Testovací a měřicí vybavení pro údržbu a opravy elektroniky
Urychlení procesů pomocí interaktivních testovacích sekvencí Omezení chyb obsluhy díky automatickému nastavení přístroje Detekce chybových stavů nezjistitelných jinými přístroji Zvýšení účinnosti testů díky inovačním metodám Diagnostika programovatelných součástí prostřednictvím JTAG Strojové vytvoření schématu zapojení pro konkrétní DPS Ochrana vašeho procesu před nepůvodními součástkami
NOVÝ VÝROBEK SYSTEM 8 Advanced Matrix Scanner
Amtest-TM, Česká republika, Slovenská republika ABI Electronics je britská firma, která navrhuje, vyrábí a dodává zařízení pro testování, měření a diagnostiku závad v oblasti elektroniky. Firma ABI vyvinula a zavedla celou řadu jedinečných testovacích technik odpovídajících současným nárokům na testování, měření, údržbu a opravy elektronických modulů. Sortiment výrobků byl navržen s ohledem na zkrácení časových nároků na testy a opravy, na zjednodušení obsluhy a na možnost organizace a soustřeďování příslušných informací. Sortiment výrobků rovněž nabízí přístup k unikátním metodám nedostupným u jiných přístrojů.
www.abielectronics.co.uk www.amtest-tm.com
Univerzální diagnostický systém SYSTEM 8 BoardMaster 8000 PLUS Jedná se o univerzální a ucelené řešení poskytující obsáhlou sestavu testovacích nástrojů pro údržbu a opravy číslicových i analogových modulů.
ü Můžete zkrátit dobu do identifikace chyby díky automatizaci testu ü Můžete být soběstační ve vašich potřebách v oblasti údržby ü Můžete snížit své investiční výdaje jediným řešením pro všechny aplikace
Testovací možnosti Funkční testy pro číslicové IO před zapojením i po zapojení do obvodu < Funkční testy pro analogové IO a diskrétní součástky po zapojení do obvodu < Funkční testy na úrovni kompletních sestav (s testovacími přípravky) < Vícekanálové připojení a napěťové testy < Testování bez napájení pomocí voltampérových charakteristik <
Rozšířené testovací možnosti Grafický generátor uživatelských logických testů Generátor programu pro funkční test Integrace s aplikacemi vytvořenými třetí stranou Identifikace IO pro neznámé součástky Dynamické testy pro součástky aktivované hradlem Možnost přizpůsobení tradičních přístrojů Záznam dat do souboru nebo do databáze
TestFlow (sekvence testu) je uložený sled položek, které přesně provedou operátora celým procesem odhalování chyb či testů. Kromě přístrojů nutných k provedení testu lze zahrnout do komplexu také instrukce, fotografie, videa a další související dokumentaci. Urychlení testovacích operací pomocí automatického nastavení přístroje ü Snížení rizika nepřesného měření díky uložení parametrů testu ü Usnadnění interpretace dat pomocí automatického porovnávání výsledků ü Úspora kvalifikované kapacity díky možnosti provádět testy podle pořadí v TestFlow ü Zkvalitnění dokladování historie procesu (traceability) vytvářením zpráv o testech ü Do sekvence testu (TestFlow) lze zahrnout: Dokumenty/specifikace ve formátu PDF Videa a animace ve formátu flash Dokumenty Microsoft® Office Internetové stránky a portály Obrázky, fotografie a schémata Odkazy na externí aplikace
< < < < < < <
a! No
vi nk
Tester V-A charakteristik s rozmítáním kmitočtu Advanced Matrix Scanner (SYSTEM 8 AMS) Nejnovějším přírůstkem do sestavy SYSTEM 8 je modul AMS, který umožňuje vícekanálové testování V-A charakteristik s rozmítáním kmitočtu a výstupy impulsů pro diagnostiku IO a součástek v režimu bez napájení. Zvýšení pokrytí testu díky automatickému rozmítnutí kmitočtu ü ü Diagnostika modulů, na které nelze připojit napájení ü Zvýšení rychlosti měření použitím vícekanálového konektoru ü Zvýšení testovacího výkonu díky automatizovaným testovacím sekvencím
Testovací možnosti
Co je testování V-A charakteristiky?
< Testy V-A charakteristik s rozmítáním kmitočtu < Testy V-A charakteristik (při konstantním kmitočtu) < Dynamické testy s impulsními výstupy < Multi-referenční (maticové) testy V-A charakteristik
V-A charakteristiku získáme přivedením střídavého napětí na testovanou součástku, průběžným měřením proudu a vynesením odezvy do grafu závislosti proudu na napětí. SYSTEM 8 AMS navíc přidává automatické rozmítnutí kmitočtu pro zvýšení účinnosti (pokrytí) testu. Analýza a porovnání charakteristik může odhalit chyby následujících typů:
ü Součástky se svodem ü Součástky s nesprávnými hodnotami ü Vnitřně poškozené součástky ü Součástky kmitočtově nekonzistentní ü Obvodové zkraty a nepropojení V-A charakteristika s rozmítnutým kmitočtem
V-A charakteristika
Bezpečný test = test bez napájení ! Testování V-A charakteristik je osvědčená metoda, která je pro součástky bezpečná, poněvadž charakteristiky jsou získávány bez připojení napájení. Velký význam má tato aplikace u značně poškozených modulů, ke kterým napájení připojit nelze .
SYSTEM 8 software Charakteristika
NOVÝ Software
< Nové virtuální přístroje (přestavitelné) < Nový modul tvorby zpráv pro TestFlow (uživatelsky přizpůsobitelný) < Nové uživatelské rozhraní s modifikovatelnou nástrojovou lištou < Nové virtuální přístroje pro modul AMS < Přímé výpočtové funkce a záznam dat < Správce přístupových práv chráněných heslem
Diagnostická řešení
Moduly SYSTEM 8 Z modulů si můžete sestavit kombinaci odpovídající vašim požadavkům na testování. BoardMaster 8000 PLUS je špičkou v sortimentu SYSTEM 8.
Advanced Test Module (ATM) < Funkční testování zapojených obvodů (všechny skupiny logických obvodů) < Funkční testy nezapojených součástí < Testování na úrovni modulu (napěťové buzení/měření, V-A charakteristiky) < Grafický generátor pro uživatelské testovací vektory < Testy propojení, napěťové, teplotní a testy V-A charakteristik Identifikace neznámých IO < Lokalizace zkratů <
Board Fault Locator (BFL) Funkční testování zapojených obvodů (TTL/CMOS) < Funkční testy nezapojených součástí < Grafický generátor pro testovací vektory TTL/CMOS < Testy propojení, napěťové, teplotní a testy V-A charakteristik < Identifikace neznámých IO < Lokalizace zkratů <
Analogue IC Tester (AICT) Funkční testování zapojených analogových IO < Funkční testování zapojených diskrétních součástí < Testy propojení a napěťové testy < Testy V-A charakteristik < Maticové testy V-A charakteristik < Dynamické testy součástí aktivovaných hradlem <
Multiple Instrument Station (MIS) < Virtuální digitální paměťový osciloskop < Virtuální DMM s plovoucím vstupem Virtuální funkční generátor < Virtuální čítač kmitočtu a událostí < Programovatelné analogové a digitální I/O < Vestavěný kalkulátor se záznamem dat <
Variable Power Supply (VPS) Nastavitelné napájení logických obvodů s přepěťovou ochranou < Nastavitelné napájení kladné větve s omezením proudu < Nastavitelné napájení záporné větve s omezením proudu < Virtuální přístroj <
SYSTEM 8 - Zákaznická řešení Sestava v PC skříni (PC je součástí sestavy)
Sestava v externí skříni (Rozhraní USB, PC není součástí sestavy)
Stojanová sestava (PC je součástí sestavy)
Systém pro rekonstrukci schématu RevEng Jednoduše použitelný systém pro profesionální odvozování schémat z konkrétního vzoru elektronického modulu (DPS). ü Můžete realizovat svou strategii údržby nezávisle na výrobci ü Můžete zkrátit dobu hledání chyby použitím rekonstruovaného schématu ü Můžete omezit pokusnou výměnu součástí a omezit sklad náhradních dílů ü Můžete snížit počet odepsaných modulů
Klíčové přínosy < Programová asistence pro připojování a sondování < Proces učení lze kdykoliv zastavit a opět spustit < Nezávislost na složitosti DPS < Vhodný pro vadné moduly (DPS) Profesionální programové vybavení pro vytváření schémat <
Tester a programátor pro Boundary Scan JTAGMaster Úplné a výkonné řešení pro testování, odhalování chyb a programování složitých elektronických modulů osazených součástkami s podporou JTAG. Můžete zvýšit pokrytí vašich testů zpřístupněním součástek bez možnosti ü přímého sondování ü Můžete programovat osazené součástky nezávisle na jejich výrobci ü JTAGMaster snadno zabudujete do vašeho stávajícího vybavení ü Toto řešení můžete zavést na všech úrovních od výzkumu a vývoje až po výrobu
Pokrytí testu < Výrobní vady (např. nepropojené/zkratované vývody) < Logické chyby (např. chyba přepnutí logické úrovně vývodu/vadná součástka) < Chyby programu (např. nesprávný/porušený program) < Chyby v externích obvodech (např. chybějící či trvalý stav vstupního signálu)
Významné charakteristiky Individuální monitorování vývodů s grafickým rozhraním Testování na pozadí během normálního provozu modulu (DPS) Režim vnějšího testu pro ruční nastavování vývodů Záznam a porovnání dat pro celé řetězce JTAG Vytváření dokumentovaných testovacích posloupností
< < < < <
Přesný aktivní osciloskop CircuitMaster 4000M Tento přesný aktivní osciloskop kombinuje výkon digitálního paměťového osciloskopu 100 MHz, stejnosměrného měření s přesností 0.1% a analýzu V-A charakteristik s unikátní testovací metodou (aktivní režim), díky čemuž poskytuje množství možností pro diagnostiku obvodů. ü Můžete sloučit vaše testovací nástroje do jednoho celku ü Můžete využít výhod alternativního testování modulů s napájením i bez napájení ü Můžete omezit chyby obsluhy pomocí automatického nastavení programem ü Můžete urychlit proces testování pomocí automatizovaných testovacích sekvencí
Klíčové charakteristiky < Současné měření ss napětím a získávání střídavých průběhů signálu < Současné napěťové buzení a snímání v aktivním režimu < Stejnosměrný a střídavý funkční generátor Analýza V-A charakteristik s impulsními výstupy < Automatické porovnání signálů < Testování v aktivním režimu Rozpoznáte odlišnosti mezi nepropojením, zkratem na zem ü a výstupem s nízkou úrovní Můžete ověřit spolehlivost součástky při zatížení ü Můžete zkontrolovat fázové zpoždění u střídavých signálů ü
V-A příznaková analýza Testy odporů, cívek, kondenzátorů a polovodičů ü Kontrola na poškození vnitřní struktury součástek ü Kontrola na svody a nesprávné hodnoty součástek ü Kontrola na zkraty a nepropojení v obvodech ü
Uživatelské rozhraní PC CircuitMaster 4000M lze propojit s PC přes port USB za účelem uložení referenčních průběhů, automatického nastavení jednotky a také za účelem vytváření dokumentovaných testovacích sekvencí.
Detektor nepůvodních IO (padělků) SENTRY Jedinečné řešení pro rychlou detekci padělaných a neadekvátních součástek. SENTRY je ideálním doplňkem v rámci programu prevence padělků pro dodavatele součástek a výrobce elektronických sestav. ü Můžete ochránit svou výrobu/distribuci před padělanými součástkami ü Můžete omezit zpoždění a náklady způsobené opakovanými objednávkami a opravami ü Můžete zachovat svoji dobrou pověst v kvalitě a ve vysokém standardu vašeho podnikání
Klíčové charakteristiky Vhodný pro číslicové i analogové součástky < Adaptéry zajišťují kompatibilitu se všemi typy pouzder < Nároky na znalosti elektroniky jsou minimální < Flexibilní programové prostředí s generátorem protokolů <
Je vám toto známo ? Odhaduje se, že roční export nepůvodních IO představuje více než 8% celosvětového obchodu, což odpovídá finanční ztrátě přes zhruba 10 miliard USD.
Princip funkce SENTRY Základním principem SENTRY je sejmutí otisku vývodů (PinPrints) referenční součástky, uložení těchto dat a srovnávání těchto otisků s testovanými součástkami. Referenční součástkou může být první součástka ze šarže nebo součástka importovaná do knihovny. PinPrints = elektrická charakteristika každého vývodu součástky vystaveného dynamickému stimulu bez přítomnosti napájecího napětí. Odezva každého z vývodů je přímo vztažena k povaze součástky, její vnitřní struktuře a k použitému výrobnímu procesu.
Automatické i konfigurovatelné parametry testu Správa knihoven s funkcemi import/export Režim návrhu pro pouzdra a adaptéry Podpora připojování referenční dokumentace K dispozici je kalibrační souprava
ter
ap
d Pa
m
s,
in 0p
QF
208 p ins, 0 .5mm
m .65
0
r
10
6
25 s,
n pi m
m
00
1. A
BG r
te ap
ad 54 pins, 0.8mm TSOP + 64pins, 0.5mm QFP adapters
QFP a dapte
Universal PLCC adapter
< < < < <
Funkční testery součástek před osazením ChipMaster a LinearMaster Professional Populární ruční provedení pro funkční testy číslicových a analogových součástek před osazením do obvodu.
Charakteristiky Funkční testy součástek obsažených v interní knihovně < Diagnostická informace pro jednotlivé vývody < Podmíněné testy ve smyčkách pro nestálé chyby < Identifikace IO pro neznámé součástky < Programový generátor pro funkční testy <
Vhodný i pro pouzdra SOIC s adaptérem
Příslušenství
EZ Sonda 16 pinů s rozchodem 5.5 mm, 28 pinů s rozchodem 10 mm Sortiment MultiProbe Rozteč 0.050“ při10 pinech (SOIC and PLCC) a rozteč 0.100" při 8 pinech (DIL). Souprava 4 kusů PenProbe Typ 1 (3-vývodové transistory, SOT23 a podobné), typ 2 (3-vývodové transistory, TO72 a podobné), typ 3 (3-vývodové transistory, TO220 a podobné), type 4 (3-vývodové transistory, TO92 a podobné) Testovací klip SOIC a souprava kabelů 8,14,16 pinů úzké pouzdro a 20, 24, 28 pinů široké pouzdro Testovací klip PLCC a sestava kabelů 20, 28, 44, 52, 68 and 84 pinů Testovací klip QFP a sestava kabelů 100, 144, 160, 208 pinů
S ABI jste vždy v dobré společnosti!
V ČR a SR dodává: Amtest-TM s.r.o. Svatováclavská 408 686 01 Uherské Hradiště
[email protected]
