No.
12 01
BENELUX
10/09
FISCHER NEWSLETTER Coating Thickness
Material Analysis
Microhardness
Material Testing
«editoriaal»
«nader belicht»
Beste lezers,
Eindelijk economisch herstel in Nederland en België
Onze passie is oplossingen voor meetopdrachten te vinden. Dat ontdekt u ook in deze editie van FISCHERSCOPE. Met het innovatieve, draagbare röntgenfluorescentietoestel kunt u metingen verrichten op grote voorwerpen. Bij de ontwikkeling van dit instrument heeft FISCHER vormgegeven aan een nieuw concept: een op-en-top röntgentoestel met uitgebreide functies in een mobiele versie. Er is ook vooruitgang geboekt voor de kleinste meetobjecten, bij de meting van de kleinste structuren in de halfgeleidertechnologie. In de inline meettechnologie heeft IfG GmbH een proces voor röntgendiffractie ontwikkeld dat de concentraties bepaalt in de verschillende fasen van een element in poeders. Als verdere vernieuwingen presenteren we u ook nog de nano-indentatie de langdurige nano-indentatie en de nieuwe generatie toestellen voor het meten van de geleidbaarheid. Tot slot ben ik verheugd u meer te kunnen vertellen over onze wereldwijde serviceorganisatie en haar diensten. Veel leesgenoegen!
Na een lange crisis zien we afgelopen voorjaar voor het eerst weer een voorzichtig maar breed herstel in de meeste sectoren waar FISCHER zijn meetapparatuur aanbiedt. Met name de toeleveranciers van de bouwsector, hebben een zware tijd achter de rug en velen zagen zich genoodzaakt te reorganiseren, fuseren of in het slechtste geval hun activiteiten te beëindigen. Natuurlijk biedt een dergelijke periode voor bepaalde bedrijven ook mooie kansen om zich te profileren door bijvoorbeeld nieuwe diensten of producten te ontwikkelen. En uiteraard zijn er ook sectoren die juist konden profiteren van de economische malaise, denk daarbij aan de handel in edelmetalen. Door de hoge goudprijzen is er de afgelopen jaren heel wat ‘oud goud’ ingeleverd! Inmiddels heeft FISCHER een compleet aanbod van meetapparatuur voor edelmetaalanalyse en het opsporen van vervalsingen en is de naam FISCHERSCOPE ook in deze sector een begrip geworden. Wij zijn er klaar voor! Zelf heeft Helmut Fischer, met name internationaal, een enorme groei doorgemaakt. De productiecapaciteit in Duitsland is dan ook behoorlijk uitgebreid wat verderop in dit nummer nog nader wordt belicht. Ook zijn er diverse laboratoria opgericht waardoor we aanzienlijk meer mogelijkheden hebben gecreëerd voor materiaalonderzoek en certificeringen van zowel apparatuur als kalibratiemateriaal. Hierdoor kunnen we ook vanuit Nederland diverse nieuwe diensten aanbieden voor het analyseren of laagdiktebepalen van uw producten. Het BeNeLux team zal dan ook de komende jaren nieuwe aanvullende services introduceren die nauw aansluiten bij de dynamiek van de specialistische lokale bedrijven. Een stralende toekomst? Wie weet wat de toekomst ons nog gaat brengen! Waar de meeste bedrijven hun productiefaciliteiten eerst verplaatsten naar lage loonlanden komt steeds vaker het besef dat robots nóg voordeliger werken. En het mooie is dat een robot in Nederland of Belgie misschien wel eens efficiënter werkt dan in het verre oosten. Ook Fischer beseft dit en biedt diverse mogelijkheden de metingen te automatiseren. Met name onze instrumenten met röntgen- en Bètastralers lenen zich uitstekend voor in-line laagdiktemeting en kwaliteitscontrole. Zoals verderop in dit magazine te lezen is introduceert FISCHER dit najaar de FISCHERSCOPE XAN 500 portable XRF voor laagdiktemeting en materiaalanalyse. Met dit innovatieve toestel maken we de beproefde WinFTM fundamentele parameter software toegankelijk voor het meten op grote werkstukken of op locatie. Ideaal voor onderdelen die niet passen onder onze desktop Xray toestellen. Heeft u interesse? Neem dan gerust contact op voor een vrijblijvende demonstratie.
Walter Mittelholzer CEO
Johan Nieuwlands, Helmut Fischer Meettechniek B.V.
Helmut Fischer Holding AG Helmut Fischer AG
Info: www.helmutfischer.nl
«uit de praktijk»
De nieuwe FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500: Mobiele laagdiktemeting en materiaalanalyse van specialist Helmut FISCHER veilig kan worden gebruikt. Het handtoestel is simpel van het desktoptoestel af te nemen (zie afbeelding 3) voor gebruik bij grote meetobjecten of voor metingen op moeilijk toegankelijke locaties. De geometrie is uitgedacht voor een stevige plaatsing op het monster zodat de coating of materiaalsamenstelling reproduceerbaar kan worden gemeten.
1 2 3 4 5 X. S
Cr / µm 0,201 0,199 0,199 0,199 0,201 0,200 0,001
Ni / µm 7,60 7,58 7,58 7,59 7,61 7,59 0,01
Cu / µm 14,53 14,48 14,52 14,48 14,55 14,51 0,03
Tabel 1: 5 individuele metingen van 5 sec. op een verschroomde sierlijst.
1 2 3 4 5 X. S
d / µm 7,44 7,45 7,43 7,46 7,47 7,45 0,01
Ni / % 11,58 11,62 11,59 11,58 11,61 11,60 0,02
Afbeelding 1: Inzet van de mobiele XAN 500 op verchroomde diepdrukcylinders.
Tabel 2: Laagdikte en Ni-percentage van een ZiNi/Fe laag met 5 s meettijd.
Het toestelconcept Het nieuwe röntgenfluorescentietoestel FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 geeft vorm aan de jarenlange ervaring van Helmut Fischer met meettoestellen voor het meten van coatings en materiaalanalyse bij proces- en kwaliteitscontroles. De XAN® 500 is zowel geschikt voor de betrouwbare en nauwkeurige meting van kleine objecten met een mobiel desktoptoestel, als de meting van grote en volumineuze objecten met een handtoestel. Het volledige meetsysteem is bovendien vlot te vervoeren.
De XAN® 500 werkt met een heel kleine en lichte röntgenbuis die werkt met maximaal 40 kV hoogspanning (optioneel 50 kV) en een vermogen van 4 W. De meetvlek op het testobject is cirkelvormig en heeft een diameter van ongeveer 3 mm. De SiliciumDrift-Detector (SDD) zorgt voor een optimale energieresolutie en heel korte meettijden. De basisbehuizing bestaat uit een bijzonder lichte maar hoogwaardige magnesiumlegering. Het handtoestel weegt daardoor – inclusief de accu – slechts 1,5 kg. Het complete desktoptoestel weegt circa 8 kg.
Het mobiele desktoptoestel is zo ontworpen dat kleine meetobjecten vlot kunnen worden gepositioneerd en daardoor betrouwbaar kunnen worden gemeten (zie afbeelding 4). Het mobiele desktoptoestel (afbeelding 2) voldoet aan alle normen voor stralingsbescherming waardoor het in alle omstandigheden
Voor de kwantitatieve analyse wordt gebruik gemaakt van de beproefde software WinFTM®. Zo is de XAN® 500 uitgerust met dezelfde basiseigenschappen als alle FISCHERSCOPE® X-Raytoestellen. De WinFTM®-software garandeert een eenvoudige analyse van laagsystemen, materialen en coatinglegeringen. Zo zorgt het algoritme op basis van de fundamentele parametermethode zonder toepassing van standaarden al voor betrouwbare meetresultaten. De uitgebreide functies voor de statistische analyse, documentatie en export van gegevens zijn precies de hulpmiddelen die gebruikers nodig hebben bij procescontrole en kwaliteitsbewaking.
Afbeelding 2: De XAN 500 als mobiel desktoptoestel. De meetkamer voor desktopgebruik dient tevens als transportkoffer.
FISCHERSCOPE®
Toepassingen De XAN® 500 is ruim inzetbaar bij diverse coatings voor corrosiewering, decoratieve en functionele coatings in diverse industriële branches zoals elektronica, de autobranche, de lucht- en ruimtevaart, huishoudelijke en keukenapparaten en veel meer. Een voorbeeld van een typische toepassing is een verchroomde sierlijst
N o . 12
(tabel 1). Het gaat hier om een coating met drie lagen. Slechts vijf seconden meettijd volstaan om goede resultaten voor alle drie de lagen te verkrijgen. Een ander voorbeeld is de meting van ZnNi-coatings. Naast de coatingdikte is hier ook het Ni-gehalte in de coating een belangrijke parameter. Tabel 2 toont de resultaten van een typische coating. Ook hier is met een
korte meettijd al een erg goede herhalingsspreiding mogelijk. Met de nieuwe XAN® 500 kunt u nu ook mobiel aan de slag voor de veelvuldige toepassingen op het gebied van laagdiktemeting en -analyse met de kwaliteit die u van FISCHER gewend bent.
Dr. Bernhard Nensel
Afbeelding 3: Eenvoudig uitnemen
Afbeelding 4: De meetbox dient na
van het handtoestel.
het plaatsen van het handtoestel als onafhankelijk meetinstrument. Zelfs het positioneren en meten van kleine objecten lukt hierdoor prima.
«nader belicht»
Nieuwe meetkop HT2000: Nano-indentatie met langere meettijden Dat tonen we aan met twee voorbeelden. In afbeelding 3 is de kruipverhouding (plastische vervorming van het materiaal bij een constante kracht) van verschillende glassoorten over een periode van één uur weergegeven. De metingen worden verricht met een Vickersindentor en een proefkracht van 2.000 mN. De diverse curves betreffen de verschillende materiaaleigenschappen van de gebruikte glassoorten. De externe invloeden zijn verwaarloosbaar. De metingen in het tweede voorbeeld zijn uitgevoerd op acrylglas. Daarbij werden de meetvoorwaarden (maximale kracht, duur van de krachtuitoefening) bij de krachtverhoging gevarieerd, terwijl bij de kruipmeting de proefkracht na het opheffen van de krachtuitoefening constant werd gehouden op 5 mN (afbeelding 4). De duidelijke verschillen zijn te wijten aan de verschillende startvoorwaarden. De metingen tijdens langere periodes bieden nieuwe mogelijkheden, vooral bij zachte coatings en materialen zoals polymeren of lakken. Met de nieuwe meetkop HT2000 zijn in combinatie met de positioneerinrichting FISCHERSCOPE® HM2000 of de statiefvariant FISCHERSCOPE® HM2000 S precisiemetingen mogelijk over een periode die tot voor kort ondenkbaar was. Dankzij de uitstekende temperatuurstabiliteit van de HT2000 in een geklimatiseerde omgeving zijn nu individuele metingen met een duur van meerdere uren mogelijk, zonder dat de resultaten worden beïnvloed door de uitzetting van het toestel. De temperatuurveranderingen bij de indentor bedragen over een tijdspanne van 10 uur maximaal 0,2 °C terwijl de kracht tussen diverse waarden van 5 mN tot 2.000 mN in de tijd gevarieerd wordt (afbeelding 2). Zo is het voor het eerst mogelijk om de kruipverhouding van materialen over langere tijdperiodes te onderzoeken zonder dat de resultaten door het meettoestel worden beïnvloed.
N o . 12
Afbeelding 2: De temperatuur in de buurt van de indentor (blauw) is over 10 uur nagenoeg constant, terwijl de kracht (groen) tussen de 5mN en 2000mN varieert.
FISCHERSCOPE®
Afbeelding 3: Het uiteenlopende kruipgedrag van veschillende glazen is bij
Afbeelding 4: Het kruipgedrag van acryl bij 5 mN (na ontlasting) word beslissend
constante temperatuur aan materiaalverschillen toe te schrijven. Effecten
beinvloed door de condities van de vorige hardheidmeting.
door temperatuur-geinduceerde expansie zijn verwaarloosbaar.
Voor de controle en documentatie van de temperatuur kan de meetkop worden uitgerust met een externe temperatuursensor om de temperatuur bij de indentor of op het monster te bepalen.
puter. Aan de statusleds op de kop ziet u meteen of het meettoestel is ingeschakeld of bijvoorbeeld de bedrijfstemperatuur heeft bereikt.
Verdere nieuwigheden zijn een verbeterde kracht- en afstandsresolutie. Met een ruisdrempel van minder dan 175 pm zijn uiterst nauwkeurige metingen mogelijk. Uiteraard is de nieuwe meetkop voorzien van een USB-poort voor de communicatie met een com-
U vindt verdere informatie op http://fischerscope.de/nano8 Dr. Tanja Haas, Dipl.-Phys. Gottfried Bosch
«uit de praktijk»
In situ-XRD voor routineuze productieprocessen X-
ra
y
Bragg equation nλ=2dsinθ
n1
θ
d A
B X
n2
dsinθ
Afbeelding 1: De diffractie van een monochromatische Röntgenstraling in het kristalrooster volgt de condities van de Bragg-vergelijking.
Procesparameters (temperatuur, pH-waarde, gasconcentratie en -druk enz.) op de kritische punten van processen meten, is de dagelijkse praktijk. De in situ-controle van de producteigenschappen via procesgerelateerde röntgenanalyse vindt steeds meer ingang in de moderne productiecontrole aangezien de tijdverslindende omweg via kwaliteitscontroles in testlaboratoriums vermeden kan worden. De IfG Institute for Scientific Instruments GmbH heeft al meer dan een decennium ervaring met procesgerelateerde röntgenanalyse. De toepassing van röntgenfluorescentieanalyse (RFA) bij procescontrole raakt de laatste jaren steeds meer in zwang. Wij konden in een proces aantonen dat ook de röntgendiffractometrie (in het Engels X-Ray Diffraction – XRD) geschikt is voor de kwaliteitscontrole van productiegoederen.
Afbeelding 2: De Wo2 (011) piek word als ccd camera beeld (bovenste helft) getoond met daaronder een grafiek voor kwantitatieve analyse. De WO2 concentratie kan worden herleid uit een kalibratie curve. Het bovenste beeld toont een WO2 concentratie van 77,11% en het onderste beeld 2,17%.
FISCHERSCOPE®
N o . 12
Bij RFA worden door de bestraling van het testobject met röntgenlicht de individuele elementen tot röntgenfluorescentie gestimuleerd. Elk element stuurt dan röntgenstraling van een specifieke energie uit. Zo krijgt men belangrijke informatie over de elementaire samenstelling van het testobject. De vorming van een chemische fase kan men slechts beperkt bepalen en ook elementen met een laag atoomnummer zijn moeilijk te exciteren met RFA. Komt in de verbindingen van een product kristallijn voor, dan kan men die fasebepaling uitvoeren met röntgendiffractometrie (XRD). Daarbij leidt de wisselwerking van een monochromatische röntgenstraling met de individuele kristallieten van een stof tot buiging van de straling aan het regelmatig geordende kristalrooster als aan de Bragg-vergelijking voldaan is (afbeelding 1). Elke structuur heeft een uniek buigingspatroon zodat de individuele
CC D cam e
ra
Sa
m
pl
e
t re
rie
ve
r
Protec tive housing with X-ray tube
kristallijne fases bepaald kunnen worden en zelfs verbindingen met dezelfde elementen, maar verschillende kristalstructuren duidelijk onderscheiden kunnen worden. Via de bepaling van het buigingsrooster kan bijvoorbeeld onderscheid worden gemaakt tussen de beide fases gips (CaSO4* 2 H2O) en anhydriet (CaSO4* 0,5 H2O), of tussen zuiver metaal en een metaaloxide. IfG GmbH ontwikkelde samen met H.C. Starck GmbH een in situ-XRD-analyse voor productiecontrole in een thermisch reductieproces. Daarbij wordt wolfraamoxide met waterstof omgezet naar wolfraammetaalpoeder. Gebeurt de reductie onvoldoende dan bevat het product het ongewenste wolfraamoxide WO2. Bij de meting worden de meetobjecten met korte tijdsafstanden automatisch uit de productstroom van de installatie gehaald en naar een meetkamer gevoerd. Daar volgt een kwantitatieve bepaling van de ongewenste WO2-fase met XRD. Na de meting wordt het poederstaal weer aan de productstroom toegevoegd en kan er een nieuw monster voor analyse worden genomen. De XRDmeting gebeurt onder een vaste hoek tussen de röntgenbuis, detector en het meetobject. Als detector werd een CCD-camera toegevoegd waarvan het gedetecteerde beeld naar de piekintensiteit wordt gestuurd, wat resulteert in een maat voor de concentratie in een massapercentage (afbeelding 2). Voor de analyse wordt een klein hoekbereik gebruikt dat de (011-)piek van het wolfraamoxide (WO2) toont. Zelfs geringe WO2-concentraties tot 0,2% kunnen bij de productie van wolfraammetaalpoeder gedetecteerd worden. In situ-metingen stellen hoge eisen aan de integratie van het analysesysteem in het proces (afbeelding 3). Het volledige systeem wordt geïnstalleerd in een omgeving met hoge temperatuur, een hoge stofbelasting en procesgerelateerde vibraties. Er kunnen zich ook agressieve gassen aan het monster hechten. Door de installatie van het in situ-XRD-meetsysteem bij H.C. Starck werd aangetoond dat die hordes overwonnen kunnen worden en een duurzame analyse van het proces in continubedrijf 24/7 mogelijk is.
Afbeelding 3: De in-lijn XRD-installatie gebruikt op een draaiasoven bestaat uit een röngenbuis (rechts), een sample-kamer (midden) en een CCD camera (links).
Dr. Antje Schmalstieg, Dipl.-Phys. Renat Gubzhokov IfG Institute for Scientific Instruments GmbH
«uit de praktijk»
Nieuwe ontwikkelingen voor correcte diktemetingen op de kleinste structuren In de halfgeleiderindustrie, maar ook in de elektronicabranche worden de te controleren structuren steeds kleiner. FISCHER biedt zijn klanten daarom met de XDV®-µ-toestellen de mogelijkheid om bijvoorbeeld laagdiktes van Au, Ni, Sn, SnAg, Cu en andere metalen op wafer pads, solder bumps of SMD’s van 30 µm diameter correct te meten.
Afbeelding 1: Voorbeeld van kleine structuren op een wafer. Solder bumps van ca. 30µm hoogte en doorsnede. Ze bestaan uit een basis van koper waarop 10-15µm SnAg ligt. Het beeld werd met confocale mikroscopie gegenereerd.
N o . 12
Er geldt een hele reeks voorwaarden om dergelijke kleine structuren te kunnen meten. Eerst en vooral moeten de opbouw van het toestel en de tafelnauwkeurigheid voldoen aan de vereisten om een positioneringsnauwkeurigheid van minder dan een micrometer te kunnen garanderen. Daarnaast kunnen er alleen specifiek geschikte röntgenobjectieven worden gebruikt, die de volledige
FISCHERSCOPE®
Halo-Effekt
Afbeelding 2a:
Afbeelding 4a:
Voorbeeld van een scan
SEM-beeld van een wafer
met Sn-K over de rand
met 40µm dikke Sn pads.
van een folie. Het verloop
De dikte van de Sn laag
van de meetcurve toont
werd gemeten met de
een duidelijk halo effect.
capilair typen A en C.
(Capilair A)
Afbeelding 2b: Voorbeeld van een scan met Sn-K over de rand van reen folie. Het verloop van dat de Xray-optiek geen halo effecten genereert. (Capilair C)
intensiteit ook werkelijk op het meetvlak bundelen. De derde voorwaarde is een gepaste, geoptimaliseerde software voor aanpassingen en analyses. Als volgende stap moet men vooral dieper ingaan op de eigenschappen en kenmerken van de röntgenobjectieven. Zogenaamde polycapillaire lenzen bestaan uit honderdduizenden glascapillairen van een µm groot, die afhankelijk van de toepassing een speciale geometrie hebben. De röntgenstralen uit de buis worden door volledige reflectie op de binnenkant van de glascapillairen verder gestuurd en op het testobject gefocust. Uiteraard is de reflectie van de röntgenstralen afhankelijk van de energie van de röntgenquanten en het reflecterende materiaal. Hoe korter de golflengte van de straling, des te kleiner is de hoek van de volledige reflectie. Bij een energie van 20 keV bedraagt deze hoek bij vensterglas ca. 0,1°. Voor een echte focussering van de röntgenstraling moeten de onderkanten van de glascapillairen mogelijk op een klein punt gericht worden. Daartoe moeten ze overeenkomstig gebogen worden. Röntgenstraling met
Voor de karakterisering van polycapillairen is een intensiteitsscan langs één zijde van een metaalfolie geschikt. In dit geval is dat zink (Sn-K lijn). Hoe sterker de intensiteitsverdeling is, des te beter is de focussering door de polycapillairen. De volgende twee afbeeldingen vergelijken een polycapillair met halo-effect en een objectief zonder halo-effect. Met de integratie van de berekende en gemeten intensiteiten kunnen de percentages gefocuste en niet-gefocuste röntgenstraling berekend worden. In het diagram in afbeelding 3 zien we dat voor capillair C meer dan 98% van de intensiteit binnen 50 μm op het meetobject valt, terwijl dat bij capillair A minder dan 80% is. Niet-verwaarloosbare percentages straling uit capillair A bestrijken nog oppervlakken die meerdere honderden micrometer buiten het eigenlijke focuspunt liggen. Measured thickness of Sn on pads (with/without halo)
1.0
Relative thickness of Sn layer (µm)
de meetcurve toont aan
0.9 0.8 0.7
Relative thickness of Sn layer
0
25
50
75
100
Pad measurement (µm)
Afbeelding 4b: Vergelijk van de Sn laagdiktemeetresultaten op pads met diAfbeelding 3: Intensiteits-
verse formaten met de 2 capilair-typen. Met de polycapilair (met halo) worden
distributie berekend uit de
lagere waarden gevonden voor de laagdikte (genormaliseerd naar de waarden
foliescans voor de beide
van de halo-vrije capilair).
capilair typen in afb. 2a en 2b. Voor capilair A valt 80% van de intensiteit binnen de 50µ, de rest is verdeelt over een grote halo. For capilair C valt ongeveer 98% binnen de 50µm.
energieën groter dan 20 keV kan onder deze omstandigheden ongefocust op het meetobject terechtkomen. Dit ongewenste neveneffect heet ‹halo-effect› en verhinderde tot nu toe een betrouwbare analyse van de kleinste structuren met spectraallijnenenergieën groter dan 20 keV, zoals bv. met de Sn-K lijn bij 25 keV. IfG GmbH in Berlin is er nu in geslaagd capillairen zonder halo-effect te produceren. Hun eigenschappen en toepassingsmogelijkheden moeten kort worden voorgesteld.
We tonen het effect aan de hand van een typisch voorbeeld uit de halfgeleiderindustrie. Op een wafer zijn pads van diverse afmetingen (50 μm, 75 μm en 100 μm) met Sn gecoat. (Afbeelding 4a). Er worden laagdiktemetingen van Sn op de pads met diverse afmetingen uitgevoerd met beide klassen polycapillairen. Het is duidelijk dat bij gebruik van capillairen met haloeffect ca. 20% minder laagdikte gemeten wordt omdat ca. 20% van de straling buiten de pads op het meetobject terechtkomt. Hoe kleiner de pad des te sterker wordt het effect, zoals aangetoond wordt in afbeelding 4b. Met deze innovatie is IfG GmbH er in samenwerking met FISCHER in geslaagd voor het eerst een polycapillair te ontwikkelen die uitermate geschikt is voor het analyseren van de kleinste structuren. Deze technologie wordt nu standaard toegepast in de XDV®-μ-toestellen van FISCHER voor waferanalyse. Dipl.-Phys. Marcel Bremekamp Dr. Wolfgang Klöck
FISCHERSCOPE®
N o . 12
«nader belicht»
Nieuw meettoestel voor geleidbaarheid SIGMASCOPE® SMP350 Materiaalverwisseling bij toeleveranciers van de autobranche Auto-onderdelen moeten op hun crashbestendigheid worden getest. Bij een verkeerde warmtebehandeling veranderen de materiaaleigenschappen op een ongunstige manier. Diverse hardheidsgraden van aluminiumlegeringen, die door diverse warmtebehandelingen ontstaan, worden gecontroleerd. Want alleen kunstmatig verouderde profielen kunnen verder verwerkt worden. De autobranche verwacht hier een controle om na te gaan dat er zich geen materiaalverwisseling heeft voorgedaan.
Afbeelding 1: De nieuwe SIGMASCOPE SMP 350 met hoge resolutie touchscreen.
Afbeelding 2: Om de materiaaleigenschappen te controleren meet een inspecteur met de SIGMASCOPE SMP 350 op een vliegtuig.
De elektrische geleidbaarheid van niet-magnetiseerbare metalen is een belangrijke materiaaleigenschap die niet alleen informatie geeft over hoe goed een metaal elektrische stroom geleidt, maar ook indirect informatie levert over de samenstelling, microstructuur of mechanische eigenschappen. De SIGMASCOPE® SMP350 meet de specifieke elektrische geleidbaarheid met behulp van de fasegevoelige wervelstroommethode overeenkomstig DIN EN 2004-1 en ASTM E 1004. De manier waarop de signalen worden geanalyseerd, maakt een contactloze meting van de geleidbaarheid mogelijk, ook onder lak of kunststofcoatings tot 700 µm dik. Het toestel wordt gebruikt voor tal van toepassingen. Luchtvaartindustrie Er wordt gecontroleerd of tijdens het frezen een ontoelaatbare temperatuurverhoging van aluminiumlegeringen plaatsgevonden heeft. Voor de vrijgave voor serieproductie van een onderdeel wordt eerst voor 100% de geleidbaarheid ervan getest. Zo worden de vereisten voor de materiaaleigenschappen vastgelegd. Tijdens het vliegen kunnen de materiaaleigenschappen veranderen. Daarom worden romponderdelen periodiek gecontroleerd.
1 2 3 4 … 10 Average Standard deviation
N o . 12
σ (MS/m) 22.46 22.53 22.56 22.54 … 22.46 22.52 0.04
Tabel 1: Metingen van vliegtuig-aluminium met de SIGMASCOPE SMP 350 en de meetsonde FS40. De elektrische
Voor de aanpassing aan de toepassing zijn alle sondetypes met meerdere frequenties tussen 15 kHz en 2 MHz uitgerust. Alle sondes kunnen telkens aan eenzelfde toesteltype worden aangesloten. De sondes Bij het innovatieve toestel FS40HF gaat het om een sonde met hoge frequentie voor ondiepe metingen. Ze is bijzonder geschikt voor de controle van dunne platen en coatings alsook voor thermisch gespoten coatings. De beproefde FS40 is een ideale sonde voor de luchtvaartindustrie. Er kunnen onder andere hitteschade en materiaalmoeheid mee gecontroleerd worden. De nieuwe FS40LF is een ‹Low-Frequency›-sonde, bijvoorbeeld voor metingen van dikke platen en materiaalcontroles bij de muntproductie. Een ingebouwde of optioneel verkrijgbare externe temperatuursensor meet de temperatuur van de omgeving of het meetobject. De temperatuursinvloed op de geleidbaarheid wordt automatisch gecompenseerd waardoor foutieve metingen vermeden worden. Omdat er met de wervelstroommethode vergelijkend gemeten wordt, zijn standaarden voor de kalibratie van de meettoestellen vereist. Die zijn in gecertificeerde vorm beschikbaar voor het volledige geleidbaarheidsdomein. Voor de luchtvaarindustrie stelt FISCHER exclusief geleidbaarheidsnormen ter beschikking die herleid kunnen worden op Boeing.
geleidbaarheid van vliegtuig-aluminium is typisch 19-24 MS/m.
Dr. Sebastian Zaum
FISCHERSCOPE®
«uit de praktijk»
Servicekwaliteit – de sleutel tot trouwe en tevreden klanten
De meetinstrumenten van FISCHER zijn alom bekend als uiterst nauwkeurige en duurzame producten. Die bekendheid berust op twee belangrijke pijlers: meetinstrumenten van de hoogste kwaliteit en een eersteklas service. De kwaliteit van de service bepaalt namelijk mede of een meettoestel tijdens de volledige levensduur optimaal blijft presteren. En een uitmuntende servicekwaliteit is alleen mogelijk dankzij een uitstekend geschoold serviceteam. Onze wereldwijde aanwezigheid en ons brede productaanbod stellen hoge eisen aan onze serviceorganisatie. Daarom besteden we bijzonder veel aandacht aan een doorlopend kennisbeheer op het vlak van service. Onze serviceopleidingen zijn het ideale instrument om dat doel te verwezenlijken. De klanten van FISCHER kunnen wereldwijd rekenen op 90 gemotiveerde servicetechnici. Met onze serviceopleidingen worden de medewerkers continu bijgeschoold en blijft hun kennis actueel. Zo garanderen we de onmisbare knowhow in onze service wereld-
wijd. Aldus kan FISCHER ook in alle verkoopregio’s ter plaatse een deskundige service en tal van servicediensten aanbieden. Onze lokale servicediensten omvatten onder andere: • Service- en onderhoudscontracten voor jaarlijkse inspectie • Preventief onderhoud • Reparaties • Kalibratieservice Dankzij hun nauwkeurige meetwaarden worden de instrumenten van FISCHER veelvuldig gebruikt voor de controle van de meest kritieke meetgrootheden. Bijgevolg moeten onze meetinstrumenten bij reparaties zo snel mogelijk weer operationeel zijn. Dat kan alleen als onze klanten waar dan ook ter wereld kunnen rekenen op snelle levering van reserveonderdelen die belangrijk zijn voor het bedrijfsproces. De voordelen van onze serviceorganisatie voor klanten liggen voor de hand: wereldwijde serviceknowhow en een betrouwbare ondersteuning dankzij onze lokale aanwezigheid en korte reactietijden, ondersteuning in de landstaal en ervaring met de lokale praktijken. Wij hebben dan ook een duidelijk doel voor ogen: onze klanten met een kwalitatief hoogstaande service een tastbare meerwaarde bieden. Helmut Fischer Meettechniek B.V. Tarasconweg 10 | NL-5627 GB Eindhoven Postbus 1828 | NL-5602 CA Eindhoven Tel: (+31) 40 248 22 55 | Fax: (+31) 40 242 88 85
[email protected]
FISCHERSCOPE®
N o . 12
