COATINGS
CMI900
Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků a jejich prvkového složení metodou XRF
Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý
CMI9
CMI900: Garantovaná kvalita a snížené náklady
Elektronika Au Ni Cu Epoxy
Au Pd Ni Cu Vrchní vrstva: Au (zlato) tloušťka povlaku Druhá vrstva: Pd (paladium) tloušťka povlaku
Pokovování
SnPb Ni Cu Epoxy
Sn Ni Ag Keramika
Au Pd Ni Cu
Au Ni Cu slitiny
NiP Al
Ag Cu Epoxy
Ni Cu
Pájitelnost Elektrické kontakty
Povrchová úprava
Cr Zn Fe
NiP Fe
Korozní odolnost
TiN Ocel
TiAlN Karbid W
Cr Fe
Odolnost proti povětrnostním vlivům/teplu
ZrCN Mosaz
Cr Ni Cu Al
AuCuCd Ni Cu
Dekorativní úprava povrchů
Elektrické a elektronické součástky
Pokovování
Zvýšení produktivity s lepším řízením procesu
Minimalizace výrobních nákladů při procesu pokovení a maximalizace produkce
• Záruka spolehlivosti komponent – Složení pájecích slitin a měření tloušťek
Třetí vrstva: Ni (nikl) tloušťka povlaku
• Záruka životnosti výrobku díky
Čtvrtá vrstva: Základní materiál
Např.:
optimalizovanému řízení kvality
– Analýza zlaté a paladiové vrstvy na elektrických kontaktech – Tloušťka povlaku vrstvy NiP na počítačových pevných discích
CMI900
ZnFe Fe
• Rychlost a jednoduchost analýzy – Stanovení tlouštěk jednoprvkových i slitinových vrstev včetně analýzy jejich chemického složení – Analýza až 4 vrstev – Analýza pokovovacích lázní
900
Rtg. fluorescence (XRF) Rtg. paprsky tvoří část
Elektron je vyražen z hladiny s nízkou
elektromagnetického spektra a
energií (viz diagram) a vytvoří se
jsou charakterizovány jejich energií
prázdné místo (vakance). Důsledkem je,
(v kiloelektronvoltech - keV) nebo
že elektron z vyšší energetické hladiny
vlnovou délkou (v nanometrech - nm).
přeskočí do této vakance.
Rtg. fluorescence je důsledek změn,
Energetický rozdíl odpovídající přechodu
které nastanou uvnitř atomu. Stabilní
elektronu mezi těmito hladinami se
atom obsahuje jádro, které obklopují
uvolní ve formě sekundárního záření,
elektrony. Obklopující elektrony jsou
které je charakteristické pro daný atom
z hlediska své energie uspořádány do
(prvek). Tento jev se nazývá rentgenová
slupek. Každá slupka obsahuje elektrony
fluorescence.
se stejnou energií. Jestliže na atom dopadne primární rtg. záření s vysokou
Kovové slitiny % Au % Ni % Cu % Zn
% Cr % Fe % Ni % Mo
Rtg. lampa
energií, poruší se jeho stabilita.
% Au % Ag % Cu % Zn
Primární rtg. paprsky
Detektor Rtg. lampa
Jádro
Chemický rozbor a identifikace
Vyražený elektron
Fluorescenční rtg. paprsky
Detektor Vzorek
Složení kovových slitin a identifikace Rychlá a nedestruktivní analýza bižuterie, šperků a jiných slitin
• • Stanovení ryzosti • Materiálová identifikace Analýza drahých kovů
Jak využívá CMI900 rentgenovou fluorescenci?
• Rtg. lampa ozařuje zkoumaný vzorek a excituje fotony • Detektor měří sekundární neboli fluorescenční rtg. záření • Intenzita vybuzeného rtg. záření určuje tloušťku a/nebo složení vrstvy Výhody analýzy rtg. fluorescencí
• Minimální nebo žádná příprava vzorku • Nedestruktivní analýza • Široký rozsah prvkového rozboru, Ti až U • Analýza pevných látek a roztoků • Rychlost analýzy: výsledky během několika sekund • Kvalitativní, semi-kvantitativní a úplná kvantitativní analýza • Snadné používání s minimálním zaškolením o metodě rtg. fluorescence (XRF) 22
92
CMI900
Analýza tloušťky povlaku je jednoduchá...
1 Umístěte vzorek na měřicí stolek v analyzátoru
• Nedestruktivní analýza: žádná příprava vzorku • Snadné vložení/umístění vzorku: štěrbinová komora • Velký měřicí stolek umožňuje měření velkých plochých vzorků
2 Zaostřete kameru kliknutím na tlačítko
Zaostřeno
• Zaměření vzorku nezávislé na subjektivním vjemu
operátora: Zamiřte a klikněte na laserový zaměřovač
• Jasně vymezená bodová analýza: barevná kamera s vysokým rozlišením a zvětšením
• Bezobslužný provoz: jednobodová nebo vícebodová analýza díky programovatelnému stolku v osách XY (volitelná položka) a Z Nezaostřeno
• Jednoduchá a rychlá vícebodová analýza:
podle uživatelsky předdefinovaného vzoru
3 Spusťte měření kliknutím na Go
• Během několika vteřin se zobrazí výsledky • Výsledky uložte, vytiskněte, přepošlete • Flexibilita zobrazení výsledků pomocí předdefinovaných/uživatelských formulářů
Výsledky
CMI900
CMI900 Vysoce výkonný XRF spektrometr
• Rychlá a přesná analýza: proporcionální detektor a 50wattová • Vynikající dlouhodobá stabilita: mikrofokusovaná rtg. lampa zajišťují vysokou citlivost
• Jednoduché prvkové rozlišení: sekundární terčíkové filtry zajišťují spektrální rozlišení překrývajících se prvků
• Optimalizovaná výkonnost v širokém prvkovém rozsahu:
optimalizované metody s přednastavenými parametry. CMI900 je dodáván s předinstalovanými parametry pro více než 800 rozličných aplikací
• Automatická teplotní kompenzace měří teplotu zařízení a generuje korekce pro získání stabilních výsledků • Jednoduchý a rychlý spektrální kalibrační postup ověřuje parametry zařízení (jako je např. citlivost) a aplikuje potřebné korekce
Pevné a odolné provedení
• Provoz v laboratoři nebo ve výrobě • Odolné průmyslové provedení • Technologie ověřená v praxi více než 3000 prodanými přístroji po celém světě Jednoduché nastavení kalibrace
• Nejsou-li k dispozici žádné standardy, dociluje se spolehlivých
výsledků jednoduchým nastavením bezstandardní analýzy (metodou fundamentálních parametrů – FP), platným pro široký rozsah tlouštěk a koncentrací
• Jsou-li k dispozici standardy (typicky 1 až 3), docílí se nejlepší přesnosti empirickou kalibrací
• K vytvoření metody stačí pouze pár minut
• Pro nejlepší přesnost dodává firma Oxford Instruments certifikované standardy (akreditace A2LA a ISO/IEC 17025)
0 Odstranění kolísání výsledků způsobeného rozdílným zaměřováním operátorů Laserové zaměřování
• Jednoduchá operace “zaměř a klikni” zajistí zaostření bodu na vzorku
• Fixní ohnisková vzdálenost je 12,7 mm, 0,5” Analýzy různých tvarů a velikostí vzorků
Rtg. paprsky
Rtg. lampa Kolimátor
Vzorek
Multikolimátory
• Optimální výkonnosti se dociluje pomocí flexibilního výběru kolimátorů • Nejlepší citlivost a rychlost analýzy • K dispozici je multikolimátor s až 6 kolimátory pro rozšíření aplikačního rozsahu
Pokročilý bezpečnostní systém
• Evidovaný víceúrovňový přístup do systému pomocí osobních hesel
• Úroveň „Operátor“ pro snadné používání systému v provozu bez možnosti zásahu do přístrojového nastavení
• Úroveň „Supervisor“ pro kalibrování, správu a údržbu systému
• Úroveň „Technik“ pro systémová servisní nastavení
Tři volitelné konfigurace Pro vaše analytické požadavky
CMI 900 – Mini well
• Měřicí komora s nastavitelnou
výškou po krocích 12,7 mm, lze vkládat díly až 160 mm vysoké
CMI 900 s fixním měřicím stolkem
• Poloha stolku je fixní • Ekonomické a praktické • Tato plochá základna poskytuje ideální platformu pro díly, které nejsou více než 33 mm (1,30”) vysoké
• Každá ze tří volitelných
přístrojových variant má vstupní štěrbinu uzpůsobenou pro zakládání nadměrných vzorků, např. nadměrné desky plošných spojů
CMI 900 s programovatelným měřicím stolkem
• Tato konfigurace umožňuje
uživateli automatický programovatelný výběr části, která má být analyzována
• Jednoduché navádění stolku
do pozice pro prohlédnutí oblasti na vzorku a k přesnému zaměření bodu, který má být změřen
• Standardní velikost stolku je 560 mm x 600 mm (22”-D x 24”-W)
• Posun je 177,8 mm x 177,8 mm (7” x 7”)
Výkonný a flexibilní software SRG pro tvorbu měřicích protokolů
• Dovoluje vytvořit uživatelský formát protokolu
• Umožňuje integrovat uživatelská
statistická data včetně grafického znázornění
• Vkládá obrázek vzorku do protokolu
CMI900
Servis ®
Support i a celosvětová zákaznická podpora
Firma Oxford Instruments se pyšní těsnou partnerskou spoluprací se svými zákazníky. Našim cílem je poskytovat komplexní technickou podporu a přístrojový servis během celé životnosti produktů. Tým specialistů z oddělení zákaznické podpory předává základní technické znalosti o údržbě a servisu jak zákazníkům, tak naší globální distributorské síti za účelem udržení hladkého chodu vašich analyzátorů.
Naše globální síť poskytuje široký rozsah podpory zákazníkům:
Oxford Instruments Industrial Analysis For more information please email
[email protected] UK High Wycombe Tel: +44 (0) 1494 442255 China Shanghai Tel: +86 21 6132 9688
• Základní a pokročilé uživatelské kurzy • Podpora a servisní kontrakty pro minimalizaci odstávek,
Finland Espoo Tel: +358 9 329 411
• Přístrojová expertní technická poradna Oxford Instruments • Podpora během záruky a opravy přístrojů • Software i hardware aktualizace přístroje (Přístrojový upgrade) • Náhradní díly (dostupné přes vyškolené distributory) • Spotřební materiály • Recertifikace a rekalibrace
Germany Uedem Tel: +49 (0) 2825 93 83 -0
audit ISO a certifikační procedury
V pozadí vašeho úspěchu Na vaši investici do našeho přístroje se vztahuje globální a lokální podpora na nejvyšší úrovni s cílem poskytnout vám její komplexní rozsah k zajištění vašeho úspěchu.
Pro více informací navštivte stránky www.oxford-instruments.com Autorské právo k této publikaci má Oxford Instruments plc. Tato publikace poskytuje pouze rámcové informace, které (pokud není písemně dohodnuto jinak) nesmí být použity nebo zkopírovány k žádnému účelu ani být součástí jakékoli objednávky nebo smlouvy nebo být použity pro prezentaci odkazující na tyto produkty nebo služby. Strategií firmy Oxford Instruments je stále se zlepšovat. Firma si vyhrazuje právo měnit bez upozornění specifikaci, vzhled nebo podmínky dodávky jakéhokoli výrobku nebo služby. Oxford Instruments uznává všechny ochranné známky a registrace. © Oxford Instruments plc, 2010. Všechna práva vyhrazena. Part no: OIA/098/D/1210
Zastoupení pro ČR a SR: PCS spol. s r.o. Na Dvorcích 18, 140 00 Praha 4 Tel:+420296796444, Fax:+420296796777
[email protected] www.pcs.cz
Latin America Concord MA Tel: +1 978 369 9933 Ext. 220 Singapore Tel: +65 6337 6848 North America Concord MA TOLLFREE: +1 800 447 4717 Tel: +1 978 369 9933
www.oxford-instruments.com
