Váení zákazníci, dovolujeme si Vás upozornit, e na tuto ukázku knihy se vztahují autorská práva, tzv. copyright. To znamená, e ukázka má slouit výhradnì pro osobní potøebu potenciálního kupujícího (aby ètenáø vidìl, jakým zpùsobem je titul zpracován a mohl se také podle tohoto, jako jednoho z parametrù, rozhodnout, zda titul koupí èi ne). Z toho vyplývá, e není dovoleno tuto ukázku jakýmkoliv zpùsobem dále íøit, veøejnì èi neveøejnì napø. umisováním na datová média, na jiné internetové stránky (ani prostøednictvím odkazù) apod. redakce nakladatelství BEN technická literatura
[email protected]
4.
CHOVÁNÍ VÝKONOVÝCH TRANZISTORÙ MOSFET PØI SPÍNÁNÍ
V kapitole 2 byly podrobnì rozvedeny výhody øízení napìtím. Tuto kapitolu zaèínáme s pøiznáním: ve skuteènosti je bezproudové øízení moné jen tehdy, probíhá-li zapínání a vypínání pomalu. Podle obr. 4.1 obsahuje výkonový MOSFET nìkolik kapacit, jejich náboj se pøi kadém spínacím cyklu mìní a k tomu je nezbytný proud. Tyto kapacity, zpìtnovazební Cgd, kapacita kolektor-emitor Cds a kapacita hradlo-emitor Cgs urèují spoleènì s výstupním odporem budicího generátoru spínací doby výkonových tranzistorù MOSFET. kolektor
hradlo
Obr. 4.1 Kapacity výkonového tranzistoru MOSFET
Katalogové parametry emitor
Pøiøazení tìchto prvkù náhradního schématu struktuøe tranzistoru MOSFET ukazuje obr. 4.2. Vstupní elektroda je zapojena na hradlovou møíku z polykrystalického køemíku, její odpor není zanedbatelný. U dostupných typù mùe tento odpor dosahovat, v závislosti na struktuøe èipu a jeho uspoøádání, hodnot od nìkolika ohmù do 20 W. Kapacita hradlo-emitor vzniká z pøesahu mezi polykrystalickým hradlem a kovem emitoru a kanálové èásti tvoøené oblastí P kanálu a hradlem. Pøíèinou kapacity kolektor-emitor Cds je oblast prostorového náboje mezi vrstvou P bunìk a epitaxní vrstvou. íøka oblasti prostorového náboje se mìní - jak bylo ukázáno v kapitole 1 - s pøiloeným napìtím. Tím se mìní i její celkový náboj. Tato zmìna náboje mùe být popsána kapacitou prostorového náboje CRL podle (4.1)
&5/ =
G4 5/ G85/
(4.1)
Pro pøechod P+ -N lze tuto kapacitu velmi jednodue vypoèítat podle vzorce (4.2): ± &5/ @ 1G 85/
(4.2)
eo . esi . e = 1,7 . 1031 [A2 . s2 . V1 . cm1] Výkonové tranzistory MOSFET
59
CRL je kapacita prostorového náboje [F/cm2], Nd dotování epitaxní vrstvy [cm3] a URL je pøiloené napìtí ve [V]. Pro získání kapacity kolektor-emitor Cds je tøeba hodnotu CRL násobit celkovou plochou emitorových bunìk obsaených ve výkonovém tranzistoru MOSFET. Z obr. 4.2 je vidìt, e hodnota CRL pro dané napìtí a plochu bunìk je pøi nií dotaci, tedy u tranzistorù pro vysoké napìtí kolektor-emitor mení, ne pøi vyí dotaci epitaxní vrstvy, která je typická pro tranzistory na nízká napìtí.
N+ P
N+
Obr. 4.2 Umístìní kapacit náhradního schématu ve struktuøe tranzistoru MOSFET Kapacita Cgd (Millerova nebo zpìtnovazební kapacita) sestává, jak je vidìt na obr. 4.2 ze sériovì zapojené oxidové kapacity hradla a kapacity kolektorové oblasti prostorového náboje mezi buòkami tranzistorù. Je-li tranzistor vypnut (obr. 4.3) je oblast prostorového náboje pod hradlem témìø stejnì iroká jako v oblasti pod buòkami. I mezi hradlem a oxidovou vrstvou existuje malý úbytek napìtí; dosahuje vak i pøi nejvyích napìtích jen nìkolik voltù, protoe Cox >> CRL. Zvlátì u tranzistorù MOSFET pro vysoká napìtí je zanedbatelný. Kapacitu Crss pro UGS < UGS(th) lze vypoèítat podle (4.3)
&UVV 8 = $0L &R[ &5/ 8 &R[ + &5/ 8
(4.3)
AMi je celková plocha oblasti mezi buòkami. Tato kapacita je v praxi stejného øádu jako Cds, protoe plochy bunìk a mezi buòkami jsou témìø stejnì velké. Katalogy výkonových tranzistorù MOSFET vìtinou obsahují graficky vyjádøené závislosti kapacit vypnutých tranzistorù na napìtí kolektor-emitor. Jde o tyto kapacity:
60
Výkonové tranzistory MOSFET
Obr. 4.3 Katalogy obsahují hodnoty kapacit tranzistoru v rozepnutém stavu COPN
OPN
Coss = Cds + Cgd Crss = Cgd Ciss = Cgd + Cgs
kolektor
Typický pøíklad ukazuje obr. 4.4 na nìm jsou nakresleny závislosti C(U) výkonového tranzistoru MOSFET typu BUZ 71 od firmy Siemens. Index ss ukazuje na zpùsob mìøení kapacity - pøi malém signálu (small signal). Køivky se sice zdají být informaènì obsané, nicménì výpoèet chování tranzistoru bìhem spínání s jejich pouitím poskytuje jen pøibliné informace. Je-li tranzistor zcela sepnut, tedy prochází-li jím pøi nízkém kolektorovém napìtí vysoký proud, bude zpìtnovazební kapacita Crss jetì vìtí ne pøi 0 V, Právì tato vlastnost není z obr. 4.4 zøejmá. K jejímu vysvìtlení pouijeme obr. 4.5. Ten ukazuje stav UDS < UGS(th), který odpovídá sepnutému tranzistoru. Oblast prostorového náboje zmizela; existuje vodivá obohacená vrstva, sestávající z elektronù, které byly pøitaeny k povrchu kladným napìtím hradla. Vodivou epitaxní vrstvou protéká proud. Kapacita mezi hradlem a kolektorem je, protoe CRL » ¥ Crss = AMi . Cox
(4.4)
To je ve srovnání s kapacitou prostorového náboje pøi vyím kolektorovém napìtí velmi vysoká hodnota. Pro získání pojmu o øádové velikosti odhadneme hodnotu Crss tranzistoru SIPMOS-FET BUZ 71 v sepnutém a rozepnutém stavu. Celkový povrch èipu je 0,06 cm2, z toho asi 40 % patøí oblasti bunìk, 33 % oblasti mezi buòkami. Dotace kolektorové oblasti je 6 . 1015 cm3 a tlouka oxidu 8 . 106 cm (80 nm). Kapacita prostorového náboje pøi kolektorovém napìtí 40 V je podle (4.2) CRL = 3,57 . 109 F/cm2 @ 3,6 nF/cm2 Oxidová kapacita, vypoèítaná podle (1.7) èiní Cox = 4,37 . 108 F/cm2 @ 44 nF/cm2
Výkonové tranzistory MOSFET
61
Obr. 4.4 Hodnoty kapacit tranzistoru BUZ 71 (Siemens) podle katalogového listu emitor
hradlo
P
obohacení N+
kolektor
Obr. 4.5 Zvýení zpìtnovazební kapacity v sepnutém stavu
62
Výkonové tranzistory MOSFET
Hodnota Crss tranzistoru BUZ 71 v rozepnutém stavu je podle (4.3) Crss @ 48,8 1012 F, tedy pøiblinì 50 pF co lze také najít v katalogovém listu. Pro sepnutý stav vychází podle (4.4) zpìtnovazební kapacita Crss = 0,65 nF. To je hodnota více jak o øád vyí ne hodnota v rozepnutém stavu. Vstupní kapacita v sepnutém stavu je Ciss = 0,65 nF + 0,5 nF = 1,15 nF, pro Cgs rovnou pøiblinì 0,5 nF. Obírnìjí informaci o kapacitách tranzistoru MOSFET ne obr. 4.4 poskytne uivateli obr. 4.6. Tam je zvýení vstupní a zpìtnovazební kapacity tranzistoru v sepnutém stavu zøetelné. Tento jev je výraznìjí u tranzistorù pro vysoká napìtí, ne u 50V tranzistorù. V katalozích to vak bohuel zatím nebývá vyjádøeno.
Ciss
Crss
Obr. 4.6 Zvýené kapacity tranzistoru MOSFET pøi sepnutí Vechny tøi kapacity výkonového tranzistoru MOSFET jsou v podstatì teplotnì nezávislé. To je velká výhoda vzhledem k bipolárním tranzistorùm, která bude následnì detailnì diskutována na konkrétních pøíkladech. Spínací vlastnosti výkonových tranzistorù MOSFET ovlivòuje samozøejmì napìová závislost tìchto kapacit. Pro pøiblíení dìjù odehrávajících se bìhem spínání budeme podrobnì sledovat spínací cyklus invertoru s odporovou zátìí. Kvùli zjednoduení je k øízení pouit impulzní generátor s velkým výstupním odporem (viz obr. 4.7). Na obr. 4.8 vidíme soustavu výstupních charakteristik tranzistoru BUZ 71 s pracovní pøímkou. Prùbìhy napìových impulzù na hradle a kolektoru pøi spínání, prodlouených následkem vnitøního odporu 10 kW (vnucený proud), vidíme na obr. 4.9. Spínací cyklus zaèíná s malým zpodìním po pøivedení vstupního proudu. Jedná se o dobu, kterou potøebuje vstupní kapacita Ciss, aby se nabila na prahové napìtí, asi na 3 V. Výkonové tranzistory MOSFET
63
Impulzní generátor s Ri = 50 W
Obr. 4.7 Zkuební zapojení pro demonstrování spínacího procesu
UGS = 0 5 V (krok 0,5 V)
Obr. 4.8 Zmìøené charakteristiky tranzistoru BUZ 71 s pracovní pøímkou (RL = 10 W, UB = 25 V).
64
Výkonové tranzistory MOSFET