ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY v souladu s § 156 zákona č. 137/2006, Sb., o veřejných zakázkách, ve znění pozdějších předpisů Nadlimitní veřejná zakázka na dodávky zadávaná v otevřeném řízení v souladu s ust. § 27 zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, ve znění pozdějších předpisů
RCPTM - transmisní elektronový mikroskop CryoHRTEM TTaattoo vveeřřeejjnnáá zzaakkáázzkkaa ssoouuvviissíí ss rreeaalliizzaaccíí pprroojjeekkttuu „„R Reeggiioonnáállnníí cceennttrruum m ppookkrrooččiillýýcchh tteecchhnnoollooggiiíí aa m a t e r i á l ů “ r e g . č . C Z . 1 . 0 5 / 2 . 1 . 0 0 / 0 1 . 0 0 5 8 , v r á m c i O p e r a č n í h o p r materiálů“ reg.č. CZ.1.05/2.1.00/01.0058, v rámci Operačního prooggrraam muu VVýýzzkkuum m aa vvýývvoojj pprroo iinnoovvaaccee
Zadavatel se sídlem :
Právní forma zadavatele :
Univerzita Palackého v Olomouci Křížkovského 8 771 47 Olomouc IČ: 61989592 veřejná vysoká škola
Rektor :
prof. RNDr. Miroslav Mašláň, CSc.
Způsob zadání :
otevřené řízení
Kontaktní osoba ve věcech veřejné zakázky: Mgr. Petra Jungová tel.č.: +420 585 631 117, fax: 585 631 012, email:
[email protected] Profil zadavatele:
https:// zakazky.upol.cz
1) Odůvodnění účelnosti veřejné zakázky Plánovaný cíl veřejné zakázky V rámci realizace projektu Operačního programu Výzkum a vývoj pro inovace (dále jen „OP VaVpI“) Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů (dále jen „RCPTM“) je jedním s klíčových výstupů (milníků) vybudování iii) „laboratořr pokročilých mikroskopických technik“ jako unikátního zázemí pro analýzu nanomateriálů a biomakromolekul mikroskopickými technikami (cryoHRTEM, AFM, SEM). Pro dosažení tohoto cíle je třeba vybavit laboratoře RCPTM transmisním elektronovým mikroskopem vysokého rozlišení umožňující mimo jiné i práci za nízkých teplot. Zařízení díky svému vysokému rozlišení, analytickým schopnostem a CRYO režimu dovolí komplexní velikostní, morfologický a strukturní popis nanosystémů, či zobrazení a analýzy až do atomární úrovně. Přístroj bude využíván při práci všech výzkumných programů RCPTM.
Popis vzájemného vztahu mezi realizovanou veřejnou zakázkou a plánovaným cílem. Úspěšná realizace VZ spolu se stávajícím vybavením dovolí vybudovat „laboratoře pokročilých mikroskopických technik“, jakožto jednoho z klíčových cílů budování RCPTM. Popis alternativ naplnění plánovaného cíle a zdůvodnění zvolené alternativy veřejné zakázky. Získání výsledků v úrovni požadované při řešení projektu není možné při absenci obdobného zařízení pořizovaného v rámci předmětné veřejné zakázky. Případný nákup měření jako služby by ve vztahu k cílům projektu byl časově a finančně neefektivní. Popis toho, do jaké míry ovlivní veřejná zakázka plnění plánovaného cíle. Bez úspěšné realizace předmětné veřejné zakázky není možné plánovaných cílů dosáhnout. 2) Přiměřenost požadavků na technické kvalifikační předpoklady Zadavatel nepožaduje prokázání technických kvalifikačních předpokladů. 3) Vymezení technických a obchodních podmínek veřejné zakázky ve vztahu k potřebám veřejného zadavatel A) Odůvodnění vymezení obchodních podmínek veřejné zakázky na dodávky a veřejné zakázky na služby ve vztahu k potřebám veřejného zadavatele Odůvodnění vymezení obchodní podmínky stanovící splatnost faktur. Splatnost faktur je dána Pravidly pro příjemce dotace OP VaVpI, ze kterých je předmětná veřejná zakázka hrazena. Odůvodnění vymezení obchodní podmínky stanovící požadavek na pojištění odpovědnosti za škodu způsobenou dodavatelem třetím. Zadavatel nepožaduje. Odůvodnění vymezení obchodní podmínky stanovící požadavek bankovní záruky. Zadavatel nepožaduje. Odůvodnění vymezení obchodní podmínky stanovící záruční lhůtu. Požadovaná záruční lhůta je pro tento typ zařízení zcela běžná, pokrývající obvyklý čas pro zavádění techniky CryoHRTEM na pracoviště. Odůvodnění vymezení obchodní podmínky stanovící smluvní pokutu za prodlení dodavatele. Smluvní pokuta je stanovena na dolní hranici její možné výše. Vzhledem ke skutečnosti, že předmět veřejné zakázky je hrazen z prostředků OP VaVpI , kde jsou stanoveny termíny zejména pro doložení zúčtování investičních prostředků projektů, zadavateli hrozí vysoké riziko vrácení finančních prostředků z dotace v případě pozdní realizace dodavatele s plněním předmětu veřejné zakázky a současně je pořizované zařízení jedním z klíčových, prostř. kterých budou naplňovány výzkumné cíle projektu RCPTM. Odůvodnění vymezení obchodní podmínky stanovící smluvní pokutu za prodlení zadavatele s úhradou faktur. Neuvedeno.
Odůvodnění vymezení dalších obchodních podmínek. Další obchodní podmínky jsou stanoveny v zadávací dokumentaci s ohledem na příručku pro příjemce Op VaVpI a pravidel pro výběr dodavatele OP VaVpI.
B) Odůvodnění vymezení technických podmínek veřejné zakázky ve vztahu k potřebám veřejného zadavatele Technická podmínka Odůvodnění technické podmínky Zařízení musí být schopno zajistit činnost v těchto režimech: TEM – Transmisní elektronová mikroskopie - zobrazovací režim nutný pro práci se studovanými materiály HRTEM – Transmisní elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením - zobrazovací režim nutný pro práci se studovanými materiály, při požadované rozlišovací schopnosti STEM –Skenovací transmisní elektronová mikroskopie - zobrazovací režim nutný pro práci se studovanými materiály HRSTEM –Skenovací transmisní elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením - zobrazovací režim nutný pro práci se studovanými materiály, při požadované rozlišovací schopnosti EDX – Energy-dispersive X-ray spectroscopy - analytická technika nutná pro práci se studovanými materiály EELS - electron energy loss spectroscopy - analytická technika nutná pro práci se studovanými materiály EFTEM - Energy filtered transmission electron microscopy - technika umožňující dosažení vysokého analytického/obrazového rozlišení nutná pro práci se studovanými materiály SAED – selected area electron diffraction - analytická technika nutná pro práci se studovanými materiály NBD – nanobeam diffraction - analytická technika nutná pro práci se studovanými materiály Low – dose imaging - zobrazovací režim nutný pro práci se studovanými materiály Součástí dodávky zařízení musí být minimálně:
BF/HAADF – detektor - nutná součást systému pro práci v režimu HRTEM, HRSTEM (viz. výše) zdroj elektronů – FEG - typ zdroje elektronů nutný pro dosažení vysoké stability přístroje Kamera pod projekční komorou s rozlišením alespoň 2048 x 2048 a min. 14bit digitalizací, rychlostí snímání min. 14 FPS při 4x „binning“ - požadována kamera se standardním rozlišením s rychlosí snímání dovolující práci v režimu „živého“ obrazu. Energiový filtr (post – column) vybavený CCD kamerou s rozlišením alespoň 2048 x 2048 bodů. - nutná součást systému pro techniku EFTEM (viz. výše) systém aktivního stínění proti účinkům rušivých elektromagnetických polí - systém nutný k eliminaci rušivých elektromagnetických polí z okolí přístroje, které není možné před instalací zcela vyloučit standardní držák vzorků - základní příslušenství chlazený držák vzorků s detekcí aktuální teploty (rozsah prac. teplot alespoň -150°C až 110°C - příslušenství nutné pro práci při nízkých teplotách držák vzorků umožňující přenos vzorku do přístroje bez přístupu vzduchu resp. v ochranné atmosféře - příslušenství nutné pro práci s vysoce reaktivními materiály vyvíjenými na pracovišti objednatele Držák vzorků s nízkým pozadím pro techniku EDX - příslušenství nutné pro práci v režimu EDX (viz. výše) Software pro záznam obrazu, měření vzdáleností, apod. Uživatelem je požadována 1 licence online + alespoň 5 licencí pro offline zpracování. - nutná součást pro práci se systémem. Počet licencí odpovídá předpokládanému počtu operátorů Software pro provádění a vyhodnocení techniky EDX (kvalitativní i kvantitativní). Uživatelem je požadována 1 licence online + alespoň 5 licencí pro offline zpracování. - nutná součást pro práci se systémem. Počet licencí odpovídá předpokládanému počtu operátorů Software pro provádění a vyhodnocení techniky EELS (kvalitativní i kvantitativní). Uživatelem je požadována 1 licence online + alespoň 5 licencí pro offline zpracování. - nutná součást pro práci se systémem. Počet licencí odpovídá předpokládanému počtu operátorů Software pro obsluhu přístroje v „low-dose“ režimu - nutná součást pro práci se systémem v požadovaném režimu (viz. výše)
Zařízení pro odstranění kontaminace vzorků – plasma cleaner vč. veškerého příslušenství nutného pro jeho provoz (vyjma spotřebního materiálu). Zařízení musí být uzpůsobeno pro dodané držáky vzorků. - nutná součást pro dosažení požadovaných parametrů obrazové a analytické rozlišovací schopnosti Zařízení pro uchování/skladování držáků vzorků ve vakuu (může být kombinováno se zařízením pro odstranění kontaminace vzorků). Počet pozic pro držáky vzorků – nejméně 3. - nutná součást pro dosažení požadovaných parametrů obrazové a analytické rozlišovací schopnosti Optické zařízení pro rutinní prohlížení perforace TEM sítěk - příslušenství k přístroji dovolující provádění předběžné kontroly připravených vzorků bez nutnosti jejich vložení do přístroje tak, aby bylo možné efektivně využít pracovní čas přístroje kompletní sada náhradních clon - spotřební materiál nutný pro bezproblémový přechod mezi záručním a pozáručním obdobím. voucher pro bezplatné provedení 1. výměny FEG (zahrnující veškeré náklady včetně materiálu). Výměna by měla být provedena po uplynutí standardní životnosti FEG, resp. těsně před ukončením záruční doby. - spotřební materiál nutný pro bezproblémový přechod mezi záručním a pozáručním obdobím. Vlastní FEG podléhá procesu stárnutí, proto je požadován ve formě voucheru. Cryo-HRTEM musí dále splňovat následující technické parametry: TEM bodové rozlišení max. 0.19 nm nebo lepší, - max. hodnota rozlišovací schopnosti přístroje nutná pro studium nanomateriálů na bázi FexOx, C a Ag. rozlišení STEM- HAADF max. 0.16 nm nebo lepší - max. hodnota rozlišovací schopnosti přístroje nutná pro studium nanomateriálů na bázi FexOx, C a Ag. Urychlovací napětí 200kV s možností volby nižších napětí - pracovní napětí přístroje, při němž je možné dosáhnout požadovaného rozlišení (viz. výše). Tohoto parametru je možné dosáhnout i při vyšším napětí (obvykle 300kV), provozní náklady by však byly výrazně vyšší. Pro posun vzorku ve všech hlavních režimech měření musí být m.j. k dispozici „trackball“ - metoda řízení pohybu vzorku umožňující vyšší rychlost a přesnost práce se vzorkem. obsahuje systém pro automatickou kompenzaci samovolného posunu vzorku - funkce nutná pro možnost provádění dlouhodobých analýz EDX a EELS
Možnost přepnutí z TEM režimu do STEM bez nutnosti přeostřování. - funkce/vlastnost umožňující efektivně využít pracovní čas přístroje rozlišovací schopnost EDX ≤ 136eV (MnKa) - max. hodnota analytické rozlišovací schopnosti přístroje nutná pro studium nanomateriálů na bázi FexOx, C a Ag. rozlišovací schopnost EELS ≤ 0,8eV - max. hodnota analytické rozlišovací schopnosti přístroje nutná pro studium nanomateriálů na bázi FexOx, C a Ag.
4) Stanovení základních a dílčích hodnotících kritérií a způsobu hodnocení nabídek ve vztahu k potřebám veřejného zadavatele Odůvodnění stanovení základních a dílčích hodnotících kritérií ve vztahu k potřebám veřejného zadavatele Odůvodnění Hodnotící kritérium Zadavatel zvolil jako hodnotící kritérium celkovou nejnižší nabídkovou cenu v Kč bez DPH jako nejvíce transparentního a jediného objektivně možného způsobu vyhodnocení jednotlivých nabídek. Odůvodnění způsobu hodnocení nabídek ve vztahu k potřebám veřejného zadavatele Způsob hodnocení Odůvodnění Veškeré nabídky uchazečů budou hodnoceny vzestupném pořadí, tj. na prvním místě se umístí uchazeč s celkovou nejnižší nabídkovou cenou a na posledním místě uchazeč s nejvyšší nabídkovou cenou v Kč bez DPH.
Zpracovala: Mgr. Petra Jungová
Mgr. Petra Jungová
Digitálně podepsal Mgr. Petra Jungová DN: c=CZ, o=Univerzita Palackého v Olomouci [IČ 61989592], ou=4450, cn=Mgr. Petra Jungová, serialNumber=P73041 Datum: 2012.06.14 10:27:15 +02'00'
