V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected] ________________________________________________________
Nanomateriály v medicíně a elektronice Vysoká škola chemicko-technologická v Praze Fakulta chemické technologie Ústav inženýrství pevných látek „nano“ (řecky trpaslík)
V.Švorčík,
[email protected]
počet publikací o syntéze, charakterizace a aplikací nanomateriálů dle ISI Web of Knowledge 45000 40000 35000 30000 25000 20000 15000 10000 5000 0 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
NANOSVĚT (NANOTECHNOLOGIE) aplikační oblasti nanotechnologií
Top-down vs. Bottom-up Top-down Top-down
Vztahy platné pro makroobjekty (kolektivní vlastnosti velkého počtu atomů/molekul) jsou „extrapolovány“ na nanoobjekty
Bottom-up Bottom-up
Vztahy platné pro částice (individuální vlastnosti jednotlivých atomů/molekul) jsou „extrapolovány“ na nanoobjekty
V.Švorčík,
[email protected]
Klabunde, K. J. Nanoscale Materials in Chemistry; Wiley: New York, USA, 2001
N.Wang et al., Nanotechnol. 19, 415701 (2008).
Absorpce obtížně rozpustných API
Window of absorption
Nekompletní absorpce
Kompletní absorpce
To je velmi náročný problém…….
y že slím kv , ž an e to mo vé h m us ni ech jis kd a to o“ nic tou e ne pro ro hl zu ás m it, í
„M
V.Švorčík,
[email protected]
„Tam dole je spousta místa“
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
pentacen
n = 23 ; Ln=1.2 nm
n = 47
n = 60
Růst krystalu: Atom & hcp ad-atomy
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
Snížení CN Î zkrácení vazeb
Î zvýšení vazebné energie
Sun C.Q.: Size dependence of nanostructures: Impact of bond order deficiency, Progress Solid State Chem. 35 (2007) 1-159.
V.Švorčík,
[email protected]
J.Siegel, O.Lyutakov, Z.Kolská, V.Rybka, V.Švorčík, Nanoscale Res. Lett. 6, 96 (2011).
surface size effect
V.Švorčík,
[email protected]
vs. quantum size effect
the density of states
Gold yellow melts at 1063°C, 10 nm particles absorb green light and thus appear red E.Roduner, Chem. Soc. Rev., 2006, 35, 583
V.Švorčík,
[email protected]
10
30
3.5
6.6
Sputtering time (s) 50 100 200 Structure thickness (nm) 9.9 19.5 36.5
300
500
54.0
88.7
RT
300°C
■ 300°C □ RT
V.Švorčík, O.Kvítek, O.Lyutakov, J.Siegel, Z.Kolská, Appl. Phys. A 102, 747 (2011).
V.Švorčík,
[email protected]
RT
300°C
←□■
Tauc α(ν) = A(hν-Egopt)x / hν V.Švorčík, O.Kvítek, O.Lyutakov, J.Siegel, Z.Kolská, Appl. Phys. A 102, 747 (2011).
○→
V.Švorčík,
[email protected]
300°C
RT
Ra = 15.5 nm
Ra = 4.0 nm
75 s
Ra = 27.5 nm
Ra = 1.8 nm
200 s
Ra = 52.7 nm
Ra = 1.1 nm
400 s
V.Švorčík, O.Kvítek, O.Lyutakov, J.Siegel, Z.Kolská, Appl. Phys. A 102, 747 (2011).
A
A’
B
B’
V.Švorčík,
[email protected]
A
250 nm
B
J.Siegel, O.Kvítek, P.Slepička, J.Náhlík, J.Heitz, V.Švorčík, Nucl. Instrum. Meth, přijato
A
V.Švorčík,
[email protected]
B
V.Švorčíka, O.Kvítek, J.Říha, Z.Kolská, P.Šutta, Vacuum, přijato
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík, J.Siegel, Z.Kolská, J.Mistrík, P.Janíček, P.Worsch, Appl. Phys. A 102, 605 (2011)
V.Švorčík,
[email protected]
A
B
■ 300°C □ RT
C
V.Švorčík, J.Siegel, Z.Kolská, J.Mistrík, P.Janíček, P.Worsch, Appl. Phys. A 102, 605 (2011)
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík, J.Siegel, Z.Kolská, J.Mistrík, P.Janíček, P.Worsch, Appl. Phys. A 102, 605 (2011)
V.Švorčík,
[email protected]
+ Elektronické inženýrství
elektronické inženýrství CD/DVD
balení potravin
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
Pd/ PET
Ag/ PET
Pt/ PET
Au/ PET
Pd/ PET
Ag/ PET
P.Slepička, V.Švorčík et al., Pt/ Optoel.Adv.Mater.Com. 2, PET 153 (2008).
Au/ PET
V.Švorčík,
[email protected]
adheze Au na PE plasma Au-sputtering
V.Švorčík,
[email protected]
adheze Au na PE
PE/Au 0,20
PE/plasma/Au
Hardness (GPa)
0,15
0,10
PE/240/n/Au
PE/Au PE/240 PE/240/o/Au PE PE/240/n/Au
0,05
0,00 0
1000
2000
Displacement into surface (nm)
PE/240/o/Au
____ 500 µm ____ V.Švorčík et al., Polym.Eng.Sci. 46, 1326 (2006).
V.Švorčík,
[email protected]
X-Ray structure parameters of Au layers deposited (50 nm) on pristine and plasma treated polymers
PE PE/Au
PE/240/n/Au
PE/240/o/Au
Line (h k l)
Grain size [nm]
Lattice stress [GPa]
(1 1 1)
17
1.244
PET
Line (h k l)
Grain size [nm]
Lattice stress [MPa]
(1 1 1)
19
943
(2 0 0)
45
708
(1 1 1)
40
918
(2 0 0)
6
846
(1 1 1)
33
804
(2 0 0)
5
709
Au/PET (2 0 0)
13
0.763
(1 1 1)
13
0.950 Au/n/180/PET
(2 0 0)
9
0.346
(1 1 1)
10
0.748 Au/o/180/PET
(2 0 0)
6
0.058
V.Švorčík et al., Polym.Eng.Sci.46, 1326 (2006). V. Kotál, V. Švorčík et al., Plasma Proc.Polym. 4, 69 (2007).
poměr stojatých vln (vswr) voltage standing wave ratio
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
90
PET PTFE
Average thickness [nm]
80 70 60 50 40 30 20 10 0
0
100
200
300
400
Sputtering time [s]
P.Slepička, V.Švorčík et al., Surf. Interf. Anal., 41, 741 (2009).
500
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
~6 nm
~60 nm
Kaune G. et al., Appl.Mater.Interf. 2009, 1, 353.
P.Slepička, V.Švorčík et al., Surf. Interf. Anal. 41, 741 (2009).
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________ 7
10
-3
Volume concentration [m ]
PET PTFE
3
10
1
10
-1
0
20
40
60
80
Average thickness [nm]
29
10
28
10
27
10
26
10
25
10
24
10
23
10
22
10
21
PET PTFE
0
10
20
30
40
50
60
70
80
Average thickness [nm] 10
-1
10
-2
10
-3
10
-4
10
-5
PET PTFE
2
10
Hall mobility [m /Vs]
Sheet resistance [Ω]
5
10
10
10
20
30
40
50
60
Average thickness [nm]
70
80
P.Slepička, V.Švorčík et al., Surf. Interf. Anal. 41, 741 (2009).
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________ Sklo
Au20s/Sklo
J.Siegel, O.Lyutakov, Z.Kolská, V.Rybka, V.Švorčík, Nanoscale Res. Lett. 6, 96 (2011)
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
8 nm
18 nm
5 nm J.Siegel, O.Lyutakov, Z.Kolská, V.Rybka, V.Švorčík, Nanoscale Res. Lett. 6, 96 (2011)
< 5 nm
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
J.Siegel, O.Lyutakov, Z.Kolská, V.Rybka, V.Švorčík, Nanoscale Res. Lett. 6, 96 (2011)
-3
Volume concentration [m ]
J.Siegel, O.Lyutakov, Z.Kolská, V.Rybka, V.Švorčík, Nanoscale Res. Lett. 6, 96 (2011)
10
29
10
28
10
27
10
26
10
25
10
24
10
23
10
22
10
21
PET PTFE
0
10
20
30
40
50
60
Average thickness [nm]
70
80
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
Carbon nanolayers flash evaporated on PET and PTFE Ultrathin carbon films • biomedical application • electronic and analytical applications
RDG
DGEA REDV
YIGSR IKVAV RDG
KRSR
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected] __________________________________________________________________
V.Švorčík et al., Carbon, 47, 1770 (2009).
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
V.Švorčík et al., Carbon, 47, 1770 (2009).
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________
V.Švorčík et al., Carbon, 47, 1770 (2009).
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________ PET
PTFE
Ra=13.3
Ra=0.6
C2/PET Ra=0.5
C2/PTFE
Ra=2.9
V.Švorčík et al., Carbon, 47, 1770 (2009).
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
_________________________________________________________ A
B A V.Švorčík et al., Carbon, 47, 1770 (2009).
plasma
R
R
R
R
R
R
V.Švorčík,
[email protected]
polymer
grafting
Au nanoparticles
Au sputtering Au-layer
PE Ra=5.36
PE/plasma Ra=7.08
PE/plasma/SH/Au
PE/plasma/SH Ra=6.18
V.Švorčík et al., Nucl.Instr.Meth. B 267, 2484 (2009)
Ra=7.20
V.Švorčík,
[email protected]
6
PE/plasma O O/H2O PE/plasma/SH/Au Au S
3
2
60
B
2,5
PE/Au PE/plasma/Au PE/plasma/SH/Au
PE/Au PE/plasma/Au PE/plasma/SH/Au
2,0
Hardness (GPa)
4
Modulus (GPa)
Atom concentration (at. %)
5
3,0
A
80
40
20
1,5
1,0
1 0,5 0
0
0
0
50
100
150
200
250
300
Depth (nm)
A
50
100
150
200
250
300
Displacement into surface (nm)
V.Švorčík et al., Nucl.Instr.Meth.B, 267, 2484 (2009) B
C
0,0 0
50
100
150
200
250
300
Displacement into surface (nm)
V.Švorčík,
[email protected]
Spec.případ: kaII II q Λ = λ / (neff - sin θi)
nvzduch < neff < npolymer Interference rozptýleného a dopadajícího světla
Formování struktur
PET
Λ* =
λ
vln. délka
n '− sin (θ
index lomu (mod.)
F2 laser, λ = 157 nm,
KrF laser, λ = 248 nm,
)
=
V.Švorčík,
[email protected]
248 ≈ 205 nm 1 . 21 − sin (0 )
úhel dopadu
2,20 mJ cm-2
3,00 mJ cm-2
4,40 mJ cm-2
6,00 mJ cm-2
V.Švorčík,
[email protected]
A - irradiated PET KrF
Ra=19.0
F2
Ra=4.3
B - irradiated and sputtered PET Au/KrF
Ra=20.2
Au/F2
Ra=4.2
J.Siegel, P.Slepička, J.Heitz, Z.Kolská, P.Sajdl, V.Švorčík, Appl. Surf. Sci. 256, 2205 (2010).
V.Švorčík,
[email protected]
J.Siegel, P.Slepička, J.Heitz, Z.Kolská, P.Sajdl, V.Švorčík, Appl. Surf. Sci. 256, 2205 (2010).
V.Švorčík,
[email protected]
J.Siegel, P.Slepička, J.Heitz, Z.Kolská, P.Sajdl, V.Švorčík, Appl. Surf. Sci. 256, 2205 (2010).
Ar plasma treatment (8.3 W, 240 s)
ablated 30 nm water etched 20 nm modified 50-60 nm
poly(ethylene)
V.Švorčík et al., Polym. Degr. Stab. 92, 1645 (2007).
V.Švorčík,
[email protected]
modifikace polymerů v plasmě
140
PE/plasma
120
504
336 168
100 80
100 PET/plasma
24
60 40 20
0 0 0 1
10
100
Oxygen content (at.%)
Contact angle (deg)
120
80 60
Old
40
New Theor.
20
1000
Exposure time (s) V.Švorčík et al., Polym.Eng.Sci. 46, 1326 (2006).
Pristine
0 0
2
4
6 Monolayer
8
10
12
V.Švorčík,
[email protected]
3,0
PE/plasma
O concentration (at. %)
2,5 2,0 HDPE/25 HDPE/250 LDPE/25 LDPE/250
1,5
P E /plasm a
1,0
PE/plasm a
A
B
0,5
C1
0,0
C2
0
20
40
60
80
100
120
140
C
160
C3
Depth (nm)
C -O H
C4
292
288
284
B inding energy (eV )
V.Švorčík a kol., Polym. Degr. Stab. 91, 1219 (2006)
280 540
536
532
Binding energy (eV )
528
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík a kol., Polym. Degr. Stab. 91, 1219 (2006)
PE/plasma
PE Ra=6.09
V.Švorčík,
[email protected]
Ra=12.04
PE/plasma/H2O/Au
EP/plasma/H2O Ra=10.4 1
Ra=8.68
PE/plasma PE/plasma/Au
120
Contact angle (°)
110 100 90 80 70 60
V.Švorčík et al., Nucl.Instr.Meth. B 267, 1904 (2009)
0
100
200
300
Plasma exposure time (s)
400
5th day
PE
220
PE/plasma
180 -2 3
V.Švorčík,
[email protected]
PE PE/plasma PE/plasma/Au
200 Cell density x10 (cm )
1st day
160 140 120 100 80 60 40 20
PE/plasma/Au
0 1
2
3
4
5
6
7
Time (day)
V.Švorčík et al., Nucl.Instr.Meth. B 267, 1904 (2009)
1st day
PE
3rd day
V.Švorčík,
[email protected]
PE/plasma
PE/plasma/Au
V.Švorčík et al., Nucl.Instr.Meth. B 267, 1904 (2009)
V.Švorčík,
[email protected]
depozice C: naprašování, napařování a CVD metoda
V.Švorčík et al., J.Mater.Sci. Mater.Med. 17, 229 (2006).
V.Švorčík,
[email protected] 140
C/PTFE/Xe-lamp/acetylene
130
SEM
120
Profilometer
110 100 Thickness [nm]
90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 0
5
10
15
20
25
30
35
Deposition time [min]
Intensity [a.u.]
F
C
O
O.Kubová, V.Švorčík. et al., Thin Solid Films 515, 6765 (2007).
PTFE/C30 C
PTFE 650
450
Bonding energy [eV]
250
V.Švorčík,
[email protected]
1.0
Day1 Day3 Day7
0.8
150000
0.6
100000
0.4
50000
0.2
0
PTFE
PTFE10
PTFE20
PTFE30
O.Kubová, V.Švorčík. et al., Thin Solid Films 515, 6765 (2007).
PS
0.0
______1 mm______
200000
MTS Int. [a.u.]
DENSITY [cells/cm2]
250000
degradace polymerů
V. SVORCIK a kol., J. Appl. Polym. Sci. 64: 723, 1997
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
mechanismus vodivosti degradovaných polymerů
V. SVORCIK a kol., J. Appl. Polym. Sci. 64: 723, 1997
V. Švorčík a kol., Nucl.Instrum.Meth. B122, 663 (1997)
V.Švorčík,
[email protected]
Světlo emitující diody LED
V.Švorčík,
[email protected]
G.Gustavson, A.J.Heeger et al., Nature 357, 477 (1992)
Ohmické chování látek
K. Efimenko, V. Svorcık a kol., Appl.Phys. A67, 503 (1998)
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
šířka zakázaného pásu Eg
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík a kol., J.Mater.Res. 12, 1661 (1997)
V.Švorčík,
[email protected]
S. Y. Chou, L. Zhuang,. Vac. Sci. Technol. B 17, 3197 (1999)
Vliv elektrického pole na polární polymer
PMMA
V.Švorčík,
[email protected]
Orientovaný PMMA (n = 1.46) Neorientovaný PMMA (n = 1.43)
Nanovlákna na bázi polymerů
zvlákňování
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
Whisker – vous, vláknový krystal
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík,
[email protected]
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha
[email protected]
________________________________________________________
Děkuji Vám za pozornost Pardubice, leden 2007