Micro-XRF X-Strata980
Rychlé nedestruktivní stanovení tlouštěk vrstev a jejich prvkového složení metodou XRF
Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý
X-St
X-Strata980: Zvýšení kvality produktů a zlepšen
Elektronika SAC Ni Ag Keramika Vrchní vrstva: Složení SAC (SnAgCu) pájek a měření tlouštěk Druhá vrstva: Ni tloušťka povlaku Třetí vrstva: Ag tloušťka povlaku Čtvrtá vrstva: Základní materiál
SAC Ni Ag Keramika
Au Ni Cu Epoxy
Au Ni Cu slitiny
Au/Ag PdNi Ni Cu
NiP Al
Pokovování Ag Cu Epoxy
Ni Cu
Cr Zn Fe
NiP Fe
Korozní odolnost
TiN Ocel
TiAlN Karbid W
Cr Fe
ZrCN Mosaz
Cr Ni Cu Al
Odolnost proti povětrnostním a teplotním vlivům
AuCuCd Ni Cu
Pájitelnost Elektrické kontakty
Povrchová úprava
Dekorativní úprava povrchů
Elektrické a elektronické součástky
Pokovování
Zvýšení produktivity díky lepšímu řízení výrobního procesu
Minimalizace výrobních nákladů při procesu pokovení a maximalizace produkce
• Záruka spolehlivosti jednotlivých komponent
• Rychlost a jednoduchost analýzy
– Simultánní stanovení chemického složení pájek a tloušťky jejich vrstev
• Záruka životnosti výrobku díky
– Stanovení tlouštěk jednoprvkových i slitinových vrstev včetně analýzy jejich chemického složení
optimalizovanému řízení kvality
– Analýza až 4 vrstev (plus základní materiál)
– Analýza zlaté a paladiové vrstvy na
– Analýza pokovovacích lázní
elektrických kontaktech – Tloušťka povlaku NiP vrstvy na počítačových pevných discích
• Analýza velmi tenkých vrstev
(např. Au/Pd vrstvy pod 0,1 μm)
X-Strata980
ZnFe Fe
trata980
ní procesu řízení a kontroly
Testy shody ppm Pb ppm Hg ppm Cd ppm Cr ppm Br
Au Ni Cu
ppm Pb
SnPb Ni Cu
Kovové slitiny Nebezpečné materiály Au NiPPb Cu
Vysoká věrohodnost testů
Testování shody dle požadavků směrnic RoHS/WEEE/ELV* Zvýšení kontroly kvality pro dosažení shody výrobků s produktovou specifikací
•
Stanovení nebezpečných prvků v rozsahu obsahů od ppm až
% Au % Ni % Cu % Zn
% Cr % Fe % Ni % Mo
Alternativní energie % Au % Ag % Cu % Zn
% Cu % In % Ga % Se Mo Sklo
% Cu % In % Ga Keramika
% Cd % Te Sklo
Chemické složení a identifikace
Fotovoltaické články
Rozbor chemického složení a identifikace kovových slitin
Solární panely a palivové články
Rychlá a nedestruktivní analýza šperků, bižuterie a jiných speciálních (např. dentálních) slitin
Zabezpečení uniformity a efektivity produktů
• • Stanovení ryzosti • Materiálová identifikace • Stanovení nečistot Analýza drahých kovů
• Analýza složení tenkovrstvých
absorbérů (např. CIS, CIGS, CdTe) ve fotovoltaických článcích
• Optimalizace elektrické
vodivosti díky stanovení tloušťky vrstvy
po vysoká %
• Kvantifikace toxických prvků
jako např. Cd, Hg, Pb atd. pro ověření shody
* Směrnice EU 2002/95/ES o omezení užívání některých nebezpečných látek v elektrických a elektronických zařízeních
X-Strata980
Mikro-XRF analýza je snadná:
1 Umístěte vzorek do velké měřicí komory
• Nedestruktivní analýza: Žádná úprava vzorku • Snadné vkládání a manipulace se vzorkem díky velkému vstupnímu otvoru
• Bezpečná a bezriziková práce: Uzavřená měřicí komora • Velikost měřicí komory: 580mm x 510mm x 230mm š/d/v 2 Zaostřete kameru jedním kliknutím tlačítka
• Zaměření vzorku nezávislé na subjektivním vjemu Zaostřeno
operátora: Zaměřte a klikněte na laserovou fokusaci
• Jasně vymezená bodová analýza: Barevná kamera s vysokým rozlišením a zvětšením
• Bezobslužný provoz: Jednobodová nebo vícenásobná analýza díky měřicímu stolku programovatelnému ve všech osách (X, Y i Z)
Nezaostřeno
• Jednoduchá a rychlá vícebodová analýza:
Uživatelsky předdefinované vzory a programy
3 … a pro spuštění analýzy klikněte na Go
• Zobrazení výsledku během několika sekund • Rychlé a barevně zvýrazněné vyhodnocení shody Vyhovuje/ Nevyhovuje podle uživatelem nadefinovaných kriterií
• Uložení, tisk nebo odeslání výsledků • Flexibilita měřicích protokolů díky software SRG pro uživatelskou tvorbu protokolů
Výsledky
X-Strata980
X-Strat Pozoruhodná přesnost a správnost měření a dlouhodobá stabilita přístroje:
• Rychlá a přesná analýza: Vysoká citlivost díky 100 W rtg lampě Oxford Instruments
• Jednoduchá identifikace a odlišení prvků:
Velkoplošný polovodičový Si PIN detektor s vysokým rozlišením, chlazený Peltierovým článkem
• Optimalizace výkonu pro široký prvkový rozsah: Použití vícenásobných primárních filtrů
• Měření vzorků o velikosti 150 µm: Vícenásobný kolimátor
• Nízké detekční limity i v takových matricích jako např. plasty: Speciální měřicí podložka s nízkým pozadím
Pevné a odolné provedení:
• Nezávislý přístroj: Pouze jeden přívod elektrické energie
• Kompaktní pracoviště: Vynikající ergonomika přístroje a malý půdorys
• Provoz možný v laboratorních i provozních podmínkách
• Odolný průmyslový design
ta980
Analýza velkých a tvarově rozličných dílů
DETEKTOR
KOLIMÁTOR
VZOREK
4”
STOLEK
• Vzorky mohou být měřeny při různé fokální vzdálenosti (od
12,7 mm do 101 mm): Metody připravené pro různé fokální vzdálenosti a různé tvary a velikosti vzorků
• Měření DIM (nezávislé na fokální vzdálenosti): S touto
volitelnou univerzální kalibrací je možné měřit nepravidelné vzorky bez ohledu na fokální vzdálenost (měřitelný fokální rozsah 12,7 – 101 mm)
• Rychlé a přesné nastavení vzorku pomocí automatického nastavení rozsahu (ARF)
Flexibilní měřicí protokoly: Široké možnosti exportu dat
• K dispozici kompletní statistická data jako průměr,
standardní odchylka, histogramy a kontrolní diagramy
• Export dat v reálném čase nebo export do Microsoft ExcelTM pro rychlý tiskový výstup
• Aplikační zástupci umožňují uživateli vybrat kalibrace pro specifické vzorky jedním kliknutím
• Uživatelské prostředí dostupné v devíti jazycích
Komplexní analýza Jednoduché kalibrační nastavení pro optimalizovanou analýzu chemického složení a stanovení tloušťky vrstev
Zvolte nejlepší analytickou metodu pro Vaši aplikaci:
• I když nejsou k dispozici žádné standardy, poskytnou metody fundamentálních parametrů FP věrohodné kvantitativní
výsledky. Tyto metody využívají komplexní spektrální databázi a pokrývají široký rozsah koncentrací a tlouštěk. Připravit aplikační metodu je tak otázkou několika málo minut
• Jestliže jsou dostupné standardy, které odpovídají měřeným
vzorkům (např. matrice, analyty, rozsah koncentrace), poskytne větší přesnost empirická kalibrace. Uživatel může díky intuitivnímu průvodci i po krátkém zaškolení vytvořit vlastní empirickou kalibraci
Mapovací software pro identifikaci “problémových” ploch vzorku Pb Cu Br
• Kvantitativní analýza nadefinované plochy vzorku během jednoho měřicího cyklu pomocí speciální funkce Mapping • Zobrazení vzorku s překrytou mapou prvků • Mapa barevně odlišených prvků usnadní zjištění problémových míst na vzorku • Provedení plné kvantitativní analýzy pro zjištění neshody X-Strata980
SUPPORT
Oxford Instruments
Naše globální síť poskytuje široký rozsah zákaznické podpory, který zahrnuje:
• Technická podpora po telefonu • Firemní proškolení obsluhy • Profesionální zaškolení • Aplikační podpora • Celosvětové zajištění dodávky náhradních dílů • Záruční i pozáruční servis prostřednictvím lokálních národních servisních zastoupení • Podpora v národním jazyku • Dodávky spotřebního materiálu, recertifikace a rekalibrace
Oxford Instruments Industrial Analysis For more information please email
[email protected] UK High Wycombe Tel: +44 (0) 1494 442255 China Shanghai Tel: +86 21 6132 9688
Dlouholeté vynikající výsledky
Finland Espoo Tel: +358 9 329 411
Firma Oxford Instruments patří již mnoho let k předním celosvětovým průkopníkům v mnoha vědních oborech a to jak v základním tak i aplikovaném výzkumu.
Germany Uedem Tel: +49 (0) 2825 93 83 -0
Oxford Instruments, který se před padesáti lety oddělil jako první komerční pobočka od Univerzity v Oxfordu, je na špici rtg. technologií od roku 1970. X-Strata980 je posledním modelem řady pro rtg. měření povrchových vrstev a spojuje zkušenosti firmy Oxford Instruments spolu s flexibilitou, spolehlivostí a snadným používáním.
Image: Oxford Spires
Pro více informací navštivte stránky www.oxford-instruments.com/xstrata Autorské právo k této publikaci má Oxford Instruments plc. Tato publikace poskytuje pouze rámcové informace, které (pokud není písemně dohodnuto jinak) nesmí být použity nebo zkopírovány k žádnému účelu ani být součástí jakékoli objednávky nebo smlouvy nebo být použity pro prezentaci odkazující na tyto produkty nebo služby. Strategií firmy Oxford Instruments je stále se zlepšovat. Firma si vyhrazuje právo měnit bez upozornění specifikaci, vzhled nebo podmínky dodávky jakéhokoli výrobku nebo služby. Oxford Instruments uznává všechny ochranné známky a registrace. © Oxford Instruments plc, 2010. Všechna práva vyhrazena. Part no: OIIA/029/C/0610
Zastoupení pro ČR a SR PCS spol. s r.o. Na Dvorcích 18, 140 00 Praha 4 Tel./Fax:+420 296 796 444/777
[email protected] www.pcs.cz
Latin America Concord MA Tel: +1 978 369 9933 Ext. 220 Singapore Tel: +65 6337 6848 North America Concord MA TOLLFREE: +1 800 447 4717 Tel: +1 978 369 9933
www.oxford-instruments.com
