02) 2 juni 2005

Pagina 1 van 7 Verslag bijeenkomst

PLOT-werkgroep Mechanische Beproevingen (WGMB-2005/02) 2 juni 2005

Onderwerp

Vergadering PLOT-werkgroep Mechanische Beproevingen (WGMB-2005/02)

Datum

2 juni 2005, 10.30 uur

Plaats

Hielkema Testequipment, Uden

Auteur

Ronnie van Leeuwen

Tel. 040 – 2503 714 e-mail: [email protected]

PRESENTIELIJST Naam

Bedrijf

Aanwezig ?

Louis Huysmans

Philips Display Components

Erik Goossens

Philips Medical Systems

X

Theo Hesen


X

Frans Assink

Thales Nederland

Jan de Groot

Klima Testtechniek

Wilco van Dalen

SKF

Simon Bakker

Maser Engineering b.v.

Ronnie van Leeuwen

Thales Cryogenics b.v.

Dop Jooren

Tyco Electronics AMP

Henk Mast

Dutch Space

Erik Wegkamp

Nationaal Lucht- en Ruimtevaartlaboratorium

Ton Geise

j.j. Bos b.v

X

Dave Corben

Philips Applied Technologies

X

Aad Engelfriet


X

Sebastiaan Wolbers

TNO BOUW afdeling CMC

Jan Bakker

Texas Instruments

X

Marco Olierook

Texas Instruments

X

Wim de Krey

DEP Roden

Jan Hopman

TNO-TPD

Klaas Kloosterman

Philips Drachten

WGMB-2005-06 02

X

X

27 juni 2005



1

Opening, mededelingen Ton Geise opent de vergadering en heet iedereen welkom . De agenda wordt doorgenomen. Er zijn geen mededelingen vanuit de werkgroep.

2

Verslag voorgaande vergadering (30 maart 2005) Het verslag wordt goedgekeurd. De actielijst van het vorige verslag wordt doorgelopen: Ton Geise zal de acties 2005-01 (het rondsturen van de draft van de IEC 60068-2-47 Mounting of specimens) en 2005-03 (het rondsturen van een verhaal over decaying sinusoïd bij het uitvoeren van schoktesten) uitvoeren. Het verhaal over decaying sinusoid bij schoktesten is afkomstig van Dave Richards van het CEEES. Voorheen werden schoktesten uitgevoerd op valtafels maar er worden nu meer en meer schoktesten met behulp van shakers uitgevoerd. Er is een discussie gaande over het toepassen van een aflopende sinus bij de uitvoering van deze laatste categorie schoktesten (op een shaker). De actiepunten 2005-02, 2005-03 (2) en 2005-04 zijn afgerond. Punt 2005-05 (Louis Huysmans benaderen voor een presentatie over contactloos meten) wordt door Ton Geise uitgevoerd. Zie ook het onderwerp voor de volgende bijeenkomst.

3

Omgevingstesten voor beginners (OTB’s) In de werkgroep reliability is een lijst opgesteld met thema’s voor nieuwe te ontwikkelen OTB’s: Salt mist Thermal shock High/low temperature Climate IP-dust Hast Corrosion Deze OTB’s zijn gepland voor de komende 2 jaren. Er ontstaat een discussie over de vraag waar het vakgebied EMC thuis hoort. Er is in Nederland een aparte EMC vereniging. EMC hoort bij het PLOT maar er is geen specifieke aandacht voor. Gekozen kan worden om een OTB voor EMC te maken met verwijzingen naar bedrijven die meer weten over dit vakgebied. Ook kan volstaan worden met een verwijzing op de PLOT site naar de aparte EMC club. Verder wordt gediscussieerd over mogelijk nieuwe onderwerpen voor OTB’s op het mechanische gebied: overload testen (duwen / trekken), bij Medical Systems heeft men zelf een testbank gebouwd mbv hydraulische cylinders. Droptesten Combinatie temperatuur / triltesten. Ronnie van Leeuwen zal een opzet maken voor deze OTB. Jan Bakker stelt dat de ervaringsuitwisseling binnen de werkgroep voor hem de belangrijkste reden is om de werkgroep bijeenkomsten bij te wonen. Hij toont zijn bezorgdheid over het voortbestaan van de werkgroep door de geringe opkomst en de relatief grote aandacht voor

WGMB-2005-06 02

27 juni 2005


PLOT-werkgroep Mechanische Beproevingen (WGMB-2005/02) 2 juni 2005 de OTB’s. Ton Geise geeft aan dat de ervaringsuitwisseling inderdaad het belangrijkste item is en zal blijven. De ervaringsuitwisseling is nu ook expliciet op de agenda gezet. Erik Goossens en Theo Hesen laten weten dat zij, als relatieve nieuwkomers in het vakgebied, vooral op zoek zijn naar kennisuitwisseling met meer ervaren collega’s. Erik en Theo gaan een cursus volgen in Karlsruhe van Wayne Tustin. Dave Corben heeft deze cursus reeds gevolgd en heeft goede ervaringen met deze praktisch ingestelde cursus. Ton Geise gaat proberen om deze cursus naar Nederland te halen via j.j. Bos. Ton vraagt wat een dergelijke cursus mag kosten? Nu is de prijs ± 2000 euro voor 4 dagen.

4

Presentatie Marco Olierook (Texas Instruments) Bij Texas Instruments kwamen sensoren terug uit het veld met beschadigingen die men niet eerder had gezien. Metingen in het veld lieten resonanties zien die ver boven de aangeboden 60068-2 norm lagen. De pomp met de sensoren werd opgestuurd en men heeft testen op de shaker uitgevoerd. Er werd een sinus test uitgevoerd: 100 – 500 Hz met 10g. Er werden resonantiemetingen uitgevoerd. Op de pomp waren geen leidingen aangesloten (is niet de praktijksituatie). Met behulp van een langdurige sweep in het resonantiegebied werd een simulatie van 80.000 km uitgevoerd. De sensoren vertoonden niet het faalmechanisme wat in het veld werd waargenomen. Achteraf bleek dat de sensor in de praktijk op een andere plek werd gemonteerd. In de praktijk ondervindt de sensor de trillingen + het effect van het lopen van de pomp. Deze combinatie is niet getest. Er is dus een verschil tussen een statische pomp en een dynamische (lopende) pomp. Een motor met een sensor is getest op de shaker. De sensor krijgt hoge versnellingen voor de kiezen (resonantie pieken). Er werd 10g aangeboden en er werden pieken tot 130g gemeten. De sensoren gingen stuk. De motor is getest zonder kabelaansluitingen (niet conform de praktijksituatie). Met aangesloten kabels zijn de pieken weg; de kabels dempen. Bij het bepalen van de resonantiefrequentie van een EMA module bleek de massa van de versnellingsopnemer te groot om betrouwbare metingen te kunnen uitvoeren. Opties voor resonantiemetingen: laser vibrometers (ervaringen aanwezig bij Erik Wegkamp / NLR) stroboscoop standaard laser De belangrijkste les die men de afgelopen tijd geleerd heeft is: altijd testen met aangesloten connectoren en kabels.

5

Ervaringsuitwisseling Bij Philips Medical Systems moet men voor testen van grote systemen uitwijken naar TNO in Delft waar men gebruik maakt van een hydraulische shaker. Bij Texas Instruments wil men ervaring opdoen met contactloos meten bij triltesten (zie presentatie Marco Olierook). Diverse bedrijven zijn op zoek naar manieren om versneld te kunnen testen. Bij het CEEES is een verhaal verschenen over versneld testen. Dit verhaal zal binnenkort verschijnen op de website van het CEEES (ceees.org). Bij het versneld testen is het belangrijk om de fysieke grenzen goed in de gaten te houden. Bij Thales Cryogenics heet men een langdurige sinus triltest van 2g teruggebracht naar een korte sinus triltest van 3g door te kijken naar het aantal producten dat faalde bij de 2g test en dit te vergelijken met de benodigde tijd om dit te bereiken met een 3g test. De faalmechanismen waren bij beide testen gelijk en men heeft de test met 20 producten uitgevoerd.

WGMB-2005-06 02

27 juni 2005



Bij Texas Instruments vragen klanten verschillende testspecificaties voor producten die in dezelfde applicatie gebruikt worden. Komt dit door onwetendheid of focust men op de problemen? Bij Philips Medical Systems heeft men interne normen afgeleid van de IEC normen. Er bestaan drie niveaus bij deze interne normen: M1 specificatie M2 specificatie (voor mobiele apparatuur) M3 specificatie (voor handheld apparatuur) De trend is: minder testen en minder waar testen en een snelle release van producten. Producten die ingebouwd worden in een hogere samenstelling moeten vaak los te zwaar getest worden. De relatie tussen hetgeen getest moet worden en wat het product in de hogere samenstelling aan mechanische belasting voor de kiezen gaat krijgen is vaak moeilijk aan te geven. Binnen diverse normen over droptesten worden verschillende ondergronden beschreven. De IEC norm beschrijft een houten vloer als ondergrond voor een droptest. Dit is afkomstig uit de Verenigde Staten waar buiten de steden veel huizen van hout gemaakt zijn. Bij Texas Instruments heeft men de ervaring dat zelfs de verflaag op beton van invloed kan zijn op het resultaat van een droptest.

6

Vaststelling onderwerpen volgende vergadering De volgende PLOT bijeenkomst is het PLOT seminar. Besloten wordt om de werkgroep mechanische beproevingen niet op dezelfde dag bijeen te laten komen. Volgende vergadering: 21 september 14:00h bij LG.Philips of eventueel bij Philips Applied Technologies. Verder zal Louis Huysmans gevraagd worden om zijn ervaringen met contactloos meten bij triltesten te presenteren. Dit kan eventueel gecombineerd worden met een presentatie van een leverancier van meetapparatuur. Voor de daarop volgende vergadering kan Henk Mast een presentatie verzorgen. Eventueel kan Aad Engelfriet iets vertellen over het gebruik van event detectoren tijdens mechanische testen.

7

Rondvraag en sluiting Dave Corben vraagt naar wie er nog ideeën heeft voor sprekers voor het PLOT seminar Automotive / Handheld testen. Ton Geise bedankt iedereen voor de komst en inbreng in de vergadering en sluit de bijeenkomst.

WGMB-2005-06 02

27 juni 2005



Actielijst na de vergadering Nummer

Door

Actie

Streefdatum

2004-01

Louis Huysmans

Presentatie over Six Sigma

gereed

2004-02

Aad van Dorp

Uitzoeken of boutjes bij 30 g / 18 ms minder snel afbreken

gereed

2004-03

Aad van Dorp

Overdragen secretariaatsstukken.

gereed

2004-04

Raymond Peutz

Initiatief voor projectvoorstel voor Senter

vervalt

2004-05

Ton Geise

Aanzet voor een overzicht van tril- en schoktechnieken

gereed

2004-06

Ton Geise

Commentaar overzicht tril- en schoktechnieken uitwerken

gereed

2004-07

Dave Corben

Voordracht voorbereiden: Omzetten praktijkdata naar testspecificatie

gereed

2004-08

Marco Olierook

Voordracht voorbereiden: Problemen uit het veld (klant test in groter systeem)

gereed

2005-01

Ton Geise

Verspreiden van draft IEC 60068-2-47

2005-02

Ronnie van Leeuwen

Verspreiden van de rapportage CEN werkgroep handboek Standardization for Defense Procurement

2005-03

Ton Geise

Verspreiden van verhaal: Decaying sinusoïd bij schoktesten

2005-03 (2)

Ronnie van Leeuwen

Overzicht tril- en schoktechnieken aanvullen met constante versnelling

gereed

2005-04

Ton Geise

Overzicht tril- en schoktechnieken verspreiden onder PLOT leden tbv commentaar + plaatsing op de website

gereed

2005-05

Ton Geise

Navraag bij Louis Huysmans presentatie contactloos meten

01-09-05

2005-06

Ronnie van Leeuwen

Opzet voor OTB combinatie temperatuur / tril testen

21-09-05

WGMB-2005-06 02

01-07-05 gereed 01-07-05

27 juni 2005



Appendix A

Lijst van geïdentificeerde aandachtspunten

Trefwoord(en)

Vraagstelling Testtechnieken

Prio

SRS

(Shock Response Synthesis/Spectrum): simulatie aardbevingen: uitgaande van de werkelijke versnellingen bij een aarbevingen het samenstellen van een "gelijkwaardig" spectrum dat wel op een shaker kan worden nagedaan (is al eens behandeld).

3

Technieken

Verschillende tril- en schoktechnieken voor verschillende omgevingen

8

Decompositie

Hoe werkt een trillingsbron door naar de lokatie waar een product zich bevindt (decompositie)

3

HALT / HASS

Versneld mechanische beproeven: HALT: Belasten van een product totdat het defect raakt. Dit gebeurt stapsgewijs, en levert informatie tijdens het ontwerpproces. HASS: Een test die voor producten die van de productlijn afkomen snel onderscheid kan maken tussen goed geproduceerde producten en producten met (latente) defecten.

8

Numeriek

Numerieke technieken bij mechanische testen

Meerassig testen

Single versus multiaxis testen.

4

Vermoeiing

Vermoeiingsonderzoek versus overbelasting

4

Functietest

Monitoren van functioneren van apparatuur tijdens duurtesten

4

Voorlichting

Het uitleggen van technische onderwerpen t.b.v. minder deskundige mensen

03-12-03

Omgevingseisen

Algemene ontwerpeisen omwerken naar product(ie)criteria

27-10-00

Requirement analyse

Volledig maken van ontwerpeisen (requirements analysis)

27-10-00

Ontwerpproces

Behandeling mechanische omgevingsomstandigheden in verschillende sectoren

27-10-00

Ontwerpintegratie

Theorie Realiteitsgehalte

Klopt de testeis met de praktijk?

10-03-04 03-06-04

Levensduur

Voorspellen van productlevensduur

5

Trillingen

Inleven in de wereld van trillingen, transport mechanische energie, hoe moet je jezelf e.e.a. voorstellen?

3

Life Cycle Analysis

Life Cycle Analyse: stress opvoeren, correlatie verschillende testresultaten, gebruik statistiek

2

Marktgegevens

Hoe kun je marktgegevens gebruiken voor ontwerpcriteria en testeisen.

1

Reliability Analysis Nut van testen

Hoeveel samples moeten worden getest om welke uitspraken met welke betrouwbaarheid te kunnen doen. Welke mogelijkheden zijn er om hierop invloed uit te oefenen? Bewustwording problemen die verholpen kunnen worden met mechanische beproevingen. Wat is de meest relevante test voor mijn probleem.

6 4

Veldresultaten Prototypes

Prototype (0-series) in het veld

Gebruikscondities

Gebruikcondities bepalen, analyseren, historie, veranderingen

9

Meettechnieken Meettechnieken

Meettechnieken, versnellingsopnemers (laser), optische technieken

Rainflow

Rainflow technieken

Optische technieken

Optische technieken (grid projectie)

21-09-05

4

Normen Normen

Overzicht en toepassen van normen

16

Aanvullende onderwerpen

WGMB-2005-06 02

27 juni 2005



Appendix B

Lijst met leden WGMB

Naam

Bedrijf

Telefoon

Fax

E-mail

Louis Huysmans

Philips Display Components

040 278 45 81

040 278 48 88

[email protected]

Frans Assink

Thales Nederland

074 248 22 41

074 248 40 37

[email protected]

Jan de Groot

Klima Testtechniek

033 432 04 25

033 432 05 40

[email protected]

Wilco van Dalen

SKF

030 607 57 74

030 604 38 12

[email protected]

Simon Bakker

Maser Engineering b.v.

053 480 26 90

053 480 26 70

[email protected]

Ronnie van Leeuwen

Thales Cryogenics b.v.

040 250 37 14

040 250 37 77

[email protected]

Dop Jooren

Tyco Electronics AMP

073 624 64 59

073 624 69 14

[email protected]

Henk Mast

Dutch Space

071 524 54 47

071 524 53 15

[email protected]

Erik Wegkamp

Nationaal Lucht- en Ruimtevaartlaboratorium

0527 24 84 64

0527 24 82 10

[email protected]

Ton Geise

j.j. Bos b.v

0182 61 93 33

0182 61 17 70

[email protected]

Dave Corben


040 273 50 14

040 273 32 01

[email protected]

Aad Engelfriet


040 273 35 41

040 273 68 15

[email protected]

015 276 3028

[email protected]

Sebastiaan Wolbers

TNO BOUW afdeling CMC

015 276 3386

Klaas Kloosterman

Philips Drachten

0512 593 280

Marco Olierook

Texas Instruments

0546 879 380

Jan Bakker

Texas Instruments

0546 879 277

[email protected]

Erik Goossens


040 276 90 44

[email protected]

Theo Hesen


040 - 2762331

Wim de Krey

DEP Roden

050 501 88 08

WGMB-2005-06 02

[email protected] 0546 879 349

040 - 2762760

[email protected]

[email protected] [email protected]

27 juni 2005

02) 2 juni 2005

Recommend Documents