b8 Prosiding PertenUlan don Presentasi 11mioh PPNY-BATAN Yogyakcrla, 25-27 April 1995
183
Bilk!!. II
MIKROGRAFI SERBUK U02 PPNY daDPERANCIS MENGGUNAKAN JSM T-20 Kasilani Noor S, Hidayati, Pristi Hartati PPNY-BATAN. Jl Babarsari P.O.Box 1008 Yogyalwrta 55010
ABSTRAK MIKROGRAFI SERBVK VOl PPNY DAN PERANCIS MENGGVNAKAN JSM T-2D. Sebagai kontrol mutu proses pembrlQtan bahan balwr menggunalwn serbuk VO'},diperlukan sifat karakteristik fisis serbuk yakni bentuk/ukuran butir. setta kondisi struktur permukaannya. Sifat-sifat J,sis ini berpengaruh terhadap laju alir serbuk dan rapat massa pelet. Mikrografi menggunakan mikroskop elektron. dipengaruhifaktor alatJaktor bahan/sediaandanfaktor ketrampilan dalampemroses gambar. Alat JSM T-20 bertegangan bervariasi dari 5 hingga 20 Kv. menggunalwn Iwmera diafragma 1I dan 8. film hitam putih. sifat bahan/sediaan' harus kering dan bersifat menghantar listrile. Pemrosesan menghasillwn optimasi gambar. Telah dihasilkanmikrografi serbuk VO2PPNY dan Perancis. diperoleh bentuk butiran yang sarna struktur permulwan butiran berbeda, dan ukuran butiran serbuk antara 0.5 hingga I,D ).1m. .
ABSTRACT MICROGRAPHY OF VOJ POWDER OF PPNY AND FRANCE USING JSM T-20. As a quality control ofprocessing to produce afuel element using VO2powder. its necessary to be known the physical characteristic of the shape. size and surface condition oj.particle. This physical character influence the flow abillity of powder particles and density of pellet. To create photomicrograph !,sed an electron microscope. influenced by the condition of tools, specimen. and the skilled of the processing of pictures. The current of JS,"dT-20 is aboi,t 5 until 20 Kv. used 11 and 8 camera diaphragm with black and white films. specimen must be dried with electrical conductorproperty. The processing resulted an optimal photomicrograph. Micrography ofUO2powder ofPPNY and France was investigated,yield a same grain form. surface structure are different. and range of size ofparticle is 0.5 -1.0 ).1m.
PENDAHULUAN
S
ifat fisis clansifat kimia suatu padatan seperti UO2 sebagian besar ditentukan dari metoda preparasi pembuatannya, oleh berbagai sifat komponen pembentuk, kondisi suhu reaksi, kondisi oksidasi, reduksi clan lain-Iainnya. Semlla itu akan memberikan hasil karakteristik serbuk tertentu. Untuk menetapkan preparasi prosedur pembuatan hingga diperoleh produksi akhir sebaik yang diinginkan, diperlukan pertimbangan kontrol dari bentuk ukuran partikel, struktur permukaan partikel, ukuran distribusi partikel, serra kondisi fisis lainnya (I.Belle, 1). Untuk menentukan serbuk UO2 yang baik bagi pengembangannya, karakteristik fisis clan kontrol sifat-sifat adalah renting sebagai faktor utama dalam mencapai keseragaman perbedaan serbuk UO2. Karakteristik fisis ini meliputi density, mikrostruktur, sifat permukaan, distribusi, ukuran kristal, sifat optik dB.
ISSN 0216-3128
Bentuk butir berkaitan erat dengan efisiensi proses prodllksi terutama.bagi yang menggunakan mesin otomatis. Proses dimaksud adalah proses pengisian serbuk UO2 kedalam dies. Konsistensi akan diperoleh apabila serbuk mempunyai laju alir yang baik, dalam bentuk bola atau elipsoida. Ukuran butir akan menentukan tinggi rendahnya rapat massa relet hasil pengompakkan. Serbuk dengan ukuran butir yang keeil akan menghasilkan relet dengan rapat massa rendah, sebaliknya serbuk dengan ukuran besar akan menghasilkan relet dengan rapat massa tinggi. Sifat fisis relet dipengaruhi oleh kondisi permukaan butir, karena haluslkasar but iran menentukan ikatan yang terbentuk pacta peletnya <pani G. clanSafei P.,2,3). Oalam kesempatan ini, diteIiti sifat mikrostruktur ser bilkUO2dari PPNY clanPerancis untuk memperoleh data pembanding yang membedakan sehingga dapat memberikan koreksi mutu serbuk. Pereobaan dilakukan memakai alat
Kasilani NS dkk.
184
mikroskop elektron yang actadi Lakfip UGM,jakni JSM T-20.
TEOR! Pengukuran mikrografi dapat dilakukan dengan 2 cara yakni (1) dengan menggunakan mikroskop optik clan (2) dengan mikroskop elektron. Cara kerja kedua alat tersebut adalah sangat berbeda, demikian pula gambar yang dihasilkan. Mikroskop Elektron (ME) merupakan salah satu alat bantu optik yang mempunyai daya pisah sangat tinggi, sehingga dapat digu nakan untuk mengamati struktur halus (ultrastruktur) dari sediaan-sediaan. ME menggunakan berkas elektron sebagai cahaya yang menyinari sediaan, sedangkan MO (mikroskop optik) menggunakan berkas cahaya tampak. Maka dari itu susunan bagian cara kerja, penyiapan sediaan sangat berbeda dengan MO. lnteraksi sediaan dengan berkas elektron adalah sebagai berikut: berkas elektron yang menumbuk sediaan berinteraksi dengan sediaan, kemudian elektron diubah menjadi (1)elektron tembus (transmitted electron), (2) elektron hilang energi (energy loss electron), (3) elektron terbaur (diffracted electron), (4) elektron terserap(absorbed electron) (5) elektron turunan (secondary electron), (6) elektron pantulan(backscattered electron), (7) elektron "Auger"(Auger elec tron), (8) sinar x clan (9) sinar katodaluminesen. Skema interaksi berkas elektron dengan sediaan ditampilkan pactaGambar 1., diacu dad P.l.Grundy (4). Pactadasamya ME dapat dibedakan menjadi 4 jenis, yaitu mikroskop elektron. tembus TEM (Transmission Electron Microscope), mikroskop elektron skening SEM (Scanning Electron Microscope), mikroskop elektron skening tembus STEM ( Scan ning Transmission Electron Microscope), clan Electron Probe Microanalyzer (EPMA). Dengan prinsip skening, sinyal dideteksi dari elektron pantulan clan elektron turt1l1an,akan menghasilkan gambar topografi permukaan yang dapat diamati, ini digunakan dalam SEM. Elektron tembus dapat dimanfaatkan membentuk citra gambar, adalah prinsip dalam TEM (Transmission electron microscope). Sedangkan detektor menangkap elektron terbaur yang membawa informasi tentang susunan atom clanstruktur renik suatu sediaan adalah prinsip STEM. Dan suatu SEM yang dilengkapi detektor sinar x akan dapat mengukur panjang gelombang
Kasilani NS dkk.
Prosidillg PertenulllII dolI Presentasillmiah PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 April 1995
Bllkl/ 11
clanenergi sinar x yang dipancarkan oleh sediaan. Dengan suatu spektrometer sinar x dapat dilakukan analisis kualitatip atom-atom penyusun, ini prinsip EPMA. Mikroskop elektron skening (SEM), sesuai dengan namanya adalah gerakan berkas elektron dari satu titik ke titik yang lain pactasediaan, mirip dengan IIgerakan membaca"(scanning). Gerakan membaca ditimbulkan oleh suatu scanning coil, sedangkan sinyal pantulan dideteksi oleh photomultiplier. Data sinyal kemudian diperkuat oleh video amplifier, selanjutnya setelah disinkronkan oleh jala-jala skening ( scanning circuit) digambarkan pactalayarCRT (ContrastRay Television). Terjadinya penyinaran clan pembentukan bayangan pacta SEM digambarkan pactaGambar 2. ME terdiri atas bagian-bagian: (1) kolom mikroskop, (2) rani! kendali dengan jaringanjala-jala listrik, (3) sis tern pengamatan dan (4) sistem penghampaan udara (D.C.Wells, 5). Sumber elektron terdapat pactabagian atas kolom, berupa filamen wolfram membentuk huruf V, runcing atau Lanthanus Heksaboride (LaB6)yang membentuk katode. Filamen-filamen tersebut mempuyaiumurpakai clanmenghasilkan sinaryang berlainan. Katode ditutupi dengan pelindung atau perisai Wehnnelt dan disisi yang lain dipasang anoda, sehingga apa hila aliran listrik diperbesar, maka berkas elektron akan melintas cepat. Tegangan pemercepat berkisar antara 20-120 kv. Lensa-lensa elektromagnit berfungsi mengatur lintasan "sinar"elektron sehingga dapat dikull1pulkan atau dipencarkan, clan kekuatan l11asing-masinglensa dikendalikan dengan menga tur besarnya aliran listrik pactalensa-lensa itu.
:Berko.. Elektroa 7
[U" ~E~ 4
:5
l
TEH cmd'S'SH
.
I
Gambar 1. Skema Illteraksi berkas elektron dellgall sediaatl
ISSN 0216-3128
Prosiding Pertemuall dan Preselltasi Ilmillh PPNY-BATAN Yogyllkartll, 25-27 April 1995
BllklllI
Gambar 2. Penyinarall dun pembelltllkall bayallgan pada SEM
(1) Lensa kondensor berguna untuk memfokuskan berkas sinar elektron yang mengenai sediaan, sehingga pencahayaan tepat optimum untuk pengamatan daTImemperoleh bayangan. Lensa kondensor dari ME merupakan lensa yang lemah dengan panjang titik api (fokus)beberapa sentimeter. (2) Lensa obyektif bersama-sama dengan lensa proyektor merupakan bagian sistem pengamatan ME. Lensa obyektif akan membentuk bayangan awal yang diperbesar oleh lensa proyektor. Lensa ini sangat renting bagi ME sehingga multI ME tergantung pacta multi lensa obyektifnya. Lensa sangat kuat dengan panjang titik api pendek 1 5 mill. (3) Lensa proyektor, digunakan untuk memproyeksikan bayangan akhir yang diperbesar ke layar atau emulsi fotografi (film petrel). Dapat pula dipasang lensa antara (intermediate lens) yang dipasang diantaralensa obyektif daTIlensa proyektor. Adanya lensa ini bayangan dari lensa obyektif a~an diperbesar sebelum akhirnya diperbesar kembali oleh lensa proyektor. Sistem penghampaan yang diterapkan adalah 10-5sid 10-6Torr menggunakan pompa vakum putar atau difusi. Layar CRT pactaSEM mempunyai daya pisah sangat besar. Dayapisah itu lebih besar dari daya pisah mala manusia. Keunggulan lain adalah dalam lingkup luasan (depth of field) yang tesar, sehingga topografi
-
ISSN 0216-3128
185
gambar pacta layar CRT akan tampak seperti ; keadaan sediaan aslinya. Jenis sediaan yang dapat diamati dengan SEM sangat beragam baik ditinjau dad jenisnya (hayati, logam, polimer) maupun bentuk, ukurannya (bulksample, serat, partikel dIp. Syarat yang hams dipenuhi oleh sediaan SEM adalah : hams kering sempurna dan hams bersifat menghantar listrik. Salah sarli cara mengeringkan sediaan, digunakan pengeringan titik kritis (Critical point drying' = - CPD), adalah metode menggunakan gas cair misalnya karbon dioksida, nitrogen oksida, daTI freon. Sediaan yang bukan penghantar listrikhams dilapisi deng<:illogam (emas, paladiurn, platina), pelapisan dilakukan dengan menggunakan alat penguap hampa atau pensputer ion (ion sputtering device). ../ Pemrosesan euei eetak gambar. Proses ini dilakukan didalam kamar gelap. Setelah film semuanya terpakai, maka perlu dilakukan pencucian untuk memperoleh film negatif. Cara mencuci film dapat dilakukan sesuai petunjuk pactawadah developer maupun fixemya. Kemudian film dikeringkan daTIsiap untuk dicetak. Pencetakan film hams memperhatikan penetapan diafragma dengan ketajaman bayangan serta lama waktu penyinaran daTI pemrosesannya dalam developer daTIfixer. Perlu diperhatikan pula carapenyimpanan negatip film daTIgambar hasil, untuk menghindari kemsakan.
TATAKERJA
.
Perala tan yang dipakai:
-
SEM dari JSM Te20 Pelapis Ion Sputter JFC -1100
- Alat pencetak gambar -
Lemari pengering negatif film dan gambar - Alat-alat gelas, peruanas dan stirer Bahan yang dipergunahn: Serbuk UOz dari PPNY dan Perancis
-
Filmhitampitihukuran6x6
-
perekat selotip dua muka holder kuningan bentuk silinder 1 cm - Developer, fixer, kertas gambar dU. Cara kerja: 1. Alat ME dihidupkan supaya pompa vakum bekelja.
-
-
;
Kasilani NS dkk.
186
Prosidi/lg Pertenuwn dan Presentasi Itmilli PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 April 1995
Bllkllll
2. Sediaan direkatkan pada holder dengan perekat selotip, diusahakan butiran tidak bertumpuk 3. Apabila perlu dilakukan pelapisan logam menggunakan alaI pelapis ion sputer 4. Sediaan siap diamati dimasukkan dalam kolom ME, cari kepekaan gambar yang paling bagus clan jelas dengan mengatur tombol lensa, tegangan, clanpembesaran gambamya. 5. Setelah layarmenampilkan gambardenganjelas clanbagus kamera dipasangkan clandibidikkan. 6. Film siap dicuci clandicetak. Metode
Pengamatan clan pemotretan sediaan tanpa pelapisan clan menggunakan pelapis AU (lihat lampiran 2). Hasil yang diperoleh menunjukkan b TabelI. a Pcnampakan gambar pada variasi tcgangan. h .w i'{o. gambar 3 4
HASIL DAN PEMBAHASAN Hasil yang diperoleh dalam pengujian mikrostruktur adalah : 1. Lampiran 1. Gambar-gambar pengamatan serbuk pacta berbagai tegangan operasi clan perbesaran gambar. 2. Lampiran 2. Gambar pengamatan serbuk tanpa pelapisan clandengan pelapisan AU. 3. Lampiran 3. Gambar pengamatan serbuk DO2 PPNY clanPerancis. 4. Lampiran 4. Gambar ukuran butiran. Pacta pengamatan dengan variasi tegangan dimaksudkan untuk memperoleh basil pantulan gambar yang tampak paling jelas pactalayar CRT. Karena besar tegangan pacta kolom mikroskop adalah merupakan tegangan pemercepat berkas elektron mengenai sediaan, sehingga elektron pantulan clan turunan dapat ditangkap oleh lensa-lensa elektromagnit clan diteruskan oleh sinyal pantulan ke vidioamplifier untuk tampil dilayar TV. Dari basil pengamatan.menggunakan berbagai tegangan alaI diperoleh basil gambar pacta layar terbagus, sesuai urutan sebagai berikut: 20, 12,5 clan 5Kv. Dari basil pengamatan ternyata serbuk UO2 membutuhkan tegangan besar agar berkas elektron dapat berinteraksi dengan sediaan sehingga menghasilkan gambar visual pacta layar secara optimal. Gambar 5a clan5b memperlihatkan bed a kondisi permukaan serbuk PPNY clan Perancis.
I I
Tcgangan Kv
Penampakan gambar
Keterangan
gambar tidakjelas
perbesaran 500x
5 12.5
terlalu terang, Isinar tuku,
I
sediaanidem PPNY .
gambar eu 'up jelas
Mencari kondisi tegangan listrik alaI JSM T-20. Pengamatan clan pemotretan sediaan dengan pelapisan clantanpa pelapisan Au. Pengamatan, pemotretan serbuk UO2 d ari PPNY clanPerancis serta evaluasi gambar. Pengukuran butiran serbuk.
I
5a
I
20
5b
I
20
ISinar eukup, gambar sangatjelas
idem
I
gambar eu 'up jelas Peraneis, Isinareuku, sediaan I
perbesaran 500 x
enggunakan pelapisan tampak lebih jelas daripada tanpa pelapisan. Sediaan tanpa pelapisan kurang konduktif sehingga elektron pantulan kurang terdeteksi oleh detektor, maka gambar tidak jelas clanagak gelap dilayar. Pada penggunaan lapisan Au, elektron pantulan cukup terdeteksi, sehingga tampak jelas gambar dari hen tuk, kondisi permukaan serbuk serta sifat aglomeratnya. Hasil pengamatan mikrografi serbuk 002 antara PPNY clan Perancis dapat dilihat pactalabel 2. (hasil lampiran 3). Tabel 2.
Mikrografi Pcrancis.
scrbuk UO2 PPNY daD
H .
a s
Perbe saran
Penalllpakan serbuk U02 dari Bentuk
Pennukaan
500 oval/kurva, kurangjelas tdk.runcing, tak beraturan 5000
idem
rata, tdk berpori & tampak rapuh
500
idem
kurangjelas
5000
idem
rata, tdk berpori & tampak pejal/masif
Keterangan
Ukuran
-
asa! PPNY sifat aglomerasi besar
butiran asal PPNY 0,5«1><1,0 !orasgrafi 11m Je as aglomerasi besar
-
asal Prancis sifat aglomerasi besar
I
butiran asal Prancis 0,5«1><1,0 !orasgraft 11m Je as aglomerasi besar
s a dalah sebagai berikut:
Kasilani NS dkk.
ISSN 0216-3128
Prosiding Pertemllan dull Presellta.~i Ill1lilllt PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 Apri/1995
Butir serbuk U02 tidak bulat penuh tetapi ovallkurva tidak runcing dan tidak beraturan. Topografi tampak jelas pada perbesaran 5000 X. Bentuk permukaan ini dapat memberikan laju alir yang baik walaupun dalam aglomerasi yang kuat. Pada serbuk PPNY, terlihat permukaan butiran rata, tidak berpori daD tampak rapuh. Struktur permukaan butiran dari Perancis tampak lebih kuat daD pejal (masif). Serbuk U02 mempunyai sifat aglomerasi yang kuat, terlihat jelas pada gambar (lihat lampiran 3). Ukuran butiran serbuk secara teliti sukar ditentukan karena sifat aglomerasinya yang sangat besar, sehingga diukur secara rata-rata (lampiran4). Hasil pengukuran menunjukkan ukuran diameter serbuk rata-rata adalah 0,5 hingga 1,01-un.Menurut Zaidy, S.M.H.,(8), daftar standart si~atfisis partikel dari CANDU adalah meliputi perbandingan OIU ; luas muka; rapat curah; ukuran partikel, daDkadar air. Tertulis batas ukuran partikel antara 0,2 hingga 800 flm. Dari ukuran partikel butir serbuk U02 PPNY daD Perancis keduanya memenuhi syarat untuk diproses lanjut. Untuk memenuhi sintering selain bentuk, ukuran daD struktur permukaan partikel juga ditentukan karakteristik permukaan yang lain (D.S.Stenquist, dkk., 9).
KESIMPULAN Mikrografi serbuk U02 diamati dengan alar JSM T-20 pada tegangan 20 Kv, gambar tampak je!as pada perbesaran 5000 X daD sediaan perlu dilapis dengan pelapis !ogam Au. Perbedaan mikrostruktur serbuk U02 dari PPNY daDPerancis ada pada kondisi permukaannya, serbuk PPNY tampak lebih rapuh, sedangkan Perancis terlihat pejal (masif). Bentuk but iran serbuk masing-masing sarna yakni tidak bulat membentuk kurva tidak runcing dan tidak beraturan. Ukuran butiran serbuk tampak tidak berbeda, dengan diameter rata-rata antara 0,5 sampai 1,0 mikron (flm).
UCAP AN TERIMAKASIH Kami ucapkan terimakasih kepada Bapak DR Nursamsi P, bapak Taryadi, Ibu Sri Suhartati serta para peneliti yang tidak dapat kami sebutkan satu persatu, yang telah banyak membantu hingga selesainya penu!isan makalah ini. .
ISSN 0216-3128
187
Bllkll II
DAFTAR PUST AKA 1. l.BELLE, Uranium Diokside Propertiesand Nuclear Application, United States Atomic Energy Commisions, July, 1961. 2. DAN! G. S. , Dkk.,"Teknik Mikrografi Serbuk DO/I, preciding PPNY BATAN, 1993. 3. SAFEI P., Dkk., "Teknik Mikrografi relet U02 Dengan SEM 50S", Prociding PPNY BATAN,1993. 4. P.J.GRUNDY AND G.A.JONES, Electrone Microscopy in the study of materials, Edward Arnold, 1976. 5. O.C. WELLS, Scanning Electrone Microscopy, Mc Graw Hill, 1974. 6. J.R.DRIEAR, "Establishing Methode of Characterizing U02 Powder" , Characterisation of Uranium Dioxide, Held at Oak Ridge National Laboratory.Oak Ridge, Tennesse,1963. 7. G.H.CHALDER, "Studies of Microstructures and Effects of Impurities and Sorbed Gases in U02", Characterisation of Uranium Dioxide, Held at Oak Ridge National Laboratory. Oak Ridge, Tennesse, 1963 8. ZAIDY S.M.H., 1982, "Production of Nuclear Grade U02 Powder". Nuclear Materials Division, Pakistan Institute 1977. 9. D.R.STENQUIST, B.MASTEL, AND R.J.ANICETTI, "Correlation of Surface Characteristics With The Sitering Behavior of Uranium Dioxide Powder", Hanford Atom ic Products Operation Rich!and, Washington 1957.
TANYAJAWAB Tlll1jllllg I 1. Bahan "coating" apakah yang digunakan datam hat ini ? 2. Bagaimana cara lIntlik memperoleh hasH "coating" Sel11pllrna, sehingga diperoleh bahan sediaan yang baik ? 3. Dari hasil ukllran blltiran serbllk antara 0,5 hingga 1,0 ml11,saya kira kllrang mewakili untuk sifat-sifat serbllk dalam membentllk petet, bagaimana hila dinyatakan dalam distribllsi (secara Statistik) ?
Kasilani NS dkk.
188
Prosidil/g Perteml/an dull Presentasi llmiall PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 Apri/1995
Bllkll II
Kasilani NS
1. Bahan "coating" yang digunakan disini adalah Au (emas) 2. Caranya: Sediaan pactaholder dimasukkan sungkup alat ion sputter, dijepit dengan susunan melingkar & setiap melakukan pelapisan, dimasukkan sediaan. Pelapisan dilakukan sesuai jukIak dengan waktu pelapisan 1 men it (sampai preparat berwarna keemasan). Hasil pengamatan dari SEM memperlihatkan gambaI' yang cukup jelas, (bentuk, struktur permukaan butirannya) 3. Memang lebih baik dinyatakan dalam distribusi partikel. Tetapi untuk ini memerlukan banyak sekali' butiran yang diukur. Apabila dinyatakan dalam distribusi frekuensi, rumusnya sbb :
d (F,) = [ F, (10~, - F,) r dengan : deFt) : deviasi standar yang dinyatakan sebagai % total, FI ; frekuensi partikel di daIam range ukuran yang diberikan, n, : jumIah total partikeI yang diukur ukuran butiran yang kami tampilkan tersebut, cukup mewakili sifat-sifat serbuk untuk membentuk relet, karena untuk membentuk relet tidak hanya dipengaruhi oleh ukuran but iran saja tetapi dipengaruhi oleh faktor-faktor lain (Iihatjawaban II'Setyajino 1.) M. Setyadji 1. Rekomendasi apakah yang akan salldara berikan dari hasi/ pengamatan mikrografi serb uk UO2 PPNY-Peraneis, dalam kaitannya dengan peletisasi s.erbllk 2. Mengapa Udale dilakllkan pengal1latan mikrografi dad serbllk UO2 (PPNY, Peraneis) dengan spesifikasi yang berbeda-beda. 3. Apakah slidah ado standar gambaI' yang baik/memenllhi syarat Kasilani NS. 1. Dari pengamatan mikrografi serbuk U02 PPNY clanPerancis bisa diperoleh informasi mengenai ukuran partikel, aglomerasi,serra bentuk partikel clan struktur perl1lukaan butiran. Kaitannya dengan peletisasi serbuk hams dibarengi dengan penentuan sifat-sifat fisis maupun sifat kil1liayang lain seperti;
Kasilani NS dkk.
densitas, lllas permukaan, reaktivitas kimia dsb. Hal ini karena sebagian sifat-sifat tersebut saling mendukung, melengkapi dan saling mempengaruhi. Misalnya serbuk yang permukaannya mempunyai pori (keropos), ukurannya lebih kecil, Iuas permukaan akan lebih tesar, densitasnya akan lebih rendah serta lebih reaktifterhadap oksidasi. Dengan sendirinya hal ini tidak diharapkan, disamping itu keberhasilan pembllatan relet tidak hanya oleh sifat-sifat serbuknya (faktor-faktor dalam), tetapijuga dipengaruhi oleh sifat-sifat faktor lilaI' misalnya, penambahan aditif, perekat dsb. 2. Pengamatan seperti yang dimaksud dalam pertanyaan, telah dilakukan oleh peneliti lain sebagai lanjutan dari penelitian ini. 3. Mengenai standar gambar yang baik untuk sementara menggunakan 002 Perancisyang selalau berhasil hila dibuat relet. Wart!aya 1. Telah diperoleh bahwa mikrografi UO2 p P NY don P erane is mem il iki bentuk butiran
sam a, strllkltllr permllkaan berbeda. Apa manfaat besaran di alas dari segi proses pengolahan lebih lanjllt dari serbuk UO2 ? 2. Apakah kedlla serbllk tersebllt memberikan hasil yang berbeda pada proses lebih lanjut dari serbllk tersebllt ? 3. Upaya apa yang harlls dilakukan untuk menyamakan sifat-sifat kedua serb uk tersebllt ?
Kasilani NS I. Manfaat yang diperoleh dari segi bentuk butiran yang bulat/oval (tidak fUDGing) akan memperlancar proses aliI' serbuk (dari segi proses pengaliran bahan/materinya). Sedangkan struktur permukaan bisa mempengaruhi rapat masa basil pemeletan, ini yang perlupengkajian lebih lanjut hasilnya. 2. Untllk proses lanjut belum bisa diramaIkan perbedaannya, akan tetapi dari ukuran butiran kedua blltiran sudah masuk dalam spesifikasi standar yang diperlukan. Masih diperlllkan karakter sifat fisis lainnya. 3. Upaya yang masih diperlukan adalah karakterisasi fisik lain yakni, luas muka, distribllsy, density, dll. lni telah dilakukan peneliti lain.
ISSN 0216-3128
Prosiding Pertemuan dun Prese/ltasi IIl11illfr PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 April 1995
BU/itlll
A.N. Bintarti 1. Apakah hasi/ pengamatan butir ini memberikan hasi/ ukuran butir, nemtllk, kondisi struktur permukaan yang memberikan hasil pasti bisa dipelet ? 2. Apa kelebihan UO2 langsung dipelet, jika dibandingakan dengan UO2yang melalui kontrol mutu ? Kasilani NS. I. HasH yang diperoleh masi~ memerlukan sifat fisis lainnya untuk proses peletisasi. (Analisis fisis lain meliputi : Ratio 0/4;
ISSN 0216-3128
189
Density; luas permukaan; distribusi). (lihat jawaban pertanyaan Ir Setiaji no.l) 2. U02 khusus PPNY, sebaiknya melalui kontrol mutu sifat fisis sebelum proses pelet. Karena selain menghindari pemborosan pengiriman serb uk ke PPTN Bandung (untuk pemeletan) berulang-ulang,juga bisa menetapkan preparasi terbaik untuk menghasilkan relet nuklir grade. jadi serbuk U02 dengan pengontrolan mutujelas lebih menguntungkan dari segi persiapan bahan berdasar sifat-sifat fisisnya.
Kasilani NS dkk.
190
Bllkllll
Prosidillg Perten/lilln don Presentasi 11miall PPNY-BATAN Yogyllkarta, 25-27 April 1995
LAMPIRAN 1
Kasilani
Gambar3. PPNY, 5 Kv 500 x
Ga/llbar 4. PPNY, 12,5 Kv, 500 x
Gambar 5 a. PPNY, 20 Kv, 500 x
GlI/IIbllr 5 b. Peri/lids, 20 Kv, 500 x
NS dkk.
ISSN 0216-3128
Prosiding Perten/llan £Ian Pre~'ellt(1siJlmia!, PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 April 1995
191
BlIkllll
LAMPlRAN 2
Gambar 6a. Serbuk tanpa lapis 12,5 Kv, 500 x
Gambar 6b. Serbuk tanpa lapis 20 Kv, 500 x
Gambar 70. Serbuk dilapis Au, 12,5 Kv, 500 x
Gambar 7b. Serbllk dilapis Au, 20 Kv, 500 x
ISSN 0216-3128
Kasilani NS dkk.
192
Bliku 11
Prosidillg Pertemllall dull Presentasi 11miah PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 Apri/1995
LAMPIRAN 3
GambarS.
PPNY,500x
Gambar 10. Perallcis, 500 x
Kasilani NS dkk.
Gambar 9. PPNY, 5000 x
Gambar I I. Perm/cis, 5000 x
ISSN 0216-3128
Prosiding Perteflulan dall Presentasi Ilmiafl PPNY-BATAN Yogyakarta, 25-27 April 1995
193
Bllkll II
LAMPlRAN 4
I
:
Gambar 12. Uk/lran serb/lk (11m) PPNY
ISSN 0216-3128
1.1' ,~
Gambar J3. Uk/lrall serb/lk (11m) Perancis
Kasilani NS dkk.
