No.
02 01
BENELUX
10/09
®
F I S C H E R N e w s l e t t er Coating Thickness
Material Analysis
Microhardness
Material Testing
«editoriaal»
«nader belicht»
Geachte lezer(es),
HELMUT FISCHER presenteert noviteiten op SURFACE en PRECISIEBEURS
Met genoegen presenteren wij u de tweede editie van onze FISCHERSCOPE-nieuwsbrief. Na het zware voorbije jaar mogen we weer optimistisch zijn. Fischer mikt verder op investeringen, technische innovatie en duurzame instrumenten. Met onze nieuwste röntgenfluorescentiespectrometers voor vacuümanalyse en voor procescontrole bij de fabricage van dunnefilmzonnecellen bieden wij u nieuwe hulpmiddelen voor controle en gerichte productiesturing. Op het gebied van de contact metingen is er de MMS PC2, ons multimeetsysteem van de tweede generatie met nieuwe prestatiekenmerken, waarvan we de integratie in het productieproces nog hebben verbeterd. In Azië en ook in Europa heeft Fischer bovendien verder geïnvesteerd in nieuwe verkoop- en servicevestigingen, om nog dichter bij de klant te kunnen staan. Nieuwe partners en agentschappen zijn toegevoegd, onder andere in Portugal en Vietnam. Wij organiseren regelmatig regionale en internationale klantenseminaries, bv. voor onze klassieke apparaten of röntgeninstrumenten: vraag ons meer informatie! Zo vond in december in Zwitserland een internationaal seminarie plaats rond het thema «Goud- en sieraadmetingen voor douanekantoren en keuringsinstanties» (zie laatste bladzijde). Wij wensen u nu veel leesgenot met onze FISCHERSCOPE-nieuwsbrief.
Vakbeurs voor Oppervlaktetechnieken. Het is vele jaren geleden dat Nederland een beurs kende speciaal voor oppervlaktebehandeling. Met het verdwijnen van veel massaproductie naar lage loonlanden nam ook de interesse voor een specialistische vakbeurs af. Toch heeft de branche flexibiliteit getoond en zich gericht op het ontwikkelen nieuwe technieken en hoogwaardige coatings. Om deze technieken de aandacht te geven die ze verdienen, organiseert de VOM samen met Libéma op 12 t/m 14 oktober in de Brabanthallen te ’s Hertogenbosch de nieuwe vakbeurs SURFACE. Uiteraard zal FISCHER vertegenwoordigd zijn als de specialist voor laagdiktemeting, materiaalanalyse en materiaaltesten. Informatie kunt u vinden op www.helmutfischer.nl of www.surfacevakbeurs.nl High Tech Platform. Ook de FISCHER meetinstrumenten worden steeds geavanceerder, waardoor ze vaker in high-tech applicaties worden ingezet. Met name de nieuwe detectiemethoden van de ED-XRF toestellen en vernieuwde microhardheidsmeters zijn een aanwinst voor menig onderzoekslaboratorium. Ook de geavanceerde desktop en portable laagdiktemeters zijn nuttig voor iedere meetkamer. Om meer bedrijven te bereiken in de hightech business, heeft FISCHER zich dit jaar aangesloten bij het Mikrocentrum High Tech Platform. Precisiebeurs. Ook neemt FISCHER dit jaar deel aan de precisiebeurs in Veldhoven. Deze beurs is in de afgelopen jaren uitgegroeid to hét trefpunt voor precisietechnologie. De precisiebeurs 2010 zal plaatsvinden in de Koningshof te Veldhoven op 1 en 2 december. Informatie is te vinden op www.precisiebeurs.nl Zoals u ziet is Fischer actief, creatief en altijd innovatief. Bezoek ons daarom op een van de beurzen en ontdek wat onze instrumenten voor u kunnen betekenen.
Walter Mittelholzer
Johan Nieuwlands
CEO
General Manager
Helmut Fischer Holding AG
Helmut Fischer
Helmut Fischer AG
Meettechniek B.V.
«uit de praktijk»
Röntgenfluorescentie (RFA) in een vacuüm De XUV® 773 is het eerste X-Ray-toestel van Helmut Fischer GmbH met een meetkamer die luchtledig gemaakt kan worden. Dit toestel verschilt in veel opzichten van andere vacuüm RFA-systemen op de markt. Zo is de meting consequent met videoweergave verbonden. De meetvlek wordt op werkelijke schaal in het videobeeld ingetekend. Net zoals bij de andere X-Ray-toestellen van Fischer kan de meetafstand natuurlijk veranderd worden, en wel binnen behoorlijk brede grenzen. Met de gemotoriseerde meettafel kan het meetsample geprogrammeerd afgescand worden. Het is ook mogelijk om het meetpunt met de joystick in te stellen. Met behulp van de WinFTM®-software kunnen metingen standaardvrij uitgevoerd worden bij massieve en gecoate structuren. Waarom vacuüm? Om twee doorslaggevende redenen: op een bepaald moment verdwijnt de absorptie van de nuttige bundel tussen sample en detector. Alhoewel dit stukje lucht slechts 50% van het signaal onderdrukt bij S-K-straling (2,38 keV), is dit bij Al-K (1,5 keV) al 90% en bij Na-K (1,04 keV) zelfs meer dan 99%. Daarom is een analyse van de elementen Na, Mg, Al en Si zonder vacuümkamer praktisch niet – of slechts zeer beperkt – mogelijk. De andere reden is dat de primaire straling op haar weg naar het monster in wisselwerking treedt met de atmosfeer en zowel verstrooide straling als fluorescentiestraling van argon in de richting van de detector uitzendt. Deze ondergrond kan soms aanzienlijk storend zijn (bv. bij het meten van dunne Pd-lagen). Waarom meervoudige excitatie? De hierboven getoonde drie spectra van een toermalijnedelsteen laten de gegevens van een volledige analyse zien, waarbij zowel lichte als zware elementen aangetoond worden. De lichte elementen (Al, Si) kunnen het best met een «lichte» excitatie aangetoond worden. Dat is het blauwe spectrum. De buisspanning bedraagt ca. 10 kV. Hier vinden we voor deze elementen de beste signaalruis verhouding. Middelzware en zware elementen kunnen relatief
Afb. 1: XUV® 773
moeilijk (bv. Cu) of helemaal niet (bv. Ga) geëxciteerd worden om fluorescentiestraling uit te zenden. Dit is alleen mogelijk met een dubbele buisspanning (geel spectrum). Echter, de achtergrondstraling is zeer hoog, vooral in geval van het belangrijke Ga. Ook vinden we veel buigingsreflecties (Bragg pieken) in het spectrum die de analyse verstoren. Het is dus over het algemeen zinvol om met een nog hogere buisspanning en een geschikt filter te werken (zwart spectrum). Dat zorgt voor duidelijke omstandigheden bij het classificeren van de pieken – en hierdoor is het ook mogelijk om weloverwogen Bragg correcties aan te brengen. De kwantitatieve analyse van deze drie metingen gebeurt door de software in een keer. Uiteindelijk heeft de gemiddelde gebruiker toch geen behoefte aan deze informatie.
(cps)
Mn
Cu Ga
Si Al
Te 20 kV
10 kV
50 kV
(Chan) Afb. 2: Toermalijn-Analyse
FISCHERSCOPE®
No. 02
Fe Cr V
Cr Al Si Cu Ni
S
Mo
V Mo
Afb. 3: Staalanalyse (50 kV)
Afb. 4: Staalanalyse (8 kV)
De juiste instelling van de meervoudige excitatie in de WinFTM®meetopdracht zorgt hiervoor. Natuurlijk moet de optimale definitie voor een bepaalde categorie toepassingen vakkundig vastgelegd worden.
rekening, sporenanalyse) zullen voor totaal verschillende toepassingen getest worden. Dit zal zeker leiden tot nieuwe inzichten die doorgaans gepubliceerd worden als applicatie berichten. Hier een klein voorbeeld van een analyse van staal: Eerst werd hard geëxciteerd met 50 kV (lila spectrum) en daarna zacht met 8 kV (oranje spectrum). Bij de analyse moeten beide gegevens zinvol gecombineerd worden om de in de tabel weergegeven resultaten te verkrijgen.
De toepassingsonderzoeken met de vacuüm X-Ray XUV® 773 bevinden zich in het beginstadium. In ons applicatie laboratorium en op de ontwikkelingsafdeling liggen veel aanvragen en testmonsters. De nieuwe hardware (vacuüm, SDD-detector) en uitgebreide WinFTM® 6.22-software (meervoudige excitatie, verstrooiingsbe-
Dr. Volker Rößiger Al
Si
S
V
Cr
Ni
Cu
Mo
Gemiddelde [%]
0,458
1,537
-0,004
0,025
9,219
0,303
0,115
1,017
Standaardafwijking [%]
0,033
0,063
0,006
0,001
0,013
0,009
0,005
0,008
«uit de praktijk»
FISCHERSCOPE® MMS® PC2 in productie-installaties Meetsondes
Afb. 1: Principiële opbouw van een systeem om de laagdikte te meten.
Steeds vaker wordt meteen tijdens de productie gecontroleerd of de specificatie van de laagdikte van een product in acht genomen wordt. Dit voorkomt dat producten afgekeurd worden en zorgt dat het productieproces snel aangepast kan worden. Hiervoor is een betrouwbaar meettoestel nodig dat kan communiceren met besturings- en controleapparatuur van de productie-installatie.
N o . 0 2
De volledig nieuw ontwikkelde FISCHERSCOPE® MMS® PC2 is optimaal geschikt voor deze toepassing. De meetwaarden worden op een goed afleesbaar TFT-scherm weergegeven. Standaard bevat het toestel de communicatie-interfaces USB, LAN en COM. Het meettoestel kan bediend worden via het geïntegreerde touchscreen of via een extern toetsenbord of een externe muis. Als
FISCHERSCOPE®
De voedingsspanning wordt extern aangevoerd en mag maximaal 24 V bedragen. Elk uitgangssignaal kan tot maximaal 5,0 A belast worden. Voor eenvoudige opdrachten kan de FISCHERSCOPE® MMS® PC2 met geïntegreerde digitale I/O-module ook zonder PLC gebruikt worden. Zo kunnen bijvoorbeeld voor het sorteren van onderdelen tolerantiegrenzen vastgesteld worden en bij positieve of negatieve afwijkingen van deze grenswaarden sorteerwissels of aanwijzingen aangestuurd worden. Een ideale taak voor de FISCHERSCOPE® MMS® PC2 is ook om tegelijkertijd meerdere eigenschappen van een product te controleren. Met wel acht sondes kan de laagdikte op verschillende plaatsen tegelijkertijd gemeten worden (afbeelding 1). Afb. 2: Meten van zuigers bij Mahle, Rottweil.
besturingssysteem wordt Windows® CE van Microsoft gebruikt, waardoor de gebruikersinterface overeenstemt met de gebruikelijke werkwijze van veel pc-programma’s. Normaliter gebeurt de besturing en bewaking in industriële installaties door een PLC. De gegevens tussen de PLC en andere apparatuur worden bij voorkeur uitgewisseld via aparte stuurkabels. Om elektrische storingen te voorkomen en zo de betrouwbaarheid van het proces te vergroten, moeten deze stuurkabels beschikken over een galvanische scheiding tussen meettoestel en PLC. Met de nieuwe «digitale I/O-module» die in de FISCHERSCOPE® MMS® PC2 ingebouwd kan worden, wordt aan deze eisen voldaan. De module stelt 8 ingangs- en 24 uitgangssignalen ter beschikking.
Mahle GmbH in Rottweil gebruikt deze «meervoudige kanaalmeting» om de laagdikte van een Ferrotec®-laag op aluminiumzuigers op twee plaatsen tegelijkertijd te meten (afbeelding 2). Deze zuigers worden 100% gecontroleerd, de aanvoer van de zuigers en het plaatsen van de sondes gebeurt automatisch. De laagdikten worden met sondes van het type EN3 gemeten, een sonde die volgens het magnetisch meetprincipe werkt. Het onderwerp sondes is sowieso van groot belang als het gaat om het automatisch meten van laagdiktes. Het veelzijdig sondeprogramma van Helmut Fischer GmbH beschikt voor de meeste meetopgaves over een passende sonde. Naast een hoge nauwkeurigheid en een goede herhaalbaarheid van de metingen is bij automatische metingen vooral een lange levensduur van de sondes noodzakelijk. Dipl.-Ing. (FH) Helmut Wersal
«nader belicht»
Hardheid op slijpvlakken meten De hardheid en andere mechanische eigenschappen van massieve materialen kunnen door indentatie-proeven gemakkelijk bepaald worden (EN ISO 14577). Mechanische eigenschappen zijn voor veel onderdelen van groot praktisch belang – natuurlijk ook indien de onderdelen gecoat zijn. Aan metingen van de hardheid van coatingmaterialen worden vaak hoge eisen gesteld, omdat de coating door de rest van het monster wordt beïnvloed (bv. bij het meten van een dunne laag hard materiaal op een zacht Al-basismateriaal kan een te geringe hardheid gemeten worden als de laag in het zachte basismateriaal wordt gedrukt). Daarom zijn er duidelijke meetstrategieën nodig die rekening houden met dergelijke storende processen. Twee van dergelijke strategieën worden hier kort beschreven (zie tabellen). De eerste strategie (voorzichtig indringen) is in principe alleen mogelijk bij zeer gladde deklagen. Bij ruwe monsters leiden geringe indringdieptes direct tot een grote spreiding van de meetwaarden. Een geringe indringdiepte betekent ook dat de kracht die via de punt van de indringdieptemeter wordt uitgeoefend klein moet zijn, met name bij zachte coatingmaterialen. Bijgevolg is de minimale kracht die gecontroleerd kan worden uitgeoefend de beperkende factor bij deze benadering.
Afb. 1: Meting van een Martens-hardheid van 1627 N/mm2 (10 mN / 10 s, Picodentor HM500) op een Ag-deklaag. De Ni-tussenlaag en het Al-basismateriaal zijn optisch duidelijk te onderscheiden.
FISCHERSCOPE®
No. 02
Strategie twee bestaat uit het inkapselen en het dwars doorslijpen van het monster in een zo hard mogelijk hars. Zo worden de materialen ruimtelijk van elkaar gescheiden en zijn ze gemakkelijk toegankelijk (zie afbeelding 1).
Met de FISCHERSCOPE® HM500 kunnen ook dunnere deklagen (op de deklaag) gemeten worden (nm-niveau). Dr. Daniel Sutter, Helmut Fischer AG, Zwitserland
De ruwheid is bij de gepolijste slijpvlakken zeer beperkt, kleine indringdieptes zijn dus mogelijk. De minimale dikte van de laag is afhankelijk van de positioneringsnauwkeurigheid van het toestel. De HM-slijpmonsterhouder (afb. 2) is als toebehoren leverbaar bij de hardheidstoestellen van Fischer. Hiermee kunnen de monsters zeer gemakkelijk en uiterst nauwkeurig gepositioneerd worden zonder ze omslachtig uit te lijnen. Met een FISCHERSCOPE® HM2000 kunnen met beide strategieën lagen met vergelijkbare diktes (vaak ca. 2 µm) gemeten worden. Metingen direct op de deklaag zijn mogelijk bij gladde, harde deklagen en zijn minder arbeidsintensief omdat er geen slijpvlakken gemaakt moeten worden. Bij ruwe of zachte deklagen (of wanneer toch al slijpvlakken bestaan) zijn slijpmetingen zinvoller en gemakkelijker te interpreteren. Afb. 2: De HM-slijpmonsterhouder voor hardheidsmetingen op slijpvlakken garandeert een horizontale positionering van het monster.
Strategie 1:
Meting verticaal t.o.v./op de deklaag
Strategie 2:
Meting parallel met de deklaag op de dwarsdoorsnede (zie afb. 1)
Feit
Vanaf een bepaalde indringdiepte beïnvloeding meting door het basismateriaal
Feit
Bij kleine afstanden tot de rand of het basismateriaal hebben deze invloed op de metingen
Vuistregel
Regel van Bückle: invloed van het basismateriaal vanaf een indringdiepte vanaf ca. 10% van de dikte van de deklaag
Vuistregel
Min. afstand 1-2 x diagonaal van de indentatie
Nauwkeurige beoordeling
Nauwkeurige beoordeling
aan de hand van discontinuïteiten in de indringcurve die duiden op een niet-homogeen lichaam
aan de hand van discontinuïteiten in de indringcurve die duiden op een niet-homogeen lichaam
Beperking
Min. kracht op de punt van de indringdieptemeter; ruw monster
Beperking
Nauwkeurigheid van de XY-positionering
«uit de praktijk»
Dunnefilmzonnecellen: röntgenfluorescentieanalyse (RFA) leidt het coatingproces. FISCHERSCOPE® 5000 Het onderzoek en de industriële productie van fotovoltaïsche zonnecellen wordt op dit moment in Europa, de VS en Azië met aanzienlijke investeringsvolumes gestimuleerd. Naast de bekende siliciumtechnologie (te herkennen aanhet blauwe waferpaneel) werden de afgelopen jaren dunnefilmmaterialen ontwikkeld zoals CIGS = Cu(In,Ga)Se2; CIS = CuInS2; CdTe (te herkennen aan de grijze kleur van het zonnepaneel). Meetmethode De röntgenfluorescentieanalyse (RFA) is juist voorbestemd om bij dergelijke coating systemen de procesbesturing tijdens het productieproces te ondersteunen. Proces- en meetparameters zijn de concentraties van koper (Cu), indium (In), gallium (Ga), selenium
N o . 0 2
(Se), zwavel (S), cadmium (Cd), tellurium (Te). De laagdiktes van de lichtgevoelige dunne lagen liggen in het laagste µm-gebied. Het grote voordeel van RFA met toepassing van de WinFTM®analysesoftware van Fischer is dat deze techniek zowel het complexe coatingsysteem van het zonnepaneel als eindproduct – dus bv. ZnO: Al/CdS/CIGS/Mo/glas in laagdiktes of afzonderlijke concentraties – kan meten, als laag voor laag, indien nodig, tijdens het coatingproces. Proces voor dunnefilmzonnecellen Afb. 1 laat een schema zien met het procesverloop van zonnecellen op glaspanelen. De transportrichting van het proces verloopt
FISCHERSCOPE®
in het schema van links naar rechts: ongecoat glas – daarop een laagje molybdeen – daarna een lichtgevoelige CIGS-coating – daarna CdS-bufferlaag – ten slotte ZnO: Al-sputterlaag – afgewerkt coatingsysteem op glaspaneel. Afb. 2: Fischerscope®
Alle processtappen verlopen vacuüm, voordat de producten de vacuümkamer verlaten, kan de Fischerscope® 5000-sonde bevestigd worden. Het is ook mogelijk om na elke coatingstap, bv. na de CIGS-coating, de laagdikte en concentratie te meten. In plaats van het basismateriaal glas kunnen ook rollen polyimide of metaalfolie gebruikt worden.
5000 Meetkop met vacuumflens.
Doel van de procesanalyse met RFA Voor een goede werking van de absorberende CIGS-laag moeten de stoichiometrische verhoudingen van In, Ga, Se binnen nauwe tolerantiegrenzen gemeten en gehanteerd worden. Dit geldt ook voor de CIGS-filmdikte. Dankzij de variatie van het aandeel In, Ga, Se kan de optische golflengte van de lichtgevoelige coating aangepast worden aan het zonnespectrum. Aan het proces aangepaste eigenschappen van de Fischerscope® 5000-sonde: • Watergekoelde standaardflens om de sonde aan een vacuümproceskamer te koppelen. • Grote meetopening om een zo hoog mogelijk totaal aantal geregistreerde pulsen (> 100.000 cps) te bereiken op de halfgeleiderdetector. • Korte meettijden met nieuwe lineaire benaderingsmodus van WinFTM®. Fluctuerende meetafstanden ten gevolge van het
Mo deposition sputtering back contact
CIGS absorber deposition evaporation
transport van de glaspanelen op rollen worden gecompenseerd door de WinFTM®-software. De hoge, langdurige stabiliteit in het proces zorgt dat het instrument niet vaak geijkt hoeft te worden. De herhaalnauwkeurigheid van concentratiemetingen Cu, Ga, In, Se ligt karakteristiek bij 0,1% bij een meettijd van 10 sec. Dr. Winfried Staib
CdS deposition buffer
ZnO:Al deposition sputtering front contact
Measurement Coating thickness and concentrations FISCHERSCOPE ® X-Ray CONTI
Afb. 1: CIGS-Zonnecellen, procesopbouw op glaspaneel.
«nader belicht»
Rekening houden met invloeden – fouten voorkomen In deel 1 van deze bijdrage werden de invloeden beschreven die veroorzaakt worden door de vorm en de grootte van de monsters. Dit had zowel betrekking op magneetinductieve meettechnieken (DIN EN ISO 2178), bv. lak/staal, als op amplitudegevoelige wervelstroommeettechnieken (DIN EN ISO 2360), bv. geanodiseerd aluminium. Deel 1 behandelde de te verwachten meetfouten wanneer de gebruiker fundamentele natuurkundige feiten negeert of wanneer hij te veel vertrouwt op de reclameslogans van fabrikanten – met uitspraken zoals: «deze toestellen hoeven niet gekalibreerd te worden».
Deel 2 beschrijft 5 andere invloeden die kunnen leiden tot meetfouten bij het gebruik van de genoemde meetprincipes. Bovendien worden er op de praktijk gerichte aanwijzingen gegeven om dergelijke meetfouten te voorkomen of te beperken. Magnetiseerbaarheid: Hoe groot deze beïnvloedingsfactor is, wordt beschreven door de relatieve permeabiliteit µr. Voor het doel van deze discussie mag het coatingmateriaal niet magnetiseerbaar zijn. Het signaal van de meetsonde is fundamenteel afhankelijk van de magnetiseerbaar-
FISCHERSCOPE®
No. 02
heid van het basismateriaal. Als een gebruiker zijn magneetinductieve meettoestel om laagdiktes te meten (bv. DELTASCOPE®) met een kalibratiestandaard op ongecoat staal met een relatief sterke magnetiseerbaarheid µr1 (staal st 37) kalibreert en daarna het op deze wijze gekalibreerde meettoestel gebruikt om de laagdikte op staal met een zwakkere magnetiseerbaarheid µr3 te meten, dan zullen de getoonde meetwaarden van de laagdikte dm3 systematisch te groot zijn (afbeelding 1, rechts). Als de gebruiker daarentegen zijn meettoestel kalibreert op staal st 37 en daarna diktemetingen uitvoert op een basismateriaal met een hogere magnetiseerbaarheid µr2, dan zullen de afgelezen meetwaarden dm2 systematisch te klein zijn (afbeelding 1, links).
Hardheid van het basismateriaal: Bij het kalibreren op zachte basismaterialen kan de sondepool in het materiaal dringen. Dit zorgt voor een onnauwkeurige nulpuntsbepaling.
Tip!: Kalibreer op een vergelijkbaar materiaal met permeabiliteit µr1. De dan weergegeven meetwaarde dm1 komt overeen met de werkelijke dikte d (afbeelding 1, in het midden).
Tip!: Het gebruik van een statief voorkomt kantelfouten.
Elektrische geleidbaarheid: Gelukkig hoeft de gebruiker van de FISCHER-wervelstroomsonde zich geen zorgen te maken over de verschillen in geleidbaarheid van basismaterialen (zoals Al, Cu, Ms), want deze meetsondes beschikken over een doeltreffende gepatenteerde geleidbaarheidscompensatie, die nagenoeg het volledige geleidbaarheidsbereik afdekt. De FISCHER-technologie beperkt op deze wijze meetfouten die anders onvermijdelijk zijn. Om praktische redenen wordt hier aangenomen dat het coatingmateriaal niet elektrisch geleidend is. Hardheid van de laag: Als de laag te zacht is, zakt de sondepool van de meetsonde weg en zullen de meetwaarden systematisch te klein gemeten worden (indringfout).
Tip!: Gebruik het FISCHER motorisch statief V12. Het zacht plaatsen van de meetsondes voorkomt fouten. Bedieningsfouten door het onzeker plaatsen van meetsondes (kantelfouten). Deze beïnvloedingsfactor verhoogt de spreiding van de meetwaarden op ontoelaatbare wijze.
Als magneetinductieve of wervelstroommeters gebruikt worden, moet de volgende vuistregel toegepast worden: «Kalibreer altijd op het ongecoate deel van het meetoppervlak waarop op het gecoate deel de laagdikte gemeten moet worden». Als de gebruiker het bestaan van de hierboven genoemde beïnvloedingsfactoren serieus neemt en de praktische aanwijzingen om fouten te voorkomen in acht neemt, kan hij ervan uitgaan dat de door hem bepaalde laagdikte de werkelijke waarde dicht benadert. Tip!: FISCHER biedt natuurkundige meettechnieken aan (magnetische meettechniek, fasegevoelige wervelstroom, coulometrie, bètaterugstraling, röntgenfluorescentie) waarmee ook de laagsystemen gemeten kunnen worden die hierboven om didactische redenen uitgesloten worden. Doctor in de fysica Ulrich Sauermann
Tip!: Gebruik een sonde met een grotere sondepool. Ook een statief is handig.
d
dm2
d
µr2 > µr1
µr3 > µr1
Magnetisch basismateriaal • hogere permeabiliteit µr2 > µr1 • Weergeven waarde dm2 kleiner dan werkelijke dikte d
dm3
dm1 d
NFe/ISO coatingmateriaal
• meetsonde gekalibreert op basismateriaal met permeabiliteit µr1 dm1 = d
• lagere permeabiliteitµr3 < µr1 • weergegeven waarde dm3 groter dan werkelijke dikte d
Afb. 1: Invloed van de permeabiliteit van het basismateriaal op het meetresultaat van de laagdikte.
N o . 0 2
FISCHERSCOPE®
«actueel»
Internationaal seminar over edelmetalen
Drie dagen lang stond het applicatielaboratorium van Fischer vorig jaar in Hünenberg volledig in het teken van de edelmetalen. Vertegenwoordigers van Europese keuringsinstanties voor edelmetalen kwamen samen om van gedachten te wisselen over het gebruik van de röntgenfluorescentiespectrometrie bij de controle van edelmetalen, om de beginselen van deze technologie te leren kennen en om te worden geïnformeerd over de nieuwste ontwikkelingen inzake hard- en software. De planning en organisatie van deze cursus werden gesteund en gepromoot door de IAAO (International Association of Assay Offices) en haar Zwitsers agentschap. Tijdens die drie dagen werden de fysische beginselen van de röntgenfluorescentiemethode bestudeerd en via talrijke experimenten rechtstreeks op het toestel aangetoond. Verder werden de specifieke kenmerken van deze methode in de dagelijkse praktijk van de edelmetaalanalyse nader bekeken en de verschillende
mogelijke meetstrategieën toegelicht. Dit leidde tot levendige en interessante discussies, waar zowel de aanwezige deskundigen als mensen met weinig ervaring op het gebied van röntgenfluorescentie voordeel van konden trekken. Toekomstige cursussen zullen opnieuw via de kanalen van de IAAO en het verkoopnetwerk van Fischer worden meegedeeld. Helmut Fischer organiseert elk jaar veel lokale en een aantal internationale seminar of cursussen rond verschillende thema’s. Neem contact op met uw lokale vestiging of met Fischer Zwitserland voor meer details.
FISCHERSCOPE®
hellerdruck.com
Helmut Fischer Meettechniek B.V. Tarasconweg 10 | NL-5627 GB Eindhoven Postbus 1828 | NL-5602 CA Eindhoven Tel: (+31) 40 248 22 55 | Fax: (+31) 40 242 88 85
[email protected]
No. 02
