APTMS-Al-MCM-41 NANOKOMPOSIT

1 Akreditasi LIPI Nomor : 452/D/2010 Tanggal 6 Mei 2010 APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANOKOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTM...
Author:  Sri Tedjo

9 downloads 176 Views 722KB Size

Recommend Documents