahan lainnya serta mendistribusikannya secara merata, mengikat gas selama proses fermentasi, dan membentuk struktur wafer selama pemanggangan. Secara umum, wafer yang ada di pasaran ada dua jenis yaitu flat wafer dan stick wafer (Oktania, 2004). Flat wafer adalah jenis creamed sandwich wafer yang terdiri dari 4 sheet wafer dan 3 lapis krim di antara sheet wafer. Wafer dibentuk dari adonan yang dipanggang di antara plat metal yang panas. Wafer hasil pemanggangan berbentuk sheet atau lembaran yang datar dan besar. Adonan wafer sheet yang dipanggang sedikit atau sama sekali tidak mengandung gula, sehingga wafer biasanya tidak berasa (plain). Setelah proses pemanggangan dan pendinginan, sheet wafer dilapisi dengan krim sehingga membentuk sandwich wafer. Wafer yang dihasilkan ini masih dalam ukuran besar dan utuh disebut dengan book wafer. Book wafer didinginkan pada ruang book cooler lalu dipotong sesuai ukuran yang diinginkan. Modifikasi bentuk wafer flat adalah menambahkan lapisan cokelat pada lapisan luar wafer (coated wafer). Stick wafer mempunyai bentuk bulat panjang. Bentuk tersebut dicetak setelah proses pemanggangan dengan cara melilitkan lembaran wafer pada sebuah nozzle. Besar kecilnya ukuran wafer yang dihasilkan tergantung dari ukuran nozzle yang digunakan. Setalah pencetakan, wafer diisi dengan krim yang dialirkan melalui nozzle bagian dalam. Krim melingkar penuh pada bagian dalam dinding wafer. Setelah proses filling, wafer kemudian dipotong sesuai ukurannya

dengan sebuah cutter. Proses selanjutnya adalah

pendinginan dan pengemasan. Jenis-jenis wafer yang ada di pasaran dapat dilihat pada Gambar 1.

6

A

1

B

2 1

2

Gambar 1. Jenis-jenis wafer (A1) flat wafer (coated), (A2) flat wafer (uncoated), (B1) stick wafer (uncoated), (B2) stick wafer (coated) B. PENURUNAN MUTU WAFER Mutu utama produk biskuit seperti wafer adalah kerenyahannya (Manley, 2000). Wafer memiliki kadar air dan aw yang rendah sehingga teksturnya menjadi renyah. Menurut Macrae et al. (1993), wafer mempunyai kadar air sebesar 1.5-2.5%. Menurut Oktania (2004), faktor yang menyebabkan wafer memiliki kadar air dan aw yang rendah adalah proses pemanggangan adonan wafer dengan suhu tinggi. Gas yang terbentuk pada saat fermentasi dan air yang terkandung dalam adonan wafer akan dilepaskan selama proses pemanggangan. Pelepasan gas dan uap air ini akan menyebabkan pembentukan struktur wafer yang berongga-rongga dan penurunan kadar air dan aw. Adonan wafer dipanggang pada suhu tinggi karena mengandung sedikit atau tidak sama sekali gula. Semakin sedikit kandungan gula dan lemak dalam komposisi wafer, proses pemanggangan dapat dilakukan pada suhu 177-204oC (Kusumaningrum, 2002). Menurut Hariyadi (2006), produk pangan akan mengalami perubahan mutu selama proses penanganan, pengolahan, penyimpanan, dan distribusi produk pangan. Penyimpangan suatu produk dari mutu awalnya disebut deteriorasi (Arpah, 2001). Reaksi deteriorasi dimulai dengan persentuhan

7

produk dengan udara, oksigen, uap air, cahaya, dan akibat perubahan suhu. Reaksi deteriorasi dapat disebabkan oleh interaksi dengan berbagai faktor, baik faktor lingkungan eksternal atau faktor lingkungan internal. Data tentang interaksi-interaksi yang mungkin terjadi tersebut sebaiknya diketahui dengan baik sehingga dapat dilakukan perhitungan-perhitungan mengenai umur simpan, kebutuhan pelabelan, serta yang lebih penting adalah usaha-usaha minimalisasi kerusakan dan memaksimumkan masa simpan. Menurut Arpah (2001), tingkat deteriorasi produk dipengaruhi oleh lamanya penyimpanan, sedangkan laju deteriorasi dipengaruhi oleh kondisi lingkungan penyimpanan. Faktor utama yang menyebabkan penurunan mutu produk pangan kering seperti biskuit adalah perubahan kadar air produk tersebut (Oktania, 2004). Seperti terlihat pada Gambar 2, kadar air biskuit akan meningkat selama penyimpanan. Robertson (1992) mengelompokkan produk pangan ke dalam dua kelompok dalam hubungannya dengan perubahan kadar air selama penyimpanan, yaitu produk pangan yang menyerap uap air dan produk pangan yang mengalami kehilangan kandungan air. Wafer termasuk dalam produk pangan yang mudah rusak apabila menyerap uap air yang berlebihan dari lingkungan karena perbedaan tekanan antara wafer dengan lingkungan. Kerusakan ini cukup kompleks karena dapat melibatkan atau memicu berbagai jenis reaksi deteriorasi lain yang sensitif terhadap perubahan aw. Namun menurut Arpah (2001), pada produk jenis biskuit, kerusakannya lebih sering dihubungkan dengan kerusakan tekstur. Kerenyahan merupakan kriteria mutu penting dari berbagai produk sereal atau snack. Kerenyahan dipengaruhi oleh sejumlah air terikat pada matriks karbohidrat yang mempengaruhi pergerakan relatif dari daerah kristalin dan amorf (Piazza dan Masi, 1997). Menurut Adawiyah (2002), struktur amorf atau partially amorf dalam bahan pangan terbentuk karena berbagai proses, salah satunya adalah proses pemanggangan. Kerenyahan produk pangan berkadar air rendah dipengaruhi oleh kandungan air dan akan hilang karena adanya plastisasi struktur fisik oleh suhu atau air. Produk sereal memiliki tekstur yang renyah dalam keadaan gelas, tetapi plastisasi akibat peningkatan kadar air atau suhu menyebabkan terjadinya perubahan material

8

menjadi keadaan karet (rubbery) sehingga produk menjadi lembek (sogginess). Uap air akan menyebabkan plastisasi dan pelunakan terhadap pati atau protein yang mengakibatkan penurunan mutu wafer yaitu kerenyahannya menurun (Navarrete et al., 2004).

Gambar 2. Kurva pertambahan kadar air produk biskuit terkemas (Robertson, 1993) C. AKTIVITAS AIR Kandungan air dalam bahan pangan juga ikut menentukan acceptability, kesegaran, dan daya tahan bahan pangan tersebut. Kandungan air dalam bahan pangan akan mempengaruhi daya tahan bahan tersebut terhadap reaksi biologis atau kimiawi. Hubungan kandungan air dalam bahan pangan dengan daya tahan bahan tersebut dinyatakan sebagai aktivitas air (aw). Istilah aktivitas air (aw) digunakan untuk menjabarkan air yang tidak terikat atau bebas dalam bahan pangan yang dapat menunjang reaksi biologis atau kimiawi. Aktivitas air merupakan faktor kunci dalam pertumbuhan mikroba, produksi racun, reaksi enzimatis, dan sebagainya (Mercado dan Canovas, 1996). Klasifikasi produk pangan berdasarkan nilai aktivitas airnya dapat dilihat pada Gambar 3. Labuza (2002) menyatakan aktivitas air suatu bahan pangan dapat dihitung dengan membandingkan tekanan uap air bahan (P) dengan tekanan

9

uap air murni (Po) pada kondisi yang sama, atau dengan jalan membagi ERH lingkungan dengan nilai 100 dan secara matematis ditulis sebagai berikut : aw =

P ERH = Po 100

...............................................(1)

dimana : aw

= aktivitas air

P

= tekanan parsial uap air bahan

Po

= tekanan parsial uap air murni pada suhu yang sama

ERH = kelembaban relatif seimbang Aktivitas air (aw) menunjukkan sifat bahan itu sendiri, sedangkan ERH menggambarkan sifat lingkungan di sekitarnya yang berada dalam keadaan setimbang dengan bahan tersebut. Dengan kata lain, peranan air dalam produk pangan biasanya dinyatakan dalam kadar air dan aw sedangkan peranan air di udara dinyatakan dalam kelembaban relatif dan kelembaban mutlak.

Gambar 3. Kurva aktivitas air produk pangan (Mujumdar dan Devahasti, 2000) Aktivitas air merupakan faktor penting yang mempengaruhi kestabilan dari produk pangan kering selama penyimpanan. Aktivitas air mempengaruhi sifat tekstur dari produk pangan kering yang dapat mengalami penurunan mutu teksturnya dengan semakin meningkatnya kadar air dan aw (Arpah,

10

2001). Selain itu, aktivitas air dapat mempengaruhi sifat-sifat fisiko-kimia, perubahan-perubahan

kimia

(pencoklatan

non

enzimatis),

kerusakan

mikrobiologis, dan perubahan enzimatis terutama pada produk pangan yang tidak diolah (Winarno dan Jennie, 1983).

D. KADAR AIR KESETIMBANGAN Kadar air kesetimbangan adalah kadar air dari suatu produk pangan yang berkesetimbangan pada suhu dan kelembaban tertentu dalam periode waktu tertentu (Brooker et al., 1982). Menurut Fellows (1990), kadar air kesetimbangan suatu bahan pangan adalah kadar air bahan pangan ketika tekanan uap air dari bahan tersebut dalam kondisi setimbang dengan lingkungannya dimana produk sudah tidak mengalami penambahan atau pengurangan bobot produk (Gambar 4). Kadar air kesetimbangan pada produk pangan digunakan untuk menentukan dan menggambarkan kurva sorpsi isotermis produk tersebut. Menurut Pavinee (1979), kurva tersebut digunakan untuk mendapatkan informasi tentang perpindahan air selama proses adsorpsi atau desorpsi.

Gambar 4. Grafik kenaikan kadar air menuju ke kadar air kesetimbangan selama penyimpanan pada berbagai kondisi RH (Kusnandar, 2006)

11

Menurut Duckworth (1975), ada dua cara untuk menentukan kadar air kesetimbangan yaitu dengan metode statis dan metode dinamis. Metode statis dilakukan dengan cara meletakkan bahan pangan pada tempat dengan RH dan suhu yang terkontrol. Dalam metode dinamis, kadar air kesetimbangan produk pangan ditentukan dengan meletakkan bahan pangan pada kondisi udara yang bergerak. Metode dinamis sering digunakan untuk pengeringan, dimana pergerakan udara digunakan untuk mempercepat proses pengeringan dan menghindari penjenuhan uap air di sekitar bahan (Brooker et al., 1982).

E. KURVA SORPSI ISOTERMIS Kurva yang menggambarkan hubungan antara aktivitas air (aw) atau kelembaban relatif seimbang ruang penyimpanan (ERH) dengan kandungan air per gram suatu bahan pangan disebut sebagai kurva sorpsi isotermis (Winarno, 1994). Kurva ini menggambarkan kandungan air yang dimiliki bahan pangan sebagai keadaan kelembaban relatif tempat penyimpanan, artinya menggambarkan aktivitas menyerap air (adsorpsi) dan melepaskan air yang dikandung (desorpsi) pada bahan pangan. Menurut Barbarosa et al. (1996), sorpsi isotermis banyak dipakai dalam penelitian pada bahan pangan seperti umur simpan, penyimpanan, pengemasan, dan pengeringan. Kurva sorpsi isotermis dapat dibagi menjadi beberapa bagian tergantung dari keadaan air dalam bahan pangan tersebut. Daerah A menyatakan adsorpsi bersifat satu lapis molekul air (monolayer), daerah B menyatakan terjadinya penambahan lapisan-lapisan di atas satu lapis molekul air (multilayer), dan pada daerah C mulai terjadi kondensasi air pada pori-pori bahan (kondensasi kapiler) (Syarief dan Halid, 1993; Winarno, 1994). Secara umum, kurva sorpsi isotermis dapat dilihat pada Gambar 5. Menurut deMan (1979), pada umumnya kurva sorpsi isotermis bahan pangan berbentuk sigmoid (menyerupai huruf S). Keadaan tidak berhimpit antara kurva adsorpsi dan desorpsi disebut sebagai fenomena histeresis. Fenomena ini diperlihatkan oleh perbedaan nilai-nilai kadar air kesetimbangan yang diperoleh dari proses adsorpsi dan desorpsi. Besarnya histeresis dan bentuk kurva sangat beragam tergantung pada beberapa faktor seperti sifat

12

alami bahan pangan, perubahan fisik yang terjadi selama perpindahan air, suhu, kecepatan desorpsi atau adsorpsi dan tingkatan air yang dipindahkan selama desorpsi atau adsorpsi (Fennema, 1996). Secara singkat oleh Winarno (1994) dikatakan bentuk kurva ini khas untuk setiap bahan pangan. Bila perubahan air mempengaruhi mutu produk pangan, maka dengan mengetahui pola penyerapan airnya dan menetapkan nilai kadar air kritisnya, umur simpan dapat ditentukan.

Gambar 5. Kurva sorpsi isotermis secara umum (deMan, 1979)

F. MODEL PERSAMAAN SORPSI ISOTERMIS Model matematika awal mengenai sorpsi isotermis telah banyak dikembangkan oleh para ahli baik secara teoritis, semi teoritis, maupun empiris (Chirife dan Iglesias, 1978; Van den Berg dan Bruin, 1981). Namun, model-model matematika tersebut tidak dapat mencakupi keseluruhan kurva sorpsi isotermis dan hanya dapat memprediksi kurva sorpsi isotermis salah satu dari ketiga daerah sorpsi isotermis. Menurut Barbarosa et al. (1996), teori paling klasik tentang adsorpsi lapisan tunggal (monolayer) yang merupakan dasar bagi perkembangan teori-

13

teori selanjutnya dikemukakan oleh Langmuir (1918); Brauner, Emmet, dan Teller (BET) (1938); dan Smith (1947). Namun, model-model ini tidak cocok diterapkan pada bahan pangan karena adanya asumsi-asumsi yang tidak dapat dipenuhi seperti adsorpsi air dapat bersifat lebih dari satu lapis molekul air dan kisaran aw yang terbatas (Chirife dan Iglesias, 1978). Salah satu model yang diakui secara internasional adalah model GAB (Guggenheim, Anderson, dan de Boer). Model ini bisa menggambarkan sorpsi isotermis bahan pangan pada kisaran aw yang lebih luas dari model BET, yaitu 0.05 < aw < 0.9 dan (Spiess dan Wolf, 1987). Menurut Labuza (2002), persamaan GAB merupakan persamaan yang tepat untuk menggambarkan sorpsi isotermis pada sebagian besar produk pangan. Model sorpsi isotermis GAB dinyatakan sebagai berikut:

Me =

X m .C .K .a w (1 − K .a w )(1 − K .a w + C.K .a w ) ....................................(2)

dimana: Me = kadar air (% basis kering) aw

= aktivitas air

Xm

= kadar air monolayer (%)

K

= konstanta

C

= konstanta energi

Secara

empiris,

Henderson

mengemukakan

persamaan

yang

menggambarkan hubungan antara kadar air kesetimbangan bahan pangan dengan kelembaban relatif ruang simpan. Persamaan ini menurut Chirife dan Iglesias (1978) merupakan salah satu persamaan yang paling banyak digunakan pada kebanyakan bahan pangan kering.

(

1 − a w = exp − KMe n

dimana : Me

= kadar air kesetimbangan

K dan n

= konstanta

)

.………………………(3)

14

Sedangkan, Caurie dari hasil percobaannya mendapatkan model yang berlaku untuk kebanyakan produk pangan pada selang aw 0.0 sampai 0.85. Model persamaan Caurie seperti di bawah ini,

ln Me = ln P (1) − P( 2) aw

......................................(4)

Hasley mengembangkan persamaan yang dapat menggambarkan proses kondensasi pada lapisan multilayer (Chirife dan Iglesias, 1978). Persamaan tersebut dapat digunakan untuk bahan makanan dengan kelembaban relatif antara 10 – 81%. Model persamaan Hasley seperti di bawah ini,

aw = exp

− P(1) (Me) P ( 2)

....................................(5)

Persamaan Oswin dapat berlaku untuk bahan pangan pada RH 0% sampai dengan 85% dan sesuai bagi kurva sorpsi isotermis yang berbentuk sigmoid (Chirife dan Iglesias, 1978). Model persamaan Oswin tersebut adalah seperti di bawah ini,

aw Me = P (1) (1 − a w )

P (2)

…………………………(6)

Lebih lanjut, Chen Clayton juga telah membuat model matematika yang berlaku untuk bahan pangan pada semua nilai aktivitas air. Persamaan tersebut adalah seperti di bawah ini,

aw = exp

− P (1) exp( P (2) Me)

dimana : aw

= aktivitas air

Me

= kadar air kesetimbangan

P(1) dan P(2) = konstanta

......................................(7)

15

G. KEMASAN Kemasan disebut juga bungkus atau wadah memegang peranan penting dalam pengawetan bahan pangan. Adanya wadah atau pembungkus dapat membantu mencegah atau mengurangi kerusakan, melindungi bahan pangan yang ada di dalamnya, melindungi dari bahaya pencemaran, serta gangguan fisik (gesekan, benturan, getaran). Pengemasan sebagai bagian integral dari proses produksi dan pengawetan bahan pangan dapat mempengaruhi mutu produk pangan seperti dapat terjadi perubahan fisik dan kimia karena migrasi zat-zat kimia dari bahan pengemas dan terjadi perubahan aroma (flavor), warna, dan tekstur yang dipengaruhi oleh perpindahan uap air dan oksigen (Syarief, 1990). Bahan pangan mempunyai sifat yang berbeda-beda dalam kepekaannya terhadap lingkungan. Menurut Syarief (1990), produk pangan kering akan berada dalam keadaan setimbang dengan lingkungan dengan cara menyerap uap air dari lingkungan. Untuk mengurangi masuknya uap air ke dalam produk kering terutama yang mempunyai sifat hidrofilik maka diperlukan barrier antara produk dengan lingkungan yaitu kemasan yang memiliki daya tembus atau permeabilitas uap air yang rendah untuk menghambat penurunan mutu produk seperti menjadi tidak renyah (Buckle et al., 1987). Permeabilitas merupakan transfer molekul melalui kemasan baik dari produk ke lingkungan maupun sebaliknya. Menurut Robertson (1993), permeabilitas uap air kemasan adalah kecepatan atau laju transmisi uap air melalui suatu unit luasan bahan dengan ketebalan tertentu sebagai akibat perbedaan unit tekanan uap air antara permukaan produk pada kondisi suhu dan kelembaban tertentu. Kemasan plastik banyak digunakan oleh industri pangan karena harganya yang relatif murah, lebih ringan daripada kemasan metal dan gelas, dan memerlukan energi yang kecil dalam pembuatan, konversi, dan pendistribusiannya

(Hernandez

dan

Giazin,

1998).

Sebagai

bahan

pembungkus, plastik dapat digunakan dalam bentuk tunggal, komposit atau berupa lapisan-lapisan dengan bahan lain misalnya kertas atau alufo. Kombinasi antara berbagai kemasan plastik berbeda atau plastik dengan kemasan non plastik (kertas, aluminium foil, dan selulosa) disebut sebagai

16

kemasan laminasi (Robertson, 1993). Kemasan laminasi yang digunakan di industri-industri pangan saat ini tidak hanya dikombinasi antara berbagai macam plastik saja, melainkan kombinasi antara berbagai plastik dengan aluminium yang disebut metallized plastic. Kemasan ini memiliki ketahanan terhadap uap air dan gas yang lebih baik dari plastik tunggal, tidak meneruskan cahaya, dan menghambat masuknya oksigen. Penggunaan kemasan ini sangat sesuai untuk mengemas kopi, makanan kering, keju, dan roti panggang (Brown, 1992).

H. UMUR SIMPAN Menurut Institute of Food Technology seperti yang dikutip oleh Arpah (2001), umur simpan produk pangan adalah selang waktu antara saat produksi hingga saat konsumsi dimana produk berada dalam kondisi yang memuaskan pada sifat penampakan, rasa, aroma, tekstur, dan nilai gizi. Menurut Arpah (2001), umur simpan adalah waktu hingga produk mengalami suatu tingkat deteriorasi. Penyimpangan suatu produk dari mutu awalnya disebut deteriorasi. Reaksi deteriorasi merupakan suatu reaksi kimia, oleh karena itu mekanisme deteriorasi dapat dianalisa secara matematika. Dengan analisa tersebut, waktu produk pangan mulai rusak dapat diketahui sehingga umur simpan produk pangan dapat ditentukan. Penentuan umur simpan produk pangan merupakan suatu jaminan mutu industri pangan bahwa produk pangan yang bermutu baik saja yang didistribusikan ke konsumen (Hariyadi, 2006). Menurut Floros (1993), umur simpan produk pangan dapat diduga dan kemudian ditetapkan waktu kadaluarsanya dengan menggunakan dua konsep studi penyimpanan produk pangan yaitu dengan Extended Storage Studies (ESS) atau metode konvensional dan Accelerated Storage Studies (ASS) atau metode akselerasi. Penentuan umur simpan secara konvensional membutuhkan waktu yang lama karena dilakukan dengan cara menyimpan suatu seri produk pada kondisi normal sehari-hari sambil dilakukan pengamatan penurunan mutunya. Metode akselarasi diterapkan pada produk pangan dengan memvariasikan kondisi kelembaban relatif (RH), suhu, atau intensitas cahaya, baik secara sendiri-

17

sendiri maupun gabungannya (Floros, 1993). Keuntungan metode ini adalah memerlukan waktu yang relatif singkat, tetapi tetap memiliki ketepatan dan akurasi yang tinggi. Salah satu metode akselerasi yang diterapkan pada produk pangan kering adalah pendekatan kadar air kritis. Pada metode ini kondisi lingkungan penyimpanan memiliki kelembaban relatif (relative humidity) yang ekstrim. Produk pangan kering yang disimpan akan mengalami penurunan mutu akibat penyerapan uap air. Persamaan matematika adalah alat bantu yang digunakan pada metode ini. Pada dasarnya persamaan-persamaan ini adalah deskripsi kuantitatif dari sistem yang terdiri dari produk, bahan pengemas, dan lingkungan (Arpah, 2001). Menurut Arpah (2001), model Labuza (1982) dapat mengintegrasikan unsur permeabilitas kemasan, berat kering produk, luas bahan pengemas, perbedaan tekanan uap air atau aw dan kurva sorpsi isotermis dengan baik. Model Labuza ini disebut model pendekatan kurva sorpsi isotermis. Me − Mi Me − Mc t= k A Po x Ws b ln

……………………………….(8)

dimana : t

= waktu untuk mencapai kadar air kritis atau umur simpan (hari)

me = kadar air kesetimbangan produk (g H20/g solid) mi = kadar air awal produk (g H20/g solid) mc = kadar air kritis produk (g H20/g solid) k/x = konstanta permeabilitas uap air kemasan (g/m2.hari.mmHg) A = luas permukaan kemasan (m2) Ws = berat kering produk dalam kemasan (g) Po = tekanan uap jenuh (mmHg) b

= kemiringan kurva sorpsi isotermis

Model Labuza cocok digunakan untuk menentukan umur simpan produk pangan yang memiliki kurva sorpsi isotermis yang baik yaitu membentuk sigmoid, misalnya produk makanan kering. Sedangkan produk pangan yang

18

tidak memiliki kurva sorpsi isotermis yang baik tidak dapat ditentukan umur simpannya dengan model Labuza sehingga dilakukan modifikasi pada model Labuza yang disebut model pendekatan kadar air kritis termodifikasi. Produk pangan yang memiliki kelarutan yang tinggi, seperti produk yang mengandung sukrosa tinggi (misalnya permen), maka akan sulit tercapai kondisi kadar air kesetimbangannya dan kurva sorpsi isotermis tidak dapat diasumsikan linier, karena pada RH tertentu kadar airnya akan terus meningkat (tidak mencapai kondisi kesetimbangan) (Kusnandar, 2006). Model kadar air kritis termodifikasi ini mengganti variabel kurva sorpsi isotermis (nilai b) dan kadar air kesetimbangan (nilai Me) yang tidak dimiliki oleh produk pangan yang memiliki kelarutan tinggi dengan mengukur perbedaan takanan di dalam dan di luar kemasan ( P) untuk mengetahui pola penyerapan uap air dari lingkungan ke dalam produk pangan.

t=

(Mc − Mi )Ws k ( A)∆P …………………………….....(9) x

dimana :

∆P = (P

out

– P in) selisih antara tekanan udara di luar dan di dalam

produk mc = kadar air kritis produk (g H2O/g solid) mi = kadar air awal produk (g H2O/g solid) k/x = konstanta permeabilitas uap air kemasan (g/m2.hari.mmHg) A

= luas permukaan kemasan (m2)

Ws = berat kering produk dalam kemasan (g)

III. METODOLOGI A. BAHAN DAN ALAT 1. BAHAN Bahan utama yang digunakan adalah 2 jenis flat wafer. Perbedaan antara dua wafer tersebut adalah tingkat porositas (pori-pori) wafer. Untuk selanjutnya wafer yang memiliki pori-pori besar disebut wafer A dan wafer yang memiliki pori-pori kecil disebut wafer B, seperti terlihat pada

Gambar 6.

Gambar 6. Wafer A dan wafer B Bahan pendukung analisis dibagi menjadi bahan-bahan untuk analisis kimia, organoleptik, penentuan permeabilitas kemasan, dan penentuan umur simpan wafer. Bahan untuk analisis kimia terdiri dari HgO, K2SO4, H2SO4, NaOH, Na2S2O3, H3BO3, HCl, indikator metil merah dan metil biru, heksan, aquades, dan alkohol 96%. Bahan untuk analisis organoleptik adalah wafer A dan B yang telah mengalami penyimpanan selama 8 jam dalam suhu 30°C dengan RH lingkungan 90%. Bahan untuk penentuan permeabilitas kemasan terdiri dari kemasan wafer A dan B, gas N2, dan aquabides. Bahan untuk penentuan umur simpan adalah wafer A dan B, garam yang terdiri dari MgCl2, K2CO3, Mg(NO3)2, NaCl, KCl, K2SO4, lilin mainan (malam), dan aquades.

20

2. ALAT Alat-alat yang digunakan adalah neraca analitik, oven, tanur, cawan aluminium, cawan porselin, desikator, toples yang dimodifikasi, texture analyzer, hygrometer, awmeter, Permatran Mocon W*3/31, pencapit logam, pinset, dan peralatan gelas untuk keperluan analisis.

B. TAHAPAN PENELITIAN 1. PENELITIAN PENDAHULUAN a. Penentuan Atribut Utama dan Kerusakan Wafer Penentuan atribut utama wafer dilakukan melalui survei terhadap 40 konsumen (usia bervariasi). Responden diminta untuk mengurutkan lima buah atribut wafer yang telah ditentukan dari yang paling penting (skor 1) sampai yang paling tidak penting (skor 5) dengan menggunakan uji rangking. Kelima atribut tersebut adalah warna, aroma, rasa, kerenyahan (tekstur), dan penampakan (visual wafer). Atribut yang memiliki nilai yang paling kecil merupakan atribut paling utama wafer. Selain itu, juga dilakukan survei konsumen terhadap faktor yang mudah diidentifikasi oleh konsumen apabila wafer telah rusak dan tidak layak dikonsumsi. Contoh kuisioner dapat dilihat pada Lampiran 1.

b. Penentuan Karakteristik Awal Wafer Penentuan karakteristik wafer dilakukan dengan menggunakan analisis kimia yaitu proksimat (AOAC, 1984) dan analisis fisik. Tujuan kegiatan ini untuk mengetahui karakter awal wafer sebelum dilakukan pengujian terhadap wafer tersebut. Analisis kimia tersebut meliputi kadar air, kadar abu, kadar protein, kadar lemak, dan kadar karbohidrat (by difference) wafer. Analisis fisik yang dilakukan berupa analisis tekstur yaitu kerenyahan wafer menggunakan Texture Analyzer.

21

2. PENELITIAN UTAMA Penelitian utama yang dilakukan adalah penentuan umur simpan wafer menggunakan metode akselerasi dengan membandingkan dua pendekatan model kadar air kritis yaitu pendekatan kurva sorpsi isotermis dan pendekatan kadar air kritis termodifikasi. Tujuan membandingkan dua model tersebut adalah untuk mengetahui model pendekatan kadar air kritis yang memiliki hasil penentuan umur simpan yang sesuai dan tepat untuk wafer.

a. Pendekatan Kurva Sorpsi Isotermis Prinsip utama dari pendekatan ini adalah menentukan kadar air kesetimbangan (Me) wafer yang disimpan pada berbagai nilai RH. Hubungan data kadar air kesetimbangan wafer dengan RH tempat penyimpanan wafer akan dihasilkan kurva sorpsi isotermis wafer. Kurva ini akan digunakan untuk mengetahui pola penyerapan uap air wafer dari lingkungan. Dengan mengetahui pola penyerapan uap air, umur simpan wafer dapat ditentukan. Tahapan analisisnya adalah sebagai berikut; 1. Penentuan kadar air awal (Mi) wafer (AOAC, 1984) 2. Penentuan kadar air kritis (Mc) wafer 3. Penentuan kadar air kesetimbangan (Me) wafer 4. Penentuan kurva sorpsi isotermis wafer 5. Penentuan variabel pendukung umur simpan wafer 6. Penentuan umur simpan wafer Variabel pendukung umur simpan digunakan untuk melengkapi persamaan penentuan umur simpan (Persamaan 8). Variabel tersebut adalah permeabilitas kemasan, luas kemasan, dan berat solid per kemasan wafer.

22

b. Pendekatan Kadar Air Kritis Termodifikasi Prinsip utama dari pendekatan ini adalah menentukan perbedaan tekanan (∆P) di dalam kemasan dan di luar kemasan. Tekanan di dalam kemasan berhubungan dengan aktivitas air (aw) sedangkan tekanan di luar kemasan berhubungan dengan RH lingkungan. Nilai (∆P) ini digunakan untuk mengetahui pola penyerapan uap air wafer sehingga umur simpan wafer dapat ditentukan. Tahapan analisisnya adalah sebagai berikut; 1. Penentuan kadar air awal (Mi) wafer (AOAC, 1984) 2. Penentuan aktivitas air (aw) wafer 3. Penentuan kadar air kritis (Mc) wafer 4. Penentuan perbedaan tekanan (∆P) 5. Penentuan variabel pendukung umur simpan wafer 6. Penentuan umur simpan wafer Variabel pendukung umur simpan digunakan untuk melengkapi persamaan penentuan umur simpan (Persamaan 9). Variabel tersebut adalah permeabilitas kemasan, luas kemasan, dan berat solid per kemasan wafer.

C. METODE ANALISIS 1. PENENTUAN KARAKTERISTIK AWAL WAFER a. Penentuan Kadar Air (AOAC, 1984) Penentuan kadar air wafer menggunakan oven dengan suhu 105°C. Metode penentuannya adalah cawan aluminium kosong dimasukkan oven selama 30 menit kemudian dimasukkan desikator sampai dingin dan ditimbang bobotnya. Wafer ditimbang sebanyak ± 5 g dalam cawan yang telah ketahui bobotnya. Cawan dimasukkan ke dalam oven selama 6 jam. Setelah 6 jam, cawan dimasukkan ke desikator sampai dingin dan ditimbang. Cawan tersebut dimasukkan kembali ke dalam oven selama 30 menit, didinginkan di dalam

23

desikator, dan ditimbang. Tahapan ini dilakukan secara berulang sampai tercapai bobot wafer yang konstan yaitu jika selisih bobotnya < 3 mg dari penimbangan bobot setelah 6 jam. Perhitungan kadar air dalam penelitian ini menggunakan basis basah

dan basis kering.

Perhitungan kadar air wafer sebagai berikut; Kadar air (% BB ) =

bobot sampel awal − bobot sampel ker ing

Kadar air ( g H 2 O / g solid ) =

bobot sampel awal

x100 %

bobot sampel awal − bobot sampel ker ing bobot sampel ker ing

b. Penentuan Kadar Abu (AOAC, 1984) Penentuan kadar abu wafer dilakukan menggunakan tanur. Cawan porselen dimasukkan dahulu ke dalam tanur selama 30 menit, dimasukkan dalam desikator sampai cawan porselen tersebut dingin, dan ditimbang bobot kosong cawan porselen tersebut. Sebanyak 3-5 gram wafer dimasukkan ke dalam cawan porselen, dibakar terlebih dahulu dalam alat penangas sampai tidak berasap, dan cawan dimasukkan dalam tanur bersuhu 600°C selama 6 jam sampai sampel berwarna putih. Cawan yang berisi abu wafer dimasukkan dalam desikator sampai dingin dan ditimbang. Perhitungan kada abu berdasarkan basis basah, yaitu ; Kadar abu =

bobot abu bobot sampel awal

x100%

c. Penentuan Kadar Protein (AOAC, 1984) Penentuan kadar protein wafer menggunakan metode mikro Kjeldhal. Ditimbang 0.2 g wafer (kira-kira membutuhkan 3-10 ml HCl 0.01 N atau 0.02 N). Wafer dimasukkan ke dalam labu Kjeldahl dan ditambahkan 1.9±0.1 g K2SO4, 40±10 mg HgO, dan 2.0±0.1 ml H2SO4. Wafer dididihkan sampai cairan menjadi jernih (sekitar 1 jam).

24

Larutan jernih ini kemudian dipindahkan ke alat destilasi. Labu Kjeldhal dicuci dengan air (1-2 ml). Air cucian dimasukkan ke dalam alat destilasi dan ditambahkan 8-10 ml larutan NaOH-Na2S2O3. Digunakan asam borat yang telah ditambahkan indikator campuran merah metil dan metil biru. Destilasi dihentikan saat terjadi perubahan warna asam borat dari biru violet menjadi hijau. Destilasi ini menghabiskan waktu sekitar 20 menit. Cairan hasil destilasi (dalam erlenmeyer) kemudian dititrasi oleh HCl 0.02 N. Titik akhir titrasi ketika warna titrat berubah dari hijau menjadi biru keunguan/abu-abu. Kadar protein diperoleh dengan perhitungan sebagai berikut;

%N =

(ml HCl

contoh

− ml HClblanko )xN HClx14.007 x100 mg contoh

Kadar Pr otein = Faktor konversix % N

d. Penentuan Kadar Lemak (AOAC, 1984) Penentuan kadar lemak wafer menggunakan metode Soxhlet. Ditimbang ± 5 gram wafer kemudian dibungkus dengan kertas saring. Wafer dimasukkan ke dalam labu Soxhlet. Dituang pelarut heksana secukupnya. Dirangkai reflux dan dioperasikan selama 6 jam. Setelah diperoleh labu lemak berisi lemak hasil ekstraksi dan pelarut, labu dipanaskan dengan oven 105°C sampai semua pelarut menguap. Dimasukkan dalam desikator dan setelah itu ditimbang berat labu berisi lemak. Kadar lemak diperoleh dengan perhitungan;

Kadar lemak (%) =

bobot lemak bobot sampel

x100%

e. Penentuan Kadar Karbohidrat (AOAC, 1984) Kadar karbohidrat wafer dihitung secara by difference yaitu dengan mengurangi 100% kandungan gizi wafer dengan kadar air,

25

kadar abu, kadar protein, dan kadar lemak. Nilainya dapat ditentukan dengan menggunakan rumus berikut;

Kadar karbohidrat (%) = 100% − ((% BB ) K . Air + % K . Abu + % K .Lemak + % K . Pr otein) f. Pengukuran Aktivitas Air (aw) Aktivitas air akan menentukan tekanan di dalam kemasan. Aktivitas air dari wafer pada awal penyimpanan dilakukan dengan menggunakan awmeter yang telah dikalibarasi dengan garam NaCl dengan nilai kelembabannya (RH) adalah 75%. Wafer dimasukkan ke dalam chamber pada awmeter dan ditutup rapat. Pembacaan dilakukan saat angka penunjuk pada awmeter tidak berubah. Hal ini ditunjukkan dengan indikator pada awmeter yaitu tertulis complete test. Selain menggunakan

awmeter,

nilai

aktivitas

air

ditentukan

dengan

menggunakan persamaan model kurva sorpsi isotermis yang tepat.

g. Penentuan Tekstur (Kerenyahan) Dengan Texture Analyzer Alat

yang

digunakan

adalah

Texture

Analyzer

dengan

menggunakan probe silinder yang sesuai untuk produk biskuit. Spesifikasi probe dan setting untuk analisis kekerasan produk biskuit dapat dilihat pada Tabel 2. Tabel 2. Spesifikasi probe dan setting untuk produk biskuit

Product Type Objective TA-XT2 Mode Option Pre-Test speed Test speed Post-Test speed Distance Trigger type Data Acquistion Rate Probe

BISCUITS Plain dough biscuits Hardness measurement of Biscuit by probing Measure Force in Compression Return to start 2.0 mm/s 0.5 mm/s 10.0 mm/s 4 mm Auto-5 g 200 pps 2 mm cylinder probe (P/2)

26

Wafer ditekan dengan probe sehingga menghasilkan suatu kurva yang menunjukkan profil tekstur wafer. Nilai kerenyahan (gramforce) dilihat dari peak pertama yang signifikan pada kurva (Rosenthal, 1999). Semakin renyah suatu produk maka nilai kerenyahan yang dimiliki akan semakin tinggi. Profil perbedaan kerenyahan dengan kekerasan pada sampel secara umum dapat dilihat pada Gambar 7.

Gambar 7. Profil kerenyahan dan kekerasan yang diuji dengan Texture Analyzer

2. PENENTUAN KADAR AIR KRITIS WAFER Wafer disimpan tanpa kemasan pada suhu kamar (300C) selama 8 jam penyimpanan. Wafer dianalisis secara organoleptik, fisik, dan kimia pada 0, 1, 2, 4, 6, dan 8 jam penyimpanan. Uji organoleptik yang digunakan adalah uji hedonik dan uji rating kepada 30 panelis tidak terlatih. Skor hedonik untuk menilai wafer yaitu 1 (sangat tidak suka) sampai 7 (sangat suka) sedangkan skor rating yang diberikan yaitu 1 (sangat tidak renyah) sampai 7 (sangat renyah). Uji organoleptik difokuskan kepada kesukaan panelis terhadap kerenyahan (tekstur). Uji fisik yang dilakukan adalah uji tekstur yaitu kerenyahan wafer dengan Texture Analyzer. Uji kimia dilakukan untuk menentukan kadar air wafer selama penyimpanan. Hasil uji organoleptik dibandingkan dengan hasil uji kimia (kadar air wafer) dan uji fisik (tekstur wafer). Sehingga didapatkan kurva hubungan antara kadar air wafer selama penyimpanan dengan skor

27

hedonik dan skor rating. Wafer yang dinyatakan telah ditolak oleh panelis secara organoleptik (skor 3) ditetapkan telah mencapai kadar air kritisnya.

3. ANALISIS KOMPERATIF ANTARA PENGUKURAN TEKSTUR (OBYEKTIF) DENGAN SENSORIK a. Penentuan Tekstur Kritis Wafer Dengan Uji Hedonik Data uji hedonik tekstur wafer yang diperoleh dari analisis organoleptik pada penentuan kadar air kritis wafer dihubungkan dengan data uji fisik tekstur wafer selama penyimpanan. Uji fisik tekstur wafer ditentukan secara obyektif dengan menggunakan Texture Analyzer. Tekstur kritis wafer ditentukan pada saat kerenyahan wafer tidak dapat diterima oleh konsumen. Kondisi tersebut ditetapkan pada saat skor hedonik panelis sama dengan 3 yaitu pada taraf agak tidak suka.

b. Penentuan Tekstur Kritis Wafer Dengan Uji Rating Data uji rating tekstur wafer yang diperoleh dari analisis organoleptik pada penentuan kadar air kritis wafer dihubungkan dengan data uji fisik tekstur wafer selama penyimpanan. Uji fisik tekstur wafer ditentukan secara obyektif dengan menggunakan Texture Analyzer. Tekstur kritis wafer ditentukan pada saat kerenyahan wafer tidak dapat diterima oleh konsumen. Kondisi tersebut ditetapkan pada saat skor rating panelis sama dengan 3 yaitu pada taraf agak tidak renyah.

4. PENENTUAN VARIABEL PENDUKUNG UMUR SIMPAN a. Penentuan Permeabilitas Kemasan Penentuan

permeabilitas

kemasan

dilakukan

dengan

menggunakan alat Permatran Mocon W*3/31. Alat dan prinsip dasar penentuan permeabilitas kemasan dengan Permatran Mocon W*3/31 dapat dilihat pada Gambar 8.

28

(a)

(b)

Gambar 8. (a) Permatran Mocon W*3/31 (b) prinsip kerja penentuan WVTR Kemasan

wafer

dipotong

sesuai

cetakan

dan

diukur

ketebalannya. Kemasan dikondisikan selama 24 jam dalam ruang uji, kemudian kemasan tersebut ditempatkan pada cell di dalam alat uji. Gas nitrogen kering dialirkan melalui inside chamber (RH 0%) sedangkan pada outside chamber dialirkan gas nitrogen basah (RH 100%). Kemasan dalam cell merupakan batas pemisah antara gas nitrogen basah dan gas nitrogen kering. Perbedaan tekanan antara outside chamber dengan inside chamber menyebabkan uap air berdifusi menuju daerah dengan tekanan yang lebih rendah yaitu menuju ke inside chamber. Uap air yang berdifusi melalui kemasan akan dibawa oleh gas nitrogen kering. Gas tersebut akan mengalir melalui sensor yang akan mendeteksi uap air yang dibawa oleh gas nitrogen kering tersebut. Laju uap air yang melalui kemasan dapat dihitung berdasarkan uap air yang terdeteksi oleh sensor. Akhir dari pengukuran uap air yang melalui kemasan bila laju uap air yang melalui kemasan sudah stabil. Berdasarkan pengukuran menggunakan alat ini akan didapatkan nilai WVTR (g/m2/hari/RH). Perhitungan k/x adalah sebagai berikut; k/x =

WVTR (P 2 − P1) (RH desikator )

(

)

29

dimana : WVTR = laju perpindahan uap air yang melalui kemasan k/x

= konstanta permeabilitas uap air kemasan (g/m2.hari.mmHg)

P1

= tekanan uap air di dalam kemasan (mmHg)

P2

= tekanan uap air di luar kemasan (mmHg)

b. Penentuan Berat Kering per Kemasan dan Luas Kemasan Berat produk awal dalam satu kemasan ditimbang dan dikoreksi dengan kadar air awalnya dan selanjutnya dinyatakan sebagai berat kering produk per kemasan (Ws). Luas kemasan primer (A) dihitung dengan mengalikan panjang dengan lebar kemasan dan dinyatakan dalam m2.

5. PENENTUAN UMUR SIMPAN WAFER DENGAN MODEL KURVA SORPSI ISOTERMIS Data-data yang telah ditentukan sebelumnya untuk menentukan umur simpan wafer adalah kadar air awal wafer, kadar air kritis wafer, dan variabel pendukung umur simpan wafer. Variabel yang ditentukan selanjutnya untuk menentukan umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis adalah sebagai berikut;

a. Penentuan Kadar Air Kesetimbangan dan Kurva Sorpsi Isotermis Sebanyak 2-5 g wafer diletakkan pada cawan alumunium kering kosong yang telah diketahui beratnya. Cawan berisi wafer tersebut diletakkan ke dalam desikator yang berisi larutan garam jenuh (Tabel

3). Desikator kemudian disimpan dalam ruang terbuka dengan suhu 30oC. Wafer ditimbang secara periodik tiap 24 jam hingga mencapai bobot yang stabil. Wafer yang telah stabil bobotnya (selisih bobotnya 2 mg) diukur kadar airnya. Kemudian dibuat kurva hubungan antara RH/aw dengan kadar air wafer saat setimbang.

30

Tabel 3. RH larutan garam jenuh yang digunakan pada suhu 30oC

Garam Jenuh

RH (%)*

RH terukur (%)

MgCl2

32

38.3

K2CO3

43

47.4

Mg(NO3)2

52

54.4

NaCl

75

75.3

KCl

84

82.3

K2SO4

97

94.7

*Spiess dan Wolf (1987)

b. Penentuan Model Sorpsi Isotermis Model persamaan sorpsi isotermis yang digunakan ditentukan berdasarkan penelitian-penelitian sebelumnya. Model ini digunakan untuk memperoleh kemulusan kurva yang baik. Persamaan-persamaan yang dipilih adalah yang dapat diaplikasikan pada bahan pangan, yaitu dapat digunakan pada jangkauan kelembaban relatif yang lebar (095%) sehingga dapat mewakili ketiga daerah pada kurva sorpsi isotermis (Labuza, 1982). Digunakan enam model persamaan, yaitu persamaan GAB, Hasley, Chen Clayton, Henderson, Courie, dan Oswin. Model-model tersebut akan ditentukan ketepatannya dengan model hasil percobaan

c. Uji Ketepatan Model Uji ketepatan persamaan sorpsi isotermis dilakukan dengan menggunakan perhitungan Mean Relative Determination (MRD) (Walpole, 1990). Rumus MRD adalah sebagai berikut: MRD =

dimana :

100 n

n i =1

Mi − Mpi Mi

Mi

= kadar air percobaan

Mpi

= kadar air hasil perhitungan

n

= jumlah data

31

Jika nilai MRD < 5 maka model sorpsi isotermis tersebut dapat menggambarkan keadaan yang sebenarnya atau sangat tepat. Jika 5 < MRD < 10 mka model tersebut agak tepat menggambarkan keadaan yang sebenarnya, dan jika MRD > 10 maka model tersebut tidak tepat menggambarkan kondisi yang sebenarnya (Isse et al., 1983). Selanjutnya, dari persamaan yang paling tepat ditentukan nilai b (kemiringan kurva sorpsi isotermis yang diasumsikan linier antara mi dan mc) untuk dimasukkan dalam rumus umur simpan Labuza.

d. Penentuan Nilai Slope Kurva Sorpsi Isotermis Nilai slope kurva sorpsi isotermis (b) ditentukan pada daerah linear (Arpah, 2001). Menurut Labuza (1982), daerah linear untuk menentukan slope kurva sorpsi isotermis diambil antara daerah kadar air awal dan kadar air kritis. Kurva sorpsi isotermis yang digunakan adalah kurva yang dihasilkan berdasarkan model sorpsi yang terpilih. Titik-titik hubungan antara aktivitas air dan kadar air kesetimbangan wafer yang termasuk dalam daerah linier tersebut akan memiliki persamaan garis lurus dalam bentuk y = a + b x. Nilai b dari persamaan garis lurus tersebut merupakan nilai slope kurva sorpsi isotermis. Nilai slope yang digunakan dalam penelitian ini ada 3 yaitu; 1. b1, slope yang didapatkan dengan perbandingan antara selisih kadar air kritis dan kadar air awal dengan selisih aktivitas air kritis dan aktivitas air awal.

Nilai aktivitas air ini ditentukan

berdasarkan model persamaan sorpsi isotermis yang tepat. 2. b2, slope yang melewati kadar air awal dan kadar air kritis yaitu daerah antara aw 0.383-0.544. 3. b3, slope yang mendekati RH 80% yaitu terbentuk dari daerah antara aw 0.383-0.753.

e. Perhitungan Umur Simpan Wafer (Labuza, 1968) Umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis ditentukan dengan persamaan sebagai berikut;

32

Me − Mi Me − Mc t= k A Po x Ws b ln

dimana : t

= waktu untuk mencapai kadar air kritis atau umur simpan (hari)

me = kadar air kesetimbangan produk (g H2O/g solid) mi = kadar air awal produk (g H2O/g solid) mc = kadar air kritis produk (g H2O/g solid) k/x = konstanta permeabilitas uap air kemasan (g/m2.hari.mmHg) A = luas permukaan kemasan (m2) Ws = berat kering produk dalam kemasan (g) Po = tekanan uap jenuh (mmHg) b

= kemiringan kurva sorpsi isotermis

6. PENENTUAN UMUR SIMPAN WAFER DENGAN MODEL KADAR AIR KRITIS TERMODIFIKASI Data-data yang telah ditentukan sebelumnya untuk menentukan umur simpan wafer adalah kadar air awal wafer, kadar air kritis wafer, aktivitas air (aw) awal wafer, dan variabel pendukung umur simpan wafer. Variabel yang ditentukan selanjutnya untuk menentukan umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis adalah sebagai berikut;

a. Penentuan Perbedaan Tekanan Di Luar dan Di Dalam Kemasan Tekanan uap di luar kemasan pada suhu tertentu dihitung dari perkalian tekanan uap murni pada suhu tertentu (Po) dengan kelembaban udara (%RH). Tekanan uap di dalam kemasan dihitung dari perkalian tekanan uap murni pada suhu tertentu (Po) dengan aktivitas air (aw). Nilai aw yang digunakan terdiri dari aw hasil pengukuran awmeter dan aw perhitungan dari model sorpsi isotermis. Nilai Po pada suhu tertentu diperoleh dari tabel uap air (Labuza, 1982).

∆P = Pout − Pin

33

b. Perhitungan Umur Simpan Wafer Umur simpan wafer dengan model kadar air kritis termodifikasi ditentukan dengan persamaan sebagai berikut;

t=

(Mc − Mi )Ws k ( A)∆P x

dimana : ∆P

= (P

out

– P in) selisih antara tekanan udara di luar dan di

dalam produk (mmHg) mc

= kadar air kritis produk (g H2O/g solid)

mi

= kadar air awal produk (g H2O/g solid)

k/x

= konstanta permeabilitas uap air kemasan (g/m2.hari.mmHg)

A

= luas permukaan kemasan (m2)

Ws

= berat kering produk dalam kemasan (g)

IV. HASIL DAN PEMBAHASAN A. KARAKTERISTIK AWAL WAFER 1. ATRIBUT DAN KERUSAKAN WAFER Analisis tentang karakteristik produk wafer dapat digunakan sebagai upaya pendahuluan untuk mengetahui mutu dan sifat-sifat (kimia, fisik, dan mikrobiologi) produk tersebut. Mutu adalah hal-hal tertentu yang membedakan produk satu dengan lainnya, terutama yang berhubungan dengan daya terima dan kepuasan konsumen (Hariyadi, 2006). Secara umum, atribut yang dimiliki oleh produk pangan adalah rasa, aroma, tekstur, bentuk, warna, dan penampakan (visual). Mutu wafer berhubungan dengan atribut utama yang dimiliki oleh wafer sehingga wafer dapat diterima oleh konsumen. Oleh karena itu, sangat penting untuk mengetahui atibut yang dimiliki oleh wafer. Atribut produk wafer berdasarkan survei konsumen dapat dilihat pada Gambar 9.

5.00

3.90

4.00

4.10 3.40

Skor 3.00 Ranking 2.00

1.53

2.08

1.00 0.00 Atribut Wafer Warna

Aroma

Rasa

Tekstur

Visual

Gambar 9. Atribut wafer berdasarkan survei konsumen Berdasarkan hasil survei terhadap konsumen dengan usia berkisar 13-47 tahun, atribut wafer secara berurutan dari atribut yang penting ke atribut yang tidak penting adalah rasa (1.53), tekstur (2.08), aroma (3.40), warna (3.90), dan visual (4.10). Uji friedman terhadap atribut wafer

35

menunjukkan ada perbedaan antara kelima atribut tersebut pada taraf 5%. Hal ini ditunjukkan dengan nilai signifikansi asimtotik (=0.000)< 0.05. Uji LSD ranking digunakan untuk menentukan tingkat perbedaan antar atribut wafer. Berdasarkan uji friedman dan LSD ranking, atribut utama wafer adalah rasa dan tekstur (kerenyahan), karena rasa dan tekstur memiliki skor ranking terendah dari tiga atribut yang lain dan tidak berbeda nyata pada taraf 5%. Tabulasi hasil survei dan hasil uji statistik (Friedman dan LSD ranking) terdapat pada Lampiran 3. Rasa merupakan atribut utama produk pangan termasuk wafer yang menentukan tingkat kesukaan konsumen terhadap produk pangan (Mileiva, 2007). Menurut Fellows (1990), rasa pada produk pangan sangat ditentukan oleh formulasi produk tersebut. Secara umum, produk wafer yang ada di pasaran memiliki rasa manis dan gurih karena terdiri dari gula, susu, garam, dan telur sesuai yang dicantumkan dalam label kemasan. Komponen tersebut sebagian besar merupakan penyusun krim pada wafer. Menurut Manley (2001), sheet wafer tidak memiliki rasa atau plain. Selain rasa, mutu utama produk biskuit seperti wafer adalah kerenyahannya. Menurut Arpah (2001), tekstur merupakan atribut utama yang mudah diidentifikasi oleh konsumen bila produk biskuit termasuk wafer sudah mengalami penurunan mutu. Hasil survei konsumen menunjukkan 82.5% dari 40 konsumen menyatakan bahwa tekstur merupakan atribut wafer yang mudah teridentifikasi apabila wafer sudah mengalami penurunan mutu. Selain itu, perubahan aroma wafer merupakan parameter kedua yang teridentifikasi ketika produk tersebut mengalami penurunan mutu. Perubahan aroma ini akibat terjadinya reaksi oksidasi lemak yang terdeteksi secara organoleptik sebagai bau tengik. Parameter penurunan tekstur digunakan sebagai batasan dalam penentuan umur simpan wafer karena parameter tersebut pertama kali teridentifikasi ketika produk wafer mengalami penurunan mutu. Dalam hal ini adalah tekstur (kerenyahan) wafer yang sudah mulai turun atau wafer menjadi lembek (sogginess) sehingga tidak dapat diterima oleh konsumen.

36

Parameter kritis wafer berdasarkan survei konsumen dapat dilihat pada

Gambar 10.

82.5%

Persentase penyebab wafer rusak

90.0% 80.0% 70.0% 60.0% 50.0% 40.0% 30.0% 20.0% 10.0%

12.5% 2.5%

2.5%

0.0% Perubahan w arna

Perubahan aroma

Perubahan tekstur

Lain-lain (nilai gizi)

Gambar 10. Parameter kritis wafer

2. KARAKTERISTIK WAFER A DAN WAFER B Penelitian ini menggunakan dua jenis wafer yaitu wafer A dan wafer B. Kedua jenis wafer tersebut berasal dari dua perusahaan pangan yang berbeda. Jenis wafer yang digunakan dalam penelitian ini adalah flat wafer tanpa coating cokelat. Wafer A mempunyai dua flavor yaitu cokelat dan vanila sedangkan wafer B mempunyai flavor vanila saja. Selain itu, poripori wafer A lebih besar daripada wafer B sehingga kerenyahan kedua wafer berbeda. Flat wafer adalah jenis creamed sandwich wafer yang terdiri dari 4 sheet wafer dan 3 lapis krim di antara sheet wafer (Manley, 2001). Secara garis besar, flat wafer dibuat dari adonan yang ditempatkan dalam plat dengan ukuran bervariasi kemudian dipanggang dengan suhu tinggi. Proses pemanggangan tersebut akan berpengaruh terhadap karakteristik dari produk wafer. Menurut Hariyadi (2006), karakteristik produk pangan dipengaruhi oleh setiap tahapan proses yang dilalui, sejak dari bahan

37

mentah sampai produk siap dikonsumsi. Karakteristik produk dan komposisi kimia wafer A dan wafer B dapat dilihat pada Tabel 4 dan 5. Tabel 4. Karakteristik wafer A dan wafer B

Deskripsi

Wafer A

Wafer B

Kerenyahan (gf)

Gula, tepung terigu, minyak nabati, susu bubuk, cokelat bubuk, karamel, lesitin kedelai, aroma vanila, aroma cokelat, garam. 343.40

Berat produk (g)

18

32

Komposisi

Tepung terigu, gula, lemak nabati, susu bubuk, dekstrosa, lesitin kedelai, garam, telur, soda kue, vanillin. 503.04

Aktivitas air

awmeter

0.449

0.422

awal (aw)

model sorpsi

0.253

0.196

318

373

Umur simpan tersisa* (hari) *

Umur simpan tersisa wafer dilihat dari waktu pembelian sampai waktu kadaluarsa yang tercantum dalam kemasan.

Tabel 5. Hasil analisis proksimat A dan wafer B

Wafer A*

Wafer B*

SNI 01-2973-1992

Kadar air (%BB)

1.63a

1.21a

Maksimum 5

Kadar abu (%)

1.24a

1.04a

Maksimum 5

Kadar protein (%)

5.80a

6.70a

Minimimum 9

Parameter

Kadar lemak (%) Kadar karbohidrat (%) * a

20.15

a

71.18

a

19.75

a

Minimum 9.5

71.30

a

Minimum 70

Nilai di atas merupakan rata-rata 2 kali ulangan masing-masing duplo Nilai dalam setiap baris dengan diikuti huruf yang sama, menunjukkan tidak berbeda nyata (α = 0.05) (Paired-Samples T Test).

Menurut SNI 01-2973-1992 mengenai Mutu dan Cara Uji Biskuit, wafer termasuk dalam kelompok biskuit bersama dengan biskuit keras, crakers dan cookies sehingga syarat mutu wafer mengacu pada standar tersebut. Berdasarkan hasil penelitian, kandungan gizi wafer A dan wafer B telah sesuai dengan SNI 01-2973-1992 kecuali protein. Kadar protein

38

produk karena lebih rendah dari syarat mutu SNI. Hasil analisis pairedsamples T Test menunjukkan kadar air, abu, protein, lemak, dan karbohidrat dari wafer A tidak berbeda nyata dengan wafer B pada taraf 5%. Menurut Winarno (1994), kandungan air dalam produk pangan ikut menentukan acceptability, kesegaran, tekstur, dan daya tahan produk tersebut. Pada produk pangan kering misalnya wafer, kadar air merupakan karakteristik kritis yang mempengaruhi penerimaan konsumen terhadap wafer karena menentukan tekstur (kerenyahan) wafer (Brown, 2000). Kandungan air yang tinggi pada wafer akan menyebabkan tekstur wafer menjadi lembek. Kadar air yang dimiliki kedua wafer tersebut termasuk dalam kategori rendah. Kadar air yang rendah ini disebabkan proses pemanggangan wafer pada suhu tinggi yaitu 177-204oC (Kusumaningrum, 2002). Pemanggangan meliputi reaksi bersama antara transfer panas dan transfer massa dimana energi panas dipindahkan ke dalam bahan pangan melalui permukaan pemanas dan udara di dalam oven, kemudian kandungan air (massa) dipindahkan dari bahan pangan ke udara di sekelilingnya (Matz dan Matz, 1978). Kadar abu yang dimiliki oleh wafer dipengaruhi oleh komponen mineral. Menurut Winarno (1994), unsur mineral dikenal sebagai bahan anorganik yang tidak terbakar selama proses pembakaran sehingga terbentuk abu. Berbagai bahan yang berkontribusi terhadap jumlah kadar abu pada produk pangan diantaranya adalah tepung terigu dengan kadar abu maksimal 0.6% (BSN, 1995) dan mineral yang difortifikasi. Mineral yang difortifikasi dalam produk wafer adalah besi, kalsium, dan kalium. Lemak dalam wafer sebagian besar berasal dari lemak nabati dan susu. Penambahan lemak dimaksudkan untuk menambah kalori serta memperbaiki tekstur dan cita rasa bahan pangan. Menurut Winarno (1994), lemak nabati banyak mengandung fitosterol dan lebih banyak mengandung asam lemak tidak jenuh.

39

Komponen karbohidrat yang banyak pada produk pangan adalah pati, gula, pektin, dan selulosa. Sumber karbohidrat utama dalam produk wafer adalah tepung terigu dan gula. Karbohidrat berperan dalam pembentukan karakteristik produk pangan. Penentuan kadar karbohidrat wafer

menggunakan

cara

perhitungan

kasar

atau

juga

disebut

carbohydrate by difference. Menurut Winarno (1994), perhitungan carbohydrate by difference adalah penentuan karbohidrat dalam bahan pangan secara kasar dan hasilnya biasanya dicantumkan dalam daftar komposisi bahan pangan. Kadar protein yang diperoleh adalah kadar protein kasar karena dihitung berdasarkan pada nitrogen yang terkandung dalam bahan (Apriyantono et al., 1989). Protein di dalam wafer sebagian besar berasal dari susu, telur, dan tepung terigu. Dalam penelitian ini, rendahnya hasil kadar protein wafer disebabkan komposisi penyusun wafer belum memberikan nilai gizi sesuai syarat mutu SNI sehingga diperlukan fortifikasi zat gizi khususnya protein. Selama proses pengolahan panas, misalnya pemasakan, sterilisasi komersial, pengeringan atau pemanggangan, dan pembakaran, protein yang terkandung dalam bahan pangan akan mengalami perubahan. Penyebab utama terjadinya perubahan kandungan protein dalam bahan pangan adalah denaturasi protein dan reaksi protein dengan komponenkomponen lain dalam bahan pangan (Andarwulan dan Hariyadi, 2006). Wafer tergolong pada produk pangan yang memiliki umur simpan lama karena memiliki aktivitas air (aw ) yang rendah sehingga air yang tersedia untuk pertumbuhan mikroba dan reaksi kimia sangat rendah (Oktania, 2004). Aktivitas air (aw) menggambarkan air yang tidak terikat atau bebas dalam bahan pangan yang dapat menunjang reaksi biologis atau kimiawi. Berdasarkan penelitian, nilai aw awal wafer tergolong rendah dan aman terhadap pertumbuhan mikroba.

40

B. KADAR AIR KRITIS WAFER Langkah pertama dalam menentukan umur simpan wafer berdasarkan model kadar air kritis baik dengan pendekatan kurva sorpsi isotermis dan kadar air kritis termodifikasi adalah menentukan kadar air awal wafer (Mi) dan kadar air kritis wafer (Mc). Berdasarkan hasil penelitian diketahui bahwa kadar air awal wafer A dan wafer B masing-masing adalah sebesar 0.0166 dan 0.0123 dalam g H2O/ g solid. Rendahnya nilai kadar air ini karena kedua wafer mendapat perlakuan pemanasan dan pengeringan (pemanggangan) pada suhu tinggi. Dalam penelitian ini ditetapkan bahwa penyebab utama kerusakan wafer adalah kehilangan kerenyahan saja. Hal ini sesuai dengan penelitian pendahuluan yang menyatakan bahwa kerusakan wafer yang mudah teridentifikasi adalah tekstur wafer yang mulai lembek. Penurunan kerenyahan wafer dipengaruhi oleh bertambahnya kadar air wafer akibat dari penyerapan uap air dari lingkungan. Oleh karena itu, kadar air dimana kerenyahan produk wafer sudah tidak dapat diterima lagi oleh konsumen diartikan sebagai kadar air kritis wafer. Penentuan kadar air kritis wafer dalam penelitian ini dilakukan dengan cara menyimpan wafer pada ruang terbuka dengan variasi RH ruangan 8790% dan suhu ruangan 30±10C. Metode ini dilakukan untuk mengkondisikan cara penyimpanan wafer agar sesuai dengan kondisi penyimpanan produk wafer oleh konsumen. Setiap 2 jam, dilakukan pengujian secara organoleptik terhadap kerenyahan wafer dengan menggunakan 30 panelis tidak terlatih dan dilakukan pengukuran tekstur wafer serta kadar air wafer. Hal ini dilakukan selama 8 jam penyimpanan. Berdasarkan hasil trial, dilakukan juga analisis organoleptik dan tekstur pada 1 jam penyimpanan wafer. Uji organoleptik yang dilakukan dalam penentuan kadar air kritis wafer adalah uji hedonik dan uji rating terhadap kerenyahan wafer selama penyimpanan. Selain itu, titik kritis wafer juga ditentukan berdasarkan skor organoleptik dan nilai kerenyahan wafer. Data uji hedonik dan uji rating wafer A dan wafer B dapat dilihat pada Lampiran 10 dan 11. Panelis tidak terlatih digunakan karena yang diamati adalah kesukaan terhadap tekstur wafer yang mudah untuk

41

dinilai oleh panelis tidak terlatih sehingga tidak harus menggunakan panelis terlatih.

1. UJI HEDONIK Berdasarkan hasil uji organoleptik terhadap produk wafer dapat dilihat pada Gambar 11, skor kesukaan panelis terhadap kerenyahan wafer A dan wafer B akan menurun dengan bertambahnya waktu penyimpanan. Wafer yang disukai panelis (skor 6) adalah wafer yang tidak diberi perlakuan yaitu wafer dalam kondisi baru dikeluarkan dari kemasan atau 0 jam penyimpanan. Skor terendah dimiliki oleh wafer baik wafer A dan wafer B yang telah mengalami 8 jam penyimpanan. Wafer yang telah mengalami 8 jam penyimpanan mempunyai tekstur yang lembek sehingga panelis tidak menyukai (skor 1) wafer yang diujikan.

8.00

6.17 6.02

Skor kesukaan

6.00

5.07 4.00

3.60 2.94 2.20 1.64

2.00

1.78 1.47

1.55 1.24

0.00 0

2

4

6

8

Lama pe nyimpanan (jam) Wafer A

Wafer B

Gambar 11. Grafik hubungan lama penyimpanan wafer dengan skor kesukaan Kadar air kritis wafer ditentukan pada saat kerenyahan wafer tidak dapat diterima oleh konsumen. Kondisi tersebut ditetapkan pada saat kesukaan panelis berada pada taraf agak tidak suka (skor 3). Taraf agak tidak suka digunakan sebagai batas minimal penolakan konsumen terhadap kerenyahan wafer. Penentuan kadar air kritis wafer A dan wafer B

42

didasarkan pada linierisasi kurva hubungan log kadar air dengan skor kesukaan karena kurva tersebut memberikan korelasi yang lebih baik antara kadar air wafer dengan skor kesukaan panelis yang dapat dilihat dari nilai R2 yang lebih tinggi daripada menggunakan kurva hubungan antara kadar air dengan skor kesukaan seperti yang terlihat pada Gambar

12. Berdasarkan hasil penelitian, kadar air kritis wafer A dan wafer B dengan uji hedonik adalah 0.0466 dan 0.0412 g H2O/ g solid. Rekapitulasi penentuan kadar air kritis dapat dilihat pada Lampiran 12. Wafer A

Wafer A

y = -0.012x + 0.0879 R2 = 0.8269

0.0600 0.0400 0.0200 0.0000 0.00

y = -0.01x + 0.0794 R2 = 0.7572

2.00

4.00

6.00

8.00

Log kadar air (g H2O/g solid)

Kadar air (g H2O/g solid)

0.0800

0.0000 0.00 -0.4000

1.00

2.00

3.00

-0.8000

4.00

5.00

6.00

7.00

y = -0.1237x - 0.9474 R2 = 0.8847

-1.2000 -1.6000 -2.0000

y = -0.0987x - 1.0493 R2 = 0.8407 Skor kesukaan

Skor kesukaan Ulangan 1

Ulangan 2

Ulangan 1

Ulangan 2

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

Gambar 12. Contoh penentuan kadar air kritis wafer A berdasarkan uji hedonik

2. UJI RATING Sama seperti hasil uji hedonik, skor rating kerenyahan wafer akan semakin menurun sebanding dengan lama penyimpanan wafer, seperti yang terlihat pada Gambar 13. Wafer yang memiliki tekstur renyah (skor 6) adalah wafer yang tidak diberi perlakuan yaitu wafer dalam kondisi baru dikeluarkan dari kemasan atau 0 jam penyimpanan. Skor terendah dimiliki oleh wafer baik wafer A dan wafer B yang telah mengalami 8 jam penyimpanan. Panelis dapat mengidentifikasi bahwa wafer yang telah disimpan selama 8 jam mempunyai tektur yang lembek/sangat tidak renyah (skor 1).

43

Skor rating kerenyahan

8.00

6.20 6.10

6.00

5.00 4.00

3.64 2.93 2.78 2.02 1.55

2.00

1.70 1.49

1.39 1.17

0.00 0

2

4

6

8

Lama penyimpanan (jam) Wafer A

Wafer B

Gambar 13. Grafik hubungan lama penyimpanan wafer dengan skor rating kerenyahan wafer

Wafer A

Wafer A

y = -0.0113x + 0.084 R2 = 0.8231

0.0600 0.0400 y = -0.01x + 0.0795 R2 = 0.7976

0.0200 0.0000 0.00

2.00

4.00

6.00

8.00

Log kadar air (g H2O/g solid)

Kadar air (g H2O/g solid)

0.0800

0.0000 0.00 -0.4000

2.00

4.00

6.00

8.00

y = -0.1166x - 0.9873 R2 = 0.8827

-0.8000 -1.2000 -1.6000 -2.0000

y = -0.098x - 1.0497 R2 = 0.8746

Skor rating

Skor rating

Ulangan 1

Ulangan 2

Ulangan 1

Ulangan 2

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

Gambar 14. Contoh penentuan kadar air kritis wafer A berdasarkan uji rating Kadar air kritis wafer ditentukan pada saat kerenyahan wafer tidak dapat diterima oleh konsumen. Kondisi tersebut ditetapkan pada saat skor ratingnya adalah 3 (agak tidak renyah). Penentuan kadar air kritis wafer A dan wafer B didasarkan pada linierisasi kurva hubungan log kadar air dengan skor rating kerenyahan karena kurva tersebut memberikan korelasi yang lebih baik antara kadar air wafer dengan skor kesukaan panelis yang dapat dilihat dari nilai R2 yang lebih tinggi daripada menggunakan kurva

44

hubungan antara kadar air dengan skor rating kesukaan seperti yang terlihat pada Gambar 14. Berdasarkan hasil penelitian, kadar air kritis wafer A dan wafer B dengan uji rating adalah 0.0457 dan 0.0409 g H2O/ g solid. Rekapitulasi penentuan kadar air kritis dapat dilihat pada Lampiran

13. Perbedaan kadar air kritis berdasarkan uji hedonik dan uji rating tidak terlalu jauh namun perbedaan ini akan mempengaruhi umur simpan wafer. Menurut Kusnandar (2006), semakin besar perbedaan antara kadar air awal dengan kadar air kritis produk pangan maka umur simpan produk tersebut akan lama.

C. ANALISIS KOMEPERATIF TEKSTUR SECARA OBYEKTIF DAN SUBYEKTIF 1. PERUBAHAN TEKSTUR WAFER SELAMA PENYIMPANAN Wafer termasuk dalam golongan produk pangan kering dengan ciri utamanya adalah teksturnya yang renyah (Navarrete et al., 2004). Kerenyahan dipengaruhi oleh sejumlah air terikat pada matriks karbohidrat yang mempengaruhi pergerakan relatif dari daerah kristalin dan amorf (Piazza dan Masi, 1997). Menurut Adawiyah (2002), struktur amorf atau partially amorf dalam bahan pangan terbentuk karena berbagai proses, salah

satunya

adalah

proses

pemanggangan.

Kerenyahan

wafer

dipengaruhi oleh komposisi utama wafer, proses pemanggangan, dan jenis kemasan wafer. Komponen yang berperan sebagai pembentuk struktur wafer adalah tepung terigu dan air. Lemak ditambahkan ke dalam formulasi wafer untuk memperbaiki teksur wafer. Kerenyahan wafer akan menurun selama penyimpanan yang disebabkan oleh penyerapan uap air dari lingkungan sehingga kadar air wafer meningkat. Seperti yang terlihat pada Gambar 15, persentase kerenyahan wafer akan semakin menurun dengan bertambahnya waktu penyimpanan. Penurunan persentase kerenyahan wafer dipengaruhi oleh kerenyahan awal masing-masing wafer. Berdasarkan hasil penelitian,

45

wafer A memiliki kerenyahan awal yang lebih rendah daripada wafer B. Berdasarkan penelitian, pola penurunan kerenyahan wafer A dan wafer B relatif sama.

120

% Kerenyahan

100

100 85 82

80

82 69

64

60

59 53

58

44 42

40 20 0 0

1

2

4

6

8

Lama penyimpanan (jam) Wafer A

Wafer B

Gambar 15. Penurunan kerenyahan wafer selama penyimpanan (relatif terhadap nilai kerenyahan awal wafer)

2. PERBANDINGAN

TEKSTUR

SECARA

OBYEKTIF

DAN

SUBYEKTIF Secara

organoleptik,

penurunan

kerenyahan

wafer

dapat

diidentifikasi, baik dengan uji hedonik maupun uji rating. Seperti yang terlihat pada Gambar 16 dan 17, skor organoleptik konsumen akan menurun sebanding dengan penurunan kerenyahan wafer. Hal ini menunjukkan adanya korelasi yang cukup baik antara penurunan kerenyahan dengan skor oganoleptik baik hedonik maupun rating yang dapat dilihat dari nilai R2 yaitu lebih dari 80%.

46

Rating

Hedonik 600.00

500.00

y = 51.064x + 177.86 R2 = 0.9472

Kerenyahan (gf)

Kerenyahan (gf)

600.00

400.00 300.00 200.00

y = 36.325x + 140.96 R2 = 0.8148

100.00 0.00 0.00

2.00

4.00

6.00

500.00 400.00 300.00 200.00

y = 35.093x + 146.85 R2 = 0.8286

100.00 0.00 0.00

8.00

y = 50.343x + 182.31 R2 = 0.9529

2.00

Wafer A

Wafer B

Linear (Wafer A)

4.00

6.00

8.00

Skor rating

Skor kesukaan Wafer A

Linear (Wafer B)

Wafer B

(a)

Linear (Wafer A)

Linear (Wafer B)

(b)

Gambar 16. Kurva hubungan antara skor organoleptik dengan kerenyahan wafer A dan wafer B (a) Uji Hedonik (b) Uji Rating Hedonik 120

y = 10.578x + 41.05 R2 = 0.8148

100

% Kerenyahan

% Kerenyahan

120

Rating

80 60

y = 10.151x + 35.358 R2 = 0.9472

40 20 0 0.00

2.00

4.00

6.00

8.00

y = 10.219x + 42.764 R2 = 0.8286

100 80 60

y = 10.008x + 36.241 R2 = 0.9529

40 20 0 0.00

2.00

Skor kesukaan Wafer A

Wafer B

Linear (Wafer A)

(a)

4.00

6.00

Skor rating Linear (Wafer B)

Wafer A

Wafer B

Linear (Wafer A)

Linear (Wafer B)

(b)

Gambar 17. Kurva hubungan antara skor organoleptik dengan % kerenyahan wafer A dan wafer B (a) Uji Hedonik (b) Uji Rating Berdasarkan hubungan antara skor organoleptik dengan penurunan kerenyahan wafer maka dapat ditentukan titik kritis dari tekstur wafer. Titik kritis tersebut adalah titik dimana kerenyahan wafer tidak dapat diterima lagi secara organoleptik. Dua tipe kurva hubungan antara skor subyektif dan skor obyektif yang digunakan menghasilkan titik kritis yang hampir sama. Namun, dalam penelitian ini digunakan hubungan antara skor subyektif dengan nilai kerenyahan (gf). Titik kritis wafer dapat dilihat pada Tabel 6. Jika menggunakan hubungan antara skor organoleptik

8.00

47

dengan % kerenyahan wafer, titik kritis wafer tercapai saat % kerenyahan wafer berada antara 65%-75% dari kerenyahan awal wafer. Tabel 6. Titik kritis wafer berdasarkan uji organoleptik

Uji

Nilai Kerenyahan (gf)*

Organoleptik

Wafer A

Wafer B

Hedonik

249.94

331.05

Rating

252.13

333.34

* merupakan hasil perhitungan dari persamaan yang terbentuk dari kurva hubungan skor organoleptik dengan nilai kerenyahan (gf)

Kadar air kritis yang telah ditentukan sebelumnya juga dapat digunakan untuk menentukan titik kritis kerenyahan wafer dengan menggunakan kurva hubungan antara nilai kerenyahan (gf) dengan kadar air wafer seperti yang terlihat pada Gambar 18. Hal ini untuk membandingkan titik kritis yang telah ditentukan sebelumnya (Tabel 6).

K a da r a ir (g H 2 O /g so lid)

0.1000 0.0800

y = -0.0001x + 0.0776 R2 = 0.8675

0.0600 0.0400 0.0200

y = -0.0003x + 0.1239 R2 = 0.918

0.0000 0.00

100.00

200.00

300.00

400.00

500.00

600.00

Kerenyahan (gf) Wafer A

Wafer B

Linear (Wafer A)

Linear (Wafer B)

Gambar 18. Kurva hubungan antara nilai kerenyahan (gf) dengan kadar air wafer selama penyimpanan Titik kritis yang dihasilkan berdasarkan kadar air kritis wafer menunjukkan hasil yang relatif mendekati titik kritis yang ditentukan

48

dengan skor organoleptik. Oleh karena itu, kadar air kritis dapat ditentukan dengan cara selain dengan uji organoleptik yaitu dengan mengetahui titik kritis atau kerenyahan kritis wafer secara obyektif. Apabila kerenyahan wafer sudah mendekati titik kritis tersebut maka wafer dapat dikatakan sudah mencapai kadar air kritisnya. Titik kritis wafer berdasarkan kadar air kritisnya dapat dilihat pada Tabel 7. Tabel 7. Titik kritis wafer berdasarkan kadar air kritis wafer

Wafer A

Uji

Titik Kritis

Wafer B Titik Kritis

Organoleptik

M c*

Hedonik

0.0466

257.71

0.0412

364.15

Rating

0.0457

260.77

0.0409

366.50

(gf)**

M c*

(gf)**

* Mc= kadar air kritis wafer (g H2O/g solid) ** nilai tersebut berdasarkan kadar air kritis wafer

Titik kritis wafer A lebih rendah daripada titik kritis wafer B. Perbedaan titik kritis yang tercapai antara wafer A dan wafer B disebabkan perbedaan struktur wafer. Struktur wafer A lebih porus daripada wafer B sehingga penyerapan uap air wafer A lebih cepat dan banyak uap air yang terserap daripada wafer B. Akibat perbedaan kecepatan difusi uap air ini pada waktu yang sama untuk mencapai batas kritisnya, titik kritis atau kerenyahan kritis wafer A lebih rendah daripada wafer B. Uji rating lebih tepat digunakan karena lebih spesifik pada parameter yang diujikan kepada panelis daripada uji hedonik. Pada uji hedonik, hasil penilaiannya dapat dipengaruhi oleh parameter lain misalnya rasa, sehingga kurang spesifik. Selain itu, panelis yang digunakan untuk uji rating lebih sedikit daripada dengan uji hedonik. Titik kritis secara obyektif juga dapat dicoba untuk menentukan kadar air kritis wafer untuk menggantikan penentuan kadar air kritis secara subyektif sehingga biaya organoleptik dan waktu analisis dapat dikurangi.

49

D. VARIABEL PENDUKUNG UMUR SIMPAN WAER Variabel pendukung umur simpan yang sangat penting untuk ditentukan adalah permeabilitas kemasan wafer (k/x), luas kemasan (A), berat solid wafer per kemasan (Ws), dan tekanan uap air murni pada suhu 300C (Po). Variabelvariabel ini digunakan untuk menentukan umur simpan wafer baik dengan pendekatan kurva sorpsi isotermis maupun dengan pendekatan kadar air kritis termodifikasi. Nilai permeabilitas kemasan (k/x) digunakan untuk mengetahui pengaruh kemasan terhadap umur simpan produk pangan (Labuza, 2002). Nilai k/x ini tidak dipengaruhi oleh ketebalan kemasan. Menurut Robertson (1993), permeabilitas uap air kemasan adalah kecepatan atau laju transmisi uap air melalui suatu unit luasan bahan dengan ketebalan tertentu sebagai akibat perbedaan unit tekanan uap air antara permukaan produk pada kondisi suhu dan kelembaban tertentu. Kemasan yang digunakan dalam penelitian ini adalah kemasan primer wafer baik wafer A dan wafer B dan plastik polypropylen (PP) tebal sebagai pembanding. Jenis kemasan wafer yang digunakan adalah metallized plastic. Metallized plastic adalah kemasan plastik yang tidak hanya dikombinasi antara berbagai macam plastik saja, melainkan kombinasi antara berbagai plastik dengan aluminium (Robertson, 1993). Kemasan metallized plastic wafer A berbeda dengan kemasan metallized plastic wafer B, perbedaan tersebut dapat dilihat pada Gambar 19. Nilai k/x kemasan wafer A sebesar 0.0078 gH2O/hari/m2.mmHg, kemasan wafer B sebesar

0.0061

gH2O/hari/m2.mmHg,

dan

PP

tebal

adalah

0.0739

2

gH2O/hari/m .mmHg. Bahan kemasan asli wafer A maupun B lebih baik dari kemasan PP tebal dalam hal permeabilitas terhadap uap air karena memiliki nilai k/x yang rendah. Kemasan dengan nilai permeabilitas uap air rendah merupakan barrier uap air yang baik sehingga umur simpan produk pangan akan semakin lama. Menurut Brown (1992), metallized plastic memiliki ketahanan terhadap uap air dan gas yang lebih baik dari plastik tunggal, tidak meneruskan cahaya, dan menghambat masuknya oksigen. Penggunaan kemasan ini sangat sesuai untuk

50

mengemas kopi, makanan kering, keju, dan roti panggang. Penentuan nilai k/x dapat dilihat pada Lampiran 14.

A

B

Gambar 19. Kemasan wafer A dan wafer B Luas permukaan kemasan (A) yang dianalisis adalah 0.0117 m2 untuk wafer A dan 0.0161 m2 untuk wafer B. Menurut Kusnandar (2006), semakin besar luas kemasan maka uap air yang masuk akan tersebar lebih meluas di dalam kemasan dan memperlambat tercapainya kadar air kritis sehingga umur simpan produk menjadi semakin panjang. Berat solid per kemasan merupakan berat awal wafer yang telah dikoreksi dengan kadar air awal wafer. Berat solid per kemasan (Ws) wafer A dan B adalah 18.37 gram dan 31.35 gram. Wafer dikemas ulang dengan plastik PP tebal berat solid per kemasan 25 gram dan luas kemasan 0.0150 m2. Tekanan uap air murni pada saat suhu 300C didapatkan dari tabel uap yaitu 31.824 mmHg (Labuza, 1982).

E. PENDEKATAN MODEL KURVA SORPSI ISOTERMIS Pendekatan model pertama yang digunakan dalam penelitian ini adalah model kurva sorpsi isotermis. Model ini banyak digunakan untuk menentukan umur simpan produk pangan kering. Variabel umur simpan yang telah ditentukan sebelumnya adalah kadar air kritis wafer dan variabel pendukung umur simpan wafer. Variabel lain yang harus ditentukan adalah sebagai berikut;

51

1. KURVA SORPSI ISOTERMIS Kadar air kesetimbangan yang diperlukan untuk membuat kurva sorpsi isotermis produk diperoleh dengan mengkondisikan wafer A dan wafer B dalam beberapa jenis larutan garam jenuh dengan kelambaban relatif yang berbeda-beda. Menurut Duckworth (1975), metode tersebut tergolong dalam metode statis. Metode statis dilakukan dengan cara meletakkan bahan pangan pada tempat dengan RH dan suhu yang terkontrol. Menurut Winarno (1994), kurva yang menggambarkan hubungan antara aktivitas air (aw) atau kelembaban relatif seimbang ruang penyimpanan (ERH) dengan kandungan air per gram suatu bahan pangan disebut sebagai kurva sorpsi isotermis. Penentuan kurva sorpsi isotermis dalam penelitian ini dilakukan pada suhu 300C (suhu ruang) sesuai dengan suhu penyimpanan wafer oleh konsumen. Selain itu, kurva sorpsi isotermis dalam penelitian ini menggunakan nilai aw terukur untuk menyesuaikan dengan kondisi penyimpanan wafer A dan wafer B selama percobaan dalam menentukan kadar air kesetimbangan wafer. Interaksi molekul air dengan wafer A dan wafer B terjadi karena perbedaan aw wafer dengan kelembaban relatif (RH) lingkungan. Transfer uap air dari lingkungan ke wafer atau sebaliknya akan terjadi selama penyimpanan sampai terjadi kondisi kesetimbangan antara wafer dengan lingkungan (Labuza, 2002). Secara umum, proses difusi uap air ini dijelaskan melalui proses adsorpsi dan proses desorpsi. Kedua proses tersebut dipengaruhi oleh aktivitas air bahan dan RH tempat penyimpanan (Henderon dan Perry, 1976). Pada penelitian ini, selama penyimpanan wafer, proses yang terjadi adalah proses adsorpsi. Proses adsorpsi terjadi karena wafer disimpan pada kondisi lingkungan yang memiliki RH di atas aw wafer sehingga proses yang terjadi adalah difusi uap air dari lingkungan ke wafer akibatnya terjadi pertambahan bobot wafer. Pertambahan bobot ini akan mengakibatkan kadar air wafer akan meningkat. Berdasarkan pola difusi uap air yang didapatkan dari penentuan kadar air kesetimbangan ini, ditemukan kejanggalan pada nilai aktivitas air awal wafer yang ditentukan dengan awmeter. Pada RH tempat

52

penyimpanan yang lebih rendah (RH 38.3%) dari nilai aktivitas air awal wafer tersebut tidak terjadi proses desorpsi tetapi tetap terjadi proses adsorpsi. Sehingga diduga nilai aktivitas air awal wafer lebih rendah dari RH tersebut yang mengakibatkan terjadinya proses adsorpsi pada RH 38.3%. Oleh karena itu, nilai aktivitas air awal wafer ditentukan dengan menggunakan persamaan model sorpsi yang terpilih yaitu Hasley. Berdasarkan model tersebut, nilai aktivitas air awal wafer adalah 0.253 untuk wafer A dan 0.196 untuk wafer B. Kadar air kesetimbangan yang diperoleh dari hasil penelitian dan waktu yang dibutuhkan untuk mencapai kadar air kesetimbangannya dapat dilihat pada Tabel 8. Tabel 8. Kadar air kesetimbangan (Me) wafer A dan wafer B dan waktu pencapaiannya dibeberapa RH penyimpanan

*

Wafer A

Wafer B

Rh Kesetimbangan (%)

Me*

Waktu (hari)

Me*

Waktu (hari)

Me*

Waktu (hari)

Me*

Waktu (hari)

38.3

2.85

4

2.65

3

2.81

3

2.73

4

47.4

3.87

5

3.72

6

3.32

6

3.63

7

54.4

4.79

5

4.58

6

4.44

6

4.52

7

75.3

11.68

8

8.49**

10

11.37

8

11.59

10

82.3

21.65

12

22.01

14

23.14

12

23.12

15

94.7

-

-

-

-

-

-

-

-

Ulangan 1

Ulangan 2

Ulangan 1

Ulangan 2

Me = kadar air kesetimbangan dalam g H2O/100g solid Nilai Me pada RH 75.3% untuk wafer A ulangan 2 tidak digunakan dalam penentuan model kurva sorpsi isotermis

**

Berdasarkan hasil penelitian, waktu yang diperlukan wafer A dan wafer B untuk mencapai kadar air kesetimbangannya adalah berkisar 3-15 hari penyimpanan tergantung dari kelembaban relatif (RH) penyimpanan. Semakin tinggi nilai RH penyimpanan maka waktu yang diperlukan wafer untuk mencapai keadaan setimbang dengan lingkungan akan semakin lama. Laju difusi uap air untuk mencapai keadaan setimbang antara wafer

53

dan lingkungan penyimpanan akan diimbangi dengan peningkatan kadar air wafer baik wafer A maupun wafer B. Kadar air kesetimbangan wafer A dan wafer B pada tempat penyimpanan dengan RH 38.3% tercapai relatif singkat (3-4 hari), karena selisih nilai aw wafer A dan wafer B dengan RH penyimpanan kecil sehingga proses difusi uap air untuk mencapai kesetimbangan berlangsung cepat. Hal ini dapat dilihat bahwa kadar air kesetimbangan wafer A dan wafer B pada RH 38.3% mendekati kadar air awal wafer A dan wafer B. Pada RH penyimpanan 94.7% tidak dilakukan perhitungan kadar air kesetimbangannya karena wafer A dan wafer B tidak mencapai kesetimbangan yang disebabkan adanya pertumbuhan kapang pada saat penyimpanan seperti yang terlihat pada Gambar 20.

Gambar 20. Pertumbuhan kapang pada RH 94.7% Kadar air kesetimbangan ini selanjutnya bila diplotkan dengan kelembaban relatifnya atau aktivitas airnya

masing-masing akan

membentuk suatu kurva yang oleh Labuza (2002) disebut kurva sorpsi isotermis. Kurva sorpsi isotermis hasil percobaan untuk wafer A dan wafer B dapat dilihat pada Gambar 21. Terlihat bahwa kedua kurva mempunyai bentuk yang serupa yaitu berbentuk sigmoid (bentuk huruf S), meskipun tidak sigmoid sempurna.

54

Kadar air kesetimbangan (g H2O/g solid)

0.3000

0.2000

0.1000

0.0000 0.000

0.200

0.400

0.600

0.800

1.000

Aktivitas air (Aw) Wafer A

Wafer B

Gambar 21. Kurva sorpsi isotermis hasil percobaan wafer A dan wafer B

2. MODEL SORPSI ISOTERMIS Telah

banyak

model-model

persamaan

matematis

yang

dikembangkan untuk menjelaskan fenomena sorpsi isotermis secara teoritis (Chirife dan Iglesias, 1978; Van den Berg dan Bruin, 1981). Namun dalam penelitian ini hanya akan digunakan 6 model persamaan matematis, yaitu model Hasley, Chen-Clayton, Henderson, Caurie, dan Oswin, dan GAB. Model-model persamaan ini dipilih berdasarkan penelitian-penelitian

terdahulu.

Model-model

tersebut

mampu

menggambarkan kurva sorpsi isotermis pada jangkauan nilai aktivitas air yang luas (Chirife dan Iglesias, 1978; Van den Berg dan Bruin, 1981; Isse et al., 1983). Selain itu, model-model persamaan ini mempunyai parameter kurang atau sama dengan tiga sehingga sesuai dengan pernyataan Labuza (1968) bahwa jika tujuan penggunaan kurva sorpsi isotermis tersebut untuk mendapatkan kemulusan kurva yang tinggi maka lebih cocok menggunakan model-model persamaan yang sederhana dan lebih sedikit jumlah parameternya. Selanjutnya model-model persamaan matematis yang digunakan dimodifikasi bentuknya dari persamaan non linear menjadi persamaan linear

sehingga

dapat

ditentukan

nilai-nilai

tetapannya

dengan

menggunakan metode kuadrat terkecil untuk mempermudah perhitungan.

55

Metode kuadrat terkecil ini menurut Walpole (1990) dapat memilih suatu garis regresi terbaik diantara semua kemungkinan garis lurus yang dapat dibuat pada suatu diagram pencar. Modifikasi model-model sorpsi isotermis dari persamaan non linear menjadi persamaan linear dapat dilihat pada Lampiran 15. Tabel 9. Persamaan kurva sorpsi isotermis wafer A

Model Hasley Chen Clayton

Henderson

*

Persamaan Bentuk Linear (y = a + bx)* log (ln (1/aw)) = -1.25 - 0.78 log Me ln (ln (1/aw)) = -0.02 - 8.05 Me log (ln (1/(1-aw))) = 0.68 + 0.62 log Me

Caurie

ln Me = -5.43 + 4.55 aw

Oswin

ln Me = -3.17 + 1.05 ln (aw/(1-aw))

GAB

Me = 0.09 aw / (1-1.08 aw)(1+1.05 aw)

Nilai di atas berdasarkan rata-rata 2 kali ulangan kadar air kesetimbangan

Tabel 10. Persamaan kurva sorpsi isotermis wafer B

Model Hasley Chen Clayton

Henderson Caurie

*

Persamaan Bentuk Linear (y = a + bx)* log (ln (1/aw)) = -1.22 - 0.75 log Me ln (ln (1/aw)) = -0.07 - 7.40 Me log (ln (1/(1-aw))) = 0.65 + 0.59 log Me ln Me = -5.54 + 4.71 aw

Oswin

ln Me = -3.21+ 1.05 ln (aw/(1-aw))

GAB

Me = 0.14 aw / (1-1.12 aw)(1+1.25 aw)

Nilai di atas berdasarkan rata-rata 2 kali ulangan kadar air kesetimbangan

Selanjutnya kadar air kesetimbangan wafer dihitung dengan menggunakan persamaan model-model kurva sorpsi isotermis di atas. Hasil perhitungan kadar air kesetimbangan wafer A dan wafer B dengan menggunakan model-model persamaan tersebut dapat dilihat pada

Lampiran 16. Berdasarkan data kadar air kesetimbangan tersebut, dapat ditentukan model yang dapat menggambarkan kurva sorpsi isotermis dengan tepat, agak tepat, ataupun kurang tepat dengan menentukan nilai

56

MRD masing-masing model. Hasil perhitungan nilai Mean Relative Determination (MRD) disajkan pada Tabel 11. Tabel 11. Hasil perhitungan nilai MRD model sorpsi isotermis*

Model Persamaan

MRD Wafer A 4.39

Wafer B 6.92

Chen Clayton

33.97

41.38

Henderson

10.80

14.57

Caurie

10.13

13.90

Oswin

6.65

10.05

GAB

60.87

168.28

Hasley

* nilai di atas berdasarkan rata-rata dari kadar air kesetimbangan wafer A dan wafer B masing-masing 2 ulangan

Model persamaan yang dipilih adalah model yang memberikan nilai MRD terkecil, dimana model tersebut dapat menggambarkan keseluruhan kurva sorpsi isotermis dengan tepat. Berdasarkan hasil penelitian, model persamaan yang dapat menggambarkan kurva sorpsi isotermis untuk wafer A dan wafer B adalah model persamaan Hasley. Model tersebut memiliki nilai MRD yang paling rendah dari antara model persamaan yang lain. Menurut Oktania (2004), model yang dapat menggambarkan kurva sorpsi istormis wafer adalah model Hasley. Model Hasley dapat menggambarkan proses kondensasi pada lapisan multilayer. Persamaan tersebut dapat digunakan untuk bahan makanan dengan kelembaban relatif antara 1081% (Chirife dan Igelsias,1978). Nilai MRD menggambarkan kedekatan kurva sorpsi isotermis hasil percobaan dengan kurva sorpsi isotermis berdasarkan model matematik. Semakin berhimpit antara kurva sorpsi isotermis hasil percobaan dengan kurva sorpsi isotermis model-model persamaan, maka model tersebut semakin tepat menggambarkan fenomena sorpsi isotermis. Dapat dilihat pada Gambar 22 dan 23, kurva sorpsi isotermis dari model matematik Hasley berimpit dengan kurva sorpsi isotermis dari hasil percobaan.

57

Semakin berimpit dengan kurva hasil percobaan maka model tersebut memiliki nilai MRD yang kecil.

Kadar air kesetimbangan (g H20/g solid)

0.2500 0.2000 0.1500 0.1000 0.0500 0.0000 0.000

0.200

0.400

0.600

0.800

1.000

Aktivitas air (Aw) Percobaan

Hasley

Gambar 22. Perbandingan kurva sorpsi isotermis wafer A hasil percobaan dengan model Hasley

Kadar air kesetimbangan (g H20/g solid)

0.2500 0.2000 0.1500 0.1000 0.0500 0.0000 0.000

0.200

0.400

0.600

0.800

1.000

Aktivitas air (Aw) Percobaan

Hasley

Gambar 23. Perbandingan kurva sorpsi isotermis wafer B hasil percobaan dengan model Hasley

58

3. NILAI SLOPE (b) KURVA SORPSI ISOTERMIS Nilai slope kurva sorpsi isotermis (b) ditentukan pada daerah linear (Arpah, 2001). Menurut Labuza (1982), daerah linear untuk menentukan slope kurva sorpsi isotermis diambil antara daerah kadar air awal dan kadar air kritis. Dalam penelitian ini digunakan tiga tipe penentuan nilai slope. Tipe pertama (b1) menggunakan nilai slope yang diperoleh dari hasil perbandingan antara selisih kadar air kritis dan kadar air awal dengan selisih aktivitas air kritis dan aktivitas air awal. Aktivitas air awal dan kritis ditentukan berdasarkan persamaan model Hasley. Nilai aktivitas air kritis dapat dilihat pada Tabel 12. Tipe kedua (b2) adalah nilai slope yang diambil dari nilai aktivitas air 0.383 sampai 0.544. Tipe ketiga (b3) adalah menggunakan nilai slope yang diambil dari nilai aktivitas air 0.383 sampai 0.753. Nilai slope b2 dan b3 ditentukan berdasarkan kurva sorpsi isotermis model Hasley. Nilai slope yang terbentuk dapat dilihat pada Tabel 13. Nilai slope yang berbeda akan menghasilkan perbedaan umur simpan produk. Tabel 12. Nilai aktivitas air (aw) kritis berdasarkan model Hasley

Uji Organoleptik Uji Hedonik Uji Rating

Aktivitas air (aw) kritis Wafer A Wafer B 0.541 0.517 0.536 0.516

Tabel 13. Nilai slope (b) kurva sorpsi isotermis wafer

Wafer A

R2

Wafer B

R2

Hedonik

0.1042

1.00

0.0900

1.00

Rating

0.1028

1.00

0.0897

1.00

b2

0.1304

0.99

0.1304

0.98

b3

0.2818

0.94

0.2904

0.93

Nilai slope (b) b1

59

Kadar air kesetimbangan (g H2O/g solid)

Wafer A 0.16

b1 hedonik b1 rating b2

0.12

b2 (ekstrapolasi) b3

0.08

b3 (ekstrapolasi) Linear (b1 hedonik)

0.04

Linear (b1 rating) Linear (b2)

0.00 0.00

Linear (b2 (ekstrapolasi))

0.20

-0.04

0.40

0.60

0.80

1.00

Linear (b3) Linear (b3 (ekstrapolasi))

Aktivitas air

Gambar 24. Slope yang terbentuk untuk wafer A

Kadar air kesetimbangan (g H2O/g solid)

Wafer B b1 hedonik

0.16

b1 rating b2

0.12

b2 ekstrapolasi b3 b3 ektrapolasi

0.08

Linear (b1 hedonik) Linear (b1 rating)

0.04

Linear (b2) Linear (b2 ekstrapolasi)

0.00 0.00 -0.04

Linear (b3)

0.20

0.40

0.60

0.80

1.00

Linear (b3 ektrapolasi)

Aktivitas air

Gambar 25. Slope yang terbentuk untuk wafer B Berdasarkan Gambar 24 dan 25, dapat dilihat bahwa garis linier b2 apabila diteruskan akan berada pada kisaran kadar air awal dengan kadar air kritis wafer baik wafer A maupun wafer B (b1) sehingga sesuai dengan pernyataan Labuza untuk menentukan nilai slope kurva sorpsi isotermis harus berada pada kisaran kadar air awal dan kadar air kritis wafer.

60

Sedangkan garis linier b3, apabila diteruskan tidak berada pada kisaran tersebut. Selain itu, nilai R2 pada garis linier b2 lebih baik daripada garis linier b3. Oleh karena itu, slope b2 lebih tepat digunakan untuk menentukan umur simpan wafer. Nilai b1 tidak tepat digunakan karena hanya terdiri dari dua titik sehingga kurang menggambarkan kurva sorpsi isotermis secara sebenarnya.

F. PENDEKATAN MODEL KADAR AIR KRITIS TERMODIFIKASI Pendekatan model kedua yang digunakan dalam penelitian ini adalah model kadar air kritis termodifikasi. Model ini belum dapat diketahui ketepatannya untuk digunakan dalam menentukan umur simpan produk pangan kering. Variabel umur simpan yang telah ditentukan sebelumnya adalah kadar air kritis wafer dan variabel pendukung umur simpan wafer. Variabel lain yang harus ditentukan adalah nilai perbedaan tekanan di dalam dan di luar kemasan ( P). Perbedaan tekanan di dalam dan di luar kemasan ini digunakan untuk menggantikan kurva sorpsi isotermis yang tidak dimiliki oleh semua produk pangan. Produk pangan yang memiliki kandungan sukrosa tinggi, misalnya permen, tidak memiliki kurva sorpsi isotermis yang bagus karena pada RH tertentu kadar air permen akan semakin meningkat (Kusnandar, 2006). Akibat dari kenaikan kadar air tersebut, kadar air kesetimbangan produk pangan tidak akan tercapai. Adanya perbedaan tekanan antara produk pangan dengan lingkungan akan menyebabkan proses difusi uap air baik dari produk pangan ke lingkungan maupun sebaliknya tergantung nilai aw produk pangan dan RH tempat penyimpanan. Penentuan perbedaan tekanan ( P) memerlukan waktu yang singkat karena menggunakan perhitungan matematis saja berdasarkan nilai aw produk pangan dan RH tempat penyimpanan pada suhu tertentu. Besarnya nilai tekanan di luar (Pout) dan tekanan di dalam (Pin) kemasan ini dipengaruhi oleh besaran tekanan uap air murni pada suhu terukur (Po). Tekanan di luar kemasan sangat dipengaruhi oleh RH lingkungan sedangkan tekanan di dalam

61

kemasan sangat dipengaruhi oleh aw wafer. Suhu tempat penyimpanan yang digunakan pada penelitian ini adalah 300C. Proses difusi uap air yang terjadi antara wafer A dan wafer B dengan lingkungan adalah proses adsorpsi karena aw kedua wafer lebih rendah dari RH tempat penyimpanan yaitu 70%, 75%, 80%, dan 90% sehingga tekanan di luar kemasan lebih tinggi daripada tekanan di dalam kemasan sehingga mobilisasi uap air berlangsung dari lingkungan ke wafer. Kelembaban relatif (RH) tersebut dipilih karena kisaran RH tersebut banyak diaplikasikan untuk menyimpan produk pangan. Nilai aw wafer A dan wafer B menggunakan awmeter adalah sebesar 0.449 dan 0.422. Setelah dikoreksi dengan model Hasley, nilai aw wafer A dan wafer B adalah 0.253 dan 0.196. Tekanan uap air murni pada suhu 300C berdasarkan tabel uap air (Lampiran 18) adalah 31.824 mmHg (Labuza, 1982). Nilai P untuk wafer A dan wafer B dapat dilihat pada

Tabel 14 dan 15. Tabel 14. Nilai P wafer A dan wafer B menggunakan awmeter

RH penyimpanan 70% 75% 80% 90%

Wafer A 7.988 9.579 11.170 14.353

P (mmHg)

Wafer B 8.847 10.438 12.029 15.212

Tabel 15. Nilai P wafer A dan wafer B berdasarkan model Hasley RH penyimpanan 70% 75% 80% 90%

Wafer A 14.225 15.817 17.408 20.590

P (mmHg)

Wafer B 16.039 17.630 19.222 22.404

Berdasarkan Tabel 14 dan 15, semakin tinggi kelembaban relatif tempat penyimpanan maka perbedaan tekanan juga semakin besar. Hal ini disebabkan nilai Pout yang semakin besar dengan bertambahnya nilai RH penyimpanan sedangkan nilai Pin tetap terhadap perubahan RH penyimpanan karena Pin dipengaruhi oleh aktivitas air wafer. Oleh karena itu, perbedaan nilai aktivitas air juga akan mempengaruhi nilai P. Berdasarkan Tabel 14 dan 15, terdapat

62

perbedaan nilai

P berdasarkan nilai aw dari awmeter dengan nilai aw

berdasarkan model. Penentuan nilai aw dengan awmeter sangat tergantung dari sensitivitas alat yang digunakan. Alat awmeter yang digunakan kurang sensitif untuk mengukur golongan produk pangan kering dengan nilai aw yang rendah (dibawah aw 0.3). Selain itu, kesalahan penggunaan garam pengkalibrasi juga dapat mempengaruhi nilai aw produk yang terukur. Kesalahan dalam penentuan nilai aktivitas air dapat menyebabkan kesalahan penentuan umur simpan dengan model kadar air kritis termodifikasi. Laju difusi uap air dari lingkungan ke wafer baik wafer A dan wafer B tertinggi akan terjadi apabila wafer tersebut disimpan pada tempat yang memiliki RH 90% sedangkan RH 70% merupakan kelembaban relatif yang cocok untuk memperpanjang umur simpan wafer karena laju difusi uap air akan berlangsung lambat. Menurut Kusnandar (2006), semakin kecil perbedaan tekanan luar dan tekanan dalam kemasan maka perpindahan air semakin lambat, sehingga umur simpan produk akan lebih lama. Rekapitulasi nilai P dapat dilihat pada Lampiran 19. G. ANALISIS UMUR SIMPAN WAFER 1. PERBANDINGAN MODEL PENDEKATAN UMUR SIMPAN Secara umum, umur simpan wafer ditetapkan berdasarkan waktu pada saat kadar air wafer sama dengan kadar air kritisnya. Wafer akan menyerap uap air dari lingkungan sampai tercapai batas kritisnya sehingga kerenyahan wafer ditolak oleh konsumen. Pendekatan kadar air kritis ini sangat cocok untuk menentukan umur simpan produk pangan yang sensitif terhadap perubahan kadar airnya. Dalam pendekatan tersebut terdapat dua model penentuan umur simpan, yaitu model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi. Penentuan umur simpan dengan model kurva sorpsi isotermis memerlukan biaya yang tinggi dan waktu analisis yang lama. Oleh karena itu, digunakan model lain yaitu model kadar air kritis termodifikasi. Model ini sering digunakan untuk menentukan umur simpan produk pangan yang mengandung sukrosa

63

tinggi. Produk pangan ini tidak mempunyai kurva sorpsi isotermis yang baik sehingga digantikan dengan nilai

P yaitu perbedaan tekanan di

dalam dan di luar kemasan. Model ini memerlukan waktu analisis yang singkat dan biaya yang lebih murah namun untuk produk kering belum diketahui ketepatannya. Pada penelitian ini, umur simpan wafer akan ditentukan pada RH 70%, 75%, 80%, dan 90% untuk menggambarkan kondisi penyimpanan wafer oleh konsumen. Umur simpan wafer A dan wafer B berdasarkan uji hedonik dengan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi dapat dilihat pada Tabel 16 dan 17. Perhitungan umur simpan wafer dengan uji hedonik dapat dilihat pada Lampiran 20. Tabel 16. Umur simpan wafer A berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji hedonik RH Penyimpan -an (%) 70 75 80 90

Slope b1 KemasPP an asli tebal** 325 36 218 24 143 16 48 5

Umur Simpan (hari)* Slope b2 Slope b3 KemasPP KemasPP an asli tebal** an asli tebal** 407 46 880 99 272 31 588 66 178 20 386 43 60 7 129 14

* umur simpan tersisa dari wafer A adalah 318 hari ** dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m2

Termodifikasi KemasPP an asli tebal** 425 48 382 43 347 39 293 33

Tabel 17. Umur simpan wafer B berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji hedonik RH Penyimpan -an (%) 70 75 80 90

Slope b1 KemasPP an asli tebal** 398 28 269 19 177 13 58 4

Umur Simpan (hari)* Slope b2 Slope b3 KemasPP KemasPP ** an asli tebal an asli tebal** 576 41 1283 91 390 28 868 61 257 18 572 40 84 6 188 13

* umur simpan tersisa dari wafer B adalah 373 hari ** dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m2

Termodifikasi KemasPP an asli tebal* 575 41 523 37 480 34 412 29

Hasil penelitian menunjukkan kecenderungan semakin meningkatnya RH tempat penyimpanan, umur simpan wafer baik wafer A dan wafer B

64

menjadi semakin menurun. Hal ini disebabkan semakin tinggi RH penyimpanan maka perbedaan tekanan antara di dalam kemasan dan di luar kemasan akan semakin besar. Menurut Kusnandar (2006), laju difusi uap air dari lingkungan ke produk pangan akan meningkat sebanding dengan semakin besarnya perbedaan tekanan udara di luar dan di dalam kemasan. Berdasarkan penelitian, kondisi yang ideal untuk penyimpanan wafer adalah RH 70% karena wafer akan memiliki umur simpan yang lebih panjang. Perbedaan umur simpan antara wafer A dan wafer B disebabkan oleh perbedaan faktor pendukung masing-masing produk yaitu permeabilitas kemasan asli wafer, luas kemasan, dan berat solid per kemasan wafer. Wafer yang dikemas ulang dengan plastik PP tebal mempunyai umur simpan yang lebih singkat daripada wafer yang disimpan pada kemasan asli. Hal ini disebabkan plastik PP tebal memiliki nilai permeabilitas lebih tinggi daripada kemasan asli wafer baik wafer A dan wafer B. Umur simpan wafer A dan wafer B yang dikemas ulang dengan plastik PP tebal relatif sama. Hal ini membuktikan bahwa dari segi karakteristik produk, wafer A dan wafer B sama sehingga perbedaan porositas antara wafer A dan wafer B tidak mempengaruhi umur simpan produk. Umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis cenderung sama dengan model kadar air kritis termodifikasi pada RH 70-80%. Pada RH 70-75%, umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis dengan slope b2 memiliki nilai yang sama dengan model kadar air kritis termodifikasi. Sedangkan pada RH 80%, umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis dengan slope b3 memiliki umur simpan yang sama dengan model kadar air kritis termodifikasi. Perbedaan nilai slope yang digunakan terhadap RH penyimpanan dikarenakan pada slope b2 pada kurva sorpsi isotermis hanya menjangkau daerah linier antara RH 3050% tetapi masih dapat menjangkau nilai RH 70-75% sedangkan RH 80% berada di daerah linier b3. Namun slope b3 tidak menjangkau daerah kadar air awal dan kadar air kritis wafer sehingga tidak sesuai untuk menentukan umur simpan wafer. Pada model kadar air kritis termodifikasi tidak

65

dipengaruhi nilai slope karena tidak memiliki kurva sorpsi isotermis yang bisa dianggap linier. Model ini hanya memperhatikan nilai perbedaan tekanan di dalam dan di luar kemasan ( P) untuk menggambarkan pola difusi uap air dari lingkungan ke produk. Nilai

P ini sangat ditentukan

oleh nilai aw wafer sehingga pengukuran aw wafer harus lebih terkontrol. Hasil umur simpan tersebut sesuai dengan umur simpan aktual yang ditentukan secara konvensional oleh industri pangan yang memproduksi wafer A dan wafer B. Hal ini dapat dilihat dari umur simpan aktual wafer yang tersisa masih mencakup umur simpan wafer hasil penelitian. Tanggal kadaluarsa ditentukan berdasarkan reduksi umur simpan wafer yang telah ditentukan untuk melindungi konsumen dari pengkonsumsian produk yang telah rusak. Berdasarkan hasil penentuan umur simpan tersebut, umur simpan wafer dapat ditentukan dengan model kadar air kritis termodifikasi dengan RH tempat penyimpanan 70-80%. Pada RH 90%, hasil umur simpan dengan kurva sorpsi isotermis tidak dapat dibandingkan dengan model kadar air kritis termodifikasi. Hal ini dikarenakan, kurva sorpsi isotermis ditentukan berdasarkan model Hasley yang cocok untuk produk dengan range RH 10-81%.

2. PERBANDINGAN UMUR SIMPAN WAFER MENGGUNAKAN PERBEDAAN NILAI MC Kadar air kritis (Mc) dalam penelitian ini ditentukan dengan menggunakan uji organoleptik yaitu uji hedonik dan uji rating terhadap kerenyahan wafer. Oleh karena itu, terdapat dua kadar air kritis untuk masing-masing wafer yang berasal dari dua uji organoleptik yang digunakan. Perbandingan kadar air kritis wafer berdasarkan uji organoleptik dapat dilihat pada Tabel 18. Kadar air kritis sangat mempengaruhi umur simpan wafer sehingga dengan kadar air kritis dari masing-masing uji organoleptik akan menghasilkan umur simpan dari uji organoleptik tersebut. Umur simpan wafer berdasarkan uji hedonik dapat

66

dilihat pada Tabel 16 dan 17 sedangkan dengan uji rating dapat dilihat pada Tabel 19 dan 20. Tabel 18. Kadar air kritis wafer berdasarkan uji organoleptik Uji organoleptik Uji hedonik Uji rating

Kadar air kritis (g H2O/g solid) Wafer A Wafer B 0.0466 0.0412 0.0457 0.0410

Tabel 19. Umur simpan wafer A berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji rating RH Penyimpan -an (%) 70 75 80 90

Slope b1 KemasPP an asli tebal** 398 28 269 19 177 13 58 4

Umur Simpan (hari)* Slope b2 Slope b3 KemasPP KemasPP an asli tebal** an asli tebal** 569 40 1267 89 385 27 858 61 254 18 565 40 84 6 186 13

Termodifikasi KemasPP an asli tebal** 569 40 518 37 475 34 407 29

* umur simpan tersisa dari wafer A adalah 318 hari ** dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m2

Tabel 20. Umur simpan wafer B berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji rating RH Penyimpan -an (%) 70 75 80 90

Slope b1 KemasPP an asli tebal** 393 28 266 19 175 12 58 4

Umur Simpan (hari)* Slope b2 Slope b3 KemasPP KemasPP an asli tebal** an asli tebal** 571 40 1272 90 387 27 861 61 255 18 567 40 84 6 187 13

* umur simpan tersisa dari wafer B adalah 373 hari ** dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m2

Termodifikasi KemasPP an asli tebal* 571 40 520 37 477 34 409 29

Berdasarkan hasil perhitungan, umur simpan wafer berdasarkan uji hedonik tidak berbeda jauh dengan umur simpan wafer yang ditentukan dengan uji rating. Hal ini dikarenakan kadar air kritis wafer dari dua uji organoleptik tersebut tidak berbeda jauh. Oleh karena itu, uji rating dapat digunakan untuk menentukan kadar air kritis wafer menggantikan uji hedonik. Penggunaan uji rating dalam penentuan kadar air kritis hanya

67

membutuhkan panelis terbatas sehingga biaya untuk analisis dapat dikurangi. Selain itu, uji rating lebih spesifik pada parameter yang diujikan daripada dengan uji hedonik. Perhitungan umur simpan wafer dengan menggunakan uji rating dapat dilihat pada Lampiran 21.

V. KESIMPULAN DAN SARAN A. KESIMPULAN Wafer termasuk dalam jenis biskuit yang memiliki rasa dan tekstur (kerenyahan) sebagai mutu utamanya. Selama penyimpanan, wafer akan mengalami proses penurunan mutu. Penurunan mutu wafer yang mudah teridentifikasi pertama kali secara organoleptik oleh konsumen adalah penurunan tekstur wafer daripada bau tengik akibat reaksi oksidasi lemak. Penurunan tekstur wafer ini dikarenakan wafer menyerap uap air dari lingkungan sehingga kadar air wafer meningkat sampai konsumen tidak dapat menerima wafer secara organoleptik. Batas kritis tersebut ditetapkan sebagai kadar air kritis wafer. Wafer A lebih cepat mengalami penurunan tekstur daripada wafer B yang disebabkan wafer A lebih porus daripada wafer B. Berdasarkan penelitian ini, uji rating dapat digunakan menggantikan uji hedonik untuk menentukan kadar air kritis wafer. Selain itu, uji obyektif (kerenyahan kritis) juga dapat digunakan untuk menentukan kadar air kritis wafer. Hal ini didukung dengan hasil penelitian bahwa terdapat korelasi yang baik antara uji subyektif dan uji obyektif. Dengan metode penentuan kadar air kritis yang lebih sederhana tetapi tepat dan tidak membutuhkan banyak panelis maka biaya analisis dapat dikurangi. Umur simpan wafer dengan menggunakan model kurva sorpsi isotermis cenderung sama dengan umur simpan wafer dengan menggunakan model kadar air kritis termodifikasi pada RH di bawah 80%. Hasil tersebut didapatkan setelah adanya koreksi pada nilai aw awal wafer dan penentuan nilai slope kurva sorpsi isotermis yang tepat digunakan. Kedua variabel tersebut merupakan faktor penting dalam kedua model yang digunakan. Nilai aw awal wafer ini digunakan pada model kadar air kritis termodifikasi untuk menentukan nilai P. Koreksi aw awal wafer dilakukan dengan menggunakan model persamaan Hasley karena sensitivitas awmeter rendah untuk produk kering dan permasalahan kalibrasi alat. Nilai slope yang digunakan berasal dari slope kurva sorpsi isotermis model Hasley yang mencakup kadar air awal dan kadar air kritis wafer yaitu terbentuk pada nilai RH 30-50%. Namun, RH

69

di bawah 80% masih dapat mencakup slope pada range RH 30-50% sehingga umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis cenderung sama dengan model kadar air kritis termodifikasi. Pada RH di atas 80%, umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis tidak sama dengan model kadar air kritis termodifikasi. Hal ini dikarenakan pada model kurva sorpsi isotermis yang digunakan adalah model Hasley yang hanya mencakup untuk produk dengan RH 10-81%. Oleh karena itu, model kadar air kritis termodifikasi dapat digunakan untuk menentukan umur simpan wafer dengan keterbatasan RH yaitu antara 70-80%. Hal ini sesuai untuk kondisi penyimpanan produk pangan kering yaitu di bawah 80%. Faktor di luar produk yang dapat mempengaruhi umur simpan produk wafer adalah permeabilitas kemasan, luas kemasan, dan berat solid produk per kemasan. Perbedaan umur simpan wafer A dan wafer B dikarenakan oleh perbedaan faktor-faktor tersebut. Berdasarkan hasil penelitian, umur simpan wafer A dan wafer B relatif sama. Hal ini menunjukkan bahwa perbedaan porositas produk tidak mempengaruhi umur simpan produk. Selain itu, umur simpan yang ditentukan dengan menggunakan uji hedonik relatif sama dengan umur simpan wafer berdasarkan uji rating. Oleh karena itu, model kadar air kritis termodifikasi dengan menggunakan uji rating dan uji obyektif dalam penentuan kadar air kritis wafer dapat digunakan untuk menentukan umur simpan semua jenis flat wafer yang ada di pasaran.

B. SARAN Berdasarkan hasil penelitian, umur simpan semua jenis produk flat wafer dapat ditentukan dengan model kadar air kritis termodifikasi dengan RH di bawah 80% dengan pengendalian variabel penting dalam model tersebut. Variabel tersebut adalah pengukuran aw awal wafer dengan menggunakan awmeter. Pengendalian tersebut adalah kalibrasi alat dengan garam jenuh dengan RH yang mencakup kadar air awal dan kadar air kritis wafer. Selain itu, sensitivitas alat juga akan mempengaruhi pengukuran aw wafer. Penentuan kadar air kritis wafer dapat digunakan dengan uji subyektif (uji rating) dan uji obyektif. Berdasarkan penelitian, kedua uji tersebut

70

menghasilkan umur simpan yang relatif sama dengan uji hedonik. Model penentuan umur simpan dan metode penentuan kadar air kritis yang lebih sederhana dapat mengurangi biaya dan waktu analisis.

DAFTAR PUSTAKA Adawiyah, D. R. 2002. Efek Transisi Gelas Terhadap Tekstur Bahan Pangan. Makalah Falsafah Sains. Program Pasca Sarjana, Institut Pertanian Bogor, Bogor. http://tumoutou.net/3_semi_012/dede_adawiyah.htm. [1 Januari 2002]. AOAC (Association of Official Agricultural Chemist). 1984. Official Methods of Analysis. AOAC, Washington D. C. Andarwulan, N. dan P. Hariyadi. 2006. Perubahan Mutu (Fisik, Kimia, Mikrobiologi) selama Pengolahan dan Penyimpanan Produk Pangan. Dalam: Modul Pelatihan Pendugaan dan Pengendalian Masa Kadaluarsa Bahan dan Produk Pangan, 7-8 Agustus 2006, Bogor. Apriyantono, A., D. Fardiaz, N. L. Puspitasari, Sedarnawati, dan S. Budiyanto. 1989. Petunjuk Laboratorium Analisis Pangan. Pusat Antar Universitas Pangan dan Gizi Institut Pertanian Bogor, Bogor. Arpah, 2001. Buku dan Monograf Penentuan Kadaluwarsa Produk Pangan. Program Pascasarjana Institut Pertanian Bogor, Bogor. BSN (Badan Standarisasi Nasional). 1992. Mutu dan Cara Uji Biskuit (SNI 012973-1992). BSN, Jakarta. 3751-1995). BSN, Jakarta.

. 1995. Syarat Mutu Tepung Terigu (SNI-

Barbarosa. C., Gustavo. V., Humberto V. M. Dehydration of Foods. 1996. Champan & Hall, USA. Brooker, D. B., F. W. Bakker-Arkema, dan C. W. Hall. 1982. Drying Cereal Grains. AVI Publishing Company, Connecticut. Brown, A. 2000. Understanding Food: Principles and Preparation. Wadsworth Inc, Belmon. Buckle, K. A., R. A. Edwards, G. H. Fleet, M. Wooton. 1987. Ilmu Pangan. UI Press, Jakarta. Chirife, J. dan H. A. Iglesias, 1978. Equation for fitting water sorption isotherm of foods. Part I – a review. J. Food Tech. 13: 159-593. deMan, J. 1979. Principles of Food Chemistry. Wadsworth, Inc, Belmont. Dogan, I. S. 2006. Factor affecting wafer sheet quality. Turkey : International Journal of Food Science and Technology, 41: 569-576.

72

Duckworth. R. B. 1975. Water Relation of Foods. Academic Press, London. Fennema, O. R. 1996. Food Chemistry. Marcel Dekker, Inc, New York. Fellows, P. J. 1990. Food Processing Principle and Practise. Ellies Horwood Limited, New York. Floros, J. D. 1993. Shelf Life Prediction of Packaged Foods. Di dalam: Shelf Life Studies of Foods and Beverages. Charalambous, G. (ed). Elsevier Publishing, New York. Hariyadi, P. 2006. Prinsip-Prinsip Penetapan dan Pendugaan Masa Kadaluarsa Produk Pangan. Dalam: Modul Pelatihan Pendugaan dan Pengendalian Masa Kadaluarsa Bahan dan Produk Pangan. 7-8 Agustus 2006, Bogor. Henderson, S. M. dan R. L. Perry. 1976. Agriculture Process Engineering. AVI Publ Co., Connecticut. Hernandez, R. J. and J. R. Giacin. 1998. Factors affecting permeation, sorption, and migration processes in package-product systems. Dalam : Food Storage Stability. Irwin A. Taub and R. Paul Singh. CRC Press, USA. Kusnandar, F. 2006. Disain Percobaan Dalam Penentapan Umur Simpan Produk Pangan dengan Metode ASLT (Model Arrhenius dan Kadar Air Kritis). Dalam: Modul Pelatihan Pendugaan dan Pengendalian Masa Kadaluarsa Bahan dan Produk Pangan, 7-8 Agustus 2006, Bogor. Kusumaningrum, A. 2002. Mempelajari Cara Penentuan Umur Simpan Produk Biskuit di PT. SangHang Perkasa. Laporan Magang. Fakultas Teknologi Pertanian, Institut Pertanian Bogor, Bogor. Isse, M. G., H. Schuchmann, dan H. Schubert. 1992. Divided sorption isotherm concept an alternative way to describe sorption isotherm data. J. Food Eng. 16 : 147 – 157. Labuza, T. P. 1968. Sorption isotherm in food. J. Food Tech. 22(3)263. . 1982. Shelf Life Dating of Foods. Food and Nutrition Press Inc. Westport, Conneticut. . 2002. Water Activity and Sorption Isotherm. IFT Short Course, Department of Food Science and Nutrition, University of Minnesota. Macrae, R., Robinson, R.K., dan Sadler, J. 1993. Encyclopedia of Food Science, Food Technology and Nutrition. Academic Press, New York.

73

Manley, D. 2000. Technology of Biscuits, Crackers, and Cookies. Third edition. Woodhead Publishing Limited, Cambridge. . 2001. Biscuit, Cracker, and Cookie Recipes for The Food Industry. Woodhead Publishing Limited, Cambridge. Mercado, V. dan B. Canovas. 1996. Dehydration of Foods. International Thomson Publishing, New York. Matz, S. A. dan T. D. Matz. 1978. Cookies and Crackers Technology. The AVI Publishing Co. Inc., Texas. Mujundar, A. S. dan S. Devahasitin. 2000. Fundamental principles of drying. www.geocities.com. [November, 2005]. Navarette, N., G. Moraga, P. Talens, dan A. Chiratlt. 2004. Water Sorption The Effect Plasticization In Wafers. Journal Food Science and Technology, Valencia, 39: 555-562. Oktania, I. 2004. Studi Penentuan Umur Simpan Produk Wafer PT. Arnott’s Indonesia Dengan Metode Accelerated Shelf Life Testing (ASLT). Skripsi. Fakultas Teknologi Pertanian, Institut Pertanian Bogor, Bogor. Pavinee, C. 1998. Water migration and food storage stability. Dalam : Food Storage Stability. Irwin A. Taub and R. Paul Singh. CRC Press, USA. Piazza L dan P. Massi. 1997. Development of Crispiness In Cooking During Baking In An Industrial Oven. Cereal Chemistry, 74 (2):135-140. Robertson, G.L. 1992. Predicting the Shelf Life of Packaged Foods. Dalam: Liang, O.B., A. Buchanan, dan D. Fardiaz (ed). Development of Food Science Technology in Southeast Asia. IPB Press, Bogor . 1993. Food Packaging Principles and Practices. Marcel Dekker Inc, New York. Rosenthal, A. J. 1999. Food Texture, Measurement, and Perception. An Aspen Publication, Maryland. Spiess, W.E.L. and W. Wolf. 1987. Critical Evaluation of Methods to Determine Moisture Sorption Isotherm. Di dalam : Water Activity: Theory and Application to Food (Rockland, R.B., L.R. Beuchet (ed.). Marcell-Dekker Inc, New York. Syarief, R. 1990. Peranan Pengemasan Dalam Mempertahankan Mutu Pangan. Pusbangtepa-IPB, Bogor.

74

Syarief, R. dan H. Halid. 1993. Teknologi Penyimpanan Pangan. Pusat Antar Universitas Rekayasa Proses Pangan, Institut Pertanian Bogor, Bogor. Van den Berg. C. dan S. Bruin. 1981. Water Activity and Its Estimation in Food System. Theoritical Aspects. Academy Press, New York. Walpole, R. E. 1990. Pengantar Statistika. PT. Gramedia Pustaka Utama, Jakarta Winarno, F. G. dan Jennie, L. B. 1983. Kerusakan Bahan Pangan. PT Gramedia, Jakarta. Winarno, F. G. 1994. Kimia Pangan dan Gizi. PT Gramedia Pustaka Utama, Jakarta.

75

LAMPIRAN

76

Lampiran 1. Form kuisioner penentuan atribut utama dan parameter kritis wafer QUISIONER 1. Apakah Anda pernah mengkonsumsi produk wafer? ( ) ya ( ) tidak 2. Apakah Anda menyukai produk wafer yang ada di pasaran saat ini? ( ) ya ( ) netral ( ) tidak 3. Dari jenis wafer di bawah ini, mana yang Anda sukai? (boleh lebih dari 1 jawaban) ( ) wafer biasa (tanpa lapisan cokelat di permukaan wafer) ( ) wafer dengan lapisan cokelat di permukaan wafer ( ) wafer stick ( ) Lainnya : ................................................................................. Alasan : ...................................................................................................................... ....................................................................................................................... 4. Pilih intensitas kesukaan Anda terhadap produk wafer. (pilih salah satu) ( ) sangat suka ( ) agak suka ( ) suka ( ) biasa saja 5. Rasa wafer yang paling Anda sukai? ( ) cokelat ( ) strawbery ( ) vanila ( ) lainnya : .............................................. Alasan : ........................................................................................................................... ........................................................................................................................... 6. Seberapa sering Anda mengkonsumsi produk wafer dalam satu minggu? ( ) sering ( 6 kali) ( ) biasa saja (3-5 kali) ( ) jarang (< 2 kali) 7. Peringkatkan atribut dari wafer yang penting menurut Anda. (1 = sangat penting, 2 = penting, 3 = biasa, 4 = tidak penting, 5 = sangat tidak penting) ( ) warna ( ) rasa ( ) aroma ( ) kerenyahan/tekstur ( ) penampakan Deskripsikan atribut yang sangat penting dan penting tersebut : ......................................................................................................................................... ............................................................................................................................. 8. Menurut Anda, kapan produk wafer dianggap sudah tidak layak dikonsumsi? (pilih salah satu) ( ) warna berubah ( ) aroma berubah ( ) tidak renyah ( ) lainnya : ...................... Deskripsikan : ................................................................................................................. ................................................................................................................ Terima kasih

77

Lampiran 2. Contoh form organoleptik

UJI HEDONIK SET 1 Nama : Hp :

Tanggal : Sampel : Wafer A

Instruksi : • Cicipilah sampel secara berurutan dari kiri ke kanan (sesuai kode sampel) • Kunyah sampel secara perlahan selama 5 detik (boleh tidak ditelan) • Sebelum berganti sampel, netralkan lebih dahulu dengan air minum. • Berikan penilaian Anda terhadap TEKSTUR sampel yang Anda cicipi 1 = sangat tidak suka 4 = netral 7 = sangat suka 2 = tidak suka 5 = agak suka 3 = agak tidak suka 6 = suka 251

211

101

481

621

851

Komentar :

UJI RATING SET 1 Nama : Hp :

Tanggal : Sampel : Wafer B

Instruksi : • Cicipilah sampel secara berurutan dari kiri ke kanan (sesuai kode sampel) • Kunyah sampel secara perlahan selama 5 detik (boleh tidak ditelan) • Sebelum berganti sampel, netralkan lebih dahulu dengan air minum. • Berikan penilaian Anda terhadap TEKSTUR sampel yang Anda cicipi 1 = sangat tidak renyah 4 = netral 7 = sangat renyah 2 = tidak renyah 5 = agak renyah 3 = agak tidak renyah 6 = renyah 252 Komentar :

212

102

482

622

852

78

Lampiran 3. Rekapitulasi penentuan atribut utama wafer No

Usia (tahun) 27 28 29 28 25 26 13 45 27 19 21 20 22 20 21 22 22 22 22 21 22 20 22 22 22 21 22 22 21 21 21 22 21 20 20 20 21 17 18 17

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 Jumlah Rata-rata

Pekerjaan Karyawan swasta Sales eksekutiv Karyawan swasta Karyawan swasta Guru Karyawan Pelajar Ibu rumah tangga Karyawan swasta Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Wiraswasta Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Pelajar Pelajar Pelajar

Keterangan : 1 = Sangat penting 2 = penting 3 = biasa

Warna 4 2 5 4 5 5 3 4 3 3 3 2 4 3 5 5 5 4 5 3 4 4 5 5 5 4 4 3 5 3 4 4 3 4 3 4 4 3 4 4 156 3.90

Aroma 3 3 4 2 3 3 2 2 2 4 4 1 5 2 2 4 4 3 2 5 5 1 3 4 4 3 3 4 4 4 5 5 5 5 5 3 3 4 3 3 136 3.40

Atribut Wafer Rasa Tekstur 1 2 1 4 2 1 1 3 1 2 1 2 1 4 1 3 1 4 1 2 1 5 3 4 2 1 1 4 3 1 3 1 1 2 1 2 3 1 2 1 1 2 2 3 1 2 1 2 2 1 2 1 2 1 1 2 2 1 2 1 2 1 2 3 2 1 1 2 1 2 1 2 2 1 1 2 1 2 1 2 61 83 1.53 2.08

4 = tidak penting 5 = sangat tidak penting

Visual 5 5 3 5 4 4 5 5 5 5 2 5 3 5 4 2 3 5 4 4 3 5 4 3 3 5 5 5 3 5 3 1 4 3 4 5 5 5 5 5 164 4.10

79

Lampiran 3. lanjutan Friedman test Ranks

Test Statistics(a)

Atribut Mean Rank N Warna (A) 3.90 Chi-Square Aroma (B) 3.40 df Rasa (C) 1.53 Asymp. Sig. Tekstur (D) 2.08 Penampakan (E) 4.10 a Friedman Test Skala ranking : 1-4 ( 1 = sangat penting ; 4 = sangat tidak penting)

40 83.380 4 .000

LSD Ranking

LSD = tα / 2,α dimana : p

LSD = 1.960 40 x5(6) / 6

p.t.(t + 1) / 6

= 27.72

= banyaknya panelis

t

= banyaknya perlakuan

R

= jumlah peringkat setiap perlakuan

t

= nilai kritik t pada taraf /2 dengan derajat bebas v =

/2,

untuk taraf

= 5% nilai t

/2

= 1.960

E (164) – A (156) – B (136) – D (83) – C (61) RE-RC = 164-61 RE-RD = 164-83 RE-RB = 164-136 RE-RA = 164-156 RA-RC = 156-61 RA-RD = 156-83 RA-RB = 156-136 RB-RC = 136-61 RB-RD = 136-83 RD-RC = 83-61

= 103 > LSD E C = 81 > LSD E D = 28 > LSD E B = 8 < LSD E = B = 95 > LSD A C = 73 > LSD A D = 20 < LSD A = B = 75 > LSD B C = 53 > LSD B D =22 < LSD A = B E

A

B

D

C

Berdasarkan uji Friedman, diperoleh nilai signifikansi asimtotik (=0.000)< 0.05 maka dapat disimpulkan bahwa terdapat perbedaan diantara kelima atribut wafer pada taraf 5%. Berdasarkan uji LSD, dapat diketahui bahwa tekstur dan rasa wafer tidak berbeda nyata pada taraf 5%. Sehingga dapat disimpulkan bahwa atribut utama wafer adalah rasa dan tekstur wafer karena memiliki skor paling rendah dan kedua atribut tersebut tidak berbeda nyata pada taraf 5%.

80

Lampiran 4. Rekapitulasi penentuan faktor kritis wafer No

Usia (tahun)

1 27 2 28 3 29 4 28 5 25 6 26 7 13 8 45 9 27 10 19 11 21 12 20 13 22 14 20 15 21 16 22 17 22 18 22 19 22 20 21 21 22 22 20 23 22 24 22 25 22 26 21 27 22 28 22 29 21 30 21 31 21 32 22 33 21 34 20 35 20 36 20 37 21 38 17 39 18 40 17 Jumlah Persentase (%)

Pekerjaan Karyawan swasta Sales executive Karyawan swasta Karyawan swasta Guru Karyawan Pelajar Ibu rumah tangga Karyawan swasta Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Wiraswasta Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Mahasiswa Pelajar Pelajar Pelajar

Warna berubah

1 2.5

Faktor kritis Aroma Tekstur berubah berubah

5 12.5

33 82.5

Lain-lain

1 2.5

81

Lampiran 5. Penentuan kadar air awal wafer dan uji paired-sampels T Test Wafer n B. cawan (g) B. wafer (g) B. wafer kering (g) BB % Kadar air BK BB Rata-rata BK BB %RSD BK

1 2.83 5.21 5.14 1.39 1.41

A1

2 3.07 5.23 5.15 1.48 1.50 1.43 1.45 4.60 4.67

1 3.04 6.57 6.45 1.86 1.89

Keterangan : BB = basis basah

A2

1.83 1.86 2.34 2.39

2 2.91 5.44 5.35 1.80 1.83

1 2.93 5.20 5.14 1.22 1.23

BK= basis kering

B1

1.21 1.23 0.72 0.73

2 3.05 5.12 5.06 1.20 1.22

1 2.85 5.21 5.15 1.21 1.22

B2

1.21 1.23 0.57 0.58

2 2.84 3.97 3.92 1.22 1.23

Uji Paired-samples T Test (%BB) Paired Samples Statistics

Mean Pair 1

A

1.6300 B 1.2100 Paired Samples Test

A-B

Std. Deviation

2 2

.28284 .00000

Std. Error Mean .20000 .00000

Paired Differences Std. Error 95% Confidence Interval Std. Deviation Mean of the Difference Lower Upper

Mean Pair 1

N

.4200

.28284

.20000

-2.1212

2.9612

t

2.100

df

Sig. (2-tailed)

1

.283

Uji Paired-sampels T Test (%BK) Paired Samples Statistics

Pair 1

A

Mean 1.6550

B

1.2300

2

Std. Deviation .28991

Std. Error Mean .20500

2

.00000

.00000

N

Paired Samples Test Paired Differences

Pair 1

A-B

Mean

Std. Deviation

.4250

.28991

Std. Error Mean .20500

95% Confidence Interval of the Difference Lower -2.1798

Upper 3.0298

t

2.073

Sig. (2-tailed)

df

1

.286

82

Lampiran 6. Penentuan kadar abu wafer dan uji paired-sampels T Test Wafer n B. cawan (g) B. wafer (g) B. abu (g) % Kadar abu Rata-rata %RSD

1 35.35 2.15 0.03

A1

1.20

2 20.59 2.10 0.03 1.20

1.20 0.05

A2 1 2 35.36 21.79 2.10 2.17 0.03 0.03 1.25 1.29 1.27 2.02

B1 1 2 19.80 18.71 2.92 2.38 0.03 0.02 1.04 1.02 1.03 1.48

B2 1 2 18.41 19.80 2.10 2.17 0.02 0.02 1.08 1.03 1.06 3.49

Uji Paired-sampels T Test Paired Samples Statistics

A

1.2350

2

.04950

Std. Error Mean .03500

B

1.0450

2

.02121

.01500

Mean Pair 1

N

Std. Deviation

Paired Samples Correlations N Pair 1

A&B

2

Correlation 1.000

Sig. .000

Paired Samples Test

Mean Pair 1

A-B

.1900

Paired Differences 95% Confidence Interval of the Difference Std. Error Std. Deviation Mean Lower Upper .02828 .02000 -.0641 .4441

t

9.500

df

Sig. (2-tailed)

1

.067

83

Lampiran 7. Penentuan kadar protein dan uji paired-sampels T Test Wafer n B. wafer (mg) HCl terpakai (ml) N HCl %N % Protein Rata-rata %RSD

A1 A2 B1 B2 1 2 1 2 1 2 1 2 246.9 222.5 200.7 201.3 228.3 229.9 207.3 244.2 6.4 6.05 6.55 6.35 7.6 7.5 7.5 8.1 0.0234 0.0219 0.0234 0.0219 0.8496 0.8912 1.0011 0.9676 1.0911 1.0693 1.1098 1.0174 5.31 5.57 6.2569 6.0475 6.8194 6.6831 6.9363 6.3587 5.44 6.15 6.75 6.65 3.38 2.41 1.43 6.14

Uji Paired-sampels T Test Paired Samples Statistics

Mean Pair 1

N

Std. Deviation

Std. Error Mean

A

5.7950

2

.50205

.35500

B

6.7000

2

.07071

.05000

Paired Samples Correlations N Pair 1

A&B

2

Correlation -1.000

Sig. .000

Paired Samples Test Paired Differences Mean Pair 1

A-B

-.9050

Std. Deviation .57276

Std. Error Mean .40500

95% Confidence Interval of the Difference Lower -6.0510

Upper 4.2410

t

-2.235

df

Sig. (2-tailed)

1

.268

84

Lampiran 8. Penentuan kadar lemak dan uji paired-sampels T Test Wafer n B. labu (g) B. wafer (g) B. lemak (g) % Kadar lemak Rata-rata %RSD

A1 1 2 104.90 89.23 5.02 5.20 1.02 1.05 20.28 20.18

A2 B1 B2 1 2 1 2 1 2 106.51 104.86 107.17 107.12 105.76 106.51 5.04 4.31 5.12 5.07 5.16 5.03 1.06 0.83 1.05 1.03 0.98 0.97 20.97 19.16 20.56 20.25 18.99 19.21

20.23 0.34

20.06 6.38

20.40 1.09

19.10 0.80

Uji Paired-sampels T Test Paired Samples Statistics

A

20.1450

2

.12021

Std. Error Mean .08500

B

19.5700

2

.66468

.47000

Mean Pair 1

N

Std. Deviation

Paired Samples Correlations N Pair 1

A&B

2

Correlation 1.000

Sig. .000

Paired Samples Test

Mean Pair 1

A-B

.5750

Paired Differences 95% Confidence Interval of the Difference Std. Error Std. Deviation Mean Lower Upper .54447 .38500 -4.3169 5.4669

t

1.494

df

1

Sig. (2-tailed)

.376

85

Lampiran 9. Penentuan kadar karbohidrat (by difference) dan uji paired-sampels T Test

Wafer Kadar air (%BB) Kadar abu (%) Kadar protein (%) Kadar lemak (%) Kadar Karbohidrat (%)

A1

A2

1.43 1.24 20.23 5.44 71.66

B1

1.83 1.27 20.06 6.15 70.69

B2

1.21 1.03 20.40 6.75 70.61

1.21 1.06 19.10 6.65 71.98

Uji Paired-sampels T Test Paired Samples Statistics

Mean Pair 1

N

Std. Deviation

Std. Error Mean

A

71.1750

2

.68589

.48500

B

71.2950

2

.96874

.68500

Paired Samples Correlations N Pair 1

A&B

2

Correlation -1.000

Sig. .000

Paired Samples Test Paired Differences Mean Pair 1

A-B

-.1200

Std. Deviation 1.65463

Std. Error Mean 1.17000

95% Confidence Interval of the Difference Lower -14.9863

Upper 14.7463

t

-.103

df

Sig. (2-tailed)

1

.935

86

Lampiran 10. Hasil uji hedonik kerenyahan wafer n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

Wafer A1 Wafer A2 Lama penyimpanan (jam) Lama penyimpanan (jam) 0 1 2 4 6 8 0 1 2 4 6 6 5 3 4 3 3 7 5 2 2 2 7 5 3 3 2 2 6 3 2 1 1 5 3 2 2 2 1 5 3 2 2 1 6 3 3 2 2 2 6 3 2 3 1 7 5 5 3 3 2 6 4 3 2 2 6 5 5 2 3 3 6 4 3 3 2 6 5 4 3 1 2 7 3 3 1 2 5 4 4 4 4 3 7 2 2 2 1 5 5 4 4 3 2 7 5 3 1 1 6 5 3 4 3 1 5 2 3 1 1 7 5 3 4 2 2 4 2 2 2 1 6 3 2 3 2 1 6 2 3 2 1 6 5 4 3 3 1 7 6 4 3 3 5 2 2 2 2 1 7 2 3 1 1 6 3 2 2 2 2 6 4 3 3 3 6 4 4 2 1 1 6 1 3 1 1 6 4 3 2 2 1 6 4 4 1 1 6 3 2 1 3 2 7 2 3 1 1 6 5 4 3 2 2 6 4 3 1 1 6 5 4 3 1 1 6 3 2 2 3 6 4 3 4 2 1 7 4 3 3 1 6 3 2 2 1 1 7 3 3 2 1 6 4 3 3 2 2 7 3 3 2 1 7 5 2 2 1 1 7 2 2 1 1 6 3 2 1 1 1 6 2 2 1 1 6 2 2 2 1 1 6 2 2 2 2 6 3 3 2 2 2 6 2 2 1 1 6 3 2 1 2 2 6 3 2 1 1 7 6 5 3 2 2 6 2 2 1 1 7 6 5 4 4 4 7 6 5 3 3 182 123 95 80 64 52 188 93 81 52 43 6.07 4.10 3.17 2.67 2.13 1.73 6.27 3.10 2.70 1.73 1.43

8 2 1 2 1 1 2 2 1 1 1 1 1 3 1 2 1 2 1 1 2 2 1 1 1 1 2 1 1 1 1 41 1.37

87

Lampiran 10. lanjutan n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

Wafer B1 Wafer B2 Lama penyimpanan (jam) Lama penyimpanan (jam) 0 1 2 4 6 8 0 1 2 4 6 5 6 5 2 2 4 6 6 5 3 2 3 3 1 1 1 1 3 2 1 1 1 3 3 2 1 1 1 6 6 5 1 1 6 4 3 2 1 1 6 4 3 2 1 7 5 2 1 2 2 6 7 5 1 2 7 5 3 2 1 1 7 6 3 2 1 4 3 1 2 2 1 7 6 3 2 1 7 5 2 2 1 1 6 6 3 2 2 5 4 2 3 1 1 6 4 3 2 2 3 6 3 2 3 2 7 6 5 2 2 5 3 1 1 1 1 6 4 3 1 1 7 3 2 1 1 1 7 6 3 1 1 5 6 1 1 1 1 6 5 2 1 1 4 3 2 2 2 1 5 4 3 2 3 6 2 1 1 2 2 6 6 3 2 2 6 6 6 4 3 2 7 7 5 2 3 6 6 3 2 1 1 7 6 3 1 1 7 5 2 2 1 1 6 6 2 1 1 4 5 2 1 1 1 6 5 3 1 1 5 5 2 1 1 1 6 6 3 1 1 7 3 2 1 2 1 6 7 3 2 1 7 5 2 1 2 2 7 5 3 2 2 6 6 3 3 3 1 7 6 6 2 2 7 6 3 3 3 1 7 6 6 2 2 6 4 2 1 1 1 6 5 2 1 1 7 6 3 2 1 1 7 7 2 1 1 7 4 4 3 1 1 7 6 4 2 1 7 6 2 1 1 1 7 6 5 2 1 6 4 2 1 1 1 7 5 3 1 1 6 5 2 1 1 1 7 6 5 1 1 171 137 71 51 45 38 190 167 105 47 43 5.70 4.57 2.37 1.70 1.50 1.27 6.33 5.57 3.50 1.57 1.43

8 2 1 1 1 1 1 1 2 1 2 1 1 1 1 2 2 1 1 1 1 1 2 1 1 1 1 1 1 1 1 36 1.20

88

Lampiran 11. Hasil uji hedonik kerenyahan wafer n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

0 6 7 7 7 6 6 6 6 6 7 6 6 6 7 6 6 6 6 6 5 6 6 5 5 6 6 6 6 6 7 183 6.10

Wafer A1 Lama penyimpanan (jam) 1 2 4 6 3 6 6 3 2 3 3 2 3 5 4 5 4 6 5 3 4 3 3 2 5 4 3 5 6 4 5 5 3 5 120 4.00

3 5 3 5 1 2 3 2 2 2 3 2 2 4 3 2 3 3 2 2 3 2 2 4 5 5 5 5 3 3 91 3.03

3 3 3 2 1 3 2 2 1 2 3 2 3 4 2 1 3 2 2 2 3 3 1 2 4 2 4 2 2 3 72 2.40

2 3 2 2 1 2 2 1 1 2 2 1 2 3 2 3 3 1 1 2 2 2 1 3 3 2 3 3 2 2 61 2.03

8

0

1 3 1 2 1 1 2 1 1 1 2 1 1 2 2 1 1 1 1 1 1 1 1 2 1 2 3 2 2 2 44 1.47

7 5 7 7 6 6 6 7 7 7 6 6 7 6 6 7 6 7 7 5 5 6 7 7 6 5 6 6 6 7 189 6.30

Wafer A2 Lama penyimpanan (jam) 1 2 4 6 5 2 3 3 2 2 3 3 3 4 3 4 3 4 1 5 6 2 3 3 2 4 3 4 3 3 3 5 3 4 98 3.27

4 2 5 1 2 2 2 2 3 3 2 3 3 3 2 5 3 2 3 3 3 3 2 2 3 2 5 4 4 2 85 2.83

2 1 1 1 1 2 1 1 2 3 2 1 2 1 1 3 3 1 3 3 1 1 2 1 2 1 1 2 1 2 49 1.63

3 1 2 1 1 2 1 1 1 1 3 1 1 1 1 1 3 1 2 1 1 1 1 1 1 1 1 2 1 2 41 1.37

8 1 1 1 1 1 2 1 1 1 2 2 1 1 2 1 2 3 1 1 2 1 1 1 1 1 1 1 2 1 1 39 1.30

89

Lampiran 11. lanjutan n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

0 5 7 5 3 5 7 5 5 5 6 6 7 5 7 5 5 5 7 4 7 7 7 6 7 7 6 7 6 7 7 178 5.93

Wafer B1 Lama penyimpanan (jam) 1 2 4 6 3 6 5 3 5 6 4 4 5 5 2 5 6 3 2 3 5 5 5 6 6 3 4 5 6 6 5 4 6 6 139 4.63

1 3 2 1 2 2 2 2 1 3 4 2 1 2 1 2 3 2 1 2 3 2 2 3 3 2 2 2 3 3 64 2.13

1 2 1 1 3 2 1 3 2 2 2 1 1 1 1 2 2 2 1 1 1 1 1 2 2 1 1 1 3 2 47 1.57

1 1 2 1 1 1 2 1 2 1 2 1 2 1 2 2 1 1 1 3 2 2 1 2 2 1 2 1 3 2 47 1.57

8

0

1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 2 1 2 1 2 1 1 1 1 2 1 1 1 1 1 1 2 1 1 1 35 1.17

6 7 6 3 6 7 6 6 4 7 6 7 6 6 7 6 5 7 6 6 7 7 6 7 7 7 6 7 7 7 188 6.27

Wafer B2 Lama penyimpanan (jam) 1 2 4 6 6 7 6 2 6 5 5 4 3 6 5 6 5 6 6 5 5 6 5 5 6 6 5 5 6 6 7 5 6 5 161 5.37

5 2 4 1 5 5 3 3 3 3 4 5 2 3 3 2 3 3 3 3 3 5 2 3 5 3 5 3 6 3 103 3.43

1 1 1 1 1 2 1 2 2 2 2 3 1 2 1 2 2 1 1 1 2 1 1 3 2 1 1 1 2 2 46 1.53

1 1 1 1 1 2 2 2 1 1 2 2 1 2 1 1 2 2 1 1 2 1 1 2 1 1 2 1 2 1 42 1.40

8 1 1 1 1 1 2 1 1 2 1 2 2 1 1 1 1 1 1 1 1 2 1 1 1 1 1 1 1 1 1 35 1.17

90

Lampiran 12. Penentuan kadar air kritis dengan uji hedonik

Waktu simpan (jam) 0 1 2 4 6 8

Kadar air (g H2O/g solid) 1 2 0.0233 0.0247 0.0277 0.0321 0.0387 0.0429 0.0591 0.0634 0.0685 0.0721 0.0712 0.0748

Wafer A Log kadar air (g H2O/g solid) 1 2 -1.6326 -1.6073 -1.5575 -1.4935 -1.4123 -1.3675 -1.2284 -1.1979 -1.1643 -1.1421 -1.1475 -1.1261

Skor hedonik 1 2 6.07 6.27 4.10 3.10 3.17 2.70 2.67 1.73 2.13 1.43 1.73 1.37

Waktu simpan (jam) 0 1 2 4 6 8

Kadar air (g H2O/g solid) 1 2 0.0227 0.0294 0.0325 0.0279 0.0449 0.0399 0.0484 0.0592 0.0519 0.0528 0.0514 0.0506

Wafer B Log kadar air (g H2O/g solid) 1 2 -1.6440 -1.5317 -1.4881 -1.5544 -1.3478 -1.3990 -1.3152 -1.2277 -1.2848 -1.2774 -1.2890 -1.2958

Skor hedonik 1 2 5.70 6.33 4.57 5.57 2.37 3.50 1.70 1.57 1.50 1.43 1.27 1.20

0.0000 0.00 -0.4000

1.00

2.00

3.00

-0.8000

4.00

5.00

6.00

y = -0.1237x - 0.9474 R2 = 0.8847

-1.2000 -1.6000 -2.0000

1 338.50 280.20 274.20 234.07 199.67 146.10

2 348.30 305.56 288.80 238.60 204.58 157.63

Kerenyahan (gf) 1 493.87 340.40 262.33 225.57 263.40 215.50

2 512.20 486.67 377.90 358.43 268.50 203.63

Wafer B

y = -0.0987x - 1.0493 R2 = 0.8407 Skor kesukaan Ulangan 1

Ulangan 2

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

7.00

L o g kad ar air (g H 2O /g so lid )

Log kadar air (g H2O /g solid)

Wafer A

Kerenyahan (gf)

0.0000 0.00

2.00

4.00

6.00

8.00

-0.4000 y = -0.059x - 1.1882 R2 = 0.9308

-0.8000 -1.2000 -1.6000 -2.0000

y = -0.0767x - 1.1762 R2 = 0.9721 Skor kesukaan

Ulangan 1

Ulangan 2

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

91

Lampiran 12. lanjutan Contoh perhitungan kadar air kritis

Wafer A 1 2

X = skor 3 3

a -0.9479 -1.0495 Rata-rata

b -0.1236 -0.0986

Y = log KA -1.3187 -1.3453

KA 0.0480 0.0452 0.0466

Wafer B 1 2

X = skor 3 3

a -1.1761 -1.1882 Rata-rata

b -0.0767 -0.059

Y = log KA -1.4062 -1.3652

KA 0.0392 0.0431 0.0412

Lampiran 13. Penentuan kadar air kritis dengan uji rating

Waktu simpan (jam) 0 1 2 4 6 8

Waktu simpan (jam) 0 1 2 4 6 8

Kadar air (g H2O/g solid) 1 2 0.0233 0.0247 0.0277 0.0321 0.0387 0.0429 0.0591 0.0634 0.0685 0.0721 0.0712 0.0748

Wafer A Log kadar air (g H2O/g solid) 1 2 -1.6326 -1.6073 -1.5575 -1.4935 -1.4123 -1.3675 -1.2284 -1.1979 -1.1643 -1.1421 -1.1475 -1.1261

Kadar air (g H2O/g solid) 1 2 0.0227 0.0294 0.0325 0.0279 0.0449 0.0399 0.0484 0.0592 0.0519 0.0528 0.0514 0.0506

Wafer B Log kadar air (g H2O/g solid) 1 2 -1.6440 -1.5317 -1.4881 -1.5544 -1.3478 -1.3990 -1.3152 -1.2277 -1.2848 -1.2774 -1.2890 -1.2958

Skor rating

Kerenyahan (gf)

1 6.10 4.00 3.03 2.40 2.03 1.47

1 338.50 280.20 274.20 234.07 199.67 146.10

2 6.30 3.27 2.83 1.63 1.37 1.30

2 348.30 305.56 288.80 238.60 204.58 157.63

Skor rating

Kerenyahan (gf)

1 5.93 4.63 2.13 1.57 1.57 1.17

1 493.87 340.40 262.33 225.57 263.40 215.50

2 6.27 5.37 3.43 1.53 1.40 1.17

2 512.20 486.67 377.90 358.43 268.50 203.63

92

Lampiran 13. lanjutan

0.0000 0.00 -0.4000

2.00

Wafer B

4.00

6.00

8.00

y = -0.1166x - 0.9873 R2 = 0.8827

-0.8000 -1.2000 -1.6000 -2.0000

y = -0.098x - 1.0497 R2 = 0.8746

L o g kad ar air (g H 2O /g so lid )

Lo g kadar air (g H2O /g so lid )

Wafer A 0.0000 0.00 -0.4000

2.00

4.00

-0.8000

6.00

y = -0.06x - 1.1895 R2 = 0.9236

-1.2000 -1.6000

y = -0.0719x - 1.1911 R2 = 0.9738

-2.0000

Skor rating

Skor rating

Ulangan 1

Ulangan 2

Ulangan 1

Ulangan 2

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

Linear (Ulangan 1)

Linear (Ulangan 2)

Contoh perhitungan kadar air kritis

Wafer A 1 2

X = skor 3 3

a -0.9873 -1.0497 Rata-rata

b -0.1166 -0.098

Y = log KA -1.3371 -1.3437

KA 0.0460 0.0453 0.0457

Wafer B 1 2

X = skor 3 3

a -1.1911 -1.1895 Rata-rata

b -0.07 -0.06

Y = log KA -1.4068 -1.3695

KA 0.0392 0.0427 0.0409

Lampiran 14. Penentuan nilai k/x kemasan Ulangan WVTR RH (%) Po k/x Rata-rata

Kemasan wafer A 1 2 0.5063 0.2611 100 100 49.157 49.157 0.0103 0.0053 0.0078

Keterangan : k/x = g/m2.hari.mmHg

Kemasan wafer B 1 2 0.2674 0.3367 100 100 49.157 49.157 0.0054 0.0068 0.0061

Plastik PP tebal 1 2 3.1410 4.1230 100 100 49.157 49.157 0.0639 0.0839 0.0739

8.00

93

Lampiran 15. Modifikasi model-model sorpsi isotermis dari persamaan non linear menjadi persamaan linear 1. Persamaan Hasley

Aw = exp[-P(1)/MeP(2)]

Persamaan diubah menjadi bentuk persamaan garis lurus dengan bentuk umum y = a + bx Dimana:

Log[ln(1/aw)] = log P(1) – P(2) log Me

y = log[ln(1/aw)]

x = log Me

a = log P(1)

b = -P(2)

2. Persamaan Chen Clayton

Aw = exp[-P(1)/(exp(P(2)Me))]

Persamaan diubah menjadi bentuk persamaan garis lurus dengan bentuk umum y = a + bx Dimana:

Ln[ln(1/aw)] = lnP(1) – P(2) Me

y = ln[ln(1/aw)]

x = Me

a = lnP(1)

b = -P(2)

3. Persamaan Henderson

1 – aw = exp[-KMen]

Persamaan diubah menjadi bentuk persamaan garis lurus dengan bentuk umum y = a + bx Dimana:

Log[ln(1/(1-aw))] = log K + n log Me

y = Log[ln(1/(1-aw))]

x = log Me

a = log K

b=n

4. Persamaan Caurie Dimana:

y = Ln Me a = lnP(1)

Ln Me = lnP(1) – P(2)aw x = aw

b = -P(2)

5. Persamaan Oswin

Me = P(1)[aw/(1-aw)]P(2)

Persamaan diubah menjadi bentuk persamaan garis lurus dengan bentuk umum y = a + bx Dimana:

y = ln Me

a = lnP(1)

Ln Me = lnP(1) + P(2) ln[aw/(1-aw)] x = ln[aw/(1-aw)]

b = P(2)

94

Lampiran 16. Penentuan kadar air kesetimbangan (Me) berdasarkan model sorpsi isotermis Kadar air kesetimbangan wafer A (g H2O/g solid) Aw

Percobaan*

Hasley

0.383

0.0275

0.0269

0.474

0.0380

0.544

Chen

Henderson

Caurie

Oswin

GAB

0.0020

0.0240

0.0251

0.0259

0.0419

0.0370

0.0332

0.0382

0.0380

0.0377

0.0584

0.0469

0.0480

0.0586

0.0529

0.0522

0.0501

0.0755

0.753

0.1168

0.1271

0.1535

0.1350

0.1351

0.1291

0.2026

0.823

0.2183

0.2053

0.2002

0.1911

0.1857

0.1977

0.3574

0.947

-

-

-

-

-

-

-

Clayton

Kadar air kesetimbangan wafer B (g H2O/g solid) Aw

Percobaan*

Hasley

0.383

0.0277

0.0254

0.474

0.0348

0.544

Chen

Henderson

Caurie

Oswin

GAB

-0.0044

0.0225

0.0239

0.0246

0.0635

0.0355

0.0295

0.0365

0.0366

0.0363

0.0888

0.0448

0.0466

0.0571

0.0514

0.0509

0.0487

0.1160

0.753

0.1148

0.1286

0.1602

0.1374

0.1361

0.1301

0.3467

0.823

0.2313

0.2120

0.2110

0.1977

0.1892

0.2023

0.7259

0.947

-

-

-

-

-

-

-

Clayton

Keterangan: * Hasil rata-rata dari dua ulangan penentuan kadar air kesetimbangan

95

Lampiran 17. Penentuan MRD model-model sorpsi isotermas 1.

Hasley

A

Sum ^2 X bar -0.78 -1.25

B

Sum ^2 X bar -0.75 -1.22

log(ln(1/Aw)) = log P(1) - P(2) log Me Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

Me 0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

x = log Me -1.5607 -1.4202 -1.3288 -0.9326 -0.6609

x^2 2.4357 2.0170 1.7658 0.8697 0.4368

y = log(ln(1/Aw)) -0.0179 -0.1269 -0.2155 -0.5472 -0.7104

xy 0.0279 0.1803 0.2864 0.5103 0.4695

-5.9032 34.8479 -1.1806

7.5250

-1.6179

1.4743

x = log Me -1.5575 -1.4584 -1.3487 -0.9401 -0.6358

x^2 2.4259 2.1270 1.8191 0.8837 0.4043

y = log(ln(1/Aw)) -0.0179 -0.1269 -0.2155 -0.5472 -0.7104

xy 0.0278 0.1851 0.2907 0.5144 0.4517

-5.9405 35.2901 -1.1881

7.6599

-1.6179

1.4697

log Me -1.5703 -1.4312 -1.3184 -0.8957 -0.6876

Me Hasley 0.0269 0.0370 0.0480 0.1271 0.2053

Mi-Mpi/Mi 0.0219 0.0251 0.0244 0.0886 0.0596 0.2195

MRD

-0.3236

4.39

b a

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

b a

Me 0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

-0.3236

log Me -1.5947 -1.4496 -1.3318 -0.8908 -0.6736

Me Hasley 0.0254 0.0355 0.0466 0.1286 0.2120

Mi-Mpi/Mi 0.0821 0.0204 0.0397 0.1202 0.0834 0.3458

MRD

6.92

96

Lampiran 17. lanjutan 2.

Chen Clayton

A

Sum ^2 X bar -8.05 -0.02

B

Sum ^2 X bar -7.40 -0.07

ln(ln(1/Aw)) = ln P(1) - P(2) Me

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

Me 0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

x = Me 0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

x^2 0.0008 0.0014 0.0022 0.0136 0.0477

y = ln(ln(1/Aw)) -0.0411 -0.2923 -0.4963 -1.2599 -1.6358

xy -0.0011 -0.0111 -0.0233 -0.1472 -0.3571

0.4475 0.2003 0.0895

0.0657

-3.7253

-0.5398

x = Me 0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

x^2 0.0008 0.0012 0.0020 0.0132 0.0535

y = ln(ln(1/Aw)) -0.0411 -0.2923 -0.4963 -1.2599 -1.6358

xy -0.0011 -0.0102 -0.0222 -0.1446 -0.3784

0.4534 0.2056 0.0907

0.0707

-3.7253

-0.5565

Me 0.0020 0.0332 0.0586 0.1535 0.2002

Me Chen Clayton 0.0020 0.0332 0.0586 0.1535 0.2002

Mi-Mpi/Mi 0.9270 0.1256 0.2490 0.3141 0.0829 1.6986

MRD

-0.7451

33.97

b a

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

b a

Me 0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

-0.7451

Me -0.0044 0.0295 0.0571 0.1602 0.2110

Me Chen Clayton -0.0044 0.0295 0.0571 0.1602 0.2110

Mi-Mpi/Mi 1.1598 0.1520 0.2738 0.3957 0.0877 2.0690

MRD

41.38

3.

Sum ^2 X bar

B

Sum ^2 X bar

A

0.59 0.65

0.62 0.68

Henderson

b a

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

b a

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

Lampiran 17. lanjutan

Me 0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

Me 0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

x^2 2.4259 2.1270 1.8191 0.8837 0.4043 7.6599

-5.9405 35.2901 -1.1881

7.5250

x^2 2.4357 2.0170 1.7658 0.8697 0.4368

x = log Me -1.5575 -1.4584 -1.3487 -0.9401 -0.6358

-5.9032 34.8479 -1.1806

x = log Me -1.5607 -1.4202 -1.3288 -0.9326 -0.6609

log(ln(1/(1-Aw))) = log K + n Log Me

-0.0458

-0.2292

y = log(ln(1/(1-Aw))) -0.3162 -0.1922 -0.1050 0.1456 0.2384

-0.0458

-0.2292

y = log(ln(1/(1-Aw))) -0.3162 -0.1922 -0.1050 0.1456 0.2384

0.6258

xy 0.4924 0.2802 0.1416 -0.1369 -0.1516

0.6124

xy 0.4934 0.2729 0.1395 -0.1358 -0.1576

Log Me -1.6485 -1.4373 -1.2888 -0.8620 -0.7039

Log Me -1.6199 -1.4184 -1.2767 -0.8695 -0.7187

MRD

Me Henderson 0.0225 0.0365 0.0514 0.1374 0.1977

MRD

Me Henderson 0.0240 0.0382 0.0529 0.1350 0.1911

14.57

0.7286

Mi-Mpi/Mi 0.1889 0.0499 0.1479 0.1968 0.1452

10.80

0.5398

Mi-Mpi/Mi 0.1275 0.0042 0.1274 0.1562 0.1244

97

98

Lampiran 17. lanjutan 4.

Caurie

A

Sum ^2 X bar 4.55 -5.43

B

Sum ^2 X bar 4.71 -5.54

ln Me = ln P(1) - P(2) Aw Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

Me 0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

x = Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

x^2 0.1467 0.2247 0.2959 0.5670 0.6773

y = ln Me -3.5936 -3.2702 -3.0597 -2.1473 -1.5219

xy -1.3763 -1.5501 -1.6645 -1.6169 -1.2525

2.9770 8.8625 0.5954

1.9116

-13.5927

-7.4603

x = Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

x^2 0.1467 0.2247 0.2959 0.5670 0.6773

y = ln Me -3.5863 -3.3581 -3.1055 -2.1646 -1.4640

xy -1.3736 -1.5918 -1.6894 -1.6299 -1.2049

2.9770 8.8625 0.5954

1.9116

-13.6786

-7.4896

Ln Me -3.6845 -3.2706 -2.9523 -2.0018 -1.6835

Me Caurie 0.0251 0.0380 0.0522 0.1351 0.1857

Mi-Mpi/Mi 0.0869 0.0005 0.1134 0.1566 0.1492 0.5066

MRD

-2.7185

10.13

b a

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

b a

Me 0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

-2.7357

Ln Me -3.7352 -3.3070 -2.9776 -1.9941 -1.6648

Me Caurie 0.0239 0.0366 0.0509 0.1361 0.1892

Mi-Mpi/Mi 0.1383 0.0525 0.1365 0.1858 0.1819 0.6950

MRD

13.90

99

Lampiran 17. lanjutan 5.

Oswin

A

Sum ^2 X bar 1.01 -3.17

B

Sum ^2 X bar 1.05 -3.21

ln Me = ln P(1) + P(2) ln(Aw/(1-Aw)) Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

Me 0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

x = ln(Aw/(1-Aw)) -0.477 -0.104 0.176 1.115 1.537

x^2 0.2274 0.0108 0.0311 1.2425 2.3618

y = ln Me -3.5936 -3.2702 -3.0597 -2.1473 -1.5219

xy 1.7135 0.3404 -0.5399 -2.3935 -2.3388

2.2470 5.0491 0.4494

3.8736

-13.5927

-3.2183

x = ln(Aw/(1-Aw)) -0.477 -0.104 0.176 1.115 1.537

x^2 0.2274 0.0108 0.0311 1.2425 2.3618

y = ln Me -3.5863 -3.3581 -3.1055 -2.1646 -1.4640

xy 1.7101 0.3496 -0.5480 -2.4128 -2.2499

2.2470 5.0491 0.4494

3.8736

-13.6786

-3.1511

Ln Me -3.6533 -3.2771 -2.9940 -2.0471 -1.6211

Me Oswin 0.0259 0.0377 0.0501 0.1291 0.1977

Mi-Mpi/Mi 0.0580 0.0069 0.0680 0.1054 0.0944 0.3327

MRD

-2.7185

6.65

b a

Aw 0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

b a

Me 0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

-2.7357

Ln Me -3.7047 -3.3148 -3.0213 -2.0397 -1.5981

Me Oswin 0.0246 0.0363 0.0487 0.1301 0.2023

Mi-Mpi/Mi 0.1117 0.0443 0.0879 0.1330 0.1254 0.5023

MRD

10.05

100

Lampiran 17. lanjutan

Me =

X m .C .K .a w (1 − K .a w )(1 − K .a w + C.K .a w )

β 2 − 4(α .γ ) − Cβ = 1 + 2 K= γ .K 2γ Wafer A Aw

Me

0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

Me = aw

0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

16.000 14.000

Xm =

12.000

1 γ .K .C

10.000 8.000 6.000

X = Aw 0.383

Y = Aw/Me 13.927

-30.182 13.891

K C

1.08 1.97

4.000

0.474

12.474

12.912

Xm

0.04

0.544

11.599

2.000

0.753

6.447

0.823

3.770

0.09 Aw/(1-1.08Aw)(1+1.05Aw) Me 0.09 aw 1 - 1.08 aw

0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

y = αx 2 + β x + γ

Aw/Me

GAB

0.000 0.000

y = -30.182x 2 + 13.891x + 12.912 R2 = 0.9983

0.200

0.400

0.600 Aw

1+1.05 aw

Me GAB

Mi-Mpi/Mi

0.0345

0.5864

1.4022

0.0419

0.5246

0.0427

0.4881

1.4977

0.0584

0.5358

0.0490

0.4125

1.5712

0.0755

0.6108

0.0678

0.1868

1.7907

0.2026

0.7350

0.0741

0.1112

1.8642

0.3574 SUM

0.6374 3.0435

MRD

60.87

0.800

1.000

101

Lampiran 17. lanjutan Me

X = Aw

Y = Aw/Me

-49.74

16.000

0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

0.0277 0.0348 0.0448 0.1148 0.2313

0.383

13.827

36.503

14.000

0.474

13.621

7.2247

12.000

0.544

12.143

K

1.12

0.753

6.559

C

2.12

10.000

Xm

0.06

0.0275 0.0380 0.0469 0.1168 0.2183

0.0536

0.5710

1.4788

0.0635

1.3090

0.0664

0.4691

1.5925

0.0888

1.3375

0.0762

0.3907

1.6800

0.1160

1.4739

0.1054

0.1566

1.9413

0.3467

1.9682

0.1152

0.0782

2.0288

0.7259 SUM MRD

2.3252 8.4139 168.2777

Me = aw

0.383 0.474 0.544 0.753 0.823

0.823 3.558 0.14 Aw/(1-1.12 Aw)(1+1.25Aw) Me 0.14 aw 1 - 1.12 aw

1+1.25 aw

A w /Me

Wafer B Aw

Me GAB

Mi-Mpi/Mi

8.000 6.000

y = -49.74x 2 + 36.503x + 7.2247 R2 = 0.9985

4.000 2.000 0.000 0.000

0.200

0.400

0.600 Aw

0.800

1.000

102

Lampiran 18. Tabel uap air (Labuza, 1982) Temp 0C … 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 …

0.0 … 23.756 25.209 26.739 28.349 30.043 31.824 33.694 35.663 37.729 39.898 42.175 44.563 47.067 49.692 52.442 55.324 …

0.2 … 24.039 25.509 27.055 28.680 30.392 32.191 34.082 36.068 38.155 40.344 42.644 45.054 47.582 50.231 53.009 55.910 …

0.4 … 24.326 25.812 27.374 29.015 30.745 32.561 34.471 36.477 38.584 40.796 43.117 45.549 48.102 50.774 53.580 56.510 …

0.6 … 24.617 26.117 27.696 29.354 31.102 32.934 34.869 36.891 39.018 41.251 43.595 46.050 48.627 51.323 54.156 57.110 …

0.8 … 24.912 26.426 28.021 29.697 31.461 33.312 35.261 37.308 39.457 41.710 44.078 46.556 49.157 51.879 54.737 57.720 …

Lampiran 19. Penentuan nilai P wafer A dan wafer B Wafer A Rh ruangan

70%

75%

80%

90%

aw

0.449

0.449

0.449

0.449

P0

31.824

31.824

31.824

31.824

Pin

14.289

14.289

14.289

14.289

Pout

22.277

23.868

25.459

28.642

7.988

9.579

11.170

14.353

aw terkoreksi

0.253

0.253

0.253

0.253

P0

31.824

31.824

31.824

31.824

Pin

8.051

8.051

8.051

8.051

Pout

22.277

23.868

25.459

28.642

14.225

15.817

17.408

20.590

P (Pout-Pin)

P (Pout-Pin)

103

Lampiran 19. lanjutan Wafer B Rh ruangan

70%

75%

80%

90%

aw

0.422

0.422

0.422

0.422

P0

31.824

31.824

31.824

31.824

Pin

13.430

13.430

13.430

13.430

Pout

22.277

23.868

25.459

28.642

8.847

10.438

12.029

15.212

aw terkoreksi

0.196

0.196

0.196

0.196

P0

31.824

31.824

31.824

31.824

Pin

6.238

6.238

6.238

6.238

Pout

22.277

23.868

25.459

28.642

16.039

17.630

19.222

22.404

P (Pout-Pin)

P (Pout-Pin)

104

Lampiran 20. Umur simpan wafer dengan uji hedonik A. Slope b1 Wafer A (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer A (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0466 0.0466 0.0466 0.0466 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1042 0.1042 0.1042 0.1042 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.4937 0.0006 305.4127

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.3301 0.0006 305.4127

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.2164 0.0006 305.4127

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.0722 0.0006 305.4127

325 10.8 0.9

218 7.3 0.6

143 4.8 0.4

48 1.6 0.1

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0466 0.0466 0.0466 0.0466 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1042 0.1042 0.1042 0.1042 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4937 0.0006 305.4127

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.3301 0.0006 305.4127

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2164 0.0006 305.4127

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0722 0.0006 305.4127

36 1.2 0.1

24 0.8 0.1

16 0.5 0.0

5 0.2 0.0

105

Wafer B (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer B (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0412 0.0412 0.0412 0.0412 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.0900 0.0900 0.0900 0.0900 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.4406 0.0005 353.6000

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.2981 0.0005 353.6000

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.1962 0.0005 353.6000

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.0645 0.0005 353.6000

398 13.3 1.1

269 9.0 0.7

177 5.9 0.5

58 1.9 0.2

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0412 0.0412 0.0412 0.0412 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.0900 0.0900 0.0900 0.0900 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4406 0.0006 353.6000

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2981 0.0006 353.6000

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.1962 0.0006 353.6000

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0645 0.0006 353.6000

28 0.9 0.1

19 0.6 0.1

13 0.4 0.0

4 0.1 0.0

106

B. Slope b2 Wafer A (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer A (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0466 0.0466 0.0466 0.0466 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0078 0.0078 0.0078 0.0078 0.0117 0.0117 0.0117 0.0117 18.37 18.37 18.37 18.37 31.8240 31.8240 31.8240 31.8240 0.4937 0.3301 0.2164 0.0722 0.0006 0.0006 0.0006 0.0006 244.0491 244.0491 244.0491 244.0491 407 13.6 1.1

272 9.1 0.7

178 5.9 0.5

60 2.0 0.2

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0466 0.0466 0.0466 0.0466 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0739 0.0739 0.0739 0.0739 0.0150 0.0150 0.0150 0.0150 25.00 25.00 25.00 25.00 31.8240 31.8240 31.8240 31.8240 0.4937 0.3301 0.2164 0.0722 0.0006 0.0006 0.0006 0.0006 244.0491 244.0491 244.0491 244.0491 46 1.5 0.1

31 1.0 0.1

20 0.7 0.1

7 0.2 0.0

107

Wafer B (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer B (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0412 0.0412 0.0412 0.0412 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0061 0.0061 0.0061 0.0061 0.0161 0.0161 0.0161 0.0161 31.35 31.35 31.35 31.35 31.8240 31.8240 31.8240 31.8240 0.4406 0.2981 0.1962 0.0645 0.0005 0.0005 0.0005 0.0005 244.0491 244.0491 244.0491 244.0491 576 19.2 1.6

390 13.0 1.1

257 8.6 0.7

84 2.8 0.2

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0412 0.0412 0.0412 0.0412 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0739 0.0739 0.0739 0.0739 0.0150 0.0150 0.0150 0.0150 25.00 25.00 25.00 25.00 31.8240 31.8240 31.8240 31.8240 0.4406 0.2981 0.1962 0.0645 0.0006 0.0006 0.0006 0.0006 244.0491 244.0491 244.0491 244.0491 41 1.4 0.1

28 0.9 0.1

18 0.6 0.0

6 0.2 0.0

108

C. Slope b3 Wafer A (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer A (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0466 0.0466 0.0466 0.0466 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.2818 0.2818 0.2818 0.2818 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.4937 0.0006 112.9312

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.3301 0.0006 112.9312

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.2164 0.0006 112.9312

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.0722 0.0006 112.9312

880 29.3 2.4

588 19.6 1.6

386 12.9 1.1

129 4.3 0.4

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0466 0.0466 0.0466 0.0466 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.2818 0.2818 0.2818 0.2818 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4937 0.0006 112.9312

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.3301 0.0006 112.9312

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2164 0.0006 112.9312

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0722 0.0006 112.9312

99 3.3 0.3

66 2.2 0.2

43 1.4 0.1

14 0.5 0.0

109

Wafer B (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer B (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0412 0.0412 0.0412 0.0412 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.2904 0.2904 0.2904 0.2904 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.4406 0.0005 109.5868

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.2981 0.0005 109.5868

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.1962 0.0005 109.5868

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.0645 0.0005 109.5868

1283 42.8 3.5

868 28.9 2.4

572 19.1 1.6

188 6.3 0.5

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0412 0.0412 0.0412 0.0412 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.2904 0.2904 0.2904 0.2904 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4406 0.0006 109.5868

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2981 0.0006 109.5868

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.1962 0.0006 109.5868

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0645 0.0006 109.5868

91 3.0 0.2

61 2.0 0.2

40 1.3 0.1

13 0.4 0.0

110

D. Termodifikasi Wafer A Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan a. Kemasan asli b. Kemasan PP tebal Luas kemasan Luas kemasan 2 Berat solid per kemasan Berat solid per kemasan 2

P Umur simpan a.Kemasan asli (hari) Bulan Tahun c. Kemasan PP tebal (hari) Bulan Tahun

Wafer B Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan a. Kemasan asli b. Kemasan PP tebal Luas kemasan Luas kemasan 2 Berat solid per kemasan Berat solid per kemasan 2

P Umur simpan a.Kemasan asli (hari) Bulan Tahun c. Kemasan PP tebal (hari) Bulan Tahun

RH 70% 0.0166 0.0466

RH 75% 0.0166 0.0466

RH 80% 0.0166 0.0466

RH 90% 0.0166 0.0466

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

14.225

15.817

17.408

20.59

425 14.2 1.2 48 1.6 0.1

382 12.7 1.0 43 1.4 0.1

347 11.6 1.0 39 1.3 0.1

293 9.8 0.8 33 1.1 0.1

RH 70% 0.0123 0.0412

RH 75% 0.0123 0.0412

RH 80% 0.0123 0.0412

RH 90% 0.0123 0.0412

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

16.039

17.630

19.222

22.404

575 19.2 1.6 41 1.4 0.1

523 17.4 1.4 37 1.2 0.1

480 16.0 1.3 34 1.1 0.1

412 13.7 1.1 29 1.0 0.1

111

Lampiran 21.Umur simpan wafer dengan uji rating A. Slope b1 Wafer A (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer A (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0457 0.0457 0.0457 0.0457 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1028 0.1028 0.1028 0.1028 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.4747 0.0006 309.5720

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.3185 0.0006 309.5720

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.2091 0.0006 309.5720

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.0700 0.0006 309.5720

309 10.3 0.8

207 6.9 0.6

136 4.5 0.4

46 1.5 0.1

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0457 0.0457 0.0457 0.0457 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1028 0.1028 0.1028 0.1028 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4747 0.0006 309.5720

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.3185 0.0006 309.5720

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2091 0.0006 309.5720

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0700 0.0006 309.5720

35 1.2 0.1

23 0.8 0.1

15 0.5 0.0

5 0.2 0.0

112

Wafer B (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer B (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0409 0.0409 0.0409 0.0409 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.0897 0.0897 0.0897 0.0897 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.4349 0.0005 354.7826

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.2945 0.0005 354.7826

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.1940 0.0005 354.7826

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.0638 0.0005 354.7826

391 13.0 1.1

265 8.8 0.7

175 5.8 0.5

57 1.9 0.2

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0409 0.0409 0.0409 0.0409 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.0897 0.0897 0.0897 0.0897 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4349 0.0006 354.7826

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2945 0.0006 354.7826

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.1940 0.0006 354.7826

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0638 0.0006 354.7826

28 0.9 0.1

19 0.6 0.1

12 0.4 0.0

4 0.1 0.0

113

B. Slope b2 Wafer A (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer A (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0457 0.0457 0.0457 0.0457 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.4747 0.0006 244.0491

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.3185 0.0006 244.0491

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.2091 0.0006 244.0491

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.0700 0.0006 244.0491

392 13.1 1.1

263 8.8 0.7

172 5.7 0.5

58 1.9 0.2

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0457 0.0457 0.0457 0.0457 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4747 0.0006 244.0491

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.3185 0.0006 244.0491

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2091 0.0006 244.0491

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0700 0.0006 244.0491

44 1.5 0.1

29 1.0 0.1

19 0.6 0.1

6 0.2 0.0

114

Wafer B (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer B (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0409 0.0409 0.0409 0.0409 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.4349 0.0005 244.0491

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.2945 0.0005 244.0491

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.1940 0.0005 244.0491

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.0638 0.0005 244.0491

569 19.0 1.6

385 12.8 1.1

254 8.5 0.7

84 2.8 0.2

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0409 0.0409 0.0409 0.0409 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.1304 0.1304 0.1304 0.1304 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4349 0.0006 244.0491

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2945 0.0006 244.0491

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.1940 0.0006 244.0491

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0638 0.0006 244.0491

40 1.3 0.1

27 0.9 0.1

18 0.6 0.0

6 0.2 0.0

115

C. Slope b3 Wafer A (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer A (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0457 0.0457 0.0457 0.0457 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.2818 0.2818 0.2818 0.2818 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.4747 0.0006 112.9312

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.3185 0.0006 112.9312

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.2091 0.0006 112.9312

0.0078 0.0117 18.37 31.8240 0.0700 0.0006 112.9312

846 28.2 2.3

568 18.9 1.6

373 12.4 1.0

125 4.2 0.3

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0166 0.0166 0.0166 0.0166 0.0457 0.0457 0.0457 0.0457 log (ln(1/aw))=-1.25-0.78log Me 0.2818 0.2818 0.2818 0.2818 0.0936 0.1233 0.1708 0.4471 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4747 0.0006 112.9312

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.3185 0.0006 112.9312

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2091 0.0006 112.9312

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0700 0.0006 112.9312

95 3.2 0.3

64 2.1 0.2

42 1.4 0.1

14 0.5 0.0

116

Wafer B (kemasan asli) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun Wafer B (PP tebal) Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (Mc) (g H20/g solid) Model persamaan Hasley Slope kurva sorpsi isothermis (b) Kadar air kesetimbangan (Me) (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan (g H2O/hari/m2.mmHg) Luas kemasan (A) (m2) Berat solid per kemasan (Ws) (g) Tekanan uap jenuh suhu 30 oC (mmHg) Ln (Me-Mi)/(Me-Mc) A/Ws Po/b Umur simpan Hari Bulan Tahun

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0409 0.0409 0.0409 0.0409 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.2904 0.2904 0.2904 0.2904 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.4349 0.0005 109.5868

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.2945 0.0005 109.5868

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.1940 0.0005 109.5868

0.0061 0.0161 31.35 31.8240 0.0638 0.0005 109.5868

1267 42.2 3.5

858 28.6 2.4

565 18.8 1.5

186 6.2 0.5

RH 70% RH 75% RH 80% RH 90% 0.0123 0.0123 0.0123 0.0123 0.0409 0.0409 0.0409 0.0409 log (ln(1/aw))= -1.22 - 0.75 log Me 0.2904 0.2904 0.2904 0.2904 0.0934 0.1244 0.1745 0.4747 0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.4349 0.0006 109.5868

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.2945 0.0006 109.5868

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.1940 0.0006 109.5868

0.0739 0.0150 25.00 31.8240 0.0638 0.0006 109.5868

89 3.0 0.2

61 2.0 0.2

40 1.3 0.1

13 0.4 0.0

117

D. Termodifikasi Wafer A Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan a. Kemasan asli b. Kemasan PP tebal Luas kemasan Luas kemasan 2 Berat solid per kemasan Berat solid per kemasan 2

P Umur simpan a.Kemasan asli (hari) Bulan Tahun c. Kemasan PP tebal (hari) Bulan Tahun

Wafer B Parameter Kadar air awal (Mi) (g H20/g solid) Kadar air kritis (g H20/g solid) Permeabilitas kemasan a. Kemasan asli b. Kemasan PP tebal Luas kemasan Luas kemasan 2 Berat solid per kemasan Berat solid per kemasan 2

P Umur simpan a.Kemasan asli (hari) Bulan Tahun c. Kemasan PP tebal (hari) Bulan Tahun

RH 70%

RH 75%

RH 80%

RH 90%

0.0166 0.0457

0.0166 0.0457

0.0166 0.0457

0.0166 0.0457

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

0.0078 0.0739 0.0117 0.0150 18.37 25.00

14.225

15.817

17.408

20.59

412 13.7 1.1 46 1.5 0.1

370 12.3 1.0 41 1.4 0.1

336 11.2 0.9 38 1.3 0.1

284 9.5 0.8 32 1.1 0.1

RH 70%

RH 75%

RH 80%

RH 90%

0.0123 0.0409

0.0123 0.0409

0.0123 0.0409

0.0123 0.0409

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

0.0061 0.0739 0.0161 0.0150 31.35 25.00

16.039

17.630

19.222

22.404

569 19.0 1.6 40 1.3 0.1

518 17.3 1.4 37 1.2 0.1

475 15.8 1.3 34 1.1 0.1

407 13.6 1.1 29 1.0 0.1

x