kapillárisok vizsgálatából szerzett felületfizikai információk széleskörűen alkalmazhatók az anyagvizsgálatban, vékonyrétegek analízisében

1 Fiatal kutatói témák az Atomkiban ÚJ RÉSZECSKÉK KERESÉSE A CERN CMS DETEKTORÁVAL Új r...
Author:  Veronika Soósné

3 downloads 27 Views 123KB Size

Recommend Documents